JIS C 5311:1994 電子機器用電源変圧器試験方法

                                                                                    C 5311-1994

pdf 目次

ページ

•  1. 適用範囲・・・・[2]
•  2. 用語の定義・・・・[2]
•  3. 試験の状態・・・・[2]
•  3.1 標準状態・・・・[2]
•  3.2 基準状態・・・・[2]
•  3.3 判定状態・・・・[2]
•  4. 試験機器及び装置・・・・[2]
•  4.1 交流電源・・・・[2]
•  4.2 直流電源・・・・[2]
•  5. 外観・構造及び寸法試験・・・・[3]
•  5.1 外観及び構造・・・・[3]
•  5.2 表示・・・・[3]
•  5.3 寸法・・・・[3]
•  6. 電気的性能試験・・・・[3]
•  6.1 絶縁抵抗試験・・・・[3]
•  6.2 耐電圧試験・・・・[3]
•  6.3 層間耐電圧試験・・・・[3]
•  6.4 無負荷損失試験・・・・[4]
•  6.5 無負荷電流,無負荷電圧試験・・・・[5]
•  6.6 電圧偏差試験・・・・[5]
•  6.7 電圧変動率試験・・・・[6]
•  6.8 極性試験・・・・[7]
•  6.9 インピーダンス電圧及び負荷損失試験・・・・[7]
•  6.10 中性点電圧不平衡度試験・・・・[8]
•  6.11 温度上昇試験・・・・[9]
•  6.12 コロナ放電試験・・・・[11]
•  6.13 過負荷試験・・・・[13]
•  7. 機械的性能試験・・・・[13]
•  7.1 端子強度試験・・・・[13]
•  7.2 耐振性試験・・・・[13]
•  8. 耐候性試験・・・・[14]
•  8.1 耐熱性試験・・・・[14]
•  8.2 耐寒性試験・・・・[14]
•  8.3 耐湿性試験・・・・[15]

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS C 5311 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             C 5311-1994

電子機器用電源変圧器試験方法

Testing methods of power transformers for electronic equipment

1. 適用範囲

 この規格は,主に電子機器に用いる定格出力1kVA以下,周波数50Hz又は60Hzの単相電
源変圧器(以下,変圧器という。)の試験方法について規定する。
    備考1. この規格の引用規格を次に示す。
    JIS B 0252 メートル細目ねじ用限界ゲージ
    JIS B 7502 外側マイクロメータ
    JIS B 7507 ノギス
    JIS B 7516 金属製直尺
    JIS C 0010 環境試験方法−電気・電子−通則
    JIS C 0040 環境試験方法(電気・電子)正弦波振動試験方法
    JIS C 1303 高絶縁抵抗計
    JIS C 5310 電子機器用電源変圧器通則
         2. この規格の対応国際規格を次に示す。
          IEC 1007 (1990)   ransformers and inductors for use in electronic and telecommunication equipment
              −Measuring methods and test procedures

2. 用語の定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS C 0010及びJIS C 5310の規定による。

3. 試験の状態

3.1 標準状態

 試験及び測定は,規定がない限り,JIS C 0010の5.3.1(標準状態の範囲)による標準状
態(温度1535℃,相対湿度2585%,気圧86106kPa)で行う。ただし,この標準状態での測定値に
疑義を生じた場合又は特に要求された場合は,3.3による。

3.2 基準状態

 基準状態は,JIS C 0010の5.1[標準基準大気条件(基準状態)]による基準状態(温度
20℃,相対湿度65%,気圧101.3kPa)とする。ただし,判定に疑義を生じない限り,温度だけをもって基
準状態としてもよい。

3.3 判定状態

 判定状態は,JIS C 0010の5.2[判定測定,及び判定試験のための標準大気条件(判定状
態)]による判定状態の温度20±2℃,相対湿度6070%,気圧86106kPaとする。

4. 試験機器及び装置

4.1 交流電源

 交流電源は,低内部インピーダンスのもので,低力率負荷で,ほぼ,正弦波交流電圧を
供給できるものとする。

4.2 直流電源

 直流電源は,リップル電圧が試験電圧に比べて十分小さいものとする。

――――― [JIS C 5311 pdf 2] ―――――

2
C 5311-1994

5. 外観・構造及び寸法試験

5.1 外観及び構造

 外観及び構造の試験は,目視によって行う。

5.2 表示

 表示の試験は,目視によって行う。

5.3 寸法

 寸法の試験は,JIS B 7516に規定の2級以上の金属製直尺,JIB B 7507に規定のノギス又は
JIS B 7502に規定のマイクロメータによって,また,ねじの寸法は,JIS B 7502及びJIS B 0252に規定の
ゲージで測定することによって行う。ただし,判定に疑義を生じない限り,他の測定器を用いてもよい。

6. 電気的性能試験

6.1 絶縁抵抗試験

6.1.1  装置 装置は,JIS C 1303に規定の高絶縁抵抗計とする。ただし,判定に疑義を生じない限り,他
の装置を用いてもよい。
6.1.2  準備 供試変圧器の同一巻線に所属するすべての端子又はリード線を短絡し,静電遮へいは,鉄心
又はケースに接続する。
6.1.3  試験方法 試験する巻線相互間及び巻線と鉄心間又はケース間に個別規格に規定の試験電圧(直
流)を加え,1分保った後,この電圧印加の状態で,絶縁抵抗を測定する。ただし,規定時間以内でも規
定された絶縁抵抗値を超えて測定の読みが安定するか,又は更に上昇する傾向にあるときは,これによっ
て判定してもよい。
6.1.4  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定箇所(6.1.3参照)
(2) 試験電圧(6.1.3参照)
(3) 印加時間(必要がある場合)(6.1.3参照)
(4) 試験場所の相対湿度(必要がある場合)

6.2 耐電圧試験

6.2.1  装置 装置は6.2.3の試験を行うのに十分な性能のものとする。
  なお,電源は,4.1による。
6.2.2  準備 供試変圧器の同一巻線に所属するすべての端子又はリード線を短絡し,静電遮へいは,鉄心
又はケースに接続し接地する。
6.2.3  試験方法 試験する巻線相互間及び巻線と鉄心間又はケース間に規定周波数の規定電圧を規定が
ない限り1分間加えて,絶縁破壊,フラッシュオーバ,アークなどの異常がないかを調べる。
  なお,電圧印加は,ほぼ,0Vから毎秒500V(実効値)以下の割合で規定の試験電圧まで上昇させ,1
分間保った後,徐々にほぼ,0Vまで下げる。
6.2.4  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定箇所(6.2.3参照)
(2) 試験周波数(6.2.3参照)
(3) 試験電圧の印加方法(必要がある場合)(6.2.3参照)
(4) 試験電圧(6.2.3参照)
(5) 遮断電流(必要がある場合)
(6) 印加時間(必要がある場合)(6.2.3参照)

6.3 層間耐電圧試験

6.3.1  装置 装置は,6.3.3の試験を行うのに十分な性能のものとする。

――――― [JIS C 5311 pdf 3] ―――――

                                                                                              3
                                                                                    C 5311-1994
  なお,電源は,4.1による。
  また,規定周波数で電圧及び電流を測定でき計器は,入力電流の突発的変動を検知できるものとする。
  短絡時,試験装置又は変圧器を保護するための装置を備えることが望ましい。
6.3.2  準備 規定以外の巻線は,すべて解放し,使用時に接地する端子を鉄心又はケースに接地する。
6.3.3  試験方法 規定の巻線に定格周波数 (F) の2倍以上の規定周波数 (f) で,定格入力電圧の2倍の
電圧を120×fE秒間加えて,異常がないかどうかを調べる。
  なお,この試験時間は,最長60秒間,最短15秒間とし,電圧印加は,毎秒500V(実効値)以下の割合
で,ほぼ,0Vから試験電圧まで上昇させ,規定時間保った後,徐々にほぼ,0Vに下げる。
6.3.4  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定箇所(6.3.3参照)
(2) 試験周波数(6.3.3参照)
(3) 試験電圧の印加方法(6.3.3参照)
(4) 試験電圧(6.3.3参照)
(5) 遮断電流

6.4 無負荷損失試験

6.4.1  装置 装置は,次による。
(1) 電源 電源は,4.1による。
(2) 測定回路 測定回路は,図1又は図2に示す回路による。
                図1 無負荷損失試験回路                      図2 無負荷損失試験回路
6.4.2  試験方法 試験方法は,次による。
(1) 測定 測定は,図1又は図2に示す回路を用い,すべての二次巻線を解放し,一次巻線に定格入力電
    圧を加え,入力電力 (PW) を測定する。
(2) 算出 無負荷損失は,次の式に従い計器の消費電力を差し引いてもとめる。
(2.1) 図1の場合
                                       U2
                         P  PW   I2 rF
                                        rV

――――― [JIS C 5311 pdf 4] ―――――

4
C 5311-1994
(2.2) 図2の場合
                                     I   I
                         P  PW   U2
                                    rM   rV
                      ここに,   P :  無負荷損失 (W)
                                PW :  電力計の読み (W)
                                 U :  電圧計の読み (V)
                                  I :  電流計の読み (A)
                                 rF :  電力計の電流回路抵抗値 ( 圀
                                rM :  電力計の電圧回路抵抗値 (  圀
                                 rV :  電圧計の内部抵抗値 (  圀
6.4.3  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
  測定回路[6.4.1(2)参照]

6.5 無負荷電流,無負荷電圧試験

6.5.1  装置 装置は,次による。
(1) 電源 電源は,4.1による。
(2) 測定回路 測定回路は,図3に示す回路による。
      電圧計の内部抵抗は,変圧器の開放インピーダンス及び定格負荷抵抗の値に比べ,十分大きいこと
    とする。
                              図3 無負荷電流,無負荷電圧試験回路
6.5.2  試験方法 図3に示す回路を用い,すべての二次巻線を開放し,一次巻線に規定周波数の定格入力
電圧を加え,入力電流及び二次巻線の端子電圧を測定し,それぞれこれらを無負荷電流及び無負荷電圧と
する。
6.5.3  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定回路[6.5.1(2)参照]
(2) 試験周波数(6.5.2参照)

6.6 電圧偏差試験

6.6.1  装置 装置は,次による。
(1) 電源 電源は,4.1による。
(2) 測定回路 測定回路は,図4に示す回路による。
      出力電圧計の内部抵抗は,負荷抵抗RLの値に比べ,十分大きいこととする。

――――― [JIS C 5311 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6