この規格ページの目次
28
C 2570-1 : 2015
注記 対応国際規格の4.22.3及び4.22.4の規定内容を4.22.3にまとめ直した。
4.22.1 初期測定
NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.22.2 試験
NTCサーミスタの二液槽温度急変試験は,次の条件でJIS C 60068-2-14の試験Ncに規定する手順によ
って実施する。
− 下限温度TAは,カテゴリ下限温度とする。
− 上限温度TBは,カテゴリ上限温度とする。
− 浸せき時間t1及び移行時間t2は,個別規格に規定する。
− サイクル数は,5回,10回,25回,50回及び100回の中から選択する。
− 試験に用いる媒体は,個別規格に規定する。
注記 二液は,水又はオイルとすることが望ましい。
4.22.3 最終測定及び要求事項
NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施し,その外観に損傷があってはならない。
NTCサーミスタは,初期測定(4.22.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この
最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。
4.23 低温(耐寒性)(個別規格に規定がある場合)
4.23.0A 一般事項
NTCサーミスタの低温(耐寒性)試験は,次の手順によって実施する。
注記 対応国際規格の4.23.2及び4.23.3の規定内容を4.23.2にまとめ,また,4.23.44.23.6を4.23.3
にまとめ直した。
4.23.1 初期測定
NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.23.2 試験
NTCサーミスタの低温(耐寒性)試験は,次のうちいずれかの試験方法を選択し,実施する。
a) 試験方法1 検知用NTCサーミスタの試験は,個別規格に規定するカテゴリ下限温度の厳しさを用い,
JIS C 60068-2-1(試験Ab)に規定する手順によって実施する。カテゴリ下限温度は,表1の中から選
択し,試験時間は,2時間,16時間,72時間,96時間,168時間,250時間,500時間及び1 000時間
の中から選択する。
NTCサーミスタは,試験室温度からカテゴリ下限温度までの任意温度の試験槽中に入れてもよい。
b) 試験方法2 その他アプリケーション用のNTCサーミスタの試験は,個別規格に規定するカテゴリ下
限温度の厳しさを用い,JIS C 60068-2-1(試験Ad)に規定する手順によって実施する。カテゴリ下限
温度は,表1の中から選択し,試験時間は,2時間,16時間,72時間,96時間,168時間,250時間,
500時間及び1 000時間の中から選択する。
4.23.3 最終測定及び要求事項
NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ
ばならない。
NTCサーミスタは,初期測定(4.23.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この
最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。
絶縁形NTCサーミスタの場合,その絶縁抵抗値を4.8に従って測定する。その測定値は,個別規格に規
――――― [JIS C 2570-1 pdf 31] ―――――
29
C 2570-1 : 2015
定する限度値以上とする。
4.24 高温(耐熱性)(個別規格に規定がある場合)
4.24.0A 一般事項
NTCサーミスタの高温(耐熱性)試験は,次の手順によって実施する。
注記 対応国際規格の4.24.2及び4.24.3の規定内容を4.24.2にまとめ,また,4.24.44.24.6を4.24.3
にまとめ直した。
4.24.1 初期測定
NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.24.2 試験
NTCサーミスタの高温(耐熱性)試験は,次のうちいずれかの試験方法を選択し,実施する。
a) 試験方法1 検知用NTCサーミスタの試験は,個別規格に規定するカテゴリ上限温度の厳しさを用い,
JIS C 60068-2-2(試験Bb)に規定する手順によって実施する。カテゴリ上限温度は,表1の中から選
択し,試験時間は,2時間,16時間,72時間,96時間,168時間,250時間,500時間及び1 000時間
の中から選択する。
NTCサーミスタは,試験室温度からカテゴリ上限温度までの任意温度の試験槽中に入れてもよい。
b) 試験方法2 検知用以外のNTCサーミスタ試験は,個別規格に規定するカテゴリ上限温度の厳しさを
用い,JIS C 60068-2-2(試験Bd)に規定する手順によって実施する。カテゴリ上限温度は,表1の中
から選択し,試験時間は,2時間,16時間,72時間,96時間,168時間,250時間,500時間及び1 000
時間の中から選択する。
4.24.3 最終測定及び要求事項
NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ
ばならない。
NTCサーミスタは,初期測定(4.24.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この
最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。
絶縁形NTCサーミスタの場合,その絶縁抵抗値を4.8の規定によって測定し,測定値は,個別規格に規
定する限度値以上とする。
4.25 高温高湿(定常)
4.25.0A 一般事項
NTCサーミスタの高温高湿(定常)試験は,次の手順によって実施する。
注記 対応国際規格の4.25.2及び4.25.3の規定内容を4.25.2にまとめ,また,4.25.54.25.7を4.25.4
にまとめ直した。このため,4.25.4を4.25.3とした。
4.25.1 初期測定
NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.25.2 試験
NTCサーミスタの高温高湿(定常)試験は,次のうちいずれかの試験方法を選択し,実施する。
a) 試験方法1(非絶縁形NTCサーミスタの場合) 非絶縁形NTCサーミスタ試験は,個別規格に規定す
る耐候性カテゴリの厳しさを用い,JIS C 60068-2-78に規定する手順によって実施する。
b) 試験方法2(絶縁形NTCサーミスタの場合) 絶縁形NTCサーミスタの試験は,a)に規定する試験方
法1によって実施する。ただし,個別規格に規定がある場合,最大電力消費時の電圧の1/20,かつ,
0.5 Vを超える直流電圧を試験中にNTCサーミスタの端子間に印加することが望ましい。
――――― [JIS C 2570-1 pdf 32] ―――――
30
C 2570-1 : 2015
なお,低抵抗NTCサーミスタには,この試験を適用しない。
4.25.3 後処理
NTCサーミスタを,試験槽から取り出し,4.3.2の規定によって後処理する。
4.25.4 最終測定及び要求事項(非絶縁形NTCサーミスタの場合)
NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ
ばならない。
NTCサーミスタは,次の特性を測定し,満足しなければならない。
a) 非絶縁形NTCサーミスタの場合 初期測定(4.25.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを
測定する。この最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の
範囲内とする。
b) 絶縁形NTCサーミスタの場合 その絶縁抵抗値は4.8の規定によって測定する。その測定値は,個別
規格に規定する限度値以上とする。NTCサーミスタは,4.9に規定する耐電圧試験中に絶縁破壊又は
フラッシオーバが発生してはならない。
4.26 耐久性
4.26.0A 一般事項
NTCサーミスタの耐久性試験は,4.26.14.26.5の全て又はいずれかの試験を選択し,実施する。
4.26.1 室温における連続最大電流Imax25通電での耐久性(突入電流抑制用NTCサーミスタに適用)
4.26.1.0A 一般事項
NTCサーミスタの室温における連続最大電流Imax25通電での耐久性試験は,次の手順で実施する。
注記 対応国際規格の4.26.1.24.26.1.6の規定内容を4.26.1.2にまとめた。このため,4.26.1.7を4.26.1.3
とした。
4.26.1.1 初期測定
NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.26.1.2 試験
NTCサーミスタの室温における連続最大電流Imax25通電での耐久性試験は,次の条件を用いて実施する。
a) 試験回路は,図13に示す回路とする。
b) TCサーミスタの取付けは,個別規格に規定がない場合,NTCサーミスタ端子の有効長が20 mm
25 mmとなるように実施する。また,どのNTCサーミスタも,その他のNTCサーミスタの温度に明
らかな影響を及ぼすことがないように配置する。
c) 試験温度は,15 ℃35 ℃とする。ただし,試験開始時の温度の±5 ℃に保持しなければならない。
d) TCサーミスタに流れる電流が,Imax25となるように調節する。
e) 試験時間は,1 000時間とする。ただし,168時間,500時間及び1 000時間後に,負荷を取り外して
中間測定するために,NTCサーミスタを4.3.2の規定によって後処理する。中間測定の後,NTCサー
ミスタを試験条件下に戻す。どのNTCサーミスタにおいても負荷の取外しから復帰までの時間間隔は
12時間以下とする。
――――― [JIS C 2570-1 pdf 33] ―――――
31
C 2570-1 : 2015
E : 可変安定化交流電源
Rs : 負荷(可変抵抗器)
V : 交流電圧計
A : 交流電流計
Th : 供試NTCサーミスタ
図13−室温におけるImax25での耐久性評価回路
4.26.1.3 最終測定及び要求事項
NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施し,その外観に損傷がなく,表示が判読できなければ
ならない。初期測定(4.26.1.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この最終測定
値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。
4.26.2 室温における周期的最大電流Imax25通電での耐久性(突入電流抑制用NTCサーミスタに適用)
4.26.2.0A 一般事項
NTCサーミスタの室温における周期的最大電流Imax25通電での耐久性試験は,次の手順で実施する。
注記 対応国際規格の4.26.2.24.26.2.7の規定内容を4.26.2.2にまとめた。このため,4.26.2.8を4.26.2.3
とした。
4.26.2.1 初期測定
NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.26.2.2 試験
NTCサーミスタの室温における周期的最大電流Imax25通電での耐久性試験は,次の条件を用いて実施す
る。
a) 試験回路は,図13に示す回路とする。
b) TCサーミスタの取付けは,個別規格に規定がないとき,NTCサーミスタ端子の有効長が20 mm
25 mmとなるように接続する。また,どのNTCサーミスタも,その他のNTCサーミスタの温度に明
らかな影響を及ぼすことがないように配置する。NTCサーミスタに過度の通気があってはならない。
c) TCサーミスタに流れる電流が,Imax25となるように調節する。
d) 個別規格に規定がない場合,1分間のON,5分間のOFFを1サイクルとする断続的な電力負荷を1 000
サイクル繰り返す。
試験サイクルは,NTCサーミスタが室温まで冷却したときに開始し,NTCサーミスタの消費電力が
Pmax25に達したときに終了する。
注記 これは,各サイクルが室温と,消費電力がPmax25になったときの温度との間の抵抗−温度特
性部分を含んでいることが望ましいことを意味している。
e) 500サイクル及び1 000サイクルの後に,負荷を取り外し,4.3.2の規定によってNTCサーミスタを後
処理して,中間測定を実施する。中間測定の後,NTCサーミスタを試験条件下に戻す。どのNTCサ
ーミスタも負荷の取外しから復帰までの時間間隔は,12時間以下とする。
4.26.2.3 最終測定及び要求事項
NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ
ばならない。
――――― [JIS C 2570-1 pdf 34] ―――――
32
C 2570-1 : 2015
NTCサーミスタは,初期測定(4.26.2.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。こ
の最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。
4.26.3 T3及びPmaxにおける耐久性(突入電流抑制用NTCサーミスタ以外のNTCサーミスタに適用)
4.26.3.0A 一般事項
NTCサーミスタのT3及びPmaxにおける耐久性試験は,次の手順で実施する。
注記 対応国際規格の4.26.3.24.26.3.6の規定内容を4.26.3.2にまとめた。また,4.26.3.7及び4.26.3.8
を4.26.3.3とした。
4.26.3.1 初期測定
NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.26.3.2 試験
NTCサーミスタのT3及びPmaxにおける耐久性試験は,次の条件を用いて実施する。
a) TCサーミスタを試験槽内に取り付ける。ただし,NTCサーミスタは,試験条件下で,規定する限度
値内の温度を保てるように試験槽内に配置する。このとき,試験槽は,JIS C 60068-2-2(試験Bb)に
規定する要求事項を満足しなければならない。
b) 温度T3±2 ℃(図2参照)において,消費電力がPmaxの状態で1 000時間試験する。
c) TCサーミスタを,168時間及び500時間後に,試験槽から取り出し,標準試験状態で1時間以上2
時間以下の時間で後処理し,中間測定を実施する。中間測定では,初期測定(4.26.3.1参照)と同じ特
性パラメータを測定する。この測定結果と初期測定結果とを比較したとき,その変化率は個別規格に
規定する範囲内でなければならない。中間測定の後,NTCサーミスタを試験条件下に戻す。どのNTC
サーミスタも負荷の取外しから復帰までの時間間隔は,12時間以下とする。
d) 1 000時間±48時間後,NTCサーミスタを試験槽から取り出し,標準試験状態で1時間以上2時間以
下の時間で後処理する。
4.26.3.3 最終測定及び要求事項
試験後,NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施する。外観に損傷がなく,表示は判読できな
ければならない。
NTCサーミスタは,初期測定(4.26.3.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。こ
の最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。
4.26.4 カテゴリ上限温度における耐久性
4.26.4.0A 一般事項
NTCサーミスタのカテゴリ上限温度における耐久性試験は,次の手順で実施する。
注記 対応国際規格の4.26.4.24.26.4.6の規定内容を4.26.4.2にまとめた。また,4.26.4.7及び4.26.4.8
を4.26.4.3とした。
4.26.4.1 初期測定
NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.26.4.2 試験
NTCサーミスタのカテゴリ上限温度における耐久性試験は,次の条件を用いて実施する。
a) TCサーミスタを試験槽内に取り付ける。ただし,NTCサーミスタは,試験条件下で,規定する限界
値内の温度を保てるように試験槽内に配置する。このとき,試験槽は,JIS C 60068-2-2(試験Bb)に
規定する要求事項を満足しなければならない。
b) 温度T3±2 ℃(図2参照)において,消費電力がPmaxの状態で1 000時間試験する。
――――― [JIS C 2570-1 pdf 35] ―――――
次のページ PDF 36
JIS C 2570-1:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60539-1:2008(MOD)
JIS C 2570-1:2015の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 2570-1:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称