この規格ページの目次
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
試験サイクル数n : 5
5.2.10 温度急変(100サイクル以上)
温度急変(100サイクル以上)試験は,JIS C 5201-1の4.19(温度急変)によるほか,次による。
低温側温度TA : LCT(4.3参照)
高温側温度TB : UCT(4.3参照)
試験サイクル数n : 推奨は100,200,500及び1 000
個別規格で個別の形式に応じて異なる試験数を規定してもよい。
5.2.11 振動
振動試験は,JIS C 5201-1の4.22(振動)によるほか,次による。
振動試験中に共振現象にさらされないように取り付けた試料で,JIS C 60068-2-6の8.3.1(掃引耐久試験)
に従って掃引での耐久性試験とし,詳細は次による。
振動数範囲(f1f2) : 102 000 Hz
振幅Δr : 1.5 mm。ただし,加速度振幅a 200 m/s2以下とする。
試験時間 : 各軸(x,y,z)でn=10掃引サイクルとする。これは,各軸の試験時間tload=2.5時間に相
当する。
5.2.12 一連耐候性
5.2.12.1 一般事項
一連耐候性試験は,JIS C 5201-1の4.23(一連耐候性)によるほか,次による。
抵抗器は,個別規格の規定に従い,5.1.2によって試験架台に取り付けるか,又は5.1.3及び5.1.4によっ
て試験基板に取り付ける。
5.2.12.2 高温
高温試験は,JIS C 60068-2-2の試験Bbに従って実施し,抵抗器をカテゴリ上限温度に16時間放置する。
抵抗器は,急激な温度変化による悪影響がないと考えられるため,試験室温度から直接,カテゴリ上限温
度までの任意の温度に加熱した試験槽に試料を入れてもよく,また,試験槽から出してもよい。
5.2.12.3 温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル
この試験は,JIS C 5201-1の4.23.3[温湿度サイクル(試験Db),最初のサイクル]による。
5.2.12.4 低温
低温試験は,JIS C 60068-2-1の試験Abに従って実施し,抵抗器をカテゴリ下限温度に2時間放置する。
抵抗器は,急激な温度変化による悪影響がないと考えられるため,試験室温度から直接,カテゴリ下限温
度までの任意の温度に冷却した試験槽に試料を入れてもよく,また,試験槽から出してもよい。
5.2.12.5 減圧
減圧試験は,JIS C 5201-1の4.23.5(減圧)によるほか,次による。
大気圧pamb : 1 kPa
5.2.12.6 温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル
この試験は,JIS C 5201-1の4.23.6[温湿度サイクル(試験Db),残りのサイクル]による。
残りのサイクル数は,JIS C 5201-1の表7(サイクル数)による。
5.2.12.7 直流負荷
直流負荷試験は,JIS C 5201-1の4.23.7(直流負荷)による。
5.2.12.8 最終検査
最終検査は,JIS C 5201-1の4.23.8(最終検査,測定及び要求性能)によるほか,次による。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 16] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
絶縁抵抗試験は,5.2.2による。
5.2.13 高温高湿(定常)
高温高湿(定常)試験は,JIS C 5201-1の4.24[高温高湿(定常)]によるほか,次による。
抵抗器は,個別規格の規定に従い,5.1.2によって試験架台に取り付けるか,又は5.1.3及び5.1.4の規定
よって試験基板に取り付ける。
この試験の試験時間texpは,耐候性カテゴリで規定し,その許容差は,08時間とする。
絶縁抵抗試験は,5.2.2による。
5.2.14 70 ℃での耐久性
70 ℃での耐久性試験は,JIS C 5201-1の4.25.1(70 ℃での耐久性)によるほか,次による。
抵抗器は,個別規格の規定に従い,5.1.2によって試験架台に取り付けるか,又は5.1.3及び5.1.4によっ
て試験基板に取り付ける。
試験は,次の式に示す定格電圧で行う。
UtestUr P70 Rn
UtestmaxUmax
ここに, Ur : 定格電圧
P70 : 定格電力
Rn : 公称抵抗
Umax : 素子限界電圧
試験時間tload=1 000時間に対する許容差は016時間を,延長試験の試験時間tload=8 000時間に対する
許容差は024時間を適用する。
絶縁抵抗試験は,5.2.2による。
5.2.15 室温での耐久性
水準Gの抵抗器では,70 ℃での耐久性試験は,室温での耐久性試験に置き換えてよい。
試験は,附属書Cによるほか,次による。
試料は,個別規格の規定に従い,取り付けない,5.1.2によって試験架台に取り付ける,又は5.1.3及び
5.1.4によって試験基板に取り付ける。
試験は,次の式に示す定格電力で行う。
(UCT−25 ℃)
PtestP70
(UCT−70 ℃)
ここに, P70 : 定格電力
UCT : カテゴリ上限温度
試験は,次の式に示す定格電圧で行う。
Utest P70 Rn
UtestmaxUmax
ここに, P70 : 定格電力
Rn : 公称抵抗
Umax : 素子限界電圧
この試験の試験時間texp=1 000時間に対する許容差は,016時間とする。
絶縁抵抗試験は,5.2.2による。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 17] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
5.2.16 カテゴリ上限温度での耐久性
カテゴリ上限温度での耐久性試験は,JIS C 5201-1の4.25.3(カテゴリ上限温度での耐久性)によるほか,
次による。
試料は,個別規格の規定に従い,取り付けない,5.1.2によって試験架台に取り付ける,又は5.1.3及び
5.1.4によって試験基板に取り付ける。
この試験の試験時間texp=1 000時間に対する許容差は,016時間とする。
絶縁抵抗試験は,5.2.2による。
5.2.17 単パルス高電圧過負荷
単パルス高電圧過負荷試験は,JIS C 5201-1の4.27(単パルス高電圧過負荷試験)によるほか,次によ
る。
試料は,個別規格の規定に従い,取り付けない,5.1.2によって試験架台に取り付ける,又は5.1.3及び
5.1.4によって試験基板に取り付ける。取付けをしない試料は,試験中適切なジグに置かなければならない。
試験は,次のパルス条件による。
パルス波形 : 10/700
P70Rn ,x≧10の場合
パルスピーク電圧 : Utest= x
ただし,最高試験電圧Utest max=yUmax,y≧2の場合
乗数x及びyの値は,個別規格に規定する。
注記 乗数の最小値はx=10及びy=2であり,JIS C 5201-1の4.27(単パルス高電圧過負荷試験)に
規定する10/700のパルス波形として定義する最低の厳しさの番号No.4である。
5.2.18 部品の耐溶剤性
部品の耐溶剤性試験は,JIS C 5201-1の4.29(部品の耐溶剤性)によるほか,次による。
0
溶剤温度Tbath : (23±5)℃(推奨値)又は 50−℃
5
5.2.19 表示の耐溶剤性
表示の耐溶剤性試験は,表示のある抵抗器の試験に適用し,JIS C 5201-1の4.30(表示の耐溶剤性)に
よるほか,次による。
0
溶剤温度Tbath : (23±5)℃(推奨値)又は 50−℃
5
ラビング材質 : 個別規格に規定する脱脂綿又は歯ブラシ
ラビング用歯ブラシは,密集し,通常の合成繊維で作られた一定の長さの毛をもつ通常の商用で“かた
め”の区分とする。それは,一つの溶媒だけに用い,通常の手の圧力(試料表面に垂直に約0.5 N1 N)
で,10ストローク実施する。曲がり,摩耗又は毛の損失が見られる歯ブラシは廃棄する。
5.2.20 耐炎性
ニードルフレーム試験は,JIS C 5201-1の4.35(耐炎性)によるほか,次による。
燃焼時間は,100
−秒間とする
1
5.2.21 静電気放電(ESD)試験
静電気放電(ESD)試験は,JIS C 5201-1の4.38(静電気放電)によるほか,次による。
試料は,個別規格の規定に従い,取り付けない,5.1.2によって試験架台に取り付ける,又は5.1.3及び
5.1.4によって試験基板に取り付ける。取付けをしない試料は,試験中適切なジグに置かなければならない。
正極性及び負極性放電の回数は,次とし,個別規格に規定しなければならない。
正極性放電npos : 1回(水準Gの抵抗器の場合)又は3回(水準Pの抵抗器の場合)
負極性放電nneg : 1回(水準Gの抵抗器の場合)又は3回(水準Pの抵抗器の場合)
――――― [JIS C 5201-2 pdf 18] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
5.2.22 断続過負荷試験
断続過負荷試験は,水準Pだけに適用し,JIS C 5201-1の4.39(断続過負荷試験)によるほか,次によ
る。
試料は,個別規格の規定に従って5.1.2によって試験架台に取り付けるか,又は5.1.3及び5.1.4によって
試験基板に取り付けなければならない。試験基板は,JIS C 5201-1の4.2.1[測定及び試験のための標準大
気条件(標準状態)]に規定する標準大気条件(例えば,周囲温度は15 ℃35 ℃である。)で自由空間に
水平に保持しなければならない。
過負荷試験電圧の推奨値は,次による。ただし,最高試験電圧Utest maxは,2Umaxとする。
Utest 15P70Rn
ここに, P70 : 定格電力
Rn : 公称抵抗値
Umax : 素子最高電圧
試験時間は,次による。
パルスサイクル数n : 1 000
印加時間ton : 0.1秒間/各サイクル
停止時間toff : 2.5秒間/各サイクル
6 要求性能
6.1 一般事項
この規格に基づいた個別規格において規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格よりも低い水準
であってはならず,この規格と同等以上の水準とする。
6.2 抵抗値変化の限界
各試験に対する推奨する抵抗値変化の限界を,表3a及び表3bに示す。
抵抗器の性能を分類するために,次に示す安定性クラスを設定する。
試験の厳しさは,JIS C 5201-1及び箇条5に従って,個別規格に規定しなければならない。
――――― [JIS C 5201-2 pdf 19] ―――――
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C 5201-2 : 2014 (IEC 60115-2 : 2014)
表3a−抵抗値変化の限界
安定性 抵抗値変化( 勿 の限界
クラス Ω
長期試験 短期試験
JIS C 5201-1 JIS C 5201-1 JIS C 5201-1
4.23 一連耐候性 4.25.1 70 ℃での耐久性 4.13 短時間過負荷
4.24 高温高湿(定常) 1 000時間 延長試験8 000時間a)4.16 端子強度
4.25.3 カテゴリ上限温度 4.18 はんだ耐熱性
での耐久性 4.19 温度急変
5サイクル
4.22 振動
10 ±(10 %R+0.5 Ω) ±(10 %R+0.5 Ω) ±(20 %R+0.5 Ω) ±(2 %R+0.1 Ω)
5 ±(5 %R+0.1 Ω) ±(5 %R+0.1 Ω) ±(10 %R+0.1 Ω) ±(1 %R+0.05 Ω)
2 ±(2 %R+0.1 Ω) ±(2 %R+0.1 Ω) ±(5 %R+0.1 Ω) ±(0.5 %R+0.05 Ω)
1 ±(1 %R+0.05 Ω) ±(1 %R+0.05 Ω) ±(2 %R+0.05 Ω) ±(0.25 %R+0.05 Ω)
0.5 ±(0.5 %R+0.05 Ω) ±(0.5 %R+0.05 Ω)±(1 %R+0.05 Ω) ±(0.1 %R+0.01 Ω)
0.25 ±(0.25 %R+0.05 Ω) ±(0.5 %R+0.05 Ω)
±(0.25 %R+0.05 Ω) ±(0.05 %R+0.01 Ω)
0.1 ±(0.1 %R+0.02 Ω) ±(0.1 %R+0.02 Ω)±(0.25 %R+0.02 Ω)±(0.05 %R+0.01 Ω)
0.05 ±(0.05 %R+0.01 Ω) ±(0.1 %R+0.01 Ω)
±(0.05 %R+0.01 Ω) ±(0.025 %R+0.01 Ω)
0.025 ±(0.025 %R+0.01 Ω) ±(0.01 %R+0.01 Ω)
±(0.025 %R+0.01 Ω) ±(0.05 %R+0.01 Ω)
注記 表中の%Rは公称抵抗値に対する百分率を表している。
注a) 水準Pの抵抗器だけに必須である。
表3b−抵抗値変化の限界
安定性 抵抗値変化( 勿 の限界
クラス Ω
JIS C 5201-1 JIS C 5201-1 JIS C 5201-1 JIS C 5201-1
4.19 温度急変 4.27 単パルス高電 4.38 静電気放電b) 4.39 断続過負荷試験a)
100サイクル以上a) 圧過負荷試験a)
10 ±(1 %R+0.05 Ω) ±(1 %R+0.05 Ω) ±(1 %R+0.05 Ω) ±(2 %R+0.05 Ω)
5
2
1 ±(0.5 %R+0.05 Ω) ±(0.5 %R+0.05 Ω) ±(0.5 %R+0.05 Ω) ±(1 %R+0.05 Ω)
0.5
0.25 ±(0.25 %R+0.05 Ω)
0.1
0.05
0.025
注記 表中の%Rは公称抵抗値に対する百分率を表している。
注a) 水準Pの抵抗器だけに必須である。
b) この試験に適用する厳しさについては,5.2.21による。
6.3 絶縁抵抗
絶縁抵抗の要求は,絶縁形抵抗器だけに適用する。
絶縁抵抗Rinsは,次の試験後1 GΩ以上でなければならない。
− 5.2.14に規定する70 °Cでの耐久性
− 5.2.16に規定するカテゴリ上限温度での耐久性
――――― [JIS C 5201-2 pdf 20] ―――――
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JIS C 5201-2:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-2:2014(IDT)
JIS C 5201-2:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-2:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0806-1:2020
- 自動実装部品の包装―第1部:アキシャルリード線端子部品の連続テープによる包装