JIS C 1912:2014 家庭用電気機器及び類似機器からの人体ばく露に関する電磁界の測定方法

                                                                   C 1912 : 2014 (IEC 62233 : 2005)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  3.1 物理量及び単位・・・・[2]
•  3.2 用語及び定義・・・・[2]
•  4 試験方法及び限度値の選択・・・・[4]
•  5 測定方法・・・・[4]
•  5.1 電界・・・・[4]
•  5.2 周波数範囲・・・・[4]
•  5.3 測定距離,センサの位置及び動作条件・・・・[4]
•  5.4 磁界センサ・・・・[4]
•  5.5 磁界の測定手順・・・・[4]
•  5.6 測定の不確かさ・・・・[8]
•  5.7 試験報告書・・・・[9]
•  6 結果の評価・・・・[9]
•  附属書A(規定)磁束密度測定のための条件・・・・[14]
•  附属書B(参考)ばく露限度値・・・・[21]
•  附属書C(規定)結合係数の決定・・・・[23]
•  附属書D(参考)附属書Bの限度値による計算例・・・・[28]
•  参考文献・・・・[36]

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C 1912 : 2014 (IEC 62233 : 2005)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気学会(IEEJ)から,工業標
準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業
大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格に従うことは,次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので,留意する。
  − 氏名 : ナルダ セイフティ テスト ソリューションズ ゲーエムベーハー
                Narda Safety Test Solutions GmbH
  − 住所 : ドイツ連邦共和国,72793 プフリンゲン,ザントハウゼンシュトラーセ 7
                Sandhausenstrae 7, 72793 Pfullingen, Germany
  − 特許番号 : P3487824(日本),100 00 706(ドイツ連邦共和国),1327593(イタリア)
  上記の,特許権等の権利者は,非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施
の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし,この規格に関連する他の特許権等の権利者に対
しては,同様の条件でその実施が許諾されることを条件としている。
  この規格に従うことが,必ずしも,特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ
る。
  この規格の一部が,上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標
準調査会は,このような特許権等に関わる確認について,責任はもたない。
  なお,ここで“特許権等”とは,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              C 1912 : 2014
                                                                            (IEC 62233 : 2005)

家庭用電気機器及び類似機器からの人体ばく露に関する電磁界の測定方法

Measurement methods for electromagnetic fields of household appliances and similar apparatus with regard to human exposure

序文

  この規格は,2005年に第1版として発行されたIEC 62233を基に,技術的内容を変更することなく作成
した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,300 GHz以下の電磁界を取り扱い,家庭用及び類似用途の電気機器周囲の電界の強さ及び
磁束密度を評価するための方法について,試験条件並びに測定距離及び測定位置を含めて規定する。
  電気機器は,モータ,発熱体,又はこれらの組合せによって構成される場合もあり,電気回路又は電子
回路を含む場合もある。電気機器への電力供給には,商用電源,バッテリ,又はこれら以外の電源を用い
る場合がある。
  電気機器には,家庭用電気機器,電動工具及び電動玩具のような機器を含む。
  通常の家庭用として意図されたものでない場合も,一般の人が近付くことがある機器,又は専門家でな
い人が用いることがある機器は,この規格の適用範囲に含む。この規格は,次の機器には適用しない。
・ 重工業向け専用に設計した機器
・ 建物の固定電気設備の一部として意図した機器(ヒューズ,遮断器,ケーブル,スイッチなど)
・ ラジオ受信機,テレビ受信機,オーディオ機器,ビデオ機器及び電子楽器
・ 医用電気機器
・ パーソナルコンピュータ及び類似機器
・ 無線設備
・ 車両専用に設計した機器
  この規格及び/又はほかの規格の箇条で,同時に対象とする多機能機器からの電磁界評価は,動作状態
の関連機能に関するそれぞれの箇条又は規格の規定を用いて行う。
  機器の通常使用状態でない動作については,考慮しない。
  この規格には,人体ばく露の評価を行うために必要な次の規定要素を含む。
・ センサ
・ 測定方法
・ 試験対象の機器の動作条件
・ 測定距離及び位置

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2
C 1912 : 2014 (IEC 62233 : 2005)
  測定方法は,10 Hz400 kHzの周波数範囲で規定する。400 kHzを超える及び10 Hz未満の周波数範囲
では,JIS C 9335規格群に特に規定がない限り,この規格の適用範囲の機器は,試験を行うことなくこの
規格を満足するものとみなす。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 62233:2005,Measurement methods for electromagnetic fields of household appliances and similar
              apparatus with regard to human exposure(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 1910 人体ばく露を考慮した低周波磁界及び電界の測定−測定器の特別要求事項及び測定の手
        引き
      注記 対応国際規格 : IEC 61786,Measurement of low-frequency magnetic and electric fields with regard
             to exposure of human beings−Special requirements for instruments and guidance for measurements
             (IDT)
    JIS C 9335(規格群) 家庭用及びこれに類する電気機器の安全性
      注記 対応国際規格 : IEC 60335 (all parts),Household and similar electrical appliances−Safety(MOD)
    IEC 62311,Assessment of electronic and electrical equipment related to human exposure restrictions for
        electromagnetic fields (0 Hz−300 GHz)
    CISPR 14-1,Electromagnetic compatibility−Requirements for household appliances, electric tools and similar
        apparatus−Part 1: Emission

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

3.1 物理量及び単位

                  物理量      記号            単位                 単位記号
              導電率           σ   シーメンス毎メートル    S/m
              電流密度         J    アンペア毎平方メートル  A/m2
              電界の強さ       E    ボルト毎メートル        V/m
              周波数           f    ヘルツ                  Hz
              磁界の強さ       H    アンペア毎メートル      A/m
              磁束密度         B    テスラ                  T(Wb/m2又はV・s/m2)

3.2 用語及び定義

3.2.1
基本制限(基本限界)[basic restriction(basic limitations)]
  確立された生物学的影響を根拠として,時間的に変化する電界,磁界及び電磁界への人体ばく露の一定
の安全係数を含む制限。人体内の電流密度に対する基本制限はJBR,人体に誘起される電界の強さに対す
る基本制限はEBRとする。

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                                                                   C 1912 : 2014 (IEC 62233 : 2005)
3.2.2
結合係数,ac(r1)(coupling factor)
  機器の周囲の電磁界の不均一性,センサの測定面積,及び測定距離r1(3.2.6参照)における機器の使用
者の胴体又は頭部の寸法を考慮した係数。
3.2.3
フーリエ変換(Fourier transformation)
  時間関数から周波数関数を導き出す数学的処理手順。
3.2.4
高速フーリエ変換,FFT(fast Fourier transformation)
  高速に計算することに特化したフーリエ変換。
3.2.5
ホットスポット(hot spot)
  電磁界分布が不均一なために生じる,電磁界強度が局所的に最大となる場所。
3.2.6
測定距離,r1(measuring distance)
  機器の表面からセンサ表面の最も近い点までの最短距離(附属書A参照)。
3.2.7  測定位置(measuring positions)
3.2.7.1
周囲(around)
  人が近付くことが予想される機器表面から一定の距離をおいた測定位置。測定するときは,機器の周囲
全体に沿ってセンサを移動させる。
    注記 図A.2を参照。
3.2.7.2
上面(top)
  機器の上面から規定する一定の距離をおいた測定位置。測定するときは,センサを移動させる。
    注記 図A.1を参照。
3.2.7.3
正面(front)
  機器の正面から規定する距離をおいた測定位置。測定するときは,センサを移動させる。
    注記 図A.1を参照。
3.2.8
参考レベル(reference level),最大許容ばく露レベル(maximum permissible exposure level),BRL
  最悪のばく露条件(例 均一電磁界へのばく露)を仮定して,基本制限から導き出す磁界レベル。
    注記 参考レベルを超える場合でも,基本制限を超えないときがある。
3.2.9
応答時間(response time)
  測定器が,測定する電磁界に置かれてから測定値の最終値に対して,規定の比率に達するまでの時間。
3.2.10
重み付け結果,W(weighted result)
  周波数に依存する参考レベルを織り込んだ測定の最終結果。

――――― [JIS C 1912 pdf 5] ―――――

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