この規格ページの目次
- 1.4.2 取付け
- 1.4.3 形式
- 1.4.4 定格及び特性
- 1.4.5 表示
- 2. 推奨定格,特性及び試験の厳しさ
- 2.1 推奨特性
- 2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
- 2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性
- 2.1.3 抵抗値変化の限界
- 2.2 推奨定格値
- 2.2.1 定格抵抗値(公称抵抗値)
- 2.2.2 定格抵抗値の許容差
- 2.2.3 定格電力
- 2.2.4 素子最高電圧
- 2.2.5 絶縁抵抗(取付金具付き及び絶縁形だけに適用)
- 2.2.6 アイソレーション電圧(絶縁形だけに適用)
- 2.3 推奨する試験の厳しさ
- 2.3.1 乾燥
- 2.3.2 振動(正弦波)
- 2.3.3 減圧
- 2.3.4 過負荷
- 2.3.5 抵抗体強度
- 2.3.6 バンプ
- 2.3.7 衝撃
- 3. 品質評価手順
- 3.1 構造的に類似な抵抗器
- 3.2 品質認証
- 3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証
- 3.2.2 試験
- JIS C 5201-4:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- JIS C 5201-4:1998の国際規格 ICS 分類一覧
- JIS C 5201-4:1998の関連規格と引用規格一覧
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C 5201-4 : 1998
1.4.2 取付け
個別規格に通常の使用の場合の取付方法並びに振動(正弦波),バンプ及び衝撃試験を行
う場合の取付方法を規定する。抵抗器は,通常の状態で取り付ける。抵抗器の設計上特別な取付ジグを必
要とする場合には,個別規格にその取付ジグを規定し,振動(正弦波),バンプ及び衝撃試験を行う場合に,
このジグを使用する。
1.4.3 形式
形式は,個別規格の番号に定格電力及び抵抗温度特性(又は抵抗温度係数)を組み合わせて
表す。
個別規格に規定する定格電力と温度特性との組合せは任意に選択した二つの文字,例えば,AB,BC,
CDなどで表す。したがって,形式の記号は,個別規格の番号が与えられなければ意味をなさない。
備考 形式の記号は,JIS C 5201-1の附属書1で規定する形名を用いてもよい。
1.4.4 定格及び特性
定格及び特性は,次の事項を含めこの規格の関連する項目による。
1.4.4.1 定格抵抗値の範囲 この規格の2.2.1による。推奨値はJIS C 5063のE標準数列とする。
備考 IECQの場合は,IECQの品質認証制度によって個別規格で認定された製品と,この規格の抵抗
値範囲が異なる場合には,次の記述を追加する。“各形式に有効な抵抗値範囲は,品質認証電子
部品一覧表 (QPL) による。”
1.4.5 表示
個別規格に,抵抗器及び包装への表示の内容を規定する。JIS C 5201-1の2.4(表示)との
相違点があれば,それらを明記する。
第2章 推奨定格,特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格,特性及び試験の厳しさ
2.1 推奨特性
個別規格に規定する値は,次の中から選択することが望ましい。
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
この規格に含まれる抵抗器は,JIS C 0010の附属書Aに規定する一般原則
に基づいた耐候性カテゴリに分類する。カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試
験時間は,次の中から選択する。
カテゴリ下限温度 : −55℃,−40℃,−25℃及び−10℃
カテゴリ上限温度 : +125℃,+155℃及び+200℃
高温高湿(定常)の試験時間 : 4日,10日,21日及び56日
低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度
である。ある種の抵抗器は,その構造のためこれらの温度がJIS C 00試験規格群に規定する二つの推奨温
度と一致しないことがある。この場合には,抵抗器の実際の温度範囲内の最も近い推奨温度を厳しさとし
て選択する。
2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性
抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を表Iに示す。表の
各欄は,推奨温度係数,20℃70℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の2.1.1のカテゴリ温度範囲に
基づく抵抗温度特性の測定[JIS C 5201-1の4.8(温度による抵抗値変化)参照]での抵抗値変化の限度を
規定する。
――――― [JIS C 5201-4 pdf 6] ―――――
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表I 抵抗温度特性
温度係数 温度特性 抵抗温度特性(抵抗値変化率の限界)%
20℃ 基準温度 ℃ 基準温度 ℃
/70℃ /カテゴリ下限温度 ℃ /カテゴリ上限温度 ℃
10−6/℃ % +20 +20 +20 +20 + 20 + 20 + 20
/−55 /−40 /−25 /−10 /+125 /+155 /+200
±500 ±2.5 ±3.75 ±3.0 ±2.25 ±1.5 ±5.25 ±6.75 ±9.0
±250 ±1.25 ±1.88 ±1.5 ±1.13 ±0.75 ±2.62 ±3.38 ±4.5
−50 −0.25 −0.375 −0.3 −0.23 −0.15 −0.525 −0.675 −0.9
/+250 /+1.25 /+1.88 /+1.5 /+1.13 /+0.75 /+2.62 /+3.38 /+4.5
±100 ±0.50 ±0.75 ±0.6 ±0.45 ±0.3 ±1.05 ±1.35 ±1.8
±50 ±0.25 ±0.375 ±0.3 ±0.23 ±0.15 ±0.525 ±0.675 ±0.9
±25 ±0.125 ±0.188 ±0.15 ±0.113 ±0.075 ±0.262 ±0.338 ±0.45
±10 ±0.05 ±0.075 ±0.06 ±0.045 ±0.03 ±0.105 ±0.135 ±0.18
備考 表記以外の測定温度を追加する場合には,個別規格に規定する。
2.1.3 抵抗値変化の限界
表IIに各試験での抵抗値変化量の推奨限界を示す。それらは,それぞれの安
定性クラスに対応して規定している。
備考 表IIの項目番号は,JIS C 5201-1による。
表II 抵抗値変化の限界
安定性クラス 長期試験 短期試験
% 4.23 一連耐候性 4.13 過負荷
4.24 高温高湿(定常) 4.16 端子強度
4.25.2 室温での耐久性 4.18 はんだ耐熱性
4.19 温度急変
4.25.3 カテゴリ上限温度で
の耐久性 4.20 バンプ
4.21 衝撃
4.22 振動(正弦波)
5 ± (5%+0.1 ± (1%+0.05
2 ± (2%+0.1圀 圀
± (0.5%+0.05
1 ± (1%+0.05圀 圀
± (0.25%+0.05
0.5 圀
± (0.5%+0.05 圀
± (0.1%+0.01
2.2 推奨定格値
2.2.1 定格抵抗値(公称抵抗値)
JIS C 5201-1の2.2.7(定格抵抗値)による。
2.2.2 定格抵抗値の許容差
定格抵抗値の推奨許容差は,次による。
±10%,±5%,±2%及び±1%。
2.2.3 定格電力
70℃での定格電力の推奨値は,JIS Z 8601に規定するR5標準数列から選択し,個別規
格に規定する。
70℃を超える温度での電力の軽減値は,次の曲線による。
――――― [JIS C 5201-4 pdf 7] ―――――
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上記の軽減曲線に示す推奨動作領域の全部が含まれている場合には,より広い動作領域を個別規格に規
定してもよい。この場合には,個別規格に70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし,曲線
上の折れ点 (Break points) を,試験によって確認しなければならない。より広い動作領域をもつ軽減曲線
の例を次に示す。
この例では,最高表面温度(ゼロ定格温度)がカテゴリ上限温度よりも高くなっている。
2.2.4 素子最高電圧
Vd.c.又はVa.c.の実効値で示される素子最高電圧の推奨値は,JIS Z 8601に規定す
るR5標準数列から選択する。
2.2.5 絶縁抵抗(取付金具付き及び絶縁形だけに適用)
個別規格に規定がない限り,絶縁抵抗は,高温
(耐熱性)試験後で1G 坎 上,耐湿性試験後で100M 坎 上とする。
2.2.6 アイソレーション電圧(絶縁形だけに適用)
個別規格に規定がない限り,アイソレーション電圧
は,素子に印加できるピーク電圧以上とする。すなわち,素子最高電圧の1.42倍以上とする。
2.3 推奨する試験の厳しさ
個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択することが望ましい。
2.3.1 乾燥
JIS C 5201-1の4.3(乾燥)の手順Iを適用する。
2.3.2 振動(正弦波)
JIS C 5201-1の4.22[振動(正弦波)]及び次の条件を適用する。
振動数範囲 : 10Hz55Hz又は10Hz500Hz
振幅 : 0.75mm又は98m/s2(いずれか緩い方)
掃引耐久試験 : 総試験時間 : 6h
適用する取付方法を個別規格に規定する。リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)の抵抗器
でリード線だけで取り付けられる抵抗器では,抵抗器本体と取付点との距離は,6mm±1mmとする。
2.3.3 減圧
JIS C 5201-1の4.23.5(減圧)及び次の条件を適用する。
気圧 : 8kPa
2.3.4 過負荷
JIS C 5201-1の4.13(過負荷)及び次の条件を適用する。
――――― [JIS C 5201-4 pdf 8] ―――――
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a) 巻線抵抗器
印加電圧 : 定格電力の10倍に相当する電圧又は抵抗体の長さ1mm当たり40Vのいずれか小さい方。
印加時間 : 個別規格に規定がない限り5秒間とする。
b) 非巻線抵抗器
印加電圧 : 定格電圧の2.5倍又は素子最高電圧の2倍のいずれか小さい方。
印加時間 : 個別規格の規定による。
2.3.5 抵抗体強度
JIS C 5201-1の4.15(抵抗体強度)及び次の条件を適用する。
荷重 : 100N±5N
2.3.6 バンプ
JIS C 5201-1の4.20(バンプ)及び次の条件を適用する。
個別規格に取付方法を規定する。リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)の抵抗器でリード
線だけで取り付けられる抵抗器では,抵抗器本体と取付けとの距離は6mm±1mmとする。
2.3.7 衝撃
JIS C 5201-1の4.21(衝撃)及び次の条件を適用する。
ピーク加速度 : 500m/s2
作用時間 : 11ms
パルス波形 : 正弦半波
個別規格に取付方法を規定する。リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)の抵抗器及びリー
ド線だけで取り付けられる抵抗器では,抵抗器本体と取付位置との距離は6mm±1mmとする。
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1 構造的に類似な抵抗器
構造的に類似な抵抗器とは,抵抗値及び温度特性が異なっていても,同様
な工程及び材料で製造され,同一の公称寸法をもつ抵抗器をいう。
3.2 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1の3.4(品質認証手順)による。
ロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査に基づく試験の計画は,この規格の3.3に規定する。
定数抜取りの試験計画を用いた手順は,次の3.2.1及び3.2.2による。
3.2.1 定数抜取手順に基づく品質認証
定数抜取りの手順は,JIS C 5201-1の3.4.2のb)による。試料は,
認証を得ようとする抵抗値範囲を代表できるものとする。
これは,個別規格に規定している全範囲でなくてもよい。
試料は,認証を得ようとする定格抵抗値の最高値及び最低値をもつ試料で構成する。臨界抵抗値が認証
を受けようとする範囲の中にある場合には,その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける
場合には,別々の抵抗温度係数を代表する試料を含める。同様にして,認証を受けようとする最も狭い許
容差の各抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の品質保
証責任者によって提案される。IECQの場合は国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
予備の試料は,次の場合に使用する。
a) 群“0”で許容不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数又は温度特性ごとに1
個。
――――― [JIS C 5201-4 pdf 9] ―――――
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b) 製造業者の責任ではない事故による不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数
又は温度特性ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験群がある場合には,追加した試験群に必要な試料を群“0”に追加
する。
3.2.2 試験
個別規格に規定する抵抗器の認証のために,表IIIに規定する一連の試験を必要とする。各
群の試験は,記載の順序で行う。
全試料について,群“0”の試験を行い,その後に他の群に分割する。絶縁形抵抗器は,群1の試験を群
2群7の試験の前に行う。群“0”の試験での不良品は,他の群に使用してはならない。1個の抵抗器が,
一つの群のすべて又は一部を満足しない場合には,“1個の不良”として数える。
不良品が各群,又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格判定個数を超えなければ認証される。
備考 表IIIに定数抜取りの試験計画を示す。これは,各試験群ごとの抜取方法,合格判定個数の個
別規定を含み,また,JIS C 5201-1の第4章(試験及び測定方法)及びこの規格の第2章に規
定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。表IIIは試験方法,試験条件
及び要求性能について,個別規格に規定するための選択内容を示す。
定数抜取りの試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に
規定する内容と同一とする。
表III 品質認証試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,この規格の表I及
び表IIから適切に選択する。
2. この表で :
n= 試料数
c= 合格判定個数(群又は副群当たりの許容不良数)
t= 総合格判定個数(一つ又は幾つかの連結された群,例えば,群0A+群0B又は群1群7に対する許容
不良数)
D= 破壊試験
ND= 非破壊試験
参考 表中の要求性能の“%R”のRは,各試験の試験前の抵抗値を示す。
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び(総) 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
群0A ND 125 1 2
4.4.1 外観 4.4.1による。
表示が明りょうで,個別
規格の規定による。
群0B ND 125 1
4.4.2 寸法(ゲージ法) ...mmのゲージ板を使用(適用す 個別規格の規定による。
る場合)
4.5 抵抗値 4.5.2による。
群1 ND 50 1 4
4.7 耐電圧(絶縁形抵抗器だ 方法 : ... 4.7.3による。
け)
群2 D 20 1
4.17 はんだ付け性 エージングなし 4.17.3.2による。
方法 : ...
――――― [JIS C 5201-4 pdf 10] ―――――
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JIS C 5201-4:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-4:1982(MOD)
- IEC 60115-4:1982/AMENDMENT 1:1993(MOD)
JIS C 5201-4:1998の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-4:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ8601:1954
- 標準数