この規格ページの目次
23
C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
附属書A
(規定)
ジャンパー(0 Ω)抵抗器
A.1 一般事項
この附属書は,作成する個別規格を適用する製品にジャンパー(0 )抵抗器が含まれ,ジャンパー(0 )
抵抗器に同様の品質認証体系を適用する意図がある場合にだけ適用する。
この規格は,抵抗値をもつ通常の抵抗器と同様に,ジャンパー(0 Ω)抵抗器(以下,ジャンパー抵抗器
という。)にも適用する。ただし,ジャンパー抵抗器の特質として,この附属書の箇条に規定する特別な要
求事項を考慮する必要がある。特に規定がない場合,この規格の本体を無条件に適用する。
A.2 特性及び定格
図2に示す軽減曲線は,通常の抵抗器と同様に,ジャンパー抵抗器の負荷軽減にも適用する。ただし,
定格電流に関する軽減曲線は,規定しない。
ジャンパー抵抗器に対しては,表3の代わりに表A.1を適用する。
表A.1−ジャンパー抵抗器の定格
形式 定格電流 最大許容残留抵抗値 絶縁電圧
(形式記号) 直流又は交流(最大値)
Ir Rres max Uins
A mΩ V
注記 絶縁電圧は,1分間の試験時間で検証している。しかしながら,長期間の絶縁性能は,湿度,有機物
及び絶縁層両端の電界強度の影響を受けることが分かっている。
ジャンパー抵抗器の抵抗温度係数又は抵抗値許容差の規定及び記号はなく,ジャンパー抵抗器と安定性
クラスとは関係がない。
A.3 試験及び試験の厳しさ
ジャンパー抵抗器は,通常の抵抗器に対する試験条件として規定している,定格電圧Ur又はU P70Rn
の代わりに,定格電流Irを用いる。
ジャンパー抵抗器には,通常の抵抗器に対する試験条件として規定している,定格電圧の倍数定格U=
n・Ur又はU n P70Rn の代わりに,電流の倍数I=n・Irを用いる。
ジャンパー抵抗器の試験に対しては,Umax又はその倍数に関して規定しない。
A.4 要求性能
ジャンパー抵抗器には,安定性クラス及び許容抵抗値変化に関する要求事項を適用しない。代わりに,
試験後の最大許容残留抵抗値Rres maxの順守を共通する要求事項として用いる。
ジャンパー抵抗器は,温度による抵抗値変化の試験を行わず,抵抗温度係数及び抵抗値変化の限界は適
用しない。
――――― [JIS C 5201-8-1 pdf 26] ―――――
24
C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
A.5 表示,包装及び発注情報
この規格を適用する通常の抵抗器に表示をする場合と同様に,ジャンパー抵抗器には,次の表示を行う。
− 形式RRの角形抵抗器には,単一桁の“0”,又は単にゼロ・オーム(0 Ω)を表す規定の桁数の表示を
用いる。
− 形式RCの円筒形抵抗器には,単一の黒帯か,又は,規定の本数の黒帯を用いる。
ジャンパー抵抗器の発注情報には,抵抗値許容差及び抵抗温度係数に関する情報を含めない。
A.6 付帯情報
ジャンパー抵抗器には,箇条8の付帯情報を適用する。
A.7 品質認証手順
A.7.1 品質認証試験計画
ジャンパー抵抗器の品質認証には,表12に規定する試験計画を,A.3及びA.4によって変更して適用す
る。
JIS C 5201-1の4.14(温度上昇)に規定する温度上昇は,ジャンパー抵抗器にも適用する。
次の試験は,ジャンパー抵抗器には適用しない。
− 温度による抵抗値変化(JIS C 5201-1の4.8)
− 静電気放電(JIS C 5201-1の4.38)
A.7.2 品質確認検査のための試験計画
ジャンパー抵抗器の品質確認検査には,表13に規定するロットごとの試験,及び表13に規定する定期
試験の試験計画を,A.3及びA.4によって変更して適用する。
JIS C 5201-1の4.14に規定する温度上昇は,ジャンパー抵抗器にも適用する。
次の試験は,ジャンパー抵抗器には適用しない。
− 温度による抵抗値変化(JIS C 5201-1の4.8)
− 静電気放電(JIS C 5201-1の4.38)
――――― [JIS C 5201-8-1 pdf 27] ―――――
25
C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
附属書B
(参考)
文字記号及び略語
この規格で使用する文字記号及び略語は,次による。
B.1 文字記号
文字記号 文字記号の説明 単位
c 合格判定数(許容不適合品数) 1
L 電極から電極への軸方向に沿って測定した長さ mm
D 直径 mm
D 基板曲げ試験における基板曲げ深さ mm
Ftest 固着力 N
gn 標準自由落下加速度 gn=9.806 65 m/s2 m/s2
Ir 定格電流 A
m 質量 mg
n 曲げ回数,又はサイクル数 1
n 試料数 1
p 試験周期 月
P70 周囲温度70 ℃での定格電力 W
R 実測抵抗値 Ω
Rins 絶縁抵抗 Ω
Rn 公称抵抗値 Ω
Rres 残留抵抗値 Ω
Rres max 最大許容残留抵抗値 Ω
刀 抵抗値変化 Ω
刀一刀 事前の測定値に対する抵抗値変化 %
U 電圧,例えば,試験電圧など V
UHBM 静電気放電(ESD)試験における人体モデル放電電圧 V
Uins 絶縁電圧 V
Umax 素子最高電圧,最大許容電圧 V
Ur 定格電圧 Ur P70 R V
Utest 試験電圧 V
Utest max 試験電圧の最大値 V
ta 耐炎性試験のさらし時間(接炎時間) s
tb 耐炎性試験のさらし後の燃焼時間(許容燃焼時間) s
texp 一連耐候性試験のさらし時間 h
timm 耐溶剤性又は,はんだ槽試験の浸せき(漬)時間 s,min
tload 電気的又は機械的試験の負荷時間 s
T 高さ(厚さ) mm
Tbath 耐溶剤性又は,はんだ槽試験の槽温度 ℃
TA カテゴリ下限温度 ℃
TB カテゴリ上限温度 ℃
W 幅 mm
αLCT カテゴリ下限温度と基準温度との間の抵抗温度係数 10−6/K
αUCT カテゴリ上限温度と基準温度との間の抵抗温度係数 10−6/K
――――― [JIS C 5201-8-1 pdf 28] ―――――
26
C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
B.2 略語
略語 略語の説明
D 破壊試験
DMR 管理責任者(品質システム管理者)
ESD 静電気放電
HBM 静電気放電試験における人体モデル
IL 検査水準
LCT カテゴリ下限温度
MET 素子最高温度
ND 非破壊試験
RC 円筒形抵抗器の形式,一般的に皮膜抵抗器に用いる。
RR 角形抵抗器の形式,一般的に皮膜抵抗器に用いる。
SPC 統計的工程管理
TA 技術認証
TADD 技術認証申告書
TAS 技術認証スケジュール
TC 温度係数
TCR 抵抗温度係数
UCT カテゴリ上限温度
参考文献 JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
注記 対応国際規格 : IEC 60068-1,Environmental testing−Part 1: General and guidance(IDT)
JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
(sinusoidal)(IDT)
JIS C 60068-2-13 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-13,Environmental testing−Part 2: Tests. Test M: Low air
pressure(IDT)
JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change
of temperature(IDT)
JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ
――――― [JIS C 5201-8-1 pdf 29] ―――――
27
C 5201-8-1 : 2014 (IEC 60115-8-1 : 2014)
付け性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
methods for solderability and resistance to soldering heat of leaded devices(IDT)
JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U:
Robustness of terminations and integral mounting devices(IDT)
JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイ
クル)試験方法(試験記号 : Db)
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-30,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp
heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)(IDT)
JIS C 60068-2-45 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-45,Environmental testing. Part 2: Tests. Test XA and guidance:
Immersion in cleaning solvents(IDT)
JIS C 60068-2-58 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の
耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of
surface mounting devices (SMD)(MOD)
JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法
注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp
heat, steady state(IDT)
JIS C 60695-11-5 耐火性試験−電気・電子−第11-5部 : 試験炎−ニードルフレーム(注射針
バーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針
注記 対応国際規格 : IEC 60695-11-5,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame
test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)
JIS C 61340-3-1 静電気−第3-1部 : 静電気の影響をシミュレーションする方法−人体モデル
(HBM)の静電気放電試験波形
注記 対応国際規格 : IEC 61340-3-1,Electrostatics−Methods for simulation of electrostatic effects
−Human body model (HBM) lectrostatic discharge test waveforms component testing(IDT)
JIS Z 8000(規格群) 量及び単位
注記 対応国際規格 : ISO 80000 (all parts),Quantities and units
IEC 60027-1,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General
IEC 60060-1,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements
IEC 60195,Method of measurement of current noise generated in fixed resistors
IEC 60440,Method of measurement of non-linearity in resistors
IECQ 03-3,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ System)−Rules of
Procedure−Part 3: IECQ Approved Component Products, Related Materials & Assemblies Scheme
IECQ 03-3-1,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ System)−Rules of
Procedure−Part 3-1: IECQ Approved Component Products, Related Materials & Assemblies
Scheme, IECQ Approved Component−Technology Certification (IECQ AC-TC)
JIS C 5201-8-1:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60115-8-1:2014(IDT)
JIS C 5201-8-1:2014の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 5201-8-1:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0806-3:2014
- 自動実装部品の包装―第3部:表面実装部品の連続テープによる包装
- JISC0806-3:2021
- 自動実装部品の包装―第3部:表面実装部品の連続テープによる包装
- JISC0806-6:2006
- 自動実装部品のパッケージング―第6部:表面実装部品用バルクケースによるパッケージング
- JISC5062:2008
- 抵抗器及びコンデンサの表示記号
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)