JIS C 2570-1:2015 直熱形ＮＴＣサーミスタ―第１部：品目別通則 | ページ 6

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4.13.2 試験
  NTCサーミスタを,個別規格に規定がない場合,4.11.2の規定によって固定し,測定容器に挿入する。
容器に挿入する前に,NTCサーミスタを,図12に示す回路に接続する。個別規格に規定がある場合,そ
の規定による。
  電圧計は,NTCサーミスタの抵抗値に比べて十分高いインピーダンスをもち,電圧計及び電流計の確度
は,1 %以内とする。また,抵抗値の測定装置の精度は,0.1 %以内とする。
                                                                E     : 可変安定化直流電源
                                                                V     : 直流電圧計
                                                                A     : 直流電流計
                                                                Th    : 供試NTCサーミスタ
                                                                UTH   : 供試NTCサーミスタに
                                                                      かかる電圧
                                                                ITH   : 供試NTCサーミスタに
                                                                      流れる電流
                                    図12−熱時定数測定回路
  NTCサーミスタの自己発熱からの冷却による熱時定数の測定方法は,次による。
  連動スイッチをA側に閉じ,UTH/ITHが,Tbにおけるゼロ負荷抵抗値の60 %80 %の値になるように,
電流ITHを調整し,測定器の値を安定させる。
  連動スイッチをB側に閉じ,NTCサーミスタのゼロ負荷抵抗値が,温度Tbにおけるゼロ負荷抵抗値に
なったときに時間の計測を開始し,その後ゼロ負荷抵抗値が,温度Tiにおけるゼロ負荷抵抗値に到達した
ときに計測を終了する。
  測定した時間が,自己発熱からの冷却による熱時定数            
4.13.3 要求事項
  NTCサーミスタの自己発熱からの冷却による熱時定数は,個別規格に規定する値の範囲内とする。
4.13.3A 個別規格に規定する事項
  4.13.2で用いる媒質の種類及び流量(空気の場合)又は流量及び粘度(液体の場合),並びに温度Ta,温
度Tb及びこれらの許容差を,個別規格に規定する。

4.14 端子強度(表面実装形NTCサーミスタ以外に適用)

4.14.0A 一般事項
  NTCサーミスタの端子強度試験は,次の手順によって実施する。
    注記 対応国際規格の4.14のa)を4.14.0Bとし,b)及びc)を4.14.0Cとした。また,4.14.4及び4.14.5
          の規定内容を4.14.4にまとめ直した。
4.14.0B 初期測定
  NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.14.0C 試験
  NTCサーミスタの端子強度試験は,JIS C 60068-2-21の試験Ua1,Ub及びUcに規定する手順によって,
適正な試験を選択して実施する。ただし,個別規格に,曲がらない堅い端子であると明記している場合,

――――― [JIS C 2570-1 pdf 26] ―――――

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そのNTCサーミスタは試験Ub及びUcを適用しない。
4.14.1 試験Ua1−引張強度
  NTCサーミスタの端子に,個別規格に規定がない場合,次の引張力を10秒間加える。個別規格に規定
がある場合,その規定による。
− ワイヤ端子付き以外の全てのNTCサーミスタの端子 : 20 N
− ワイヤ端子付きNTCサーミスタの端子 : 表2参照
                                          表2−引張力
               断面積                         直径                  引張力 許容差±10 %
                mm2                           mm                            N
                 S≦0.05                       d≦0.25                       1
            0.05             0.1             0.2             0.5             1.2    注記 断面が円形のワイヤ,板状端子又はピン端子の公称断面積は,個別規格に規定する公称寸法から算出し
         た値と等しい。より線の公称断面積は,個別規格に規定する個々の公称断面積の合計で得られる。
4.14.2 試験Ub−曲げ強さ(端子の半数)
  NTCサーミスタの端子に,1回目の曲げに引き続いて,2回目に反対方向に曲げる(方法1)。
4.14.3 試験Uc−ねじり(残りの端子)
  180°の回転のねじりを交互に実施する(厳しさ2)。
4.14.4 最終検査,最終測定及び要求事項
  NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施し,外観に損傷があってはならない。
  NTCサーミスタは,初期測定(4.14.0B参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,その
測定値が個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。

4.15 はんだ耐熱性

4.15.0A 一般事項
  NTCサーミスタのはんだ耐熱性試験は,次の手順によって実施する。
4.15.1 前処理及び初期測定
  NTCサーミスタは,個別規格に規定がある場合,4.3.1に規定する方法で乾燥する。
  NTCサーミスタは,個別規格の規定によって初期測定を実施する。
4.15.2 試験
  NTCサーミスタのはんだ耐熱性試験は,個別規格に規定がない場合は,次の試験のうちいずれか一つを
選択し実施する。個別規格に規定がある場合,その規定による。
  試験条件の詳細は,個別規格に規定する。
a) 次のb)及びc)を除く全てのNTCサーミスタ
      JIS C 60068-2-20に規定する試験Tbの方法1(はんだ槽法)の規定による。
b) 個別規格にプリント配線板用に設計していないが,はんだ付け接続を意図すると規定したNTCサーミ
    スタ
  1)   IS C 60068-2-20に規定する試験Tbの方法1(はんだ槽法)の規定による。

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  2)   IS C 60068-2-20に規定する試験Tbの方法2(はんだこて法)の規定による。
c) 表面実装形NTCサーミスタ
      JIS C 60068-2-58に規定するリフロー法又ははんだ槽法の規定による。
4.15.3 後処理
  NTCサーミスタの後処理時間は,個別規格に規定がない場合,1時間2時間とする。ただし,表面実
装用NTCサーミスタの場合,24時間±2時間とする。個別規格に規定がある場合,その規定による。
4.15.4 最終検査,最終測定及び要求事項
  表面実装形NTCサーミスタ以外の,全てのNTCサーミスタは,次による。
− NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施し,外観に損傷がなく,表示は判読できなければな
    らない。
− NTCサーミスタは,個別規格の規定によって測定を実施し,個別規格に規定する要求事項を満足しな
    ければならない。
  表面実装形NTCサーミスタは,外観検査,及び初期測定と同じ測定を実施し,個別規格に規定する要求
事項を満足しなければならない。

4.16 はんだ付け性

4.16.0A 一般事項
  NTCサーミスタのはんだ付け性試験は,次の手順によって実施する。
    注記 個別規格に,はんだ付け用に設計していないと規定する端子には適用しない。
            個別規格に,エージングを適用するかどうかを規定することが望ましい。加速エージングを
          要求する場合は,JIS C 60068-2-20に規定するエージング手順のうちいずれか一つを適用する
          ことが望ましい。
            個別規格に規定がない場合には,不活性フラックスを用いて試験することが望ましい。
4.16.1 試験
  NTCサーミスタのはんだ付け性試験は,個別規格に規定がない場合は,次のa)   c)のうちいずれか適切
な試験を選定し実施する。個別規格に規定がある場合,その規定による。
a) 次のb)及びc)を除く全てのNTCサーミスタ
  1)   IS C 60068-2-20の試験Ta,方法1(はんだ槽法)の規定によるほか,次による。
        はんだ浸せき深さ(取付面又は部品本体から)は,厚さ1.5 mm±0.5 mmの熱遮蔽板を用いて,
      2.0 mmの箇所まで浸せきする。
  2)   IS C 60068-2-20の試験Ta,方法2(はんだこて法)の規定による。
  3)   IS C 60068-2-54のはんだ付け性(平衡法)の規定による。
b) 関連個別規格にプリント配線板用に設計していないが,はんだ付け接続を意図すると規定したNTC
    サーミスタ
  1)   IS C 60068-2-20の試験Ta,方法1(はんだ槽法)の規定によるほか,次による。
        はんだ浸せき深さ(取付面又は部品本体から) : 3.5 mm
  2)   IS C 60068-2-20の試験Ta,方法2(はんだこて法)の規定による。
c) 表面実装形NTCサーミスタ
  1)   IS C 60068-2-58のリフロー法又ははんだ槽法の規定による。
  2)   IS C 60068-2-69のはんだ槽平衡法又ははんだ小球平衡法の規定による。

――――― [JIS C 2570-1 pdf 28] ―――――

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4.16.2 最終検査,最終測定及び要求事項
  NTCサーミスタ端子部のはんだ付け性は,端子部にはんだがぬれていることによって確認する。
  NTCサーミスタは,個別規格に規定する要求事項を満足しなければならない。

4.17 温度急変

4.17.0A 一般事項
  NTCサーミスタの温度急変試験は,次の手順によって実施する。
    注記 対応国際規格の4.17.34.17.5の規定内容を4.17.3にまとめ直した。
4.17.1 初期測定
  NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.17.2 試験
  NTCサーミスタ温度急変試験は,次の条件でJIS C 60068-2-14の試験Naに規定する手順によって実施
する。
− 下限温度TAは,カテゴリ下限温度とする。
− 上限温度TBは,カテゴリ上限温度とする。
− サイクル数は,5回,10回,25回,50回,100回,500回及び1 000回の中から個別規格に規定する
    サイクル数を選定する。
− 個別規格に試験槽内の媒質に空気以外を規定してある場合,規定する条件で実施する。
4.17.3 最終測定及び要求事項
  NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷がなく,表示は判読できなけれ
ばならない。
  NTCサーミスタは,初期測定(4.17.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この
最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。
  絶縁形NTCサーミスタの場合,その絶縁抵抗値を4.8に規定する方法によって測定し,個別規格に規定
する限度値以上とする。

4.18 振動

4.18.0A 一般事項
  NTCサーミスタの振動試験は,次の手順によって実施する。
    注記 対応国際規格の4.18.34.18.5の規定内容を4.18.3にまとめ,また,4.18.6及び4.18.7を4.18.4
          としてまとめ直した。
4.18.1 初期測定
  NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.18.2 取付け
  NTCサーミスタを,個別規格に規定する固定方法及び/又は通常の固定する方法でしっかりと取り付け
る。
4.18.3 試験
  NTCサーミスタの振動試験で,特別な取付けジグを必要とする場合,個別規格にその取付けジグを規定
し,その取付けジグを用いる。
  NTCサーミスタの振動試験は,個別規格に規定する厳しさを用い,JIS C 60068-2-6(試験Fc)に規定す
る手順によって実施する。
  このとき,個別規格に規定がある場合,各方向の最終の1時間で,断続接触,断線又は短絡を確認する

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ための電気的な測定を実施する。検知装置は,断線を検知するのに十分な感度をもつ装置とする。
4.18.4 最終測定及び要求事項
  NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷があってはならない。
  NTCサーミスタは,初期測定(4.18.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この
最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.19 バンプ

  JIS C 60068-2-27(試験Ea)にJIS C 60068-2-29(試験Eb)が統合され,4.20に当該内容の記載がある
ため,この対応国際規格の細分箇条は適用しない。

4.20 衝撃

4.20.0A 一般事項
  NTCサーミスタの衝撃試験は,次の手順によって実施する。
    注記 対応国際規格の4.20.4及び4.20.5の規定内容を4.20.4にまとめ直した。
4.20.1 初期測定
  NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.20.2 取付け
  NTCサーミスタの取付けは,4.18.2の規定による。
4.20.3 試験
  NTCサーミスタの衝撃試験は,個別規格に規定する試験の厳しさを用い,JIS C 60068-2-27の試験Ea
に規定する手順によって実施する。印加するパルス波形は,JIS C 60068-2-27の4.1.1(基本パルスの波形)
に規定する正弦半波又はその他のパルス波形とする。
4.20.4 最終測定及び要求事項
  NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施する。その外観に損傷があってはならない。
  NTCサーミスタは,初期測定(4.20.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定する。この
最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とする。

4.21 自然落下(個別規格に規定がある場合)

4.21.0A 一般事項
  NTCサーミスタの自然落下試験は,次の手順で実施する。
    注記 対応国際規格の4.21.3及び4.21.4の規定内容を4.21.3にまとめ直した。
4.21.1 初期測定
  NTCサーミスタは,個別規格に規定する適切な温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録する。
4.21.2 試験
  NTCサーミスタの自然落下試験は,JIS C 60068-2-31の試験Ecの方法1の規定によって実施する。
4.21.3 最終測定及び要求事項
  NTCサーミスタは,目視によって外観検査を実施する。外観に損傷があってはならない。
  NTCサーミスタは,初期測定(4.21.1参照)と同じ温度におけるゼロ負荷抵抗値などを測定し,記録す
る。この最終測定値と初期測定値とを比較したとき,その変化率は,個別規格に規定する値の範囲内とす
る。

4.22 二液槽温度急変(個別規格に規定がある場合)

4.22.0A 一般事項
  NTCサーミスタの二液槽温度急変試験は,次の手順で実施する。

――――― [JIS C 2570-1 pdf 30] ―――――

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