JIS C 5401-4-001:2005 電子機器用コネクタ―第４－００１部：プリント配線板用コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格 | ページ 12

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C 5401-4-001 : 2005 (IEC 61076-4-001 : 1996)
                                         作成の手引き

6.2 品質確認試験

6.2.1  ロットごと試験 表は,要求する検査水準(IL)及びJIS Z 9015-1による合格品質水準(AQL)デ
ータを記入して完成する。( )内には,関連するインサート形式又は形状識別を記入する。
  最低評価水準はJIS C 5401-4の4.5.4(品質確認試験,ロットごと試験)に示す。個別規格にはその最低
評価水準か,又はより厳しい評価水準を示してもよい。
  個別規格に二つ以上の評価水準を含める場合には,これらの評価水準を含めるために表を拡張してもよ
い。適切な評価水準を示す識別文字を選択し,これらを“Y2”,“Z2”などと規定してもよい。

――――― [JIS C 5401-4-001 pdf 56] ―――――

                                                                                             53
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6.2 品質確認試験

6.2.1  ロットごと試験 ある検査ロットの中に一まとめにしてもよい構造的に類似なコネクタ[JIS C
5401-1の 3.1.2(構造的に類似なコネクタ)参照]は,(       )である。
  性能水準と評価水準との適用可能な組合せを,次の表に示す(適切な組合せを記入)。
                                     表 16 ロットごと試験
                                                  JIS C       評価水準 Y2        評価水準 Z2
                         5.2の要求事項及び厳し
 検査群   5.2の試験段階                         5402-1-00
                         さによる試験又は測定                IL(2)   AQL(2)     IL(2)   AQL(2)
                                                試験番号
   A1          P1                外観              1a
   A2          P1           寸法及び質量(1)        1b
               P4              絶縁抵抗            3a
   B1
               P5               耐電圧             4a
              AP2       ゲージ保持力(弾性コン    16e
                        タクト)
  B2         AP1.1         結合力及び離脱力       13a
                                又は
             AP1.2         挿入力及び引抜力       13b
(1) 当該ロットを製造するために用いた単体部品に関する検査結果記録は, この要求事項のすべて又は一部を満たす
   ために用いてもよい。
(2)   IS Z 9015-1による。

――――― [JIS C 5401-4-001 pdf 57] ―――――

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6.2.2  定期試験 表は,試料数(n)及び試験群ごとの許容不良品数(c)を記入して完成する。
  最小試料数はJIS C 5401-4の 4.5.5(品質確認試験,定期試験)に示す。個別規格にはその最小試料数か,
又はそれ以上の試料数を規定してもよい。
  ターミナルのはんだ付け性を試験する場合には,ターミナル数を“a”と規定する。

――――― [JIS C 5401-4-001 pdf 58] ―――――

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6.2.2  定期試験 試験群(検査群D1及びD2)による定期試験は,試験P1P5に合格し,かつ,ロット
ごと試験(6.2.1参照)の要求事項を既に満たしている試料に対して実施する。
  単一の試験段階(検査群C1,C2及びC3)に関する定期試験は,ロットごと試験(6.2.1参照)に既に合
格している試料に対して実施する。
  性能水準及び評価水準の適用可能な組合せを,次の表に示す(適切な組合せを記入する。)。
                                        表 17 定期試験
                                                JIS C          評価水準 Y2       評価水準 Z2
                       5.2の要求事項及び厳しさ
 検査群  5.2の試験段階                        5402-1-100 P
                         による試験又は測定                     n        c        n        c
                                               試験番号
                                                            ターミナ ターミナ ターミナ ターミナ
  C1        AP4.1           はんだ付け性         12a   1
                                                            ル数“a”ル数“a”ル数“a”ル数“a”
  C2         P3              接触抵抗            2a    3
  C3        AP4.2          はんだ耐熱性          12d   12
                      品質認証の維持
            AP1.1        結合力及び離脱力        13a     36
                               又は
             AP1.2       挿入力及び引抜力        13b     36
  D1         AP5              耐電圧             4a    36
             AP1                                         36
            AP11−                                       36
             AP13
             CP1                                         36
                      初期品質認証試験(6.1.2
                      を適用する場合)
            AP1.2        挿入力及び引抜力        13b     −
            AP5               耐電圧             4a
           AP1−13
           BP1−6
  D2
            CP1
           DP1−2
           EP1−6
           FP1−5
            GP1
            HP1
p = 周期(月)
n = 最小試料数
c = 試験群ごとの許容不良品数

――――― [JIS C 5401-4-001 pdf 59] ―――――

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6.3 長期保管後の出荷,再検査

 個別規格に含まれる長期保管後の出荷に関連する情報は,JIS C 5401-1
の 4.4(長期保管後の出荷)による。
  表は,適用する検査水準(IL)及び合格品質水準(AQL)を記入して完成する。
  最長保管期間を“b”月と規定する。再検査後の効力は“c”月に延長される。
  検査群C1に関し,試料数/ターミナル数を“d”,許容するターミナルの不良品数を“e”と規定する。

――――― [JIS C 5401-4-001 pdf 60] ―――――

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