JIS C 2550-3:2019 電磁鋼帯試験方法―第3部:中間周波磁気特性の測定方法 | ページ 5

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C 2550-3 : 2019
B.3 校正
測定計測器は,トレーサビリティが確保された標準交流電源を用いて校正することができる。測定計測
器の信号チャンネルの各入力に標準交流電源を接続することによって,各信号チャンネルの増幅率,二つ
のチャンネルの位相差及びこれらの周波数特性の校正ができる。
B.4 演算処理による空隙補償
演算処理による空隙補償は,相互誘導器の原理と同様であり,式(B.5)による。
C dU1 (t)
U2c (t) U2m (t) (B.5)
R dt
ここに, U2c(t) : 空隙補償された二次コイルの誘起電圧(V)
U2m(t) : 二次コイルの誘起電圧(V)
C : 補正係数(Ω・s)
R : 無誘導精密抵抗器の抵抗値(Ω)
U1(t) : 一次コイルに直列に接続された無誘導精密抵抗器の両
端子間の電圧(V)
補正係数Cは,試験片を挿入しない状態で一次コイルに電流を流したとき,空隙補償された二次コイル
電圧U2c(t) の最大値が,二次コイル誘起電圧U2c(t) の0.1 %以下となるように調整する。
演算処理による空隙補償は,相互誘導器による方法で生じる位相ずれ及びインピーダンスの増大を抑制
できる利点がある。

――――― [JIS C 2550-3 pdf 21] ―――――

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附属書JA
(参考)
試験片の切断方法及び試験機器仕様
JA.1 試験片の切断方法
特に指定がない場合,試験片は,図JA.1のa) d) のように,鋼帯の特性を代表するように,半分は圧
延方向に平行(縦目)に,半分は圧延方向に直角(横目)に採取するのがよい。その材料について,特に
規定がある場合には又は受渡当事者間の協定によって,圧延方向に平行な試験片だけを使用するときには,
図JA.1のe) g) のように採取する。その他の特殊な方法によったときには,試験成績書に切断方法を明
記する。
図JA.1−試験片の切断方法
JA.2 試験機器仕様
JA.2.1 空隙補償用の相互誘導器
空隙補償用の相互誘導器は,試験器に適合するものを用い,その仕様は表JA.1のようにするのがよい。

――――― [JIS C 2550-3 pdf 22] ―――――

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表JA.1−空隙補償用の相互誘導器仕様
項目 仕様
管状巻枠 寸法 直径55 mm×長さ25 mm
つば板寸法 120 mm×120 mm
材質 低誘電率,非磁性の絶縁体
一次コイル 励磁に必要な巻数(約40ターン)
二次コイル 試験器に試験片がない場合の二次誘起電圧を打ち消すのに必要な巻数を一次
コイルの外側に巻く。
設置位置 正方形に組み立てられた試験器の中央に,その軸が試験器の面に直角になる
ように置く。
JA.2.2 電流波高値検出用相互誘導器
相互誘導器は,測定する磁界の強さHの大きさによって,1 A形及び10 A形を用い,その仕様は,表
JA.2及び図JA.2のようにするのがよい。
表JA.2−電流波高値検出用相互誘導器仕様
項目 1 A形 10 A形
管状巻枠 1 外形100 mm,内径80 mm,長さ120 mm 外形100 mm,内径80 mm,長さ40 mm
つば板 2 厚さ8 mm,直径210 mm 厚さ8 mm,直径210 mm
内側一次コイル JIS C 3104の4号平角銅線2.4 mm×3.5 mm JIS C 3104の4号平角銅線3 mm×4 mmを絶
3 を絶縁して使用する。30ターン×4層。 縁して使用する。8ターン×2層。
二次コイル 4 絶縁銅線0.4 mm,8 640ターン。 絶縁銅線0.4 mm,3 200ターン。
外側一次コイル JIS C 3104の4号平角銅線2.4 mm×3.5 mm JIS C 3104の4号平角銅線3 mm×4 mmを絶
5 を絶縁して使用する。30ターン×4層。 縁して使用する。8ターン×2層。
電気的特性 一次インダクタンス 約5 mH 一次インダクタンス 約0.14 mH
一次抵抗 約0.24 Ω 一次抵抗 約0.04 Ω
二次インダクタンス 約7.4 H 二次インダクタンス 約1.7 H
二次抵抗 約660 Ω 二次抵抗 約230 Ω
相互インダクタンス 約180 mH 相互インダクタンス 約13 mH
一次・二次コイル間の 一次・二次コイル間の
絶縁抵抗 100 MΩ以上 絶縁抵抗 100 MΩ以上
単位 mm
図JA.2−電流波高値検出用相互誘導器
参考文献 JIS C 3104 平角銅線

――――― [JIS C 2550-3 pdf 23] ―――――

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附属書JB
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
IEC 60404-10:2016,Magnetic materials−Part 10: Methods of measurement of magnetic
JIS C 2550-3:2019 電磁鋼帯試験方法−第3部 : 中間周波磁気特性の測定方法
properties of electrical steel strip and sheet at medium frequencies
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
規格
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
番号
及び題名 番号 の評価
3 用語及び定 この規格で使用して 3 用語の定義は記載され 追加 JISではIEC 60050-221の用語の定 読者の理解を助けるため追加し
義 いる用語の定義。 ていない。 義を追加した。 た。IEC規格の変更は提案予定な
し。
4 交流磁気測 4.3 試験片 4.3 試験片は12枚以上で,4追加 JISでは試験片枚数の推奨値を表 測定上好ましい試験片枚数を示し
定の一般的原 の倍数だけを規定。 0Aとして追加した。 た。
理 IEC規格の修正を提案する。
4.4 エプスタイン試験 4.4 200ターンだけを推奨 変更 JISでは一次コイル及び二次コイルIEC規格の修正を提案する。
器 値としている。 の総巻き数の推奨値について,国内
で使用されている200ターン360
ターンの範囲を推奨とした。
4.7.1 一般事項 4.7.1 変更
入力1 000 Ω/Vは現在は JISでは二次電圧測定用交流電圧計IEC規格の修正を提案する。
一般的ではない。 の入力インピーダンスについて,一
般に使用されるデジタル電圧計で
の推奨値をIEC 60404-6の記載に従
い1 MΩとした。
4.7.2 平均値形交流電 4.7.2 変更
入力1 000 Ω/Vは現在は JISでは平均値形交流電圧計の入力IEC規格の修正を提案する。
圧計 一般的ではない。 インピーダンスについて,一般に使
平均値形交流電圧計 用されるデジタル電圧計での推奨
C2
の入力インピーダン 値をIEC 60404-6の記載に従い1
55
スの記載 MΩとした。
0-
3
4.7.3A 波高値交流電 − − 追加 JISでは波高値交流電圧計に対するIEC規格の修正を提案する。
: 2
圧計 確度を規定した。
019
3

――――― [JIS C 2550-3 pdf 24] ―――――

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C2
3
(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
国際 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
550
規格
-
3
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
: 2
番号
及び題名 番号 の評価
01
6 磁気分極の 6.4.1 平均値電圧測定 6.4.1 変更
入力1 000 Ω/Vは現在は JISでは平均値電圧測定の入力インIEC規格の修正を提案する。
9
波高値,磁界 一般的ではない。 ピーダンスについて,一般に使用さ
の強さの実効 れるデジタル電圧計での推奨値を
値,磁界の強 IEC 60404-6の記載に従い1 MΩと
さの波高値及 した。
び皮相電力の 6.5 測定手順 6.5 皮相電力の測定方法の 追加 皮相電力の測定方法を追加した。 読者の理解を助けるため追加し
測定手順 記載はない。 た。IEC規格の変更は提案予定な
し。
6.8 磁界の強さの波高 6.8 実効値表示された平均 追加 磁界の強さを実効値表示された平 読者の理解を助けるため追加し
値の測定 値形交流電圧計の読み 均値形交流電圧計の読みから算出 た。IEC規格の変更は提案予定な
を使用する場合の記載 するときの数式を追加した。 し。
はない。
7 試験報告書 − 7 試験報告書 削除 我が国の一般的な取引では製品に 我が国で一般的となっている取引
と整合させた。IEC規格の変更は
試験成績表を添付するため,従来か
ら,JISでは製品規格に試験成績表提案予定なし。
を規定し,試験方法の規格から,試
験報告書の規定を削除している。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60404-10:2016,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 削除 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD 国際規格を修正している。

JIS C 2550-3:2019の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60404-10:2016(MOD)

JIS C 2550-3:2019の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 2550-3:2019の関連規格と引用規格一覧