JIS C 5401-2-001:2005 電子機器用コネクタ―第２－００１部：丸形コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格 | ページ 11

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                                                         C 5401-2-001 : 2005 (IEC 61076-2-001 : 2001)
5.2.2.10 試験群KP−一連耐候性
                                       表 15 試験群KP
                        試験                              測定                   要求事項
 試験                  JIS C                                      JIS C
                                 試験の厳しさ                                      すべての
 段階      名称      5402-1-100                      名称       5402-1-100 PL
                                   又は条件                                      コネクタ形状
                      試験番号                                   試験番号
                               極性電圧“K3”V,
      低温・減圧・湿
                               温度“M3”,
 KP1  度複合シーケ      11b
                               空気圧“N3”,
      ンス
                               サイクル数“P3”
 KP2  オゾン耐性        (6)    試料数“L4”
 KP3
                                               耐電圧               4a           試験段階5参照

(pdf 一覧ページ番号 )

 KP4                                           接触抵抗(ミリボ     2a
                                               ルトレベル法),
                                               又は                              試験段階3参照
                                               接触抵抗(規定電     2b
                                               流法)
 注(1)及び(6)は,表6の注参照。
5.2.2.11 試験群LP−動的な腐食
                                       表 16 試験群LP
                       試験                             測定                    要求事項
 試験               JIS C                                       JIS C
                               試験の厳しさ                                       すべての
 段階    名称     5402-1-100                       名称       5402-1-100 PL
                                 又は条件                                       コネクタ形状
                   試験番号                                    試験番号
 LP1                                         外観                 1a            試験段階1参照
                            サイジングゲージ 接地コンタクトス                サイジングの数“K4”
                                                                 16i
                            及び保持力ゲージ プリングの保持力                 (3以外の場合)
                            BP2参照。ただし,
 LP2  機械的動作     9a
                            動作回数“P2”
                                             ハウジング(シェ
 LP3  温度急変       11d    AP13参照                              2f              BP4参照
                                             ル)の導通性
                                             RFIシールディン
                                             グ−
      保護カバー            加える力“H3”N,
 HP5                 15g                     周波数範囲          23a
      の強度                持続時間“J3”秒
                                             10 kHz100 MHz
                                             100 MHz1 GHz

――――― [JIS C 5401-2-001 pdf 51] ―――――

50
C 5401-2-001 : 2005 (IEC 61076-2-001 : 2001)
                                         作成の手引き

6. 品質評価手順

  IECで検討中。

――――― [JIS C 5401-2-001 pdf 52] ―――――

                                                                                             51
                                                         C 5401-2-001 : 2005 (IEC 61076-2-001 : 2001)

6. 品質評価手順

  IECで検討中。

――――― [JIS C 5401-2-001 pdf 53] ―――――

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C 5401-2-001 : 2005 (IEC 61076-2-001 : 2001)
                     附属書A(規定)新規試験及び追加試験段
  追加特性が適切である場合[JIS C 5401-2の4.(試験及び試験計画)参照]には,適用する試験段階は,
試験群HP又は別に作成した試験計画表に追加する。
  これらの試験段階がJIS C 0010又はJIS C 5402-1-100に規定されていない場合には,その試験方法の詳
細をこの附属書に規定する。
  この附属書は,個別規格を構成するその一部として追加する。