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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
5.2.2.2 試験群AP−動的・耐候性
表 7 試験群AP
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
段階 名称 5402-1-100 試験の厳しさ又は条件 名称 5402-1-100PL すべてのコネクタの形状
試験番号 試験番号
AP1.1 試験段階2.1参照 結合力及び 13a 4.3.2参照
離脱力
又は
AP1.2 試験段階2.2参照 挿入力及び 13b
引抜力
曲げモーメント
ゲージ保持 試料当たり同じPコン
プローブ “N”Nm
AP2 (3) 16a 力(弾性コ 16e タクト, ゲージは保持
ダメージ 試料当たりのコンタク
ンタクト) していること。
トの数 “P”
AP3.1 はんだ付け性 12a又は12b 浸せき深さ
又は “Q”mm
AP3.2 はんだ耐熱性 12d又は12e 又ははんだごての
外観 1a 試験段階1参照
又は サイズ“R”
未確定 浸せき時間“S”秒
AP3.3(4) 未確定 未確定
AP4 (5) 試験段階5参照 耐電圧 4a 試験段階5参照
力を除去した時の
インサート内 変位の許容量
AP5 のコンタクト 15a 軸方向の力“T”N “V” mm以下
保持
外観 1a 試験段階1参照
コンタクト ディスターバンスの
ディスター 2e 時間
“W”m/s2
バンス “Y”獎 下
バンプの総数“X”
AP6 バンプ 6b
試験の準備については 外観 1a 試験段階1参照
5.1.2による。
接触抵抗 2a又は2b 試験段階3参照
注(3) 適用する場合(適用できない場合, ゲージ保持力を測定する。)。
(4) 他の適用可能なターミネーション試験は, 別な試験順序で規定してもよい。
(5) コンタクトを取り付けた状態で,はんだ付け性試験を行う場合に限り,実施する。
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 41] ―――――
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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
作成の手引き
5.2.2.2 試験群AP−動的・耐候性(続き)
AP7 コネクタが受ける周波数範囲の最小値及び最大値を,各々“Z”及び“A1”,変位振幅値及び加速度
振幅値を,各々“B1”及び“C1”と規定する。また, 耐久性の場合には,各方向に対する掃引サ
イクル数を“D1”ディスターバンスの最大時間を“Y”μsと規定する。
なお,この試験の直後に外観検査を実施し, 接触抵抗を測定する。(4.2.4参照)
AP8 正弦半波パルスの加速度値を“E1”,印加時間を“F1”及びディスターバンスの最大時間を“Y”
と規定する。
なお,この試験の直後に外観検査を実施し, 接触抵抗を測定する(4.2.4参照)。
AP9 正弦半波パルスの加速度値を“G1”,印加時間を“H1”及びディスターバンスの最大時間を“Y”
騰
なお,この試験の直後に外観検査を実施し,接触抵抗を測定する(4.2.4参照)。
AP10 低温カテゴリ及び高温カテゴリの温度を,各々“J1”, “K1”とし, また, 各温度での暴露時間
t1=L1分, 低温及び高温の両方に対するサイクル数“M1”も規定する。
なお,この試験の後に,絶縁抵抗, 耐電圧及び外観検査を実施する。
AP11 一連耐候性試験は,JIS C 5402-1-100 試験11aに規定するとおりの試験数及び適切な測定方法で構
成し, 結合したコネクタで実施する。
AP11.1 高温を“N1”と規定し,また暴露後の絶縁抵抗の最小許容値を 4.2.5に規定する。
AP11.2 この試験の実施温度を“P1”及び,使用する試験条件は“Q1”と規定する。
なお,この試験の後に,外観検査を実施する。
AP11.3 低温を“R1”と規定し,この試験後に,外観検査を実施する。
AP11.4 試験を実施する槽の圧力を“S1”,供試条件の時間(5分以外の場合)を“T1”と規定し,この
試験の後に,耐電圧試験を実施する。
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 42] ―――――
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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
5.2.2.2 試験群AP−動的・耐候性(続き)
表7 試験群AP(続き)
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
段階 名称 5402-1-100 試験の厳しさ又は条件 名称 5402-1-100 PL すべてのコネクタの形状
試験番号 試験番号
ディスターバンスの
“Z”Hz “A1”Hz コンタクト
2e 時間
“B1”mm ディスターバンス
“Y”獎 下
“C1”m/s2
AP7 正弦波振動 6d 全期間,各方向“D1” 外観 1a 試験段階1参照
サイクル掃引による耐
久性。準備については
5.1.2による。 接触抵抗 2a又は2b 試験段階3参照
ディスターバンスの
コンタクト
2e 時間
ディスターバンス
正弦半波 “Y”獎 下
AP8 衝撃 6c “E1”m/s2
外観 1a 試験段階1参照
“F1”ms
接触抵抗 2a又は2b 試験段階3参照
正弦半波 外観 1a 試験段階1参照
加速度
AP9(6) 6a “G1”m/s2
(定常) 接触抵抗 2a又は2b 試験段階3参照
“H1”ms
絶縁抵抗 3a 試験段階4参照
“J1”℃ “K1”℃
“t1=L1”分,
AP10 温度急変 11d 耐電圧 4a 試験段階5参照
“M1”サイクル,
結合したコネクタ 外観 1a 試験段階1参照
AP11 一連耐候性 11a 結合したコネクタ
高温時の
AP11.1 高温 11i “N1”℃ 3a 試験段階4参照
絶縁抵抗
温湿度サイ
クル(最初 “P1”℃
AP11.2 11m 外観 1a 試験段階1参照
のサイク 試験条件“Q1”
ル)
AP11.3 低温 11j “R1”℃ 外観 1a 試験段階1参照
“S1”kPa
AP11.4 減圧 11k 耐電圧 4a 試験段階5参照
“t2=T1”分
注(6) 適用する場合。
備考 試験段階 AP6, AP7及び AP8を実施した後, JIS C 5402-1-100の第14部に規定する封止(気密性)試験も同様に実
施するとよい。
なお, 同試験は, プリント配線板用コネクタには適用できないと思われる。
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 43] ―――――
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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
作成の手引き
5.2.2.2 試験群AP−動的・耐候性(続き)
5.2.2.3 試験群BP−機械的耐久性
BP1 この試験群は, ゲージ保持力の試験から開始する。
BP2 4.3.1に規定する値の半分の動作回数を“V1”, 動作速度及び休止時間(存在する場合)を,各々 “W1”,
“X1”と規定する。
なお,この試験の直後に,次の試験を実施する。
− 外観
− 接触抵抗
− 絶縁抵抗
− 耐電圧
− 極性試験(適用する場合)
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 44] ―――――
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C 5401-3-001 : 2005 (IEC 61076-3-001 : 1999)
5.2.2.2 試験群AP−動的・耐候性(続き)
表7 試験群AP (続き)
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
段階 名称 5402-1-100 試験の厳しさ又は条件 名称 5402-1-100 PL すべてのコネクタの形状
試験番号 試験番号
絶縁抵抗 3a 試験段階4参照
温湿度サイ
クル(残り “P1”℃
AP11.5 11m 耐電圧 4a 試験段階5参照
のサイク 試験条件“Q1”
ル) 接触抵抗 2a又は2b 試験段階3参照
AP12.1 試験段階2.1参照 結合力及び 13a
離脱力
又は 4.3.2参照
AP12.2 試験段階2.2参照 挿入力及び 13b
引抜力
AP13 外観 1a 試験段階1参照
5.2.2.3 試験群BP−機械的耐久性
表 8 試験群BP
試験 測定 要求事項
試験 JIS C JIS C
段階 名称 5402-1-100 試験の厳しさ又は条件 名称 5402-1-100 PL すべてのコネクタの形状
試験番号 試験番号
ゲージ保持 試験条件については
BP1 力(弾性コン 16e 3.9.1による。
タクト) ゲージを保持すること。
動作回数“V1”
外観 1a 試験段階1参照
速度“W1” mm/s
休止時間“X1” 秒 接触抵抗 2a又は2b 試験段階3参照
機械的動作
(規定サイ
BP2 9a 絶縁抵抗 3a 試験段階4参照
クル数の半
分)
耐電圧 4a 試験段階5参照
極性試験(7) 13e 4.3.4参照
注(7) P2終了後に測定する(適用する場合。)。
――――― [JIS C 5401-3-001 pdf 45] ―――――
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JIS C 5401-3-001:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61076-3-001:1999(IDT)
JIS C 5401-3-001:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ
JIS C 5401-3-001:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5401-3:2005
- 電子機器用コネクタ―第3部:品種別通則―角形コネクタ―品質評価付
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- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JISC60068-2-60:2018
- 環境試験方法―電気・電子―第2-60部:混合ガス流腐食試験(試験記号:Ke)