この規格ページの目次
18
C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
また,次の試験後の絶縁抵抗Rinsは,100 MΩ以上でなければならない。
− 5.2.12に規定する一連耐候性
− 5.2.13に規定する高温高湿(定常)
6.4 温度による抵抗値変化
温度による抵抗値変化の限界は,表4による。
表4−温度による抵抗値変化の限界
抵抗温度 抵抗値変化( 刀一勿 の限界
係数a) %
カテゴリ下限温度/基準温度 基準温度/カテゴリ上限温度
10−6/K 記号b) −55 ℃ −40 ℃ −25 ℃ −10 ℃ 20 ℃/ 20 ℃/ 20 ℃/ 20 ℃/ 20 ℃/
/20 ℃ /20 ℃ /20 ℃ /20 ℃ 85 ℃ 125 ℃ 155 ℃ 175 ℃ 200 ℃
±1 000 W ±7.50 ±6.00 ±4.50 ±3.00 ±6.50 ±10.50 ±13.50 ±15.50 ±18.00
±500 V ±3.75 ±3.00 ±2.25 ±1.50 ±3.25 ±5.25 ±6.75 ±7.75 ±9.00
±250 U ±1.875 ±1.500 ±1.125 ±0.750 ±1.625 ±2.625 ±3.375 ±3.875 ±4.500
±100 S ±0.750 ±0.600 ±0.450 ±0.300 ±0.650 ±1.050 ±1.350 ±1.550 ±1.800
±50 R ±0.375 ±0.300 ±0.225 ±0.150 ±0.325 ±0.525 ±0.675 ±0.775 ±0.900
±25 Q ±0.188 ±0.150 ±0.113 ±0.075 ±0.163 ±0.263 ±0.338 ±0.388 ±0.450
±15 P ±0.113 ±0.090 ±0.068 ±0.045 ±0.098 ±0.158 ±0.203 ±0.233 ±0.270
±10 N ±0.075 ±0.060 ±0.045 ±0.030 ±0.065 ±0.105 ±0.135 ±0.155 ±0.180
±5 M ±0.038 ±0.030 ±0.023 ±0.015 ±0.033 ±0.053 ±0.068 ±0.078 ±0.090
±2 L ±0.015 ±0.012 ±0.009 ±0.006 ±0.013 ±0.021 ±0.027 ±0.031 ±0.036
±1 K ±0.008 ±0.006 ±0.005 ±0.003 ±0.007 ±0.011 ±0.014 ±0.016 ±0.018
注a) 抵抗温度係数(TCR)を追加する場合は,個別規格で規定し,可能であれば,JIS C 5062に規定する記号を
用いなければならない。
b) 記号は,JIS C 5062の5.5(抵抗温度係数の文字記号)による。
表4の限界は,それぞれ推奨する抵抗温度係数,及び4.3に規定するカテゴリ温度範囲に基づく温度に
よる抵抗値変化[JIS C 5201-1の4.8(温度による抵抗値変化)参照]によって規定している。
6.5 温度上昇
最大許容温度上昇Tmaxは,次の式で定義する値とする。
Tmax=Tmet−70
ここに, Tmax : 最大許容温度上昇(°C)
Tmet : 素子最高温度(°C)。
この規格では,UCTとする。
6.6 はんだ付け性
はんだ付け性の外観判定基準は,次による。
はんだ付けした95 %以上の表面が,新しいはんだで覆われていなければならない。新しいはんだ表面に
は,ピンホール,はんだぬれなし,はんだはじきなどの不完全部分が僅かに点在していてもよいが,1か
所に集中してはならない。
6.7 耐炎性
燃焼時間tbは,30秒間を超えてはならない。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 21] ―――――
19
C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
7 表示,包装及び発注情報
7.1 抵抗器本体への表示
抵抗器本体への表示は,JIS C 5201-1の2.4(表示)によるほか,次による。
公称抵抗値,公称抵抗値の許容差,及び適用可能かつ実施可能な場合は,抵抗温度係数を,JIS C 5062
に従い表示しなければならない。この表示には,JIS C 5062の箇条3(固定抵抗器の色による表示)によ
るカラーコードを用いることが望ましい。
文字記号及び数字記号によって表示する場合には,公称抵抗値の許容差の記号にはJIS C 5062の5.1[正
負対称許容差をパーセント(%)で表す場合の文字記号],抵抗温度係数の記号にはJIS C 5062の5.5(抵
抗温度係数の文字記号)に規定する温度係数の記号を用いて,JIS C 5062の箇条4(抵抗値及び静電容量
値の文字と数字とによる記号)に規定するいずれかの方法によって表示する。
7.2 包装
抵抗器は,適用できる場合,JIS C 0806-1に従って自動実装用の包装を実施する。
7.3 包装の表示
包装には,JIS C 5201-1の2.4(表示)に規定する全ての項目を表示する。
7.4 発注情報
個別規格では,次のa)及びb)を含む抵抗器の発注のために必要な次の最小限の情報を指定しなければな
らない。
a) 個別規格の番号及び形式
b) 公称抵抗値,公称抵抗値の許容差及び抵抗温度係数(必要な場合)。適用可能な場合はJIS C 5062の
記号を用いる。
8 個別規格
8.1 一般事項
個別規格は,関連するブランク個別規格に基づき作成しなければならない。
個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格より緩い要求事項を規定してはならない。
より厳しい要求事項が含まれている場合,それらは個別規格のそれぞれの箇条に記載し,例えば,注記な
どによって,試験計画に示す。
8.2に規定する事項は,各個別規格に規定しなければならない。また,個別規格に規定する値は,この規
格の該当する箇条で規定する値から選択することが望ましい。
8.2 個別規格に規定する事項
8.2.1 外形図又は略図
他の抵抗器との識別及び比較を容易にするために,抵抗器の外形図又は略図を示さなければならない。
8.2.2 形状及び寸法
形状及び寸法は,4.2による。
互換性及び実装に影響する寸法及び関連する許容差は,外形及び寸法を示す図を用いて個別規格で規定
する。
テーピング包装を適切に行うために,テープで固定しないリード線の長さを規定することが望ましい。
必要な場合は,図2に示した樹脂のはみ出し寸法の規定方法を適用する。適切な最大寸法許容値は寸法
表を用いて規定する。適切な測定方法を表の注で規定することが望ましい。
抵抗器の質量を参考情報として記載してもよい。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 22] ―――――
20
C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
8.2.3 耐候性カテゴリ
耐候性カテゴリは,4.3による。
8.2.4 抵抗値範囲
抵抗値範囲は,4.4による。
注記 IEC電子部品品質認証制度(IECQ)の場合,個別規格の公称抵抗値範囲と認証を得た範囲と
が異なる場合は,次の文章を追加することが望ましい。
“それぞれの形式記号に含む公称抵抗値の範囲及びその許容差並びに抵抗温度係数は,品質
認証の登録,例えばウェブサイトwww.iecq.orgで確認できる。”
8.2.5 抵抗値の許容差
抵抗値の許容差は,4.5による。
8.2.6 定格電力 P70
定格電力は,4.6による。
個別規格に周囲温度70 ℃(定格温度)での最大の電力P70を規定する。
取付条件は,5.1による。
個別規格には,周囲温度70 ℃以外の最大の電力,すなわち電力軽減を図及び文によって規定する。
8.2.7 素子最高電圧 Umax
素子最高電圧は,JIS C 5201-1の2.2.11(素子最高電圧)によるほか,4.7による。
8.2.8 絶縁電圧 Uins
絶縁電圧は,絶縁形抵抗器だけに適用し,JIS C 5201-1の2.2.10(絶縁電圧)によるほか,4.8による。
8.2.9 絶縁抵抗 Rins
絶縁抵抗は,絶縁形抵抗器だけに適用し,4.9及び6.5による。
8.2.10 試験の厳しさ
試験の厳しさは,5.2による。
8.2.11 試験での抵抗値変化の限界
試験での抵抗値変化の限界は,6.2による。
8.2.12 抵抗温度係数
抵抗温度係数は,6.3による。
8.2.13 表示
抵抗器の表示は,7.1による。
包装の表示は,7.3による。
8.2.14 発注情報
発注情報は,7.4による。
8.2.15 取付け
個別規格には,通常の使用のための実装方法のガイダンス[表面実装部品の規格として,IEC 61760-1:
2006の箇条5(Specification of assembly process conditions)による実装条件を基にしてもよい。]を示さな
ければならない。
試験で要求する取付け及び測定の目的の取付けは,5.1による。
8.2.16 保管
保管は,JIS C 5201-1の2.7(保存)による。
個別規格には,許容する保管期間を規定し,必要がある場合,適用する再検査の周期,方法及び要求事
――――― [JIS C 5201-2 pdf 23] ―――――
21
C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
項を規定する。
8.2.17 追加情報
個別規格は,明確化のために必要な回路図,曲線,図面,説明などの追加情報(通常,検査手順で確認
する必要のない事項)を含んでもよい。
8.2.18 品質評価手順
個別規格は,適用する抵抗器の品質認証及び品質適合検査の試験計画を規定する。
8.2.19 ジャンパー(0 Ω)抵抗器
個別規格には,ジャンパー(0 Ω)抵抗器の要求仕様及び品質評価に必要な全ての事項を規定してもよい。
9 品質評価手順
9.1 一般事項
JIS C 5201-1の附属書Q[IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順]による。
9.2 定義
9.2.1 製造の初期工程
低電力皮膜固定抵抗器の場合には,製造の初期工程は,抵抗体皮膜の基板への着膜とする。
9.2.2 構造的に類似な抵抗器
低電力皮膜固定抵抗器は,次の場合,構造的に類似な抵抗器とする。
a) 抵抗器を,一つ又は複数の製造拠点で製造し,次の全ての条件に該当する場合。
− 製品技術が同じ。
− 原材料,製造及び品質検査の手順が同じ。
− 製造及び品質の管理が主要な製造拠点と同じ。
複数の製造拠点がある場合には,製造業者は,主要な製造拠点及び関連する管理責任者(DMR)を
指名しなければならない。
b) 全ての製造拠点が,同一のIECQ認証機関(IECQ CB)によって管理される場合。
主要な製造拠点が置かれている国のIECQ認証機関であることが望ましい。
c) 抵抗器が同じ安定性クラス及び耐候性のカテゴリをもっている場合。
d) 抵抗器が寸法上の違いだけである場合。
e) 抵抗器が同一の端子構造をもつ場合。
c)の項目だけが異なる抵抗器は,最終測定で安定性クラス及び/又は耐候性カテゴリの要求事項につい
てそれぞれに判定する場合は,構造的に類似な抵抗器とみなしてもよい。
構造的に類似な部品だけを,故障率の評価及び決定に用いることができる。
9.2.3 評価水準EZ
評価水準EZは,“ZD(不適合品ゼロ)”の取組みの要求に適合する。それは評価手順及び評価水準を確
立するために導入され,許容不適合品数(合格判定数)cをゼロと規定する。したがって,ロットごとの
試験の試料数は,JIS C 5005-2の4.3.2(なみ検査による抜取検査方式)及び表1(サンプルサイズ)によ
る。
個別規格は,この規格を基にして,リード線端子付き固定皮膜抵抗器の品質認証のために評価水準EZ
を適用する。
9.3 検査ロットの構成
検査ロットは,同じ製品技術及び同じ形状の抵抗器で構成する。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 24] ―――――
22
C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
試料は,認証を得ようとする抵抗器の全ての抵抗値範囲を代表し,次の構成とする。
− 1/3がその範囲での最小抵抗値
− 1/3が臨界抵抗値
− 1/3がその範囲での最大抵抗値
認証する範囲は,個別規格が対象とする範囲の一部でもよい。臨界抵抗値が認証する範囲外である場合,
抵抗値範囲の中央値(最小及び最大の抵抗値の幾何平均値の近くにある抵抗値。例えば,1 Ω1 MΩの場
合,1 kΩをいう。)の抵抗値で代用する。
複数の抵抗温度係数(TCR)の抵抗器の品質認証を受けようとする場合,それぞれのTCRを代表する試
料を含まなければならない。一般的に,TCRの小さいものは,TCRの大きいものを代表するとみなす。試
料は,同様の方法で,認証を得ようとするうちの異なる抵抗値の中で,最も狭い許容値をもつものを含め
る。異なる特性をもつ試料は,IECQ認証機関の承認が必要である。
定期的な品質確認検査の要求がある場合には,検査ロットは,その期間中に作った抵抗値範囲の上限及
び下限を代表とすることが望ましい。その期間に製造した,外形寸法が同じであって,TCRが異なる抵抗
器は,TCRの試験が含まれている副群を除き,一緒に試験してもよい。
品質認証を受けた抵抗器は,IECQ認証機関が承認した認証期間中に低抵抗値,高抵抗値及び臨界抵抗
値の試料を検査しなければならない。
“低抵抗値”は,認証を受けた抵抗値範囲の下限値の100 %200 %の抵抗値,又はその期間で製造した
認証範囲の最低抵抗値とする。
“臨界抵抗値”は,計算値の80 %100 %とする。
“高抵抗値”は,認証を受けた抵抗値範囲の上限値の70 %100 %の抵抗値,又はその期間で製造した
認証範囲の最大抵抗値とする。
試料は,検査期間の最後の13週間で集める。
9.4 品質認証(QA)手順
品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1のQ.5(品質認証手順)による。特に,品質認証の試験手順は,
JIS C 5201-1のQ.5.3(品質認証用試験手順)のb) による。
試料は,9.3に従って構成する。必要な総試料数は,表5に破壊試験として分類する全ての試料数の合計
である。品質認証試験計画に破壊試験の群を追加する場合,総試料数には追加する群で要求する試料数を
追加する。
表5に,抵抗器の品質認証試験計画を規定する。この品質認証試験計画は,それぞれの試験の適用につ
いて有用な情報を含んでいるため,個別規格に規定する詳細な試験計画に反映しなければならない。各群
の試験は,記載の順で実施しなければならない。
群4に必要な試料を除く全ての試料は,群1及び群2の試験を実施した後,他の群に分ける。群1又は
群2の試験の間に不適合が見つかった試料は,他の群に用いてはならない。
製造業者の責任でない事故による不適合品に関しては,抵抗値ごと及び抵抗温度係数ごとに1個の予備
の試料と置き換えてもよい。
70 ℃での耐久性試験の1 000時間が完了し,さらに,表5に規定するその他の試験において不適合品が
ない場合,品質認証は合格とする。
9.5 品質確認検査
水準P又は水準Gに分類した抵抗器の,品質確認検査のためのロットごと(群A及び群B)及び定期的
(群C)な試験計画は,表6a及び表6bによる。各群の試験は,記載の順で実施しなければならない。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 25] ―――――
次のページ PDF 26
JIS C 5201-2:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-2:2014(IDT)
JIS C 5201-2:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-2:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0806-1:2020
- 自動実装部品の包装―第1部:アキシャルリード線端子部品の連続テープによる包装