この規格ページの目次
- 1.4.3 形式
- 1.4.4 定格及び特性
- 1.4.5 表示
- 1.5 表示
- 2.1 推奨特性
- 2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
- 2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性
- 2.1.3 抵抗値変化の限界
- 2.2 推奨定格値
- 2.2.1 定格抵抗値(公称抵抗値)
- 2.2.2 定格抵抗値の許容差
- 2.2.3 定格電力
- 2.2.4 素子最高電圧
- 2.2.5 個々の抵抗素子間のアイソレーション電圧(適用する場合)
- 2.2.6 個々の抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する場合)
- 2.3 推奨する試験の厳しさ
- 2.3.1 乾燥
- 2.3.2 振動(正弦波)
- 2.3.3 減圧
- 2.3.4 過負荷
- 2.3.5 70℃での耐久性
- 2.3.6 隣接した抵抗素子(端子)間の絶縁抵抗(適用する場合)
- 2.3.7 隣接した抵抗素子(端子)間の耐電圧(適用する場合)
- 2.3.8 高温高湿(定常)
- 2.3.9 端子強度
- 3.1 構造的に類似な抵抗器
- 3.2 品質認証
- 3.2.1 定数試料数の手順に基づく認証
- 3.2.2 試験
- JIS C 5201-6:1999の引用国際規格 ISO 一覧
- JIS C 5201-6:1999の国際規格 ICS 分類一覧
- JIS C 5201-6:1999の関連規格と引用規格一覧
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弦波),バンプ及び衝撃試験を行う場合に,このジグを使用する。
1.4.3 形式
(Style) [JIS C 5201-1の2.2.3(形式)] 形式は,個別規格の番号に定格電力及び抵抗温度
特性(又は抵抗温度係数)を組み合わせて表す。
個別規格番号に定格電力と温度特性との組合せを,任意に選択した二つの文字コード,例えば,AB,
BC,CDなどの2英大文字で表す。したがって,形式の記号は,個別規格の番号が与えられなければ意味
をなさない。
備考 形式の記号は,JIS C 5201-1の附属書1で規定する形名を用いてもよい。
1.4.4 定格及び特性
定格及び特性は,次の事項を含めてこの規格の関連する項目による。
1.4.4.1 定格抵抗値の範囲 定格抵抗値の範囲は,2.2.1の規定による。定格抵抗値の推奨値は,JIS C 5063
に規定のE標準数列とする。
備考 IEC品質認証制度 (IECQ) の場合は,個別規格の定格抵抗値範囲と認証を受けた範囲が異なる
場合は,次の記述を追加する。
“各形式に有効な抵抗値範囲は,品質認証電子部品一覧表 (QPL) による”。
1.4.5 表示
個別規格に抵抗器及び包装への表示の内容を規定する。JIS C 5201-1の2.4(表示)との相
違点があれば,それらを明記する。
1.5 表示
1.5.1 抵抗器に表示する内容は,次の項目から選択する。各項目の重要度は,次の番号順とする。
a) 個別規格に規定する抵抗器の記号
b) 個別規格に規定する端子の記号
c) 製造年月又は製造年週
d) 個別規格及び形式
e) 製造業者名又はその商標
1.5.2 抵抗器には少なくとも1.5.1のa)とb)を表示し,その他の項目をできるだけ多く明りょうに表示す
る。表示項目の重複は避ける。
備考 表示は,附属書1によってもよい。
1.5.3 抵抗器の包装には1.5.1のa),c),d)及びe)の内容を表示する。
1.5.4 1.5.3以外の項目を表示する場合は,混乱しないようにする。
第2章 推奨定格,特性及び試験の厳しさ
2. 推奨定格,特性及び試験の厳しさ
2.1 推奨特性
個別規格に規定する値は,次の中から選択することが望ましい。
2.1.1 推奨耐候性カテゴリ
この規格に含まれる抵抗器は,JIS C 0010の附属書Aに規定する一般原則
に基づいた耐候性カテゴリによって分類する。カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)
の試験期間は,次の中から選択する。
カテゴリ下限温度 : −55℃,−40℃及び−25℃
カテゴリ上限温度 : +85℃,+100℃,+125℃及び+155℃
高温高湿(定常)の試験期間 : 4日,10日,21日及び56日
低温(耐寒性)及び高温(耐熱性)試験の厳しさは,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度
である。ある種の抵抗器はその構造のため,これらの温度がJIS C 00試験規格群に規定する二つの推奨温
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度と一致しない場合がある。このときには,抵抗器の実際の温度範囲内の最も近い推奨温度を厳しさとし
て選択する。
2.1.2 抵抗温度係数及び抵抗温度特性
抵抗温度特性試験での抵抗値変化の推奨限界を表Iに示す。表の
各欄は,推奨温度係数,20℃70℃の範囲で対応する温度特性及びこの規格の2.1.1のカテゴリ温度範囲に
基づく抵抗温度特性の測定[JIS C 5201-1の4.8(温度による抵抗値変化)参照]での抵抗値変化の限界を
規定する。
表I 抵抗温度特性
温度係数 温度特性 抵抗温度特性
20℃/70℃ (抵抗値変化率の限界)%
基準温度℃/カテゴリ下限温度℃ 基準温度℃/カテゴリ上限温度℃
10−6/℃ % +20/−55 +20/−40 +20/−25 +20/+85 +20/+100 +20/+125 +20/+155
−150/ −0.75/ +1.13/ +0.9/ +0.68/ −0.98/ −1.2/ −1.58/ −2.03/
−1 500 −7.5 +11.3 +9 +6.8 −9.8 −12 −15.8 −20.3
±250 ±1.25 ±1.88 ±1.5 ±1.13 ±1.62 ±2 ±2.62 ±3.38
±100 ±0.5 ±0.75 ±0.6 ±0.45 ±0.65 ±0.8 ±1.05 ±1.35
±50 ±0.25 ±0.375 ±0.3 ±0.23 ±0.325 ±0.4 ±0.525 ±0.675
±25 ±0.125 ±0.188 ±0.15 ±0.113 ±0.162 ±0.2 ±0.262 ±0.338
±15 ±0.075 ±0.113 ±0.09 ±0.068 ±0.098 ±0.12 ±0.158 ±0.203
2.1.3 抵抗値変化の限界
表IIに各試験での抵抗値変化の推奨限界を示す。それらは,それぞれの安定
性クラスに対応して規定している。
備考 表IIの項目番号は,JIS C 5201-1の規定による。
表II 安定性クラス
安定性クラス 長期試験 短期試験
% 4.23 一連耐候性 4.13 過負荷
4.24 高温高湿(定常) 4.16 端子強度
4.25.1 70℃での耐久性 4.18 はんだ耐熱性
4.25.3 カテゴリ上限温度での耐久性 4.19 温度急変
4.22 振動(正弦波)
10 ±(10%+0.5圀 ± (2%+0.1圀
5 ±( 5%+0.1圀 ± (1%+0.05圀
2 ±( 2%+0.1圀 圀
± (0.5%+0.05
1 ±( 1%+0.05圀 圀
± (0.25%+0.05
0.5 ±(0.5%+0.05圀 圀
± (0.1%+0.01
0.25 ±(0.25%+0.05圀 圀
± (0.05%+0.01
0.1 ±(0.1%+0.01圀 圀
± (0.02%+0.01
2.2 推奨定格値
2.2.1 定格抵抗値(公称抵抗値)
JIS C 5201-1の2.2.7(定格抵抗値)による。
2.2.2 定格抵抗値の許容差
定格抵抗値の推奨許容差は,次による。
±10%,±5%,±2%,±1%,±0.5%,±0.25%及び±0.1%
2.2.3 定格電力
70℃での定格電力の推奨値は,次による。
ネットワーク(パッケージ)定格電力 : 0.125W,0.25W,0.5W,1W,1.5W,2W及び4W
参考 ネットワーク(パッケージ)定格電力とは,構成する回路内の全定格電力を示し,素子定格電
力の和とは一致しないことがある。
素子定格電力 : 0.03W,0.05W,0.063W,0.1W,0.125W,0.25W,0.5W及び1W
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参考 素子定格電力とは,構成する回路内の個々の素子の定格電力をいう。
各抵抗素子の素子定格電力及びネットワーク定格電力を個別規格に規定する。
70℃を超える温度での電力の軽減値は,次の曲線による。
上記の軽減曲線に示す推奨動作領域が全部含まれている場合には,より広い動作領域を個別規格に規定
してもよい。この場合には,個別規格に70℃を超える温度での最高許容電力を規定する。ただし,曲線上
の折れ点 (break points) を,試験によって確認しなければならない。
2.2.4 素子最高電圧
素子最高電圧の推奨値は,次による。
10V,15V,25V,35V,50V,100V及び500Vd.c.又はa.c.の実効値とする。
2.2.5 個々の抵抗素子間のアイソレーション電圧(適用する場合)
個々の抵抗素子間のアイソレーショ
ン電圧を個別規格に規定する。
参考 附属書Aの回路形式A,D及びGに適用する。
2.2.6 個々の抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する場合)
個々の抵抗素子間の絶縁抵抗は個別規格に規定が
ない限り,1G 坎 上とする。
参考 附属書Aの回路形式A,D及びGに適用する。
2.3 推奨する試験の厳しさ
個別規格に規定する試験の厳しさは,次の中から選択することが望ましい。
2.3.1 乾燥
JIS C 5201-1の4.3(乾燥)の手順Iを適用する。
2.3.2 振動(正弦波)
JIS C 5201-1の4.22[振動(正弦波)]及び次の条件を適用する。
振動周波数範囲 : 10Hz500Hz
振幅 : 0.75mm又は98m/s2(どちらか緩い方)
掃引耐久試験 : 総試験時間 : 6h
適用する取付方法を個別規格に規定する(1.4.2参照)。
試験中電気的測定として,電気的不連続,開放(オープン)又は短絡(ショート)の試験を行う。
2.3.3 減圧
JIS C 5201-1の4.23.5(減圧)及び次の条件を適用する。
気圧 : 8kPa
2.3.4 過負荷
JIS C 5201-1の4.13(過負荷)及び次の条件を適用する。
印加電圧 : 定格電圧の2.5倍又は素子最高電圧の2倍のどちらか小さい電圧
印加時間 : 直流電圧を5秒±1秒間,各抵抗素子に同時に1回印加する。
2.3.5 70℃での耐久性
JIS C 5201-1の4.25.1(70℃での耐久性)及び次の条件を適用する。
各抵抗素子の素子定格電力の合計がネットワーク定格電力以下の場合は,素子最高電圧を超えない範囲
で,各抵抗素子にそれぞれの素子定格電力を負荷して試験する。各抵抗素子の素子定格電力の合計がネッ
トワーク定格電力を超える場合は,試料数を分けた分割試験を行う。分割試験が必要となった場合は,ネ
ットワーク定格電力を超えないように,素子定格電力を許容できる最大限の抵抗素子に負荷する。各抵抗
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素子には,片寄ることなく少なくとも1回は素子定格電力を負荷する。
2.3.6 隣接した抵抗素子(端子)間の絶縁抵抗(適用する場合)
JIS C 5201-1の4.6(絶縁抵抗)及び
次の条件を適用する。
絶縁抵抗は,互いに電気的に絶縁されている抵抗素子と,その他の抵抗素子を一括して接続したものと
の間で測定する。測定電圧は,個別規格に規定する。
参考 附属書Aの回路形式A,D及びGに適用する。
2.3.7 隣接した抵抗素子(端子)間の耐電圧(適用する場合)
JIS C 5201-1の4.7(耐電圧)及び次の
条件を適用する。
耐電圧は,互いに電気的に絶縁されている抵抗素子と,その他の抵抗素子を一括して接続したものとの
間で試験する。試験電圧は,個別規格に規定する。
参考 附属書Aの回路形式A,D及びGに適用する。
2.3.8 高温高湿(定常)
JIS C 5201-1の4.24[高温高湿(定常)]及び次の条件を適用する。
試験試料を次の23群に分割する。
a) 無負荷
b) 各抵抗素子に定格素子電圧の0.01倍又は2Vのどちらか低い電圧を負荷する。
c) )及びb)に加えて,成極負荷を要求する場合は,第3の試験として個別規格に規定する端子と,指定
箇所との間に20V±2Vd.c.の電圧を印加する。
2.3.9 端子強度
JIS C 5201-1の4.16(端子強度)及び次の条件を適用する。
試験Ua1(引張強さ)を,抵抗器の5端子ごとに1端子の割合で実施する。試験する端子は試験試料内
で,それぞれ端子の位置を変えて試験する。
第3章 品質評価手順
3. 品質評価手順
3.1 構造的に類似な抵抗器
構造的に類似な抵抗器とは,抵抗値及び温度特性が異なっていても,同様
な工程及び材料で製造され,同一の公称寸法をもつ抵抗器とする。
3.2 品質認証
品質認証試験の手順は,JIS C 5201-1の3.4(品質認証手順)による。
定数試料数の試験計画を用いる手順は,次の3.2.1及び3.2.2による。
ロットごと及び定期的品質検査に基づく試験の計画は,この規格の3.3による。この場合,少なくとも
定数試料数の試験計画での試料数,要求性能及び合格判定基準と等しくなければならない。
3.2.1 定数試料数の手順に基づく認証
定数試料数の手順は,JIS C 5201-1の3.4.2による。これらの手
順に従って,決められた抵抗値をもつ特定の抵抗器の認証を求める場合は,その試料数は,表IIIによる。
試料は,認証を得ようとする抵抗値の最高値及び最低値のもので構成する。臨界抵抗値が認証を受けよ
うとする範囲の中にある場合には,その試料も含める。二つ以上の抵抗温度係数の認証を受ける場合には,
別々の抵抗温度係数を代表とする試料を含める。同様にして,認証を受けようとする最も狭い許容差の各
抵抗値の試料を一定の割合で試料に含める。異なる特性をもつ試料の割合は,製造業者の品質保証責任者
が提案する。IECQの場合は,国内監督検査機関 (NSI) の承認を必要とする。
予備の試料は,次の場合に使用する。
a) 群“0”で許容不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数又は温度特性ごとに1
個。
――――― [JIS C 5201-6 pdf 9] ―――――
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b) 製造業者の責任ではない事故による不良品と入れ替えるために,抵抗値ごとに1個,各抵抗温度係数
又は温度特性ごとに1個。
品質認証試験計画に追加する試験(群)がある場合には,追加する試験(群)に必要な試料数を群“0”
に追加する。
3.2.2 試験
個別規格に規定する抵抗器の認証のために,表IIIに規定する一連の試験を必要とする。各
群の試験は,記載の順で行う。
群5の試料を除く全試料について群“0”の試験を行い,その後にその他の群に分割する。群“0”の試
験での不良品は他の群に使用してはならない。1個の抵抗器が一つの群のすべて又は一部を満足しなかっ
た場合には,“1個の不良”として数える。不良品が各群又は各副群ごとに規定の合格判定個数及び総合格
判定個数を超えなければ認証される。
備考 表IIIに定数抜取りの試験計画を示す。これは,各試験群ごとの抜取方法,合格判定個数及び
総合格判定個数の個別規定を含み,また,JIS C 5201-1の第4章(試験及び測定方法)及びこ
の規格の第2章に規定する個々の試験とともに試験条件の全体及び要求性能を示す。
表IIIは,試験方法,試験条件及び要求性能について個別規格に規定するための選択内容を
示す。
定数抜取りの試験計画のための試験条件及び要求性能は,品質確認検査について個別規格に
規定する内容と同一とする。
表III 品質認証の試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1の規定による。ただし,抵抗値変化の要求事項
は,この規格の表I及び表IIから適切に選択する。
2. この表で :
n=試料数
c=合格判定個数(群又は副群当たりの許容不良数)
D=破壊試験
ND=非破壊試験
3. 合計31個の試料が必要である。ただし,群5の試料は群0には含めない。
参考 表中の要求性能欄の“...%R”のRは,各試験の試験前の抵抗値を示す。
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 総合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c
群0 ND 26 1
4.4.1 外観 (備考3.) 4.4.1による。
表示が明りょうに判読でき,個別
規格の規定による。
4.4.2 寸法(ゲージ法) 個別規格の規定による。
4.5 抵抗値 4.5.2による。
4.7 耐電圧(絶縁形抵抗 方法 : ... 4.7.3による。
器だけ)
群1A ND 5 1*
群1の試料の半分
4.16 端子強度 この規格の2.3.9による。
外観 4.16.6 a)による。
――――― [JIS C 5201-6 pdf 10] ―――――
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JIS C 5201-6:1999の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-6:1983(MOD)
- IEC 60115-6:1983/AMENDMENT 1:1987(MOD)
JIS C 5201-6:1999の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-6:1999の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)