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C 5201-4 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び(総) 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
4.13 過負荷 この規格の2.3.4による。
外観 4.13.3による。
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
R は
4.8 温度による抵抗値変化 カテゴリ下限温度/20℃ R
愀 6/℃
R は
20℃/カテゴリ上限温度 R
愀 6/℃
4.9 リアクタンス(適用する L/R≦...s又は
場合) L≦...mH
4.15 抵抗体強度(適用する場 この規格の2.3.5による。 4.15.3による。
合)
群3A D 10 1*
群3の試料の半分
4.16 端子強度 端子の種類に対応した引張り,
曲げ及びねじり試験
外観 4.16.6 a)による。
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
4.18 はんだ耐熱性 方法 : ...
外観 4.18.4による。
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
群3B D 10 1*
群3の試料の残り半分
4.19 温度急変 カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
外観 4.19.3による。
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
4.20 バンプ(又は4.21衝撃) 取付方法 : 個別規格の規定によ
る。
バンプ回数 : 4 000
ピーク加速度 : 400m/s2
又は
バンプ回数 : 1 000
ピーク加速度 : 100m/s2
外観 4.20.4による。
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
4.21 衝撃(又は4.20バンプ) 取付方法 : 個別規格の規定によ
る。
ピーク加速度 : 500m/s2
作用時間 : 11ms
パルス波形 : 正弦半波
外観 4.21.5による。
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
4.22 振動(正弦波) 取付方法 : 個別規格の規定によ
る。
掃引耐久試験
振動数範囲 : ...Hz...Hz
――――― [JIS C 5201-4 pdf 11] ―――――
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C 5201-4 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び(総) 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
振幅 : 0.75mm又は98m/s2のい
ずれか緩い方
総試験時間 : 6h
外観 4.22.4による。
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
群3 D 20 1*
群3の全試料
4.23 一連耐候性
− 高温(耐熱性)
− 温湿度サイクル(12+12
時間サイクル),最初のサ
イクル
− 低温
(耐寒性)
− 減圧 8kPa
− 温湿度サイクル(12+12
時間サイクル),残りのサ
イクル
− 直流負荷(非巻線形だけに 外観 4.23.8による。
適用)
抵抗値 R≦± (...%R+...圀
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけに R≧100M 圀
適用)
群4 D 20 1
4.25.2 室温での耐久性 試験時間 : 1 000h
48h,500h及び1 000hでの検査 :
外観 4.25.2.6による。
抵抗値 R≦± (...%R+...圀
1 000hでの検査 : 絶縁抵抗(絶 R≧1G 圀
縁形抵抗器だけに適用)
個別規格で要求があれば試験を
8 000hまで延長する。
2 000h,4 000h及び8 000hでの
検査 :
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
要求事項を個別規格に規
定する(結果は情報とし
てだけに扱う。)。
群5 D 20 1
4.24 高温高湿(定常) 1) 4.24.2.1 :
第1のグループ : 試料数6
第2のグループ : 試料数7
第3のグループ : 試料数7
2) 4.24.2.2 :
第1のグループ : 試料数10
第2のグループ : 試料数10
外観 4.24.4による。
――――― [JIS C 5201-4 pdf 12] ―――――
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C 5201-4 : 1998
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び(総) 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c t
抵抗値 R≦± (...%R+...圀
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけに R≧100M 圀
適用)
群6 D 20 1
4.4.2 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.25.3 カテゴリ上限温度での 試験時間 : 1 000h
耐久性 48h,500h及び1 000hでの検査 :
外観 4.25.3.7による。
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけに R≧1G 圀
適用)
群7 D 20 1
4.25 他の温度での耐久性(適 (この群は,この規格に規定す
用する場合) るものと異なる軽減曲線を個別
規格で規定する場合だけに適
用。
試験時間 : 1 000h
48h,500h及び1000hでの検査 :
外観 4.25.1.7による。
抵抗値 圀
R≦± (...%R+...
(群4と同じ)
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけに R≧1G 圀
適用)
注* 群3A及び群3Bを含めた群3の総合格判定個数は1個とする。
3.3 品質確認検査
3.3.1 検査ロットの構成
検査ロットは,同一形状で構造的に類似な抵抗器(3.1参照)で構成する。
これは,検査の期間中に製造された抵抗値範囲を代表するものとする。期間中に製造される各形状は同
一公称寸法であれば,異なった抵抗温度特性のものでも一括してもよい。ただし,抵抗温度特性の試験を
含む副群用の試料は除く。IECQの場合は,認証された抵抗値範囲の下限,上限及び/又は臨界抵抗値並
びに認証された抵抗温度特性のものは,国内監督検査機関によって承認された期間の間に検査する(備考
を参照)。
群“C”及び群“D”の試料は,検査対象期間の最後の13週にわたって集める。
備考 “下”限値は,製造中の最低の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最低抵抗値)の0%
200%の間とする。
“上”限値は,製造中の最高の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最高抵抗値)の
−30%0%の間とする。
“臨界”抵抗値は,計算値の−20%0%の間とする。
3.3.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質確認検査及び定期的品質確認検査の計画は,ブ
ランク個別規格の第2章(検査の要求事項)の表IIに示す。
――――― [JIS C 5201-4 pdf 13] ―――――
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C 5201-4 : 1998
3.3.3 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,次の表IV A及び表IV Bから選択することが
望ましい。
表IV A 評価水準とロットごとの品質確認検査
検査副群** D* E F(1) G* H(1)
IL AQL IL AQL IL AQL IL AQL IL AQL
% % % % %
A1 S-4 1.0 S-3 1.5 S-4 1.0
A2 S-4 1.0 S-3 1.5 S-4 1.0
B1 S-3 1.0 S-3 2.5 S-3 1.0
B2 S-3 2.5 S-3 4.0
B3 S-3 2.5 S-3 2.5
IL=検査水準
AQL=合格品質水準
表IV B 評価水準と定期的品質確認検査
検査副群** D* E F(1) G* H(1)
p n c p n c p n c p n c p n c
C1 3 20 1 6 20 1 3 20 1
C2 3 20 1 6 20 1 3 13 1
C3 3 20 1 6 20 1 3 20 1
D1 12 20 1 36 20 1 12 20 1
D2 36 13 1 36 20 1 36 20 1
D3 36 20 1 36 20 1
D4 36 20 1 36 20 1
D5 36 13 1
p=周期(月)
n=試料数
c=合格判定個数
表IV A及び表IV Bについての注
*
評価水準D及びGは検討中。
**
検査副群の内容は,関連のブランク個別規格の第2章(検査の要求事項)に規定する。
注(1) 原国際規格ではF及びHは検討中となっていたが,その後発行されたIEC 60115-4-2及びIEC
60115-4-3によって追加した。
――――― [JIS C 5201-4 pdf 14] ―――――
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C 5201-4 : 1998
電子部品JIS原案作成第1委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 平 山 宏 之 東京都立科学技術大学名誉教授
(委員) 吉 田 裕 道 東京都立工業技術センター
中 西 忠 雄 防衛庁装備局
藤 倉 秀 美 財団法人日本電気用品試験所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
松 永 荘 一 通商産業省 機械情報産業局電子機器課
兼 谷 明 男 通商産業省 工業技術院標準部情報電気規格課
福 原 隆 沖電気工業株式会社
勝 田 昭 彦 株式会社ケンウッド
山 本 克 己 ソニー株式会社
西 林 和 男 株式会社東芝
中 島 眞 人 日本電気株式会社
中 野 武 松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明 松下電器産業株式会社
山 本 佳 久 三菱電機株式会社
高 久 侑 也 エルナー株式会社
山 名 法 明 株式会社村田製作所
三 宅 邦 彦 松尾電機株式会社
小 嶋 敏 博 KOA株式会社
曽我部 浩 二 株式会社村田製作所
会 田 洋 東光株式会社
中 山 孝 之 北陸電気工業株式会社
岡 村 郁 生 セイデンテクノ株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
桃 野 英 治 釜屋電機株式会社
秦 考 生 松下電子部品株式会社
江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
尾 村 博 幸 日本ケミコン株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5201-4分科会 構成表
氏名 所属
(主査) 岡 村 郁 生 セイデンテクノ株式会社
(委員) 秦 考 生 松下電子部品株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
小 嶋 敏 博 KOA株式会社
宮 島 明 美 多摩電気株式会社
笹 川 敞 雄 理研電具製造株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
文責 岡村 郁生
JIS C 5201-4:1998の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-4:1982(MOD)
- IEC 60115-4:1982/AMENDMENT 1:1993(MOD)
JIS C 5201-4:1998の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-4:1998の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ8601:1954
- 標準数