JIS C 4526-1-2:2020 機器用スイッチ―第1-2部:電子式スイッチの要求事項 | ページ 2

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C 4526-1-2 : 2020 (IEC 61058-1-2 : 2016)
表101−試験試料(続き)
注i) グローワイヤ試験及びボールプレッシャ試験には,それぞれJIS C 60695-2-11及びJIS C 60695-10-2による特
別な試料が必要である。
j) 特定の試験及び箇条24の試験のための試料の数は個別の項による。
k) MC試験はEMC試験計画及びスイッチの構造によって,追加の試料が必要な場合がある。
l) 異常動作及び故障状態の試験は一般に破壊試験である。一般に,スイッチは,次の試験のために修理及び再
使用はできない。例えば,内部の回路に電線をはんだ付けしたような特別に準備した試料は試験を行うため
に必要な場合がある。試料の総数はスイッチの構造による。詳細は箇条23による。
m) この試験は連続する試験の一部であり,新しい3個の試料はJIS C 4526-1の5.1で許可されている場合を除き,
使用してはならない。
注記 対応国際規格の誤記のため注h)を20.4から20.6に修正した。

6 定格

  定格は,JIS C 4526-1の箇条6(定格)による。

7 分類

  分類は,JIS C 4526-1の箇条7(分類)によるほか,次による。

7.24 機械式スイッチング素子だけをもつ動作サイクル(TC7)による分類

7.25 耐久性試験方法による分類

7.25.1 電気的耐久性試験方法“a”(表103)
7.25.2 電気的耐久性試験方法“b”(表103)

7.26 電子式スイッチに関する最小負荷による分類

7.27 電子式スイッチに関する試験条件による分類

7.27.1 電子式スイッチの熱電流又は最大定格抵抗負荷電流の機能試験条件
注記 この試験条件は,スイッチの適切な機能を反映する。この試験は,最終用途の実負荷を想定し
ていない。
7.27.2 電子式スイッチのJIS C 4526-1の7.2で分類する負荷の種類での模擬試験条件
注記 この試験条件は,スイッチの適切な機能を反映する。また,最終用途の全ての条件を想定して
いる。
7.27.3 電子式スイッチの最終用途の特定試験条件,例えば,機器の冷却条件

8 表示及び文書

  表示及び文書は,JIS C 4526-1の箇条8(表示及び文書)によるほか,次による。
表3に,次を追加する。

――――― [JIS C 4526-1-2 pdf 6] ―――――

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C 4526-1-2 : 2020 (IEC 61058-1-2 : 2016)
表102−スイッチの情報
番号 特性 細分箇条 情報の提示手段
全表示 限定表示
CT UT
12.3 定義されている場合の熱電流 3.2.12 文書 文書
12.4 電子制御の限界サイクル数(TC7) 7.24 文書 文書
12.5 耐久性試験a又はb 7.25 文書 文書
12.6 必要な場合最小負荷 7.26 文書 文書
12.7 機能試験及び模擬試験 7.27 文書 文書
12.8 冷却条件 7.22 文書 文書

9 感電に対する保護

  感電に対する保護は,JIS C 4526-1の箇条9(感電に対する保護)による。

10 接地接続の手段

  接地接続の手段は,JIS C 4526-1の箇条10(接地接続の手段)による。

11 端子及び端子部

  端子及び端子部は,JIS C 4526-1の箇条11(端子及び端子部)によるほか,次による。
11.5の適否の文章を,次に置き換える。
適否は,箇条17のTE2に従って判定する。定格10 000サイクル未満の電子式スイッチの場合,TE2試
験は完成スイッチに対して実施しなければならない。

12 構造

  構造は,JIS C 4526-1の箇条12(構造)による。

13 機構

  機構は,JIS C 4526-1の箇条13(機構)による。

14 固形異物,水の浸入及び高湿状態に対する保護

  固形異物,水の浸入及び高湿状態に対する保護は,JIS C 4526-1の箇条14(固形異物,水の浸入及び高
湿状態に対する保護)による。

15 絶縁抵抗及び耐電圧

  絶縁抵抗及び耐電圧は,JIS C 4526-1の箇条15(絶縁抵抗及び耐電圧)によるほか,次による。
次を15.1に追加する。
− 電子式スイッチに対する試験は,半導体スイッチング素子に直列に接続した機械式スイッチング素子
ももった電子式スイッチに対してだけ完全断路及びマイクロ断路間で行う。
− 電子式スイッチにおいて,保護インピーダンス及び部品によって相互接続した極間には試験を実施し
ない。

――――― [JIS C 4526-1-2 pdf 7] ―――――

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C 4526-1-2 : 2020 (IEC 61058-1-2 : 2016)

16 温度上昇

  温度上昇は,JIS C 4526-1の箇条16(温度上昇)による。

17 耐久性

17.1 一般要求事項

17.1.1 スイッチは,過度の摩耗又は有害な結果をもたらすことなく,通常の使用中に生じる電気的,熱
的及び機械的ストレスに耐えなければならない。
17.1.2 電子式スイッチは,表103に規定するTCの昇順に試験する。
試験状態は,7.27の分類に応じて次のとおりとする。
− 熱電流を製造業者が指定せず強制冷却なしの場合に,熱電流,又は最大定格抵抗性電流のときの7.27.1
に従う機能試験条件。
− 7.27.2に従う模擬試験条件,JIS C 4526-1の7.2に従う負荷の種類,JIS C 4526-1の7.22に分類した冷
却条件,並びに表104及び表105で規定する試験条件。
− 機器の冷却条件の下で,機器内又は機器外で機器と一緒に使用する,7.27.3に従う最終用途での特定
試験条件。
− 模擬試験条件又は最終用途の特定試験条件と組み合わせて,JIS C 4526-1の7.18の使用の形式に従う
試験条件。
注記 追加機械的操作手段(例えば,電気工具用の速度制限設定などの作動部材)は無視する。

――――― [JIS C 4526-1-2 pdf 8] ―――――

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C 4526-1-2 : 2020 (IEC 61058-1-2 : 2016)
C4
2
表103−電子式スイッチの電気的耐久性
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試験条件
6-
1
電子式スイッチのタイプ3) 機能試験(7.27.1) 模擬試験(7.27.2)(表104,表105) 最終用途の特定試験条件(7.27.3)
-2 : 2
完成スイッチ 接点単体 完成スイッチ 接点単体 完成スイッチ 接点単体
0
電子式接点 TL1 − TL3 − TL4 −
20(
をもたない TC5,TC6,TC8 TC5,TC6,TC8 TC5,TC6,TC8
IEC6
SD 1) TE1,TE3 TE1,TE3 TE1,TE3
105
直列接点の TL1 直列接点 : a) L3,TC5,TC6, a) 直列接点 : TL4 直列接点 :
8-
1
SD TC5,TC6,TC8 TC1,TL2をもつTC4 TC8,TE1,TE3 TL3,TC1,TC4 TC5,TC8 TL4をもつTC7
-2 : 2
TE1,TE3 TE1TE3 TE1TE3 TE1,TE3 TE1TE3
0
(短絡回路SD)2) (短絡回路SD)2) (短絡回路SD)2)
16)
b) L3,TC5,TC6, b) 直列接点 :
TC8,TE1,TE3 TL3,TC1,TC7
TE1TE3
(短絡回路SD)2)
並列接点の TL1 並列接点 : TL3 並列接点 : TL4 並列接点 :
SD TC5,TC6,TC8 TC1,TL2をもつTC4 TC5,TC6,TC8 TL3,TC1,TC4 TC5,TC8 TL4をもつTC7
TE1,TE3 TE1TE3 TE1,TE3 TE1TE3 TE1,TE3 TE1TE3
(非接続SD) (非接続SD) (非接続SD)
直列及び TL1 直列接点 : a) L1 a) 直列接点 : TL4 直列接点 :
並列接点の TC5,TC6,TC8 TC1,TL2をもつTC4 TC5,TC6,TC8 TL3,TC1,TC4 TC5,TC8 TL4をもつTC7
SD TE1,TE3 TE1TE3 TE1,TE3 TE1TE3 TE1,TE3 TE1TE3
(短絡回路SD)2) (短絡回路SD)2) (短絡回路SD)2)
b) L3 b) 直列接点 :
TC5,TC6,TC8 TL3,TC1,TC7
TE1,TE3 TE1TE3
(短絡回路SD)2)
並列接点 : a)又はb) 及び 並列接点 :
TC1,TL2をもつTC4 並列接点 : TL4をもつTC7
TE1TE3 TL3,TC1,TC7 TE1TE3
(非接続SD) TE1TE3 (非接続SD)
(非接続SD)

――――― [JIS C 4526-1-2 pdf 9] ―――――

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C 4526-1-2 : 2020 (IEC 61058-1-2 : 2016)
表103−電子式スイッチの電気的耐久性(続き)
TL=試験負荷の種類*
TL1=熱電流,又は熱電流が製造業者によって指定されていない場合には最大定格電流
TL2=最大定格抵抗性電流
TL3=定格負荷(7.2)
TL4=製造業者が指定した特定負荷(7.2.5)
TC=試験条件の種類
TC1=加速速度における増加電圧試験(17.5.1)
TC4=加速速度での試験(17.5.4)
TC5=手動機能試験(17.5.5)
TC6=最小負荷での任意の手動機能試験(17.5.6)
TC7=操作試験の限界回数(17.5.7)
TC8=耐久性試験(17.5.8)
TE=評価試験の種類
TE1=機能的適合性(17.6.1)
TE2=熱的適合性(17.6.2)
TE3=絶縁適合性(17.6.3)
* TC3及びTC9のように,この表の通常の試験順序に含まない試験は,定格によって必要な場合,試験順序に加えてもよい。これらの試験はサイクル試験条件
の前に追加する。
この表の四つの構造に該当しない設計のスイッチは,そのスイッチの構造に最も適切な試験方法を適用する。
1)
SD : 半導体素子
C4
2)
短絡回路は最大定格電流をもつ端子,接点及び他の部品に,最大試験電流を負荷として与えるように行う。
52
3)
SDと機械的接点との組合せで,かつ,SDと機械的接点との機能が互いに独立している場合には,機械的接点に対してはJIS C 4526-1-1の要求事項を適用する。
6-
1
a),b) 試験は,方法“a”又は方法“b”のいずれかを使用して完了しなければならない。“完成スイッチ”と“接点単体”の両方の試験に同じ方法を使用しなければ
-2 : 2
ならない。直列及び並列接点の試験のスイッチは,直列接点試験に使用したのと同じ方法“a”又は“b”に並列接点の試験を追加しなければならない。方法“a”
0
及び方法“b”の両方による試験は必要ない。
20(IEC6 1058-
1-2 : 2016
2
)

――――― [JIS C 4526-1-2 pdf 10] ―――――

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JIS C 4526-1-2:2020の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61058-1-2:2016(IDT)

JIS C 4526-1-2:2020の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 4526-1-2:2020の関連規格と引用規格一覧