この規格ページの目次
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C 5201-6 : 1999
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 総合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c
抵抗値
△R≦±(... %R+...
4.18 はんだ耐熱性 はんだ槽法 方法1A
外観 4.18.3による。
抵抗値
△R≦±(... %R+...
4.8 温度による抵抗値 カテゴリ下限温度/20℃ 懿
△R/R≦±... %又は...10−6/℃
変化
20℃/カテゴリ上限温度 懿
△R/R≦±... %又は...10−6/℃
4.13 過負荷 この規格の2.3.4による。 4.13.3による。
外観
△R≦±(... %R+...
抵抗値
群1B D 5 1*
群1の試料の残り半分
4.19 温度急変 カテゴリ下限温度
カテゴリ上限温度
外観 4.19.3による。
抵抗値
△R≦±(... %R+...
4.22 振動(正弦波) 取付方法 : 個別規格の規定による。
掃引耐久性試験
振動数範囲 : 10Hz500Hz
振幅 : 0.75mm又は98m/s2のど
ちらか緩い方
総試験時間 : 6h
外観 4.22.4による。
抵抗値
△R≦±(... %R+...
群1 D 10 1*
群1の全試料
4.23 一連耐候性
−高温(耐熱性)
−温湿度サイクル
(12+12時間サイ
クル)
最初のサイクル
−低温(耐寒性)
−減圧 8kPa
−温湿度サイクル
(12+12時間サイ
クル)
残りのサイクル
外観 4.23.8による。
抵抗値
△R≦±(... %R+...
抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する R≧1G 圀
場合)は,この規格の2.3.6による。
抵抗素子間の耐電圧(適用する場 4.7.3による。
合)は,この規格の2.3.7による。
群2 D 6 1
4.24 高温高湿(定常) この規格の2.3.8による。
外観 4.24.4による。
抵抗値
△R≦±(... %R+...
――――― [JIS C 5201-6 pdf 11] ―――――
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C 5201-6 : 1999
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 総合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考2.参照)
n c
抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する R≧1G 圀
場合)は,この規格の2.3.6による。
抵抗素子間の耐電圧(適用する場 4.7.3による。
合)は,この規格の2.3.7による。
群3 D 5 1
4.25.1 70℃での耐久性 この規格の2.3.5による。
試験時間 : 1 000h
48h,500h及び1 000hでの検査
外観 4.25.1.7による。
抵抗値
△R≦±(... %R+...
1 000hでの検査 :
抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する R≧1G 圀
場合)は,この規格の2.3.6による。
群4 D 5 1
4.25.3 カテゴリ上限温 試験時間 : 1 000h
度での耐久性 48h,500h及び1 000hでの検査
外観 4.25.3.7による。
抵抗値
△R≦±(... %R+...
1 000hでの検査 :
抵抗素子間の絶縁抵抗(適用する R≧1G 圀
場合)は,この規格の2.3.6による。
群5 D 5 1
4.17 はんだ付け性 エージングなし 4.17.3.2による。
方法 : ...
注 *群1A及び群1Bを含めた群1の総合格判定個数は1個とする。
3.3 品質確認検査
3.3.1 検査ロットの構成
検査ロットは,同一形状で構造的に類似な抵抗器(3.1参照)で構成する。こ
れは,検査の期間中に製造された抵抗値範囲を代表するものとする。期間中に製造される各形状は,同一
公称寸法であれば,異なった抵抗温度特性のものを一括してもよい。ただし,抵抗温度特性の誠験を含む
副群用の試料は除く。IECQの場合は,認証された抵抗値範囲の下限,上限及び/又は臨界抵抗値並びに認
証された抵抗温度特性のものは,国内監督検査機関によって承認された期間の間に検査する(備考を参照)。
群“C”及び“D”の試料は,検査対象期間の最後の13週にわたって集める。
備考 下限抵抗値は,製造中の最低の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最低抵抗値)の0%
200%の間とする。
上限抵抗値は,製造中の最高の認証抵抗値(又は認証範囲内での製造された最高抵抗値)の
−30%0%の間とする。
“臨界”抵抗値は,計算値の−20%0%の間とする。
3.3.2 試験計画
品質確認検査のためのロットごとの品質検査及び定期的品質検査の計画は,ブランク個
別規格の第2章(検査の要求事項)の表IIに示す。
3.3.3 評価水準
ブランク個別規格に規定する評価水準は,次の表IV A及び表IV Bから選択することが
望ましい。
――――― [JIS C 5201-6 pdf 12] ―――――
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C 5201-6 : 1999
表IV A 評価水準とロットごとの品質検査
検査副群** D* E F* G*
IL AQL IL AQL IL AQL IL AQL
% % % %
A1 S-4 1.0
A2 S-4 1.0
B1 S-3 1.0
B2 S-3 2.5
B3 S-3 2.5
IL=検査水準
AQL=合格品質水準
表IV B 評価水準と定期的品質検査
検査副群** D* E F* G*
p n c p n c p n c p n c
C1 3 10 1
C2 3 5 1
Dl 12 12 1
D2 36 10 1
p=周期(月)
n=試料数
c=合格判定個数
表IV A及び表IV Bについての備考 :
* 評価水準D, F及びGは検討中
** 検査副群の内容は,関連のブランク個別規格の第2章(検査の要求事項)に規定する。
――――― [JIS C 5201-6 pdf 13] ―――――
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C 5201-6 : 1999
附属書A(規定) 固定ネットワーク抵抗器の標準回路及び端子の配列
A1 片側端子の標準回路
回路記号 回路形式 回路記号 回路形式
C D
F G
H
W X
Y Z
――――― [JIS C 5201-6 pdf 14] ―――――
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C 5201-6 : 1999
A2 両側端子の標準回路
回路記号 回路形式 回路記号 回路形式
A B
E J
K L
T U
V
――――― [JIS C 5201-6 pdf 15] ―――――
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JIS C 5201-6:1999の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-6:1983(MOD)
- IEC 60115-6:1983/AMENDMENT 1:1987(MOD)
JIS C 5201-6:1999の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-6:1999の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5201-1:2011
- 電子機器用固定抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ9015:1980
- 計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)