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JIS C 5260-5-1:2000 規格概要
この規格 C5260-5-1は、JIS C 5260-5を品種別通則とするブランク個別規格で,単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準Eについて規定。
JISC5260-5-1 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C5260-5-1
- 規格名称
- 電子機器用可変抵抗器―第5部 : ブランク個別規格 : 単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
- 規格名称英語訳
- Potentiometers for use in electronic equipment -- Part 5:Blank detail specification:Single-turn rotary low-power potentiometers Assessment level E
- 制定年月日
- 2000年4月20日
- 最新改正日
- 2019年10月21日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 60393-5-1:1992(MOD)
- 国際規格分類
ICS
- 31.040.20
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
- 改訂:履歴
- 2000-04-20 制定日, 2005-01-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
- ページ
- JIS C 5260-5-1:2000 PDF [18]
C 5260-5-1 : 2000
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電子機械工業会 (EIAJ) /財団
法人日本規格協会 (JSA) から工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業
標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成5年12月31
日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す
る可能性があることに注意を喚起する。
通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,
実用新案権,又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
この規格には,次の附属書がある。
附属書A(規定) 封止(気密性)試験方法
部編成規格 この規格の部編成規格は,次による。
JIS C 5260群 電子機器用可変抵抗器
JIS C 5260-1 第1部 : 品目別通則
JIS C 5260-2 第2部 : 品種別通則 : ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
JIS C 5260-2-1 第2部 : ブランク個別規格 : ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-2-2 第2部 : ブランク個別規格 : ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F
JIS C 5260-3 第3部 : 品種別通則 : 回転形精密級可変抵抗器(予定)
JIS C 5260-3-1 第3部 : ブランク個別規格 : 回転形精密級可変抵抗器 評価水準E(予定)
JIS C 5260-4 第4部 : 品種別通則 : 単回転電力形可変抵抗器(予定)
JIS C 5260-4-1 第4部 : ブランク個別規格 : 単回転電力形可変抵抗器 評価水準E(予定)
JIS C 5260-4-2 第4部 : ブランク個別規格 : 単回転電力形可変抵抗器 評価水準F(予定)
JIS C 5260-5 第5部 : 品種別通則 : 単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
JIS C 5260-5-1 第5部 : ブランク個別規格 : 単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E
JIS C 5260-5-2 第5部 : ブランク個別規格 : 単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F
(pdf 一覧ページ番号 )
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 1] ―――――
C 5260-5-1 : 2000
pdf 目次
ページ
- 序文・・・・[1]
- ブランク個別規格・・・・[1]
- 個別規格の識別・・・・[1]
- 可変抵抗器の識別・・・・[1]
第1章 一般事項
- 1. 一般事項・・・・[3]
- 1.0 適用範囲・・・・[3]
- 1.1 推奨する取付方法(挿入用)・・・・[3]
- 1.2 寸・・・・[3]
- 1.3 定格及び特性・・・・[3]
- 1.3.1 負荷軽減・・・・[3]
- 1.4 引用規格・・・・[3]
- 1.5 表示・・・・[4]
- 1.6 発注情報・・・・[4]
- 1.7 出荷対象ロットの成績証明書・・・・[4]
- 1.8 追加事・・・・[4]
- 1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項・・・・[4]
第2章 検査の要求事項
- 2. 検査の要求事項・・・・[4]
- 2.1 手順・・・・[4]
- 附属書A(規定) 封止(気密性)試験方法・・・・[14]
(pdf 一覧ページ番号 )
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 5260-5-1 : 2000
電子機器用可変抵抗器−第5部 : ブランク個別規格 : 単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器評価水準E
Potentiometers for use in electronic equipment−Part 5 : Blank detail specification :Single-turn rotary low-power potentiometers Assessment level E
序文
この規格は,1992年に第1版として発行されたIEC 60393-5-1, Potentiometers for use in electronic
equipment−Part 5 : Blank detail specification : Single-turn rotary low-power potentiometers Assessment level Eを
元に,規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,技術的内容については,製品の
現状に即して変更している。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また,IEC規格番号
は,1997年1月1日から実施のIEC規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に
ついても,規格番号に60000を加えた番号に切り替えた。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一
である。
ブランク個別規格
この規格は,品種別通則 (JIS C 5260-5) の補足規格で,個別規格の様式,配列及び最
小限必要な要求事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格(日本産業規格)に
基づいていないとみなす。
個別規格を作成する場合には,JIS C 5260-5の1.4(個別規格に規定する事項)の内容を考慮に入れる。
個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の丸括弧の数字は,指定の位置に記入する次の事項と対
応する。
個別規格の識別
(1) 個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC : International electrotechnical
commission) の名称。
(2) 個別規格の国内規格番号,発効年及び国内制度で要求される事項,又はIEC規格の番号,版及び発行
年。
(3) 品目別通則の国内規格の名称,番号及び発効年,又はIEC規格の番号,版及び発行年。
(4) ブランク個別規格の国内規格番号又はIEC規格番号。
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 3] ―――――
2
C 5260-5-1 : 2000
可変抵抗器の識別
(5) 可変抵抗器の品種についての要約説明。
(6) 代表的な構造の説明(適用する場合)。例えば,非巻線,単回転形。
備考 可変抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのことを
明記する。
(7) 互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図,及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。
この図は,個別規格の附属書としてもよい。
(8) 適用範囲又は適用グループの範囲,及び/又は評価水準。
備考 個別規格に適用する評価水準は,JIS C 5260-5の3.3.3(評価水準)から選択する。このブラン
ク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
(9) 異なる品種の可変抵抗器について,対比できる重要な特性に関する参照データ。
(例 日本工業標準調査会) (1) 個別規格の番号 (2)
(pdf 一覧ページ番号 )
電子機器用可変抵抗器 (3) 例 JIS C 5260-5-1
第1部 : 品目別通則 (ブランク個別規格番号)
JIS C 5260-1 : 1999 (5)
単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
外形図(表1参照) (7)
(第三角法)
(必要がある場合,寸法を個別規格の附属書に規
定してもよい。)
端子の接続 代表的な構造 : (6)
例 非巻線,単回転形
評価水準 : E (8)
安定性クラス : ···%
この個別規格で認証された可変抵抗器の詳しい内容
は,品質認証電子部品一覧表 (QPL) に示されている。
参考 この記載は,IEC品質認証制度 (IECQ) の場合
に適用する。
(pdf 一覧ページ番号 )
表1 定格及び特性
形状 定格電力 (70℃) 素子最高電圧 V アイソレーション電圧 V
(直流又は交流の 直流又は交流ピーク値
抵抗変化特性 抵抗変化特性 実効値) 大気圧下 減圧下
B A及びC
参考 IEC 60393-5では,直線的特性をA,対数的特性をBと規定しているが,日本工業規格(日本産業規格)の関連規格
及び個別規格では,従前から直線的特性にB,対数的特性にAの記号を使用しており,取引上の
混乱を避けるため従前の記号のままとした。
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 4] ―――――
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C 5260-5-1 : 2000
第1章 一般事項
1. 一般事項
1.0 適用範囲
この規格は,JIS C 5260-5を品種別通則とするブランク個別規格で,単回転低電力形巻線
及び非巻線可変抵抗器評価水準E(以下,可変抵抗器という。)について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
IEC 60393-5-1 : 1992, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 5 : Blank detail
specification : Single-turn rotary low-power potentiometers Assessment level E
1.1 推奨する取付方法(挿入用)
[JIS C 5260-5の1.4.2(取付け)を参照]
1.2 寸
法(必要がある場合,寸法は,個別規格の附属書に規定してもよい。) すべての寸法は,ミリメートル,又はインチ及びミリメートルで示す。1.3 定格及び特性
定格抵抗値範囲* 各抵抗変化特性ごと及び各形状ごとの範囲。IECQの場合は,品質認
証電子部品一覧表 (QPL) で示す。
定格抵抗値の許容差 ±···%
···
抵抗変化特性
抵抗温度特性 ≦···%
(20℃70℃) ( 刀一勿
温度係数 ≦···×10-6/℃
耐候性カテゴリ −/−/−
減圧 8kPa**
抵抗値の許容変化(端子aとcとの間) ±(···%R+···
(電気的耐久性試験1 000h後)
···mN・m···mN・m
始動トルク
全機械的操作範囲 ≧···゜
有効電気的操作範囲 ≧···゜
無効操作範囲(時計方向) ≦···゜
無効操作範囲(反時計方向) ≦···゜
···mN・m···mN・m
スイッチトルク(適用する場合)
···A,···V
スイッチ定格(適用する場合)
···mA
しゅう動接点許容電流
··· 圀
端子間抵抗値
··· 圀
終端残留抵抗値(適用する場合)
··· 圀
最小有効抵抗値
注* 定格抵抗値の推奨値は,JIS C 5063のEシリーズ及び/又は1,2,5シリーズである。
** JIS C 5260-1で引用しているJIS C 0029に合わせて変更した。
参考 刀一到 抵抗値変化の定格抵抗値に対する百分率を示す。
%Rは,定格抵抗値に対する百分率を示す。
1.3.1 負荷軽減
この規格を適用する可変抵抗器は,次の軽減曲線によって負荷を軽減する。
(適切な軽減曲線は,個別規格に規定する。)
備考 JIS C 5260-5の2.2.3(定格電力)を参照。
1.4 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の一部を構成する。
これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5063 抵抗器及びコンデンサの標準数列
備考 IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors並びにAmendment 1 : 1967
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 5] ―――――
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JIS C 5260-5-1:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-5-1:1992(MOD)
JIS C 5260-5-1:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-5-1:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-5:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第5部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式