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C 5260-5-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び合格判 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
副群D5B D 24 4 1
副群D5の残りの部分
4.34 温度変化(備考11.参照) 備考5.参照
TA=カテゴリ下限温度
TB=カテゴリ上限温度
備考 記号 び
びTBに変更した。
放置時間t1=30 min
外観 4.34.5による。
Uab
出力電圧比(半固定可変抵抗器だ ≦...%
Uac
けに適用)
素子抵抗値
(...%R+...
4.35 振動(正弦波)(備考6.参取付方法 : この規格の1.1による。
照) 掃引耐久試験
振動数範囲 : ...Hz...Hz
振幅 : 0.75 mm又は加速度98m/s2
(どちらか緩い方)
総試験時間 : 6 h
備考5.による。
試験中の測定
電気的連続性(4.35.4を適用) 100 譎 連続がない。
最終測定
外観 4.35.5による。
Uab
出力電圧比(半固定可変抵抗器だけ) ≦...%
Uac
素子抵抗値 圀
(....%R+...
副群D5 D 24 8 2
副群D5A及びD5Bの全試料
4.30 端子強度 端子の形式に対応した試験を行
う。
外観 4.30.8による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
4.36 バンプ(又は4.37衝撃)(備
取付方法 : この規格の1.1による。
考12.参照) ピーク加速度 : 400 m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用し
ているJIS C 0042に合
わせて変更した。
バンプ回数 : 4 000
外観 4.36.3による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
4.37 衝撃(又は4.36バンプ)(備
取付方法 : この規格の1.1による。
考12.参照) パルス波形 : 正弦半波
ピーク加速度 : 500 m/s2
備考 JIS C 5260-1で引用し
ているJIS C 0041に合
わせて変更した。
作用時間 : 11 ms
外観 4.37.3による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
――――― [JIS C 5260-5-2 pdf 11] ―――――
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C 5260-5-2 : 2000
項目番号及び試験 D 試験条件 試料数及び合格判 要求性能
(備考1.参照) 又は (備考1.参照) 定個数 (備考1.参照)
ND (備考3.参照)
p n c
4.38 一連耐候性
− 高温(耐熱性) 外観 4.38.22による。
− 温湿度サイクル(12+12時
間サイクル)の最初のサイ
クル
− 低温(耐寒性) 始動トルク ...mN・m...mN・m
− 温湿度サイクル(12+12時 スイッチトルク(適用する場合) T≦400mN・m
間サイクル)の残りのサイ
クル
− 直流負荷 備考7.による。 4.38.8による。
− アイソレーション電圧 備考7.による。
最終測定 外観 4.38.10.1による。
素子抵抗値 圀
(...%R+...
絶縁抵抗(絶縁形可変抵抗器だけ R≧100 M圀
に適用)(取付方法はこの規格
の1.1及び備考9.による。)
スイッチ接触抵抗(適用する場合) 圀
R≦...m
連続性 適用する場合4.5.1及び4.5.2によ
る。
始動トルク ...mN・m...mN・m
耐電圧(絶縁形可変抵抗器だけに 4.38.10.7による。
適用)(取付方法はこの規格の
1.1及び備考9.による。)
備考4. スイッチ付可変抵抗器の場合は,可変抵抗器部とスイッチ部の機械的耐久性試験を一つの試験として同時に実
施する。
5. 適用できる場合は,半固定可変抵抗器の要求事項も適用する。
6. この試験は,耐候性カテゴリが25/−/−,40/−/−,55/−/−及び65/−/−の可変抵抗器に適用する。
7. 直流負荷試験及びアイソレーション電圧試験は,どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格
に規定する。
8. JIS C 5260-1の4.14.2のd)及びf)に記載した温度は,カテゴリ上限温度が100℃の可変抵抗器に適用する。
9. 取付方法は,JIS C 5260-1の4.12(耐電圧)及び4.13(絶縁抵抗)の該当する方法によるほか,次による。
a) 本体で取り付けるように設計されている可変抵抗器は,JIS C 5260-1の4.12.1による。
b) 端子で取り付けるように設計されているものは,本体で取り付ける穴があっても,端子でプリント配線板
に取り付けて試験する。
10. 個別規格には,JIS C 5260-1の4.41(容量性負荷による電源スイッチの交流耐久性)及び4.42(スイッチの直
流耐久性)のどちらの試験を適用するかを規定する。
11. この試験は,カテゴリ上限温度とカテゴリ下限温度との温度差が95℃以上である場合に適用する。
12. バンプ試験及び衝撃試験は,どちらか一方を選択する。どの試験を適用するかを個別規格に規定する。
関連規格 JIS C 0029 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
JIS C 0042 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
――――― [JIS C 5260-5-2 pdf 12] ―――――
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C 5260-5-2 : 2000
電子部品JIS原案作成委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 平 山 宏 之 東京都立科学技術大学名誉教授
(委員) 吉 田 裕 道 東京都立産業技術研究所
寺 岡 憲 吾 防衛庁装備局
藤 倉 秀 美 財団法人電気安全環境研究所
岩 田 武
村 岡 桂次郎
曽我部 浩 二
町 野 俊 明 富士テクノサーベイ株式会社
橋 本 進 財団法人日本規格協会
窪 田 明 通商産業省
橋 爪 邦 隆 通商産業省
福 原 隆 沖電気工業株式会社
村 上 昭 次 株式会社ケンウッド
山 本 克 己 ソニー株式会社
西 林 和 男 株式会社東芝
新 井 謙 一 日本電気株式会社
中 野 武 松下通信工業株式会社
三 宅 敏 明 松下電器産業株式会社
山 本 佳 久 三菱電機株式会社
辻 伊佐男 株式会社タイツウ
川 井 一 成 ルビコン株式会社
吉 田 松 二 福井松下電器株式会社
吉 田 實 東北アルプス株式会社
佐 藤 幸 治 松下電子部品株式会社
三 宅 邦 彦 松尾電機株式会社
江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
高 木 祐 司 アルプス電気株式会社
秦 考 生 松下電子部品株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
山 名 法 明 株式会社村田製作所
尾 村 博 幸 日本ケミコン株式会社
佐 藤 広 志 TDK株式会社
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
――――― [JIS C 5260-5-2 pdf 13] ―――――
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C 5260-5-2 : 2000
JIS C 6260-5分科会 構成表
氏名 所属
(主査) 吉 田 實 東北アルプス株式会社
(委員) 江 口 正 則 東京コスモス電機株式会社
松 浦 伸 夫 栄通信工業株式会社
本 田 義 夫 KOA株式会社
大 浦 昭 夫 高信頼性部品株式会社
山 本 圭 一 進工業株式会社
山 本 克 己 ソニー株式会社
林 里 史 ツバメ無線株式会社
赤 津 洋 一 帝国通信工業株式会社
中 島 久 男 日本電気株式会社
中 山 孝 之 北陸電気工業株式会社
佐 藤 幸 治 松下電子部品株式会社
吉 田 松 二 福井松下電器株式会社
山 本 佳 久 三菱電機株式会社
中 村 之 大 株式会社緑測器
野 津 秀 雄 株式会社村田製作所
曽我部 浩 二
(事務局) 塚 田 潤 二 社団法人日本電子機械工業会
中 山 正 美 社団法人日本電子機械工業会
JIS C 5260-5-2:2000の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60393-5-2:1992(MOD)
JIS C 5260-5-2:2000の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.040 : 抵抗器 > 31.040.20 : 電位差計,可変抵抗器
JIS C 5260-5-2:2000の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5063:1997
- 抵抗器及びコンデンサの標準数列
- JISC5260-1:2014
- 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則
- JISC5260-5:2000
- 電子機器用可変抵抗器―第5部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式