この規格ページの目次
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C 5260-4-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
掃引耐久試験
振動数範囲 : ...Hz...Hz
振幅 : 0.75mm又は加速度
98m/s2(いずれかゆるい方)
総試験時間 : 6h
備考4.による。
試験中の測定
電気的連続性(4.35.4を適
用) 100 譎 連続があっ
最終測定 てはならない。
外観 4.35.5による。
Uab
出力電圧比(半固定可変抵 U ≦...%
ac
抗器だけに適用)
素子抵抗値 圀
△R≦± ( ...%R+...
副群D3 D 24 8 2
副群D3A及びD3Bの全試料
4.30 端子強度 端子の種類に適応した試験を
行う。
外観 4.30.8による。
素子抵抗値 圀
△R≦± ( ...%R+...
4.36 バンプ(又は4.37衝 取付方法 : この規格の1.1に
撃)(備考5.参照) よる。
ピーク加速度 : 4 00m/s2(2)
バンプ回数 : 4 000
外観 4.36.3による。
素子抵抗値 圀
△R≦± (...%R+...
4.37 衝撃(又は4.36バン 取付方法 : この規格の1.1に
プ)(備考5.参照) よる。
パルス波形 : 正弦半波
ピーク加速度 : 500m/s2(3)
作用時間 : 11ms
外観 4.37.3による。
素子抵抗値 圀
△R≦± ( ...%R+...
4.38 一連耐候性
−高温(耐熱性) 外観 4.38.2.2による。
−温湿度サイクル(12+12
時間サイクル)の最初のサ
イクル
−低温 始動トルク ...mN・m...mN・m
−温湿度サイクル(12+12
時間サイクル)の残りのサ
イクル
−直流負荷 備考7.による。
−アイソレーション電圧 備考7.による。 4.38.8による。
最終測定 外観 4.38.10.1による。
素子抵抗値 圀
△R≦± ( ...%R+...
――――― [JIS C 5260-4-2 pdf 11] ―――――
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C 5260-4-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧100M 圀
だけに適用)(取付方法は,
この規格の1.1及び備考8.
による。)
連続性 4.5.1による。
始動トルク ...mN・m...mN・m
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ 4.38.10.7による。
けに適用)(取付方法は,こ
の規格の1.1及び備考8.に
よる。)
注(1) 原国際規格では,温度を表す記号として び いているが,JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0025に
合わせてTA及びTBに変更した。
注(2) IS C 5260-1で引用しているJIS C 0042に合わせて変更した。
(3) IS C 5260-1で引用しているJIS C 0041に合わせて変更した。
備考4. 適用する場合は,半固定抵抗器の要求事項も適用する。
5. バンプと衝撃試験は,いずれか一方を選択する。個別規格には,いずれの試験を適用するかを規定する。
6. この試験は,耐候性カテゴリが25/−/−,40/−/−,55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適用する。
7. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は,いずれか一方を選択する。個別規格には,いずれの試験を
適用するかを規定する。
8. 取付方法は,JIS C 5260-1の4.12(耐電圧)及び4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほか,次による。
a) 本体で取り付けるように設計されている可変抵抗器は,JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは,本体で取付孔があっても,端子でプリント配線板に取り
付ける。
9. JIS C 5260-1の4.43.1(室温での電気的耐久性)の試験は,可変抵抗器を次の方法で取り付ける。
各供試品は,可変抵抗器の取付ねじ又は操作軸(適切な)に対してすきまのある中心取付孔をもつ厚さ4mm
の鋼板に取り付ける。鋼板は,可変抵抗器の本体径の4倍又は300mmの正方形で,いずれか小さい方以下
とする。
感温プローブは,試験中取付ねじ又は操作軸(適切な)の取付孔の上に直接置く。温度は,試験中いかな
る場合もカテゴリ上限温度を超えてはならない。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
――――― [JIS C 5260-4-2 pdf 12] ―――――
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C 5260-4-2 : 2000
附属書(参考) JISと対応する国際規格との対比表
JIS C 5260-4-2 : 2000 電子機器用可変抵抗器−第4部 : ブランク個別規格 :
IEC 60393-4-2 : 1992 電子機器用可変抵抗器−第4部 : ブランク個別規格 : 単回転電力形可変抵抗器
単回転電力形可変抵抗器 評価水準F 評価水準F
対比項目(I) ISの規定内容 (II) 国際規格 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格との整合が困難
(IV) ISと国際規格との相違点
規定項目 番号 内容 な理由及び今後の対策
(1)適用範囲 IEC 60393-4-2 JISと同等。 IDT
(2)一般事項 IEC 60393-4-2 MOD/ 理由 : 市場で多く使用されている。
IECの規定値以外に市場で多
1.3 定格抵抗値の推奨値 Eシリーズ及び/又は1,2,5シ Eシリーズとする。 追加 今後の対策 : 改正提案予定
く使用されている1,2,5シ
リーズとする。 リーズを追加。 対応国際規格が引用しているIEC
1.4 引用規格 JIS Z 9015-1 IEC 60415 MOD/ JIS Z 9015-1 60415の改正によって,JIS Z 9015
変更 が廃止され新たにJIS Z 9015-03
が制定された。整合させるため内容
的に類似のJIS Z 9015-1を採用し
た。
(3)検査要求事項 IEC 60393-4-2 理由 : IEC 60115-1及びIEC 60384-1
が改訂され,また引用しているJIS
4.36 バンプ ピーク加速度 : 400m/s2 MOD/
ピーク加速度 : 390m/s2 390m/s2を400m/s2に変更
も改正されており,整合させるため
変更 改正内容を採用した。
4.37 衝撃 ピーク加速度 : 500m/s2 MOD/
ピーク加速度 : 490m/s2 490m/s2を500m/s2に変更
今後の対策 : 改正提案予定
変更
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
− IDT······技術的差異がない。
− MOD/追加······国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− MOD/変更······国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
C5
− MOD······国際規格を修正している。
260-
4-2: 200
1
0
1
――――― [JIS C 5260-4-2 pdf 13] ―――――
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C 5260-4-2 : 2000
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 平 山 宏 之 東京都立科学技術大学名誉教授
(委員) 吉 田 裕 道 東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾 防衛庁装備局
藤 倉 秀 美 財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明 富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進 財団法人日本規格協会
窪 田 明 通商産業省
橋 爪 邦 隆 通商産業省
福 原 隆 沖電気工業株式会社
村 上 昭 次 株式会社ケンウッド
山 本 克 巳 ソニー株式会社
西 林 和 男 株式会社東芝
新 井 謙 一 日本電気株式会社
中 野 武 松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明 松下電器産業株式会社
伊 高 篤 己 三菱電機株式会社
中 村 之 大 株式会社緑測器
松 本 眞 弓 セイデンテクノ株式会社
三 宅 邦 彦 松尾電機株式会社
江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司 アルプス電気株式会社
秦 考 生 松下電子部品株式会社
石 井 勝 第一電子工業株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
山 名 法 明 株式会社村田製作所
尾 村 博 幸 日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志 TDK株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
――――― [JIS C 5260-4-2 pdf 14] ―――――
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C 5260-4-2 : 2000
JIS C 5260-4分科会 構成表
氏名 所属
(主査) 松 本 眞 弓 セイデンテクノ株式会社
(委員) 江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
吉 田 實 東北アルプス株式会社
本 田 義 夫 KOA株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
山 本 克 巳 ソニー株式会社
林 里 史 ツバメ無線株式会社
野 原 明 帝国通信工業株式会社
三 本 久 明 日本電気株式会社
中 山 孝 之 北陸電気工業株式会社
佐 藤 幸 治 松下電子部品株式会社
吉 田 松 二 福井松下電器株式会社
中 村 之 大 株式会社緑測器
一 木 義 和 株式会社村田製作所
(客員) 曽我部 浩 二
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5260-4-2:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-4-2:1992(MOD)
JIS C 5260-4-2:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-4-2:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-4:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第4部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式