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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群5Be) ND 表2による
4.18 低温保存f) JIS C 5101-1の
4.25.2.2による
4.18.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.18.4 後処理 4.18.4による
4.18.5 最終検査
外観 4.2.2による 外観に損傷がなく,かつ,表示は,明瞭
である
非固体電解コンデンサの場合は,電解液
の漏れがない
漏れ電流 4.3.1.2による 非固体電解コンデンサの場合 :
CNURh) 漏れ電流(μA)
(+20 ℃±2 ℃)
長寿命等級 一般等級
≦1 000 0.01 CNUR又 0.05 CNUR又
は1 μAの, は5 μAの,
いずれか大 いずれか大き
きい値 い値
>1 000 0.006 CNUR+0.03 CNUR+
4 μA 20 μA
固体電解コンデンサの場合 :
長寿命等級 :
≦0.1 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
一般等級 :
≦0.15 CNUR(+20 ℃±2 ℃)h)
静電容量 4.3.2.2による 4.18.2の測定値に対して,
|ΔC/C|≦10 %
損失角の正接(tan δ) 4.3.3.2による 個別規格の規定による
――――― [JIS C 5101-4 pdf 21] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群6 D 表2による
4.19 高温及び低温特性
JIS C 5101-1の
4.29による
固体電解コンデンサの場合 :
段階1 : 20 ℃
静電容量c) ) 4.3.2.2による
インピーダンス 4.3.4.2及び
(段階2と同じ 4.3.4.3による
測定周波数)c) )
損失角の正接(tan δ)c) 4.3.3.2による
段階2 : カテゴリ下限温度
静電容量c) 4.3.2.2による 段階1の測定値に対して,
|ΔC/C|≦20 %
インピーダンス 4.3.4.3及び 段階1の測定値に対する比 :
4.3.4.4による 2倍以下
損失角の正接(tan δ)c) 4.3.3.2による 初期規定値に対して2倍以下
段階3 : カテゴリ上限温度
漏れ電流 4.3.1.2による 4.3.1.3の規定値に対して,
+125 ℃(UR) : ≦15倍
+105 ℃(UR) : ≦12.5倍
+100 ℃(UR) : 個別規格の規定による
+ 85 ℃(UR) : ≦10倍
静電容量c) 4.3.2.2による 段階1の測定値に対して,
|ΔC/C|≦20 %
損失角の正接(tan δ)c) 4.3.3.2による 初期規定値以下
――――― [JIS C 5101-4 pdf 22] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
表3−品質認証試験計画(続き)
細分箇条番号, D 試験及び 試料数(n) 要求事項a)
試験及び検査項目a) 又は 測定条件a) 及び許容不
ND b) 適合数(c)
群6 (続き) D 表2による
4.19 高温及び低温特性
(続 き)非固体電解コンデンサの場合 :
段階1 : 20 ℃
静電容量f) ) 4.3.2.2による
損失角の正接(tan δ)f) 4.3.3.2による
インピーダンス 4.3.4.2及び
(段階2と同じ 4.3.4.3による
測定周波数)f) )
段階2 : カテゴリ下限温度
インピーダンスg) 4.3.4.3及び 段階1の測定値に対する比
4.3.4.4による 定格電圧 インピーダンス比
V
UR≦6.3 ≦10
6.3
漏れ電流 4.3.1.2による 4.3.1.3の規定値に対して
125 ℃ : ≦10倍
105 ℃ : ≦8倍
100 ℃ : ≦8倍
85 ℃ : ≦5倍
静電容量f) 4.3.2.2による 個別規格の規定による
損失角の正接(tan δ)f) 4.3.3.2による 個別規格の規定による
4.20 充放電g) 4.20.3による
4.20.2 初期検査
静電容量 4.3.2.2による 規定する許容差以内
4.20.4 最終検査
外観 4.2.2による 外観に損傷がなく,かつ,非固体電解コ
ンデンサの場合は,電解液の漏れがない
静電容量 4.3.2.2による 4.20.2の測定値に対して,
固体電解コンデンサの場合 :
|ΔC/C|≦5 %
非固体電解コンデンサの場合 :
|ΔC/C|≦10 %
注a) 試験及び要求事項の細分箇条番号は,箇条4を参照。
b) この表で,Dは破壊試験,NDは非破壊試験を示す。
c) 固体電解コンデンサで,かつ,要求がある場合だけに適用する。
d) ねじ端子コンデンサ又は個別規格にはんだ付けを意図しない端子と規定したコンデンサには適用しない。
e) 副群5Bは,非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10 ℃及び−25 ℃のコンデンサに適用する。
f) 非固体電解コンデンサで,かつ,要求がある場合だけに適用する。
g) 要求がある場合だけに適用する。
h) N=公称静電容量,UR=定格電圧を示す。
i) 比較用の値として用いる。
j) 過渡過電圧試験を適用しない場合はNDになる。
――――― [JIS C 5101-4 pdf 23] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
3.5 品質確認検査
3.5.1 検査ロットの構成
3.5.1.1 群A及び群B検査
この検査は,ロットごとに行う。
製造業者は,次の条件の下に,製造工程のコンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。
a) 検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2参照)。
b) 試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法とによる組合せ
を代表とし,次の事項を考慮する。
− 組合せ数
− 1組合せ当たり5個以上
c) EC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合,1組合せ当たり抜取数が5個未満のとき,製造業者は,
認証機関(CB)からの承認を必要とする。
3.5.1.2 群C検査
この検査は,定期的に行う。
試料は,規定する期間に製造工程に流れているコンデンサを代表とし,かつ,定格電圧の高,中及び低
電圧を選定する。いずれの期間でも認証の範囲を対象とするために,定格電圧群ごとに一つの外形寸法の
試料を試験する。その後の期間では,製造の全ての範囲を対象とするために,その他の外形寸法及び/又
は定格電圧の試料を試験する。
3.5.2 試験計画
ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格で規定する。
3.5.3 長期保管後の出荷
JIS C 5101-1のQ.1.7(長期保管後の出荷)の規定によって,群A及び群B検査に基づくはんだ付け性
及び静電容量について再検査を行う。
――――― [JIS C 5101-4 pdf 24] ―――――
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C 5101-4 : 2019 (IEC 60384-4 : 2016)
3.5.4 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,表4及び表5の中から選定することが望ましい。
表4−ロットごとの品質検査
検査副群a) EZ
ILb) nb) cb)
A0e) 100 %c)
d)
A1 S-3 0
d)
A2 S-3 0
d)
B1 S-3 0
d)
B2 S-3 0
注a) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2による。
b) この表の記号は次による。IL=検査水準,n=試料数,c=許容不適合数
c) この検査は,製造工程内での全数検査で不適合品を取り除いた後に実施する。抜取水準は部品製造業者が
設定するが,JIS C 5005-2の附属書A[信頼水準60 %における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示
す統計的工程品質限界(SVQL)の推定]に準じることが望ましい。
不適合品数の百万分率(ppm,×10−6)による出荷品質水準を監視するために,ロットの合格又は不合格
にかかわらず,抜取試料は全て検査し,不適合品数を数える。
抜取試料中に1個以上の不適合品がある場合,そのロットは不合格とするが,不適合品数は数え,品質水
準を算出する。
百万分率(ppm,×10−6)で示す出荷品質水準は,JIS C 5005-2の6.2(SVQLの算出)に示す方法によっ
て累積した検査データから算出する。
d) 試料数は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)による。
e) 固体電解コンデンサで,かつ,要求のある場合だけ適用する。
表5−定期的な品質検査
検査副群a) EZ
pb) nb) cb)
C1A 6 9 0
C1B 6 18 0
C1 6 27 0
C2 6 9 0
C3 3 21 0
C4A 12 6 0
C4B 12 6 0
C5A 6 12 0
C5B 12 6 0
C6 6 15 0
注a) 検査副群の内容は,関連するブランク個別規格の箇条2による。
b) この表の記号は次による。p=検査周期(月),n=試料数,c=許容不適合数
4 試験及び測定手順
注記 この箇条は,JIS C 5101-1の箇条4(試験及び測定手順)に規定する事項を補足するものである。
4.1 前処理(非固体電解コンデンサだけに適用)
試験に先立って,全てのコンデンサは,安定化電源のような内部抵抗の小さい直流電源を用いて,定格
電圧に等しい直流電圧を印加して前処理を行う。定格電圧が100 V以下のコンデンサの場合,約100 Ωの
保護抵抗器を,定格電圧が100 Vを超えるコンデンサの場合,約1 kΩの保護抵抗器を通してコンデンサに
――――― [JIS C 5101-4 pdf 25] ―――――
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JIS C 5101-4:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60384-4:2016(IDT)
JIS C 5101-4:2019の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.060 : コンデンサ > 31.060.50 : アルミニウム電解コンデンサ
JIS C 5101-4:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5101-1:2019
- 電子機器用固定コンデンサ―第1部:品目別通則
- JISC60068-2-69:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-69部:試験―試験Te/Tc:電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験方法(平衡法)
- JISZ8601:1954
- 標準数