JIS C 3216-1:2011 巻線試験方法―第1部:全般事項 | ページ 2

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C 3216-1 : 2011
附属書A
(参考)
JIS C 3216-2JIS C 3216-6の目次
JIS C 3216-2JIS C 3216-6の目次の一覧を次に示す。
*印の試験は使用者から要求があった場合に受渡当事者間の協定によって実施する。
JIS C 3216-2 巻線試験方法−第2部 : 寸法

1 適用範囲

2 引用規格

3 寸法
3.1 試験装置
3.1.1 丸線及び平角線
3.1.2 より線
3.2 試験方法
3.2.1 導体寸法
3.2.1.1 丸線
3.2.1.2 平角線
3.2.2 導体真円度
3.2.3 平角線の面取り
3.2.4 両側絶縁厚さ
3.2.4.1 一般
3.2.4.2 丸線
3.2.4.3 平角線
3.2.5 仕上がり寸法
3.2.5.1 丸線
3.2.5.2 平角線
3.2.5.3 より線
3.2.6 エナメル丸線の両側融着層厚さ
附属書JA(規定) 代替試験方法
JA.3 寸法
JIS C 3216-3 巻線試験方法−第3部 : 機械的特性

1 適用範囲

2 引用規格

3 伸び及び引張強さ
3.1 伸び
3.2 引張強さ
4 軟らかさ

――――― [JIS C 3216-1 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
C 3216-1 : 2011
4.1 公称導体径0.080 mmを超え1.600 mm以下の丸線
4.1A スプリングエロンゲーション法
4.2 公称導体径1.600 mmを超える丸線及び平角線
5 可とう性及び密着性
5.1 巻付け試験
5.1.1 丸線
5.1.2 平角線
5.1.3 横巻より線
5.2 伸長試験(公称導体径が1.600 mmを超えるエナメル丸線に適用)
5.3 急激伸長試験(公称導体径が1.000 mm以下のエナメル丸線に適用)
5.4 離試験(公称導体径が1.000 mmを超えるエナメル丸線に適用)
5.5 密着試験
5.5.1 エナメル平角線
5.5.2 ワニス含浸繊維巻丸線及び平角線
5.5.3 繊維巻エナメル丸線及び平角線
5.5.4 テープ巻丸線及び平角線(融着テープ巻線)
6 耐摩耗*(エナメル丸線に適用)
7 融着性*(公称導体径が0.050 mmを超え2.000 mm以下のエナメル丸線に適用)
7.1 ヘリカルコイル法
7.2 ツイストコイルの融着力
附属書A(参考) 熱融着線の融着力
附属書B(参考) すべり性試験
附属書JA(規定) 代替試験方法
JA.4 軟らかさ(スプリングバック法)
JA.5 可とう性及び密着性
JA.5.1 可とう性
JA.5.1.1 エナメル丸線
JA.5.1.2 平角線
JA.5.2 密着性
JA.5.2.1 エナメル丸線
JA.5.2.2 エナメル平角線
JA.5.2.3 横巻線
JA.7 融着性
JIS C 3216-4 巻線試験方法−第4部 : 化学的特性

1 適用範囲

2 引用規格

3 耐溶剤*(公称導体径が0.250 mmを超える丸線及び平角線に適用)
3.1 試験装置
3.2 試験手順

――――― [JIS C 3216-1 pdf 7] ―――――

6
C 3216-1 : 2011
4 耐冷媒*(エナメル丸線に適用)
4.1 抽出
4.2 絶縁破壊
5 はんだ付け性(エナメル丸線及びより線に適用)
5.1 試験装置
5.2 試験片
5.3 試験手順
6 耐加水分解及び耐トランス油*(エナメル線に適用)
6.1 丸線
6.2 平角線
附属書JA(規定) 代替試験方法
JA.3 耐溶剤*
JA.3.1 丸線
JA.3.2 平角線
JA.4 耐冷媒*
JA.4.1 絶縁破壊
JA.4.2 冷媒抽出
JA.5 はんだ付け性
JIS C 3216-5 巻線試験方法−第5部 : 電気的特性

1 適用範囲

2 引用規格

3 導体抵抗
4 絶縁破壊
4.1 概要
4.2 試験装置
4.3 公称導体径0.100 mm以下のエナメル丸線
4.4 公称導体径0.100 mmを超え2.500 mm以下のエナメル丸線
4.5 公称導体径2.500 mmを超えるエナメル丸線
4.6 繊維巻丸線
4.7 平角線
5 均一性(エナメル丸線及びテープ巻丸線に適用)
5.1 概要
5.2 低電圧均一性(公称導体径0.050 mm以下)
5.3 高電圧均一性(公称導体径0.050 mmを超え1.600 mm以下)
6 誘電正接(エナメル線及びより線に適用)
7 ピンホール試験
附属書A(参考) 誘電正接の測定法
附属書JA(規定) 代替試験方法
JA.4 絶縁破壊

――――― [JIS C 3216-1 pdf 8] ―――――

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C 3216-1 : 2011
JA.4.1 横巻線
JA.4.2 エナメル線
JA.5 均一性(公称導体径0.250 mmを超え1.600 mm以下に適用)
JIS C 3216-6 巻線試験方法−第6部 : 熱的特性

1 適用範囲

2 引用規格

3 耐熱衝撃(エナメル線及びテープ巻線に適用)
3.1 試験片
3.1.1 丸線
3.1.2 平角線
3.2 試験手順
3.3 結果
4 耐軟化*(公称導体径0.100 mmを超え1.600 mm以下のエナメル丸線及びテープ巻丸線に適用)
4.1 試験装置
4.2 試験手順
5 温度指数*
5.1 エナメル線
5.2 テープ巻線
6 加熱減量*(エナメル丸線に適用)
6.1 試験片
6.2 試験手順
附属書A(参考) 高温中破壊試験(エナメル丸線に適用)
附属書JA(規定) 代替試験方法
JA.3 耐熱衝撃
JA.3.1 丸線
JA.3.2 平角線
JA.4 耐軟化
JA.5 温度指数
JA.5.1 概要
JA.5.2 試験片
JA.5.3 試験手順
参考文献 JIS C 3202 エナメル線
JIS C 3204 横巻線

――――― [JIS C 3216-1 pdf 9] ―――――

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2
附属書JA
21
(参考)
6-
1 : 2
JISと対応国際規格との対比表
011
JIS C 3216-1:2011 巻線試験方法−第1部 : 全般事項 IEC 60851-1:1996 Winding wires−Test methods−Part 1: General, Amendment
1:2003及びAmendment 2:2009
(I) JISの規定
(II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差
国際規 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
箇条番号 内容 格番号 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
3 用語及 3.1.12 公称導体寸法 3.1.12 IEC 60317に従って定め 変更 JISにはIEC 60317に含まれな 日本国内での使用状況に合わせ
び定義並 られる導体の寸法。 た。
い導体寸法が存在するため,寸
びに試験 法の違いを考慮して,JIS C
における 3202及びJIS C 3204の内容を
一般事項 追加した
3.1.15A 温度指数 − − 追加 IEC規格にはない新規項目を 温度指数の理解を助けるため追
追加した 加したが,実質的な技術的差異は
ない。
3.2 試験方法における 3.2 温度1535 ℃,湿度45 変更 JIS Z 8703に従って温度20± 日本国内の環境条件に合わせた。
一般事項 75 %。 15 ℃,湿度(65±20)%とし
た。
附属書A JIS C 3216-2JIS C − − 変更 試験方法の一部を従来JISに 日本での使用状況に合わせた。次
(参考) 3216-6の試験項目の一部 変更し,また一部で従来JISに回見直し時(2015年予定)には国
を従来JISによる試験方 よる方法を選択できるように 際規格に整合を図る。
法に変更・追加した。 追加した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60851-1 :1996,Amd. 1:2003及びAmd. 2:2009,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 追加·················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。

JIS C 3216-1:2011の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60851-1:1996(MOD)
  • IEC 60851-1:1996/AMENDMENT 1:2003(MOD)
  • IEC 60851-1:1996/AMENDMENT 2:2009(MOD)

JIS C 3216-1:2011の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 3216-1:2011の関連規格と引用規格一覧