この規格ページの目次
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C 5260-5-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
出力電圧比(半固定可変抵抗 Uab
≦ %
器だけに適用) Uac
素子抵抗値 圀
(···%R+···
副群C2 D 3 13 2
副群C2A及びC2Bの全試
料
4.38 一連耐候性
− 高温(耐熱性) 外観 4.38.2.2による。
− 温湿度サイクル
(12+12時間サイク
ル)の最初のサイクル
···mN・m···mN・m
− 低温(耐寒性) 始動トルク
スイッチトルク(適用する場 T≦400mN・m
合)
− 減圧(備考8参照) 8kPa
備考 JIS C 5260-1で引用
しているJIS C 0029に
合わせて変更した。
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ 4.38.5.3による。
けに適用)(取付方法はこの
規格の1.1及び備考11. によ
る。)
− 温湿度サイクル
(12+12時間サイク
ル)の残りのサイクル
− 直流負荷 備考9.による。
− アイソレーション電圧 備考9.による。 4.38.8による。
− 最終測定 外観 4.38.10.1による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧···M 圀
だけに適用)(取付方法はこ
の規格の1.1及び備考11. に
よる。)
スイッチ接触抵抗(適用する R≦···m 圀
場合)
連続性 適用する場合4.5.1及び4.5.2
による。
···mN・m···mN・m
始動トルク
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ 4.38.10.7による。
けに適用)(取付方法はこの
規格の1.1及び備考11. によ
る。)
副群C3 D 3 8 1
4.43.2 70℃での電気的 試験時間 : 1 000h
耐久性 48h,500h及び1 000hでの検
査 :
外観 4.43.2.6a)による。
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 11] ―――――
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C 5260-5-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
素子抵抗値 圀
(···%R+···
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用)(取付方法はこ
の規格の1.1及び備考11. に
よる。)
しゅう動雑音 :
方法A(非巻線可変抵抗器に U≦···mV
適用)又は
方法B(巻線可変抵抗器に適 R≦···%R
用), ···
個別規格に要求がある場合に
は,試験時間を8 000hまで延
長する。
2 000h,4 000h及び8 000hで
の検査 :
素子抵抗値 圀
(···%R+···
結果は,情報としてだけに扱う。
副群C4 ND 3 8 1
4.4.4 全機械的操作範囲 この規格の規定による。
4.4.6 有効電気的操作範囲 有効電気的回転角度
無効回転角度(反時計方向) 映
無効回転角度(時計方向) 映
4.9 抵抗変化特性 [個別規格に,適切な試験条
件及び要求性能を品種別通則
(JIS C 5260-5) の2.1.5(抵抗
変化特性)から選択して規定
する。]
群D検査(定期的)
副群D1 D 12 8 1
4.39 高温高湿(定常) 1) 4.39.2.1
第1のグループ : 試料数2
第2のグループ : 試料数3
第3のグループ : 試料数3
2) 4.39.2.2
第1のグループ : 試料数4
第2のグループ : 試料数4
直流負荷(備考11. による。)
アイソレーション電圧(備考 4.39.4による。
11. による。)(取付方法はこ
の規格の1.1及び備考11. に
よる。)
最終測定
外観 4.39.6.1による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧100M 圀
だけに適用)(取付方法はこ
の規格の1.1及び備考11. に
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 12] ―――――
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C 5260-5-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
よる。)
スイッチ接触抵抗(適用する R≦···m 圀
場合)
連続性(巻線可変抵抗器だけ 適用する場合4.5.1及び4.5.2
に適用) による。
···mN・m···mN・m
始動トルク
しゅう動雑音 :
方法A(非巻線可変抵抗器に U≦···mV
適用)
又は
方法B(巻線可変抵抗器に適 R≦···%R
用),
···
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だ 4.39.6.8による。
けに適用)(取付方法はこの
規格の1.1及び備考11. によ
る。)
副群D2 D 36 8 1
4.43.3 カテゴリ上限温度 試験時間 : 1 000h
での電気的耐久性(適用す − 端子aとcとの間に負荷
る場合,備考7.参照) 48h,500h及び1 000h
での検査 :
外観 4.43.3.7a)による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
− 端子aとbとの間に負荷
48h,500h及び1 000hで
の検査 :
外観 4.43.3.7a)による。
端子aとbとの間の抵 圀
(···%R+···
抗値
素子抵抗値 圀
(···%R+···
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用)(取付方法はこ
の規格の1.1及び備考11. に
よる。)
副群D3 ND 36 8 1
4.14 抵抗温度特性(備考 カテゴリ下限温度/20℃ R
≦ %
10.参照) R
20℃/70℃ R
≦ %
R
20℃/カテゴリ上限温度 R
≦ %
R
副群D4 ND 36 8 1
4.4.3 寸法(詳細) この規格の規定による。
副群D5 D 36 8 1
4.43 70℃以外の温度での (この副群は,この規格の
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 13] ―――――
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C 5260-5-1 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 合格判定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
耐久性(適用する場合) 2.2.3に示した以外の軽減曲
線を規定した場合だけに適用
する。)
試験時間 : 1 000h
− 端子aとcとの間に負荷 :
48h,500h及び1 000h
での検査 :
外観 4.43.1.6a)による。
素子抵抗値 圀
(···%R+···
− 端子aとbとの間に負荷 (副群C3と同じ)
48h,500h及び1 000h
での検査 :
外観 4.43.1.6a)による。
端子aとbとの間の抵 圀
(···%R+···
抗値
(副群C3と同じ)
素子抵抗値 圀
(···%R+···
1 000hでの検査 :
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器 R≧1G 圀
だけに適用)(取付方法はこ
の規格の1.1及び備考11. に
よる。)
備考4. スイッチ付可変抵抗器の場合は,可変抵抗器部とスイッチ部の機械的耐久性試験を一つの試
験として同時に実施する。
5. 適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
6. バンプ試験及び衝撃試験は,どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に
規定する。
7. この試験は,耐候性カテゴリが25/−/−,40/−/−,55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
8. この試験は,JIS C 5260-1の4.38.5.1に規定した事項を追加して,65/−/−の可変抵抗器に適
用する。
9. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は,どちらか一方を選択する。どの試験を適用
するかを個別規格に規定する。
10. JIS C 5260-1の4.14.2のd)及びf)に記載した温度は,カテゴリ上限温度が100℃の可変抵抗
器に適用する。
11. 取付方法は,JIS C 5260-1の4.12(耐電圧)及び4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほ
か,次による。
a) 本体で取り付けるように設計されているものは,JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは,本体で取り付ける穴があっても,端子でプ
リント配線板に取り付けて試験する。
12. 個別規格には,JIS C 5260-1の4.41(容量性負荷による電源スイッチの交流耐久性)及び4.42
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 14] ―――――
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C 5260-5-1 : 2000
(スイッチの直流耐久性)のどちらの試験を適用するかを規定する。
13. この試験は,カテゴリ上限温度とカテゴリ下限温度との温度差が95℃以上である場合に適用
する。
――――― [JIS C 5260-5-1 pdf 15] ―――――
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JIS C 5260-5-1:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-5-1:1992(MOD)
JIS C 5260-5-1:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-5-1:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-5:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第5部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式