JIS C 5401-2:2005 電子機器用コネクタ―第２部：品種別通則―丸形コネクタ―品質評価付 | ページ 5

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                                                                C 5401-2 : 2005 (IEC 61076-2 : 1998)
4.5.5  品質確認試験,定期試験 表16は,ロットごと試験で合格したロットから抜き取ったサンプルに
対して実施する定期試験に適用する。
  それぞれの試験のために選択した期間又は試験順序は,指針として示したものであり,個別規格に要求
する評価水準に合わせてこれらを変更してもよい[JIS C 5401-1の3.5.4.2(評価水準)参照]。
                                        表 16 定期試験
                              JIS C              評価水準          評価水準        評価水準
  検査                                 試験        (A)             (B ··· G)          (H)
              特性          5402-1-100
   群                                  段階
                            の試験番号         p     n     c    p     n     c    p     n    c
       はんだ付け性,ぬれ
       (ウェッティング),    12a
       はんだ槽法
  C1                                           1     *    ×                     1     *   ×
       はんだ付け性,はんだは
       じき(デウェッティング)12c                            個別規格の規定に
       (必要とする場合)                                     従うものとする。
       接触抵抗(ミリボルトレ   2a      P4     3     4    ×
  C2   ベル法)又は接触抵抗(規又は                                              3     4   ×
       定電流法)               2b
       C3試験(個別規格に規定
  C3
       する場合)
       追加C試験(個別規格に
  C4
       規定する場合)
  記録 C1,C2,C3及びC4の結果を記録する。
       品質認証の維持                          **                                **
  D1   結合力及び離脱力         13a      AP3         4    ×                           4   ×
       耐電圧                   4a       AP5         4    ×                           4   ×
  記録 すべての群の結果を記録する。
       初期品質認証試験[JIS C
       5401-1の3.6.2(設計検証
  D2                                           **                                **
       又は形式試験)を適用す
       る場合]
       AP1AP20****
                                                              個別規格の規定に
       DP1 ··· DP6                                             従うものとする。
  D3   EP1 ··· EP9                                   ***                              ***
       FP1 ··· FP5
       GP···
  記録 品質認証報告書
 注*    20ターミネーション又は20ターミネーションの試験が可能な最少コネクタ数。
  **    JIS C 5401-1の3.5.4.2.2(群D検査)による。
  ***   試料は,試料を浸す液体ごとに一個,用意する。
  **** 評価水準Aの場合には,AP1及びAP4だけを実施する。試験群APにおける他の試験には適用しない。
 備考1. × : 個別規格に規定することを示す。
     2. p : 周期(月)
     3. n : 最少試料数
     4. c : 許容不良品数

――――― [JIS C 5401-2 pdf 21] ―――――

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C 5401-2 : 2005 (IEC 61076-2 : 1998)
4.5.6  能力認証 IECで審議中。

5. ブランク個別規格-一般事項

 ブランク個別規格は,品種別通則の補足をなし,そして個別規格の書
式,レイアウト及び最少の構成要素の要求事項を含み,統一した表現を確保する。
  その内容は,品目別通則又は品種別通則に基づき,そして当該コネクタ品種の品質を評価するために必
要な技術基準の選択肢を記載する。
  これらの要求事項を満足しない個別規格は,JISに従ったものと見なされない。また,JISに従っている
と記載してはならない。