JIS C 5260-1:2014 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則 | ページ 21

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C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
表JB.1−用語の索引(続き)
記号 細分箇条 英語 日本語
番号
T 2.2.33 track トラック
2.2.1 type 品種
U 2.2.8 upper category temperature カテゴリ上限温度,最高使用温度
V 2.2.30 variable resistor (two terminals) 2端子形可変抵抗器
2.2.4 variant 特殊品
2.2.18 温度による抵抗値及び出力電圧比の変化
variation of resistance and voltage output ratio with
temperature
2.2.19 visual damage 外観の損傷
2.2.32.2 voltage tap 電圧タップ
Z 2.2.48.13 zero based linearity ゼロ基点直線性
参考文献 JIS C 5101-1 電子機器用固定コンデンサ−第1部 : 品目別通則
JIS C 5201-1 電子機器用固定抵抗器−第1部 : 品目別通則
JIS C 5402-2-1:2005 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-1部 : 導通及び接触抵抗試験−
試験2a : 接触抵抗−ミリボルトレベル法
注記 対応国際規格 : IEC 60512-2-1:2002,Connectors for electronic equipment−Tests and
measurements−Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2a: Contact
resistance−Millivolt level method(IDT)
JIS C 5402-2-2:2005 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2-2部 : 導通及び接触抵抗試験−
試験2b : 接触抵抗−規定電流法
注記 対応国際規格 : IEC 60512-2-2:2003,Connectors for electronic equipment−Tests and
measurements−Part 2-2: Electrical continuity and contact resistance tests−Test 2b: Contact
resistance−Specified test current method(IDT)

JIS C 5260-1:2014の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60393-1:2008(IDT)

JIS C 5260-1:2014の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5260-1:2014の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC5005-2:2010
品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
JISC5062:2008
抵抗器及びコンデンサの表示記号
JISC5063:1997
抵抗器及びコンデンサの標準数列
JISC5270:2011
電子機器用コンデンサ及び抵抗器―軸操作形部品の操作軸,取付ねじ及び取付孔の形状並びに推奨寸法
JISC5402-2-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-1部:導通及び接触抵抗試験―試験2a:接触抵抗―ミリボルトレベル法
JISC5402-2-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-2部:導通及び接触抵抗試験―試験2b:接触抵抗―規定電流法
JISC60068-2-1:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JISC60068-2-14:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N)
JISC60068-2-2:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JISC60068-2-20:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JISC60068-2-21:2009
環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
JISC60068-2-27:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JISC60068-2-30:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
JISC60068-2-6:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JISZ8000-1:2014
量及び単位―第1部:一般