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C 5260-4-2 : 2000
備考 IEC 60063 : 1963 Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
及びAmendment 2 : 1977が,この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部 : 品種別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : Generic specification
及びAmendment 1 : 1992からの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5260-4 電子機器用可変抵抗器−第4部 : 品種別通則 : 単回転電力形可変抵抗器
備考 IEC 60393-4 : 1992 Potentiometers for use in electronic equipment−Part 4 : Sectional
specification : Single-turn rotary power potentiometersからの引用事項は,この規格の該当事
項と同等である。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
備考 IEC 60410 : 1973 Sampling plans and procedures for inspection by attributesからの引用事項は,こ
の規格の該当事項と同等である。
1.5 表示
可変抵抗器及び包装への表示は,JIS C 5260-4の1.5(表示)による。
備考 可変抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。
1.6 発注情報
この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に示す
か,又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性(直線形以外の場合)
c) 個別規格の番号,発効年及び形状
d) 形状の情報で分からない場合には,操作軸及び取付ねじの寸法
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
要求する又は要求しない。
1.8 追加事
項(検査目的以外のもの) (個別規格には,内容をよく理解させるために回路図,軽減曲線,図面及び備考による情報を含めてもよい。)温度こう配の違いのため,軸受及び密閉に重大な影響がある可変抵抗器を取り付ける場合には,情報が
与えられなければならない。
1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合だけに規定する。
第2章 検査要求事項
2. 検査及び要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証のための手順は,JIS C 5260-4の3.2(品質認証)による。
2.1.2 品質確認検査のための試験計画(表2)には,サンプリング,周期,厳しさ及び要求事項を規定す
る。検査ロットの構成は,JIS C 5260-4の3.3.1(検査ロットの構成)による。
品質確認検査では,承認された抵抗値範囲を代表するものを1年以内に検査する(群A,群B及び群C
だけに適用)。
備考 乾燥が要求される場合には,JIS C 5260-1の4.3(乾燥)の手順Iによる。
表2 品質確認検査のための試験計画
――――― [JIS C 5260-4-2 pdf 6] ―――――
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C 5260-4-2 : 2000
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5260-1による。ただし,環境試験の厳しさ及び抵抗値
又は出力電圧比の許容限界は,JIS C 5260-4の関連項目から選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015-1から選択する。
3. この表2で
Uab
”は,全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。
参考 表中の“ Uac
表中の “△R” は,抵抗値の変化量を示す。
表中 “%R” は,定格抵抗値に対する百分率を示す。
表2 品質確認検査のための試験計画(続き)
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考1.参照)
(備考2.参照)
ND
群A検査(ロットごと)
副群A1 ND S−3 4.0%
4.4.1 外観 4.4.1による。
副群A2 ND S−3 1.5%
4.4.1 表示 表示が明りょうで,この規格
の1.5による。
4.6 素子抵抗値 4.6.3による。
副群A3 ND S−3 2.5%
4.5 連続性 適用する場合4.5.1及び4.5.2
による。
群B検査(ロットごと)
副群B1 ND S−2 1.5%
4.12 耐電性 (絶縁形可変抵抗器だけに適用) 4.12.5による。
(取付方法は,この規格の1.1
及び備考8.による。)
大気圧下
4.32 はんだ付け性 はんだこて : サイズA 端子には,はんだが良好に付
(適用する場合) 温度 : 350℃±10℃ 着している。
時間 : 2s±0.5s
4.4.5 表示の耐溶剤性 溶剤 : ... 表示が明りょうである。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法1
ラビング材質 : 脱脂綿
後処理 : ...
――――― [JIS C 5260-4-2 pdf 7] ―――――
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C 5260-4-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考1.参照)
(備考2.参照)
ND
副群B2 ND S−2 2.5%
4.9 抵抗変化特性 (直線的変化特性の場合は,
適切な試験条件及び要求性
能を規定する。)
直線的変化特性
有効電気的操作範囲の割合 :
(50±1) %
出力電圧比
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
群C検査(定期的)
副群C1 D 3 5 1
4.4.2 寸法(ゲージ法) 個別規格の規定による。
4.18 始動トルク 個別規格の規定による。
4.30 端子強度 端子の種類に適応した試験を
行う。
外観 4.30.8による
素子抵抗値
△R≦± ( ...%R+...
副群C2 D 6 8 1
4.43.1 室温での電気的耐 (取付方法は,備考9.参照。)
久性 試験時間 : 1 000h
48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.1.6a)による。
素子抵抗値 圀
△R≦± ( ...%R+...
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用)(取付方法は,こ
の規格の1.1及び備考8.参
照。)
4.18 始動トルク 室温での電気的耐久性の測定 ...mN・m...mN・m
終了後4h以内
室温
――――― [JIS C 5260-4-2 pdf 8] ―――――
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C 5260-4-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
副群C3 D 12 5 1
4.40 機械的耐久性(可変 操作サイクル数 : ...
抵抗器) 操作速度 : 5サイクル/min10
サイクル/min又はしゅう
動接点の移動範囲を最大
80mm/s
外観 4.40.6による。
素子抵抗値 圀
△R≦± ( ...%R+...
始動トルク ...mN・m...mN・m
連続性 適用する場合4.5.1及び4.5.2
による。
副群C4 D 12 5 1
4.21 操作軸固定トルク 出力電圧比
(適用する場合) 外観 4.21.3による。
4.20 回転止強度 外観 4.20.1による。
4.22 操作軸の押し及び引 −試料数2個
張り 4.22.2連続性を適用 4.22.2による。
−試料数2個
U≦...%
△ac
ab
4.22.3出力電圧比を適用 U
−試料数1個
4.22.4外観を適用 4.22.4による。
群D検査(定期的)
副群D1 D 12 5 1
4.39 高温高湿(定常) 1) 4.39.2.1
第1のグループ : 試料数1
個
第2のグループ : 試料数2
個
第3のグループ : 試料数2
個
2) 4.39.2.2
第1のグループ : 試料数2個
第2のグループ : 試料数3個
直流負荷(備考7.による。)
アイソレーション電圧(備考 4.39.4による。
7.による。)(取付方法は,
この規格の1.1及び備考8.
による。)
最終測定
外観 4.39.6.1による。
素子抵抗値 圀
△R≦± ( ...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗 R≧100M 圀
器だけに適用)(取付方法
は,この規格の1.1及び備
考8.による。)
――――― [JIS C 5260-4-2 pdf 9] ―――――
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C 5260-4-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
始動トルク ...mN・m...mN・m
耐電圧(絶縁形可変抵抗器 4.39.6.8による。
だけに適用)
(取付方法は,この規格の
1.1及び備考8.参照。)
副群D2 ND 12 5 1
4.4.3 寸法(詳細) 個別規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲 個別規格の規定による
4.4.6 有効電気的操作範囲 有効電気的回転角度 最
無効回転角度(反時計方向)
無効回転角度(時計方向)
4.7 端子間抵抗値 端子aとbとの間の抵抗値 R≦...圀
端子bとcとの間の抵抗値 R≦...圀
副群D3A 24 4 1
副群D3の半分の試料 試験Tb,方法2
4.33 はんだ耐熱性 はんだこて : サイズA
(適用する場合) 温度 : 350℃±10℃
時間 : 10s±1s
素子抵抗値 圀
△R≦± ( ...%R+...
4.44 本体の耐溶剤性 溶剤 : ... 個別規格の規定による。
(適用する場合) 溶剤の温度 : ...
方法2
後処理 : ...
副群D3B D
副群D3の残りの試料
4.34 温度変化 備考4参照
TA=カテゴリ下限温度(1)
TB=カテゴリ上限温度(1)
放置時間t1=30min
定格電力≦100W : 試験Na
定格電力>100W : 試験Nb
温度変化速度 : 5℃/min±1℃
/min
外観 4.34.5による。
Uab
≦...%
出力電圧比(半固定可変抵抗 Uac
器だけに適用)
素子抵抗値 圀
△R≦± ( ...%R+...
4.35 振動(正弦波) 取付方法 : この規格の1.1に
(備考6.参照) よる。
――――― [JIS C 5260-4-2 pdf 10] ―――――
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JIS C 5260-4-2:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-4-2:1992(MOD)
JIS C 5260-4-2:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-4-2:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-4:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第4部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式