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C 5260-5-1 : 2000
及びAmendment 2 : 1977が,この規格と一致している。
JIS C 5260-1 電子機器用可変抵抗器−第1部 : 品目別通則
備考 IEC 60393-1 : 1989, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 1 : Generic specification
及びAmendment 1 : 1992からのすべての引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS C 5260-5 電子機器用可変抵抗器−第5部 : 品種別通則 : 単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗
器
備考 IEC 60393-5 : 1992, Potentiometers for use in electronic equipment−Part 5 : Sectional
specification : Single-turn rotary low-power wirewound and non-wirewound potentiometersから
のすべての引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
備考 IEC 60410 : 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributesからの引用事項は,
この規格の該当事項と同等である。
1.5 表示
可変抵抗器及び包装への表示は,JIS C 5260-5の1.5(表示)による。
備考 可変抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。
1.6 発注情報
この規格を適用する可変抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に示す
か,又は記号の形で示す。
a) 定格抵抗値及びその許容差
b) 抵抗変化特性(直線形以外の場合)
c) 個別規格の番号及び発効年並びに形状
d) 形状の情報で分からない場合,操作軸及び取付ねじの寸法
1.7 出荷対象ロットの成績証明書
要求する,又は要求しない。
1.8 追加事
項(検査目的以外のもの) (個別規格には,内容をよく理解させるために回路図,軽減曲線,図面及び備考による情報を含めてもよい。)1.9 品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項
備考 追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合にだけ規定する。
第2章 検査の要求事項
2. 検査の要求事項
2.1 手順
2.1.1 品質認証のための手順は,JIS C 5260-5の3.2(品質認証)による。
2.1.2 品質確認検査のための試験計画(表II)には,サンプリング,周期,厳しさ及び要求事項を規定す
る。検査ロットの構成は,JIS C 5260-5の3.3.1(検査ロットの構成)による。
品質確認検査では,承認された抵抗値範囲を代表するものを1年以内に検査する(群A,群B及び群C
だけ)。
備考 乾燥が要求される場合には,JIS C 5260-1の4.3(乾燥)の手順Iによる。
表II 品質確認検査のための試験計画
備考1. 試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5260-1による。ただし,環境試験の厳しさ及び抵抗値
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 6] ―――――
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C 5260-5-1 : 2000
又は出力電圧比の許容限界は,JIS C 5260-5の関連項目から選択する。
2. 検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015-1から選択する。
3. この表で
Uabは,全印加電圧に対する百分率で表した出力電圧比の変化を表す。
参考 表中の“Uac ”
表中の“ は,抵抗値の変化量を示す。
表中“%R”は,定格抵抗値に対する百分率を示す。
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
群A検査(ロットごと)
副群A1 ND II 4.0%
4.4.1 外観 4.4.1による。
副群A2 ND II 1.0%
4.4.1 表示 表示が明りょうで,この規格
の1.5による。
4.6 素子抵抗値 4.6.3による。
副群A3 ND S-2 4.0%
4.4.2 寸法(ゲージ法) この規格の規定による。
4.4.4 全機械的操作範囲 この規格の規定による。
副群A4 ND S-2 4.0%
4.7 端子間抵抗値(最小抵抗 端子aとbとの間の抵抗値 R≦··· 圀
値) 端子bとcとの間の抵抗値 R≦··· 圀
4.5 連続性 (巻線抵抗器だけに適用) 適用する場合,4.5.1及び4.5.2
による。
4.15 しゅう動雑音 方法A(非巻線抵抗器に適用) U≦···mV
又は
方法B(巻線抵抗器に適用), R≦···%R
4.12 耐電圧 (絶縁形可変抵抗器だけに適 4.12.5による。
用)
(取付方法は,この規格の1.1
及び備考11. による。)
大気圧下
4.11 スイッチ接触抵抗(適 スイッチ接触抵抗の測定後, R≦···m 圀
用する場合) 負荷を加えて5回10回操作 スイッチが外観的に本来の動
する。 作をする。
群B検査(ロットごと)
副群B1 D S-2 1.5%
4.18 始動トルク この規格の規定による。
4.31 封止(適用する場合) この規格の附属書Aによる。 この規格の附属書Aによる。
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 7] ―――――
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C 5260-5-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 IL AQL 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) (備考2.参照) (備考1.参照)
ND
副群B2 ND S-2 1.5%
4.32 はんだ付け性(適用す はんだ槽法 端子は,はんだが良好に付着
る場合) 温度 : 235℃±5℃ している。
時間 : 2s±0.5s
又は
方法2 : はんだこて法
はんだこて先 : B
温度 : 350℃±10℃
時間 : 2s±0.5s
4.45 表示の耐溶剤性(適用 溶剤 : ··· 表示が明りょうである。
する場合) 溶剤の温度 : ···
方法1
ラビング材質 : 脱脂綿
後処理 : ···
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
群C検査(定期的)
副群C1 ND 3 8 1
4.21 操作軸固定トルク 出力電圧比 Uab
≦ %
(適用する場合) 外観 Uac
4.21.2による。
備考 原国際規格では,4.21.3
と記載されているが,
4.21.2の誤りであり訂
正した。
4.20 回転止め強度 外観 4.20.1による。
4.22 操作軸の押し及び引 − 試料数3
張り 4.22.2を適用
連続性− 4.22.2による。
− 試料数3
4.22.3を適用
出力電圧比 Uab
≦ %
Uac
− 試料数2
4.22.4を適用
外観 4.22.4による。
4.40 機械的耐久性(可変 操作サイクル数 : ···
抵抗器)(備考4.参照) 操作速度 : ···サイクル/min
外観 4.40.6による。
素子抵抗値
(···%R+···
···mN・m···mN・m
始動トルク
しゅう動雑音 :
方法A(非巻線可変抵抗器に U≦···mV
適用)
又は
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 8] ―――――
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C 5260-5-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
方法B(巻線可変抵抗器に適 R≦···%R
用),
···
封止(適用する場合)
− 4.31.3を適用(容器気密 4.31.3による。
形可変抵抗器だけに適
用)
− 4.31.2.1を適用 4.31.2.1による。
備考 各方向への圧力を加え
るためケースに穴を開
けてもよい。
4.41 容量性負荷による電 外観 4.41.5による。
源スイッチの交流耐久性 接触抵抗 R≦···m 圀
(備考4及び備考12. 参 温度上昇 t≦···℃
照) 絶縁抵抗 R≧···M 圀
耐電圧,電圧 : ···Vr. m. s. 絶縁破壊又はフラッシュオー
バがない。
又は
4.42 スイッチ直流耐久性 外観 4.42.2.1による。
(備考4.及び備考12. 参 スイッチ接触抵抗 R≦···m 圀
照) スイッチトルク この群の始めに測定した始動
トルクの2倍以上で200 mN・
m以下である。
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1 G 圀
だけに適用)(取付方法は備
考11. による。)
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ 4.42.2.5による。
け)(取付方法は備考11. に
よる。)
副群C2A D 3 7
副群C2の試料の一部 端子の形式に対応した試験を
4.30 端子強度 行う。
外観 4.30.8による。
素子抵抗値
(···%R+···
4.33 はんだ耐熱性(適用 試験Tb,方法1B
する場合) 温度 : 350℃±10℃
時間 : 3.5s±0.5s
又は
方法2
はんだこて先 : A
温度 : 350℃±10℃
時間 : 10s±1s
素子抵抗値
(···%R+···
端子間抵抗値 :
端子aとbとの間の抵抗値 R≦··· 圀
端子bとcとの間の抵抗値 R≦··· 圀
4.44 本体の耐溶剤性(適 溶剤 : ··· 個別規格に規定する。
用する場合) 溶剤の温度 : ···
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 9] ―――――
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C 5260-5-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
方法2
後処理 : ···
副群C2B D 3 6
副群C2の残りの部分
4.34 温度変化(備考13. 備考5.による。
参照) TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
備考 記号 び
びTBに変更した。
放置時間t1=30min
外観 4.34.5による。
出力電圧比(半固定可変抵抗 Uab
≦ %
器だけに適用) Uac
素子抵抗値 圀
(···%R+···
4.36 バンプ(又は4.37衝 取付方法 : この規格の1.1に
撃)(備考6.参照) よる。
ピーク加速度 : 400m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用し
ているJIS C 0042に合
わせて変更した。
バンプ回数 : 4 000
外観 4.36.3による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
4.37 衝撃(又は4.36バン 取付方法 : この規格の1.1に
プ)(備考6.参照) よる。
パルス波形 : 正弦半波
ピーク加速度 : 500m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用
しているJIS C 0041に
合わせて変更した。
パルス作用時間 : 11ms
外観
素子抵抗値 4.37.3による。
圀
(···%R+···
4.35 振動(正弦波)(備考 取付方法 : この規格の1.1に
7.参照) よる。
掃引耐久試験
振動数範囲 :
···HzHz···
振幅 : 0.75mm又は加速度
98m/s2(どちらか緩い方)
総試験時間 : 6h
備考5.による。
試験中の測定
電気的連続性(4.35.4を適用) 100 譎 連続がない。
最終測定
外観 4.35.5による。
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 5260-5-1:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-5-1:1992(MOD)
JIS C 5260-5-1:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-5-1:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-5:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第5部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式