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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
3.2 構造的に類似なコンデンサ
構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,本質的に同じ製造工程及び材
料で製造したコンデンサとする。
3.3 出荷対象ロットの成績証明書
個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合,出荷者は,JIS C 5101-1のQ.1.5(出
荷ロット成績証明書)によって,出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要求
する特性値は,静電容量値の変化,損失角の正接(tan δ)及び漏れ電流とする。
3.4 品質認証(QA)試験
3.4.1 一般事項
品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1のQ.2(品質認証手順)による。
ロットごと及び定期的品質検査に基づく品質認証試験の試験計画は,3.5による。定数抜取手順は,3.4.2
及び3.4.3による。
3.4.2 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取手順は,JIS C 5101-1のQ.2.4(初期生産品の品質認証用試験手順)による。試料は,認証を取
得しようとするコンデンサの全ての範囲を代表し,認証範囲は,個別規格に規定する全ての範囲又はその
一部でもよい。
試料は,最大定格電圧及び最小定格電圧と,それぞれの電圧での最大外形寸法と最小外形寸法とで構成
する4組合せとする。定格電圧の範囲が200 Vを超える場合,中間の定格電圧のコンデンサも試料に加え
る。これらの外形寸法と定格電圧との組合せにおいて,最大の公称静電容量を試料に選定する。したがっ
て,範囲認証の場合,試験は,4組合せ又は6組合せについて行う。認証範囲が4組合せ未満の場合,試
料数は,4組合せの場合と同数とする。
予備試料は,製造業者の責任ではない事故による不適合品の置換え用として,1組合せごとに2個(6
組合せの場合)又は3個(4組合せの場合)とする。
群0に規定する試料数は,全ての群の試験を適用する場合の試料数であり,適用しない試験がある場合,
適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。
品質認証の試験計画に,群を追加する場合の群0の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。
品質認証試験の場合の各群及び各副群で試験する試料数及び許容不適合数を,表2に示す。
3.4.3 試験
表2及び表3に規定する一連の試験は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証に必要な試験であり,
各群の試験は,記載の順序に従って行う。
全ての試料は,群0の試験を行った後,その他の群に分割する。
群0の試験の中で発生した不適合品は,その他の群に用いてはならない。
品質認証は,不適合数がゼロの場合に,合格とする。
表2及び表3には,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を規定している。
表2には,各試験又は各試験群に対する試料数及び許容不適合数の詳細を規定している。
表3には,試験条件及び要求事項の要点の一覧を示すとともに,個別規格に選定する試験方法,試験条
件などを規定している。
定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求事項は,個別規格に規定する品質確認検
査と同じであることが望ましい。
――――― [JIS C 5101-4 pdf 11] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表2−品質認証試験の抜取計画,評価水準EZ
群 試験項目 細分箇条番号 試料数 合格判定数(許容不
n e) 適合数)
c
0 大電流サージa) 4.21 108+12f)+12g)+12h) 0
外観 4.2
寸法 4.2
漏れ電流 4.3.1
静電容量 4.3.2
4.3.3
損失角の正接(tan δ)又は
等価直列抵抗(ESR)
インピーダンス b) 4.3.4
予備試料
1A 端子強度 4.4 12 0
はんだ耐熱性c) 4.5
1B はんだ付け性c) 4.6 12 0
温度急変 4.7
振動 4.8
バンプ又は衝撃b) 4.9又は4.10
1 一連耐候性 4.11 24 0
2 高温高湿(定常) 4.12 12 0
3 耐久性 4.13 36 0
4A サージ 4.14 12 0
4B 逆電圧b) 4.15 12f) 0
圧力弁d) 4.16
5A 高温保存 4.17 12 0
過渡過電圧d) 4.22
5B 低温保存b) 4.18 12g) 0
6 高温及び低温特性 4.19 12 0
充放電b) 4.20
注a) 固体電解コンデンサで,かつ,要求がある場合
b) 要求がある場合
c) ねじ端子又は個別規格にはんだ付けを意図しない端子と規定したコンデンサには適用しない。
d) 非固体電解コンデンサで,かつ,要求がある場合
e) 外形寸法と定格電圧との組合せは,3.4.2による。
f) 副群4Bの試験がある場合の追加の試料
g) 副群5Bの試験がある場合の追加の試料
h) 予備試料
――――― [JIS C 5101-4 pdf 12] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群0 ND 表2による
4.21 大電流サージc) JIS C 5101-1の
4.39による
4.2 外観 4.2.2による 外観に損傷がない
表示は,明瞭であり,かつ,個別規格の
規定による
4.2 寸法(詳細) 4.2.2による 個別規格の規定による
4.3.1 漏れ電流 4.3.1.2による 非固体電解コンデンサの場合 :
CNURh) 漏れ電流(μA)
(+20 ℃±2 ℃)
長寿命等級 一般等級
≦1 000 0.01 CNUR又 0.05 CNUR又
は1 μAの, は5 μAの,
いずれか大 いずれか大き
きい値 い値
>1 000 0.006 CNUR 0.03 CNUR+
+4 μA 20 μA
固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 :
≦0.1 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
一般等級 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
4.3.2 静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.3.3 損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 個別規格の規定による
又は等価直列抵抗
(ESR)
4.3.4 インピーダンスg) 4.3.4.2及び 個別規格の規定値以下
4.3.4.3による
群1A D 表2による
4.4 端子強度
4.4.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.4.3 最終検査
外観 4.2.2による 外観に損傷がない
4.5 はんだ耐熱性
d) 4.5.2による4.5.3 後処理 4.5.3による4.5.4 最終検査
外観 4.2.2による 外観に損傷がない
表示は,明瞭である
静電容量 4.3.2.2による 4.4.2の測定値に対して,
|ΔC/C|≦5 %
群1B D 表2による
4.6 はんだ付け性
d) 4.6.2による4.6.3 最終検査外観 4.2.2による 端子にはんだが良好に付着しているか又
は関連する個別規格の規定値を満足する
4.7 温度急変
4.7.3による
4.7.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.7.4 後処理 4.7.4による
――――― [JIS C 5101-4 pdf 13] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群1B (続き) D 表2による
4.7.5 最終検査
固体電解コンデンサの場合 :
外観 4.2.2による 外観に損傷がない
漏れ電流 4.3.1.2による 長寿命等級の場合 :
≦0.1 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
一般等級の場合 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 個別規格の規定による
インピーダンスg) 4.3.4.2及び 個別規格の規定による
4.3.4.3による
非固体電解コンデンサの場合 :
外観 4.2.2による 電解液の漏れがない又はその他の外観損
傷がない
4.8 振動
4.8.2による
4.8.3 最終検査
外観 4.2.2による 外観に損傷がなく,かつ,表示は,明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は,電解液
の漏れがない
静電容量 4.3.2.2による 個別規格に規定がない場合,
4.7.2の測定値に対して|ΔC/C|≦5 %
4.9 バンプ 4.9.2による
(又は4.10の衝撃)
4.10 衝撃
4.10.2による
(又は4.9のバンプ)
4.9.3 最終検査
又 は
4.10.3
外観 4.2.2による 外観に損傷がなく,かつ,表示は,明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は,電解液
の漏れがない
静電容量 4.3.2.2による 個別規格に規定がない場合,
4.7.2の測定値に対して|ΔC/C|≦5 %
――――― [JIS C 5101-4 pdf 14] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群1 D 表2による
4.11 一連耐候性
4.11.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.11.3 高温 JIS C 5101-1の
4.21.3による
4.11.4 温湿度サイクル JIS C 5101-1の
(試験Db), 4.21.4による
最初のサイクル
4.11.5 低温 JIS C 5101-1の
4.21.5による
4.11.6 減圧g) 4.11.6.2による
4.11.6.4 中間及び最終測定
外観 4.2.2による 絶縁破壊,フラッシオーバ又はケースの
有害な変形がない
4.11.7 温湿度サイクル JIS C 5101-1の
(試験Db), 4.21.7による
残りのサイクル
4.11.8 封止g) 4.11.8.2による
4.11.8.3 後処理 4.11.8.3による
4.11.9 最終検査
外観 4.2.2による 外観に損傷がなく,かつ,表示は,明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は,電解液
の漏れがない
漏れ電流 4.3.1.2による 非固体電解コンデンサの場合 :
CNURh) 漏れ電流(μA)
(+20 ℃±2 ℃)
長寿命等級 一般等級
≦1 000 0.01 CNUR又 0.05 CNUR又
は1 μAの, は5 μAの,
いずれか大 いずれか大き
きい値 い値
>1 000 0.006 CNUR 0.03 CNUR+
+4 μA 20 μA
固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 :
≦0.1 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
一般等級 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
静電容量 4.3.2.2による 4.5.2,4.9.2又は4.10.2の測定値に対して,
固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 : |ΔC/C|≦5 %
一般等級 : |ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合 :
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 初期規定値の1.2倍以下
――――― [JIS C 5101-4 pdf 15] ―――――
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JIS C 5101-4:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-4:2016(IDT)
JIS C 5101-4:2019の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
JIS C 5101-4:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5101-1:2019
- 電子機器用固定コンデンサ―第1部:品目別通則
- JISC60068-2-69:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-69部:試験―試験Te/Tc:電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
- JISZ8601:1954
- 標準数