この規格ページの目次
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群2 D 表2による
4.12 高温高湿(定常)
4.12.3による
4.12.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.12.4 後処理 4.12.4による
4.12.5 最終検査
外観 4.2.2による 外観に損傷がなく,かつ,表示は,明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は,電解液
の漏れがない
漏れ電流 4.3.1.2による 非固体電解コンデンサの場合 :
CNURh) 漏れ電流(μA)
(+20 ℃±2 ℃)
長寿命等級 一般等級
≦1 000 0.01 CNUR又 0.05 CNUR又
は1 μAの, は5 μAの,
いずれか大 いずれか大き
きい値 い値
>1 000 0.006 CNUR 0.03 CNUR+
+4 μA 20 μA
固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 :
≦0.1 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
一般等級 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
静電容量 4.3.2.2による 4.12.2の測定値に対して
固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 : |ΔC/C|≦5 %
一般等級 : |ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 : |ΔC/C|≦10 %
一般等級 : |ΔC/C|≦20 %
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 初期規定値の1.2倍以下
インピーダンスg) 4.3.4.2及び 個別規格に規定の値の1.2倍以下
4.3.4.3による
外部絶縁の絶縁抵抗 JIS C 5101-1の ≧100 MΩ
g)
4.5.4による
外部絶縁の耐電圧g) JIS C 5101-1の 絶縁破壊及びフラッシオーバがない
4.6.3.4による
――――― [JIS C 5101-4 pdf 16] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群3 D 表2による
4.13 耐久性
4.13.3による
4.13.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.13.4 後処理 4.13.4による
4.13.5 最終検査
固体電解コンデンサの場合 :
外観 4.2.2による 外観に損傷がない
表示は明瞭である
漏れ電流 4.3.1.2による 長寿命等級 :
≦0.1 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
一般等級 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
静電容量 4.3.2.2による 4.13.2の測定値に対して
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 初期規定値の1.2倍以下
インピーダンスg) 4.3.4.2及び 個別規格に規定の値の1.2倍以下
4.3.4.3による
外部絶縁の絶縁抵抗 JIS C 5101-1の ≧100 MΩ
g)
4.5.4による
外部絶縁の耐電圧g) JIS C 5101-1の 絶縁破壊及びフラッシオーバがない
4.6.3.4による
非固体電解コンデンサの場合 :
外観 4.2.2による 電解液の漏れ,又は外観に損傷がない
表示は明瞭である
漏れ電流 4.3.1.2による CNURh) 漏れ電流(μA)
(+20 ℃±2 ℃)
長寿命等級 一般等級
≦1 000 0.01 CNUR又 0.05 CNUR又
は1 μAの, は5 μAの,
いずれか大 いずれか大き
きい値 い値
>1 000 0.006 CNUR+0.03 CNUR+
4 μA 20 μA
静電容量 4.3.2.2による 4.13.2の測定値に対して
長寿命等級 :
定格電圧 ΔC/C
V %
UR≦6.3 −30+15
6.3160 一般等級 :
定格電圧 ΔC/C
V %
UR≦6.3 −40+25
6.3160 ――――― [JIS C 5101-4 pdf 17] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群3 (続き) D 表2による
4.13.5 最終検査(続き)
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 長寿命等級 :
個別規格の規定値の1.5倍以下
一般等級 :
個別規格の規定値の2倍以下又は0.4のう
ちいずれか小さい方
インピーダンスg) 4.3.4.2及び 長寿命等級 :
4.3.4.3による 個別規格の規定値の2倍以下
一般等級 :
個別規格の規定値の4倍以下
外部絶縁の絶縁抵抗 JIS C 5101-1の ≧100 MΩ
g)
4.5.4による
外部絶縁の耐電圧g) JIS C 5101-1の 絶縁破壊及びフラッシオーバがない
4.6.3.4による
群4A D 表2による
4.14 サージ
4.14.3による
4.14.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.14.4 後処理 4.14.4による
4.14.5 最終検査
外観f) 4.2.2による 外観に損傷がなく,かつ,非固体電解コ
ンデンサの場合は,電解液の漏れがない
漏れ電流 4.3.1.2による 非固体電解コンデンサの場合 :
CNURh) 漏れ電流(μA)
(+20 ℃±2 ℃)
長寿命等級 一般等級
≦1 000 0.01 CNUR又 0.05 CNUR又
は1 μAの, は5 μAの,
いずれか大 いずれか大
きい値 きい値
>1 000 0.006 CNUR+ 0.03 CNUR+
4 μA 20 μA
固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 :
≦0.1 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
一般等級 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
静電容量 4.3.2.2による 4.14.2の測定値に対して,
固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 : |ΔC/C|≦5 %
一般等級 : |ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合 :
|ΔC/C|≦15 %
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 個別規格の規定による
――――― [JIS C 5101-4 pdf 18] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群4B D 表2による
4.15 逆電圧g) 4.15.2による
4.15.1 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.15.3 後処理 4.15.3による
4.15.4 最終検査
漏れ電流 4.3.1.2による 非固体電解コンデンサの場合 :
CNURh) 漏れ電流(μA)
(+20 ℃±2 ℃)
長寿命等級 一般等級
≦1 000 0.01 CNUR又 0.05 CNUR又
は1 μAの, は5 μAの,
いずれか大 いずれか大き
きい値 い値
>1 000 0.006 CNUR+0.03 CNUR+
4 μA 20 μA
固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 :
≦0.1 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
一般等級 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
静電容量 4.3.2.2による 4.15.1の測定値に対して,
固体電解コンデンサの場合 :
|ΔC/C|≦10 %
非固体電解コンデンサの場合 :
個別規格の規定による
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 個別規格の規定による
4.16 圧力弁f) JIS C 5101-1の 圧力弁は,爆発又は発火の危険なしに作
4.28による 動する
――――― [JIS C 5101-4 pdf 19] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群5A Dj) 表2による
4.17 高温保存
4.17.3による
4.17.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.17.4 後処理 4.17.4による
4.17.5 最終検査
外観 4.2.2による 外観に損傷がなく,かつ,非固体電解コ
ンデンサの場合は,電解液の漏れがない
漏れ電流 4.3.1.2による 固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 :
≦0.1 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
一般等級 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
非固体電解コンデンサの場合 :
4.3.1の規定値の2倍以下
静電容量 4.3.2.2による 4.17.2の測定値に対して,
固体電解コンデンサの場合 :
|ΔC/C|≦5 %
非固体電解コンデンサの場合 :
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 固体電解コンデンサの場合 :
個別規格の規定による
非固体電解コンデンサの場合 :
初期規定値の1.2倍以下
4.22 過渡過電圧f) JIS C 5101-1の
4.40による
4.22.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.22.3 最終検査
外観 4.2.2による 個別規格の規定による
漏れ電流 4.3.1.2による 個別規格の規定による
静電容量 4.3.2.2による 個別規格の規定による
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 個別規格の規定による
その他の項目 個別規格の規定による
――――― [JIS C 5101-4 pdf 20] ―――――
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JIS C 5101-4:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-4:2016(IDT)
JIS C 5101-4:2019の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
JIS C 5101-4:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5101-1:2019
- 電子機器用固定コンデンサ―第1部:品目別通則
- JISC60068-2-69:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-69部:試験―試験Te/Tc:電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
- JISZ8601:1954
- 標準数