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C 5401-2 : 2005 (IEC 61076-2 : 1998)
4.5.2.8 試験群GP−接続方法
表 10 試験群 GP
試 験 測 定
JIS C JIS C
試験段階 個別規格の厳 個別規格の
名称 5402-1-100の 名称 5402-1-100の
しさ又は条件 要求事項
試験番号 試験番号
無はんだ接続,公称
断面部のワイヤラ
IEC 60352-1 ×
GP1 ップ,プレスインタ
IEC 60352-2 ×
ーミネーション部
の圧着
ラッピングの巻き
GP2 戻し,無はんだラッ 16m ×
ピング接続
引張強度(圧着接
GP3 16d ×
続)
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
4.5.2.9 試験群HP−アクセサリ
表 11 試験群 HP
試 験 測 定
JIS C JIS C
試験段階 個別規格の厳 個別規格の
名称 5402-1-100の 名称 5402-1-100の
しさ又は条件 要求事項
試験番号 試験番号
ケーブルクランプ
HP1 17a ×
強度
ケーブルクランプ
HP2 強度(ケーブルの回 17b ×
転)
ケーブルクランプ
HP3 強度(ケーブルの引 17c ×
張り)
ケーブルクランプ
HP4 強度(ケーブルのね 17d ×
じり)
HP5 保護カバーの強度 15g ×
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-2 pdf 16] ―――――
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C 5401-2 : 2005 (IEC 61076-2 : 1998)
4.5.2.10 試験群 KP−一連耐候性
表 12 試験群 KP
試 験 測 定
JIS C JIS C
試験段階 個別規格の厳 個別規格の
名称 5402-1-100の 名称 5402-1-100の
しさ又は条件 要求事項
試験番号 試験番号
低温・減圧・温湿度
KP1 11b ×
複合シーケンス
KP2 オゾン耐性 (6) ×
KP3
耐電圧 4a ×
(pdf 一覧ページ番号 )
接触抵抗(ミリボルト 2a
KP4 × レベル法)又は接触抵 ×
抗(規定電流法) 2b
注 (1)及び(6)は,表3の注 参照。
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
4.5.2.11 試験群 LP−動的な腐食
表 13 試験群 LP
試 験 測 定
JIS C JIS C
試験段階 個別規格の厳 個別規格の
名称 5402-1-100の 名称 5402-1-100の
しさ又は条件 要求事項
試験番号 試験番号
LP1 外観 1a ×
接地コンタクトスプ
LP2 16i ×
リングの保持力
ハウジング(シェル)
LP3 2f
の導通性
RFIシールディング−
周波数範囲 (10 kHz
LP4 23a ×
100 MHz, 100 MHz1
GHz)
LP5 機械的動作 9a ×
LP6 温度急変 11d ×
腐食,塩水噴霧 11f ×
ハウジング(シェル)
2f ×
の導通性
LP7 RFIシールディング−
周波数範囲 (10 kHz
23a ×
100 MHz, 100 MHz1
GHz)
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-2 pdf 17] ―――――
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C 5401-2 : 2005 (IEC 61076-2 : 1998)
4.5.3 品質認証試験計画 表14は,4.5.1及び4.5.2に規定する試験計画を包含する。
個別規格に,このコネクタの所期の用途に合った最小合格判定基準を規定する。試験する最少試料数,
並びに各副群及び全体としての最大許容不良品数も,要求する評価水準が確実に得られるように選択する
[JIS C 5401-1の3.3(品質認証)参照]。
いかなる場合でも,個別規格には,表14に示すものより低い最小合格判定基準を規定してはならない
[JIS C 5401-1の3.4.1(能力の文書化)参照]。
認可を受けるモデルの試料は,サイズ(小,中,大)とより一層代表的なアレンジメントとの間で各試
験郡に対して均等に区分するものとする。
表 14 品質認証試験−試料数
基本試験計画 中間試験計画 全項目試験計画
試験 試験 試験
試験群 最少試料数 最大許容 最大許容 最大許容
段階 段階 最少試料数 段階 最少試料数
不良品数 不良品数 不良品数
P1 P1 P1 32+1(液体
P 10 0 10 0 0
P10 P10 P10 ごとに)
備考 試料は,適切な数の群にそれぞれ4個づつ配分する。それに加え試験群FP及びGPで要求する追加試料を配
分する。
各群のすべての試料は,個別規格に従って,一つの試験群の試験用として提出する。
AP1 AP1 AP1
NA 0
AP2 AP2 AP2
AP3 AP3 AP3
AP 4 × 4 ×
AP4 AP4 AP4
AP6 AP6 AP6
AP27 AP27 AP27
BP1 BP1 BP1
BP 4 ×
BP19 BP19 BP19
CP1 CP1 CP1
CP 4 ×
CP16 CP16 CP16
適用しない。 適用しない。
DP1 DP1 4.5に基づく中間試験計 DP1
DP 4 ×
DP10 DP10 画による。 DP10
EP1 EP1 EP1
EP 4 ×
EP9 EP9 EP9
1
FP1 FP1 FP1
FP (液体ごと ×
FP7 FP7 FP7
に)
――――― [JIS C 5401-2 pdf 18] ―――――
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C 5401-2 : 2005 (IEC 61076-2 : 1998)
表 14 品質認証試験−試料数(続き)
基本試験計画 中間試験計画 全項目試験計画
試験 試験 試験
試験群 最大許容 最大許容 最大許容
段階 最少試料数 段階 最少試料数 段階 最少試料数
不良品数 不良品数 不良品数
GP 備考 コネクタは,IEC 60352の当該規格群の要求事項を満たすものとする。
HP1 HP1 HP1
HP 4 ×
HP5 HP5 HP5
KP1 KP1 4.5に基づく中間試験計 KP1
KP 適用しない。 適用しない。 4 ×
KP4 KP4 画による。 KP4
LP1 LP1 LP1
LP 4 ×
LP7 LP7 LP7
基本試験計画 最大 0
許容不良品総数 中間試験計画 最大 ×
全項目試験計画 最大 ×
備考 ×印は,個別規格に規定することを示す。
――――― [JIS C 5401-2 pdf 19] ―――――
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C 5401-2 : 2005 (IEC 61076-2 : 1998)
4.5.4 品質確認試験,ロットごと試験 表15は,各検査ロットで実施するロットごと試験に適用する。
評価水準は,最低水準であり,これよりも厳しい水準を個別規格に規定してもよい。
表 15 ロットごと試験
JIS C 評価水準 評価水準 評価水準
試験
検査群 特性 5402-1-100の (A) (B ··· G) (H)
段階
試験番号 IL AQL IL AQL IL AQL
II 1.0
A1 外観 1a P1 S-3 4.0
II 1.0
A2* 寸法及び質量 1b P1 S-3 4.0
追加A試験
A3 (個別規格に規
個別規格の規定に
定する場合)
従うものとする。
電気的試験 S-3 4.0 S-3 1.0
B1** 絶縁抵抗 3a P4
耐電圧 4a P5
B2** 機械的試験 S-3 1.0
追加B試験
B3 (個別規格に規
定する場合)
記録 B1,B2及びB3(適用する場合)の結果を記録する。
注* 個別規格に規定する結合寸法及び取付寸法を適用する。
IEC電子部品認証制度 (IECQ) の場合には,IECに規定する国内監督検査機関 (NSI ; National Supervising
Inspectrate) が認めるような製造時の検査記録は,この要求事項のすべて又は一部と置き換えてもよい。
** この要求事項は,生産工程間の測定結果と置き換えてもよい。
備考 IL : 検査水準(JIS Z 9015-1による。)
AQL : 合格品質水準(JIS Z 9015-1による。)
――――― [JIS C 5401-2 pdf 20] ―――――
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JIS C 5401-2:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61076-2:1998(IDT)
JIS C 5401-2:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5401-2:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5401-1:2015
- 電子機器用コネクタ―製品要求事項―第1部:品目別通則
- JISC5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISZ9015-1:2006
- 計数値検査に対する抜取検査手順―第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式