JIS C 5410-1:2021 高周波同軸コネクタ―第１部：品目別通則―一般要求事項及び測定方法 | ページ 7

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9.3.15.2 最終試験及び測定
  耐久性試験終了時,コネクタは,他に規定がない場合,次の特性に対して,個別規格の要求事項を満足
しなければならない。
a) 接触抵抗(耐久性試験と同じコネクタの組合せを用いる。)
b) 耐電圧
c) 結合力,離脱力及びトルク
d) ゲージ保持力
e) 封止(気密性)
9.3.15.3 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 動作頻度(速度0.1 m/s以下)
b) 動作回数(500回以外の場合)
c) 最終測定の要求事項
d) この規格に規定する試験方法との相違
9.3.15A セーフティワイヤホールの引張り
    注記 この細分箇条は,対応国際規格の誤記によって規定が脱落したため,試験項目を追加した。
9.3.15A.1 手順
  1本のセーフティワイヤをセーフティワイヤホールに通して固定する。規定する力をセーフティワイヤ
に,コネクタから引き離す二つの方向に加える。一方は,コネクタ軸に平行な方向とし,もう一方は,コ
ネクタ軸に垂直な方向とする(図11A参照)。この試験は,静的条件下で行う。全てのセーフティワイヤ
ホールは,個々に試験する。
  セーフティワイヤは,直径0.50 mm又は0.35 mmの耐食鋼製とする。
  この試験の推奨値は,次のとおりとする。
− 加える力 : 67 N以上
− 力を加える時間 : 30秒間
                               力                       力
                            図11A−セーフティワイヤホール引張り手順
9.3.15A.2 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) セーフティワイヤの直径(0.50 mm又は0.35 mm以外の場合)
b) 加える力(“67 N以上”と異なる場合)
c) 力を加える時間(30秒間以外の場合)
d) この規格に規定する試験方法との相違

――――― [JIS C 5410-1 pdf 31] ―――――

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9.4 耐候性試験

9.4.1 概論
9.4.1.1 試験の概要
  耐候性試験は,次の項目を含む。
a) 標準一連耐候性に基づく一連耐候性
  − 高温 JIS C 60068-2-2 試験Bb
  − 温湿度サイクル JIS C 60068-2-30 試験Dbの初回サイクル
  − 低温 JIS C 60068-2-1 試験Ab
  − 減圧 JIS C 60068-2-13 試験M
  − 温湿度サイクル 試験Dbの残りのサイクル
b) 高温高湿(定常) JIS C 60068-2-78 試験Cab
c) 温度変化 JIS C 60068-2-14 試験N
d) 封止(気密性) JIS C 60068-2-17 試験Q
e) 塩水噴霧 JIS C 60068-2-11 試験Ka
f) 接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法 JIS C 60068-2-42 試験Kc
g) 砂じん(塵)試験(検討中)
9.4.1.2 一般手順
  他に規定がない場合,試験の手順及びその後の後処理時間を終了した試料の副群のうち,半数を結合し,
半数を結合しないままとする。
  適切なケーブルをケーブルコネクタに取り付け,ケーブルの自由端を測定のため内部導体及び外部導体
が電気的に接続できるよう準備する。必要とする場合,自由端に湿気の浸入を防ぐための処理を行う。固
定形コネクタは,製造業者の指示に従って取り付け,該当する場合,パネル部分の背面を,湿気の浸入か
ら保護する。
  リターンロスの測定を目的とした試料には,特別な注意を払う必要がある(9.2.1参照)。
  低温及び高温の耐候性の厳しさ,並びに高温高湿(定常)のさらし日数は,個別規格に規定するとおり,
コネクタの耐候性カテゴリに対応する。
  該当する場合,試料を前処理し,目視検査する。その後,個別規格に規定する耐候性試験及び測定をす
る前に電気的及び機械的な確認を行う。
9.4.2 一連耐候性
9.4.2.1 手順
  一連耐候性は,個別規格に規定する手順及び厳しさを用いて,JIS C 60068-2-61に従って行う。他に規
定がない場合,品質認証試験には方法1を用いる。
  個別規格に規定がない場合,減圧試験(試験M)は,4.4 kPa(44 mbar)の圧力で1時間行う。試験の最
後の5分間に,個別規格に規定する減圧下の耐電圧を印加する。絶縁破壊又はフラッシュオーバがあって
はならない。
    注記 試験目的の場合,4.4 kPa(44 mbar)は,高度20 kmでの気圧とほぼ同等とみなす。
9.4.2.2 判定のための試験
  絶縁抵抗測定及び耐電圧試験は,試験槽から取り出して15分間以内に行う。
9.4.2.3 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。

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a) 耐候性手順(方法1以外)
b) 前処理手順(ある場合)
c) 耐候性試験前に行う電気的確認及び機械的確認
d) 該当する耐候性手順の各段階の厳しさ
e) 高温での絶縁抵抗の最小値
f) 減圧下での試験電圧
g) 最終測定の要求事項
h) 延長する後処理の要求事項(ある場合)
i) この規格に規定する試験方法との相違
9.4.3 高温高湿(定常)
9.4.3.1 手順
  他に規定がない場合,JIS C 60068-2-78に従って,次のとおり試験を行う。
a) 温度 : 40 ℃±2 ℃
b) 湿度 : (93±3)% RH
c) 日数 : 厳しさによって決定する。
  試料を試験槽から取り出した直後に,それらを振って表面の水分を除去し,15分間以内にコネクタの中
心導体と外部導体との間に,個別規格に規定する海面(sea level)での試験電圧を5分間加える。トライア
キシャルコネクタの場合,外部導体と遮蔽部との間に,個別規格に規定する適切な試験電圧を加える。絶
縁破壊又はフラッシュオーバがあってはならない。
  次に,試料を標準大気後処理条件に1時間30分2時間さらす。
9.4.3.2 最終試験及び測定
  他に規定がない場合,コネクタは,後処理時間終了後,次の特性について個別規格の要求事項を満足し
なければならない。
 結合コネクタ                                   非結合コネクタ
 a) 接触抵抗                                    a) 絶縁抵抗
 b) 耐電圧                                      b) 耐電圧
 c) 外観                                        c) 弾性コンタクトの個々の接触抵抗
                                                 d) 外観
    注記 絶縁抵抗測定及び耐電圧試験は,後処理時間終了後30分間以内に行われている。
  結合したコネクタには,接触抵抗測定の前にストレスを加えないことが望ましい。
9.4.3.3 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 高温高湿試験直後の試験電圧
b) 最終測定の要求事項
c) この規格に規定する試験方法との相違
9.4.4 温度変化
9.4.4.1 手順
  この試験は,JIS C 60068-2-14の試験Nに従って,試験Na(規定時間で移し換える温度急変試験)又は
試験Nb(定速温度変化試験)のいずれかを用いて行う。
  低温試験温度は,試料の低カテゴリ温度とし,高温試験温度は,高カテゴリ温度とする。

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  試験方法Nbを用いる場合,上限値と下限値との間は,毎分3 ℃で変化させ,サイクル数は10回に増加
させる。
  個別規格に規定がない場合,サイクル数は5回,移し換え時間は2分間3分間,二つの温度の,それ
ぞれでのさらし時間は30分間とする。
  確実な熱平衡が求められる場合,より長いさらし時間を個別規格に規定してもよい。
  最終サイクルの最後に,試料を1時間30分2時間,標準大気後処理条件にさらす。
9.4.4.2 最終測定
  他に規定がない場合,コネクタは,後処理時間後,次の特性に対して個別規格の要求事項を満足しなけ
ればならない。
 結合コネクタ                                   非結合コネクタ
 a) 接触抵抗                                    a) 絶縁抵抗
 b) 耐電圧                                      b) 耐電圧
 c) 外観                                        c) 弾性コンタクトの個々の接触抵抗
                                                 d) 封止(気密性)
                                                 e) 外観
    注記 絶縁抵抗測定及び耐電圧試験は,後処理時間終了後30分間以内に行われている。
  結合したコネクタには,接触抵抗測定の前にストレスを加えないことが望ましい。
9.4.4.3 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 最終試験及び測定の要求事項
b) この規格に規定する試験方法との相違
9.4.5 高温耐久性
9.4.5.1 手順
  この試験は,結合したコネクタで行う。
  この試験に用いる試験槽は,試料を置くいずれの領域においても±5 ℃の許容誤差で規定する試験温度
を維持することが可能でなければならない。試料は,試験槽の発熱体からの直接放射にさらしてはならな
い。
  他に規定がない場合,試料は,試験槽の温度が規定する試験温度の70 %である間に試験槽に入れる。熱
平衡に到達した後,試験槽の温度を規定する試験温度まで上げる。個別規格で要求がない場合,耐久性試
験中,コンタクトに電流は流さない。
  個別規格に規定する耐久性の厳しさは,次の推奨値から選択するのが望ましい。
  温度(℃) 85,125,155
  時間(h) 50,250,1 000
  耐久性試験後,試料を1時間30分2時間,標準大気後処理条件にさらす。
9.4.5.2 最終測定
  他に規定がない場合,コネクタは,後処理時間終了後に,次の特性に対して個別規格の要求事項を満足
しなければならない。
a) 接触抵抗
b) 絶縁抵抗
c) 耐電圧

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d) 封止(気密性)
  結合したコネクタには,接触抵抗測定の前にストレスを加えないことが望ましい。
9.4.5.3 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 高温耐久性試験の温度及び時間
b) 最終測定の要求事項
c) この規格に規定する試験方法との相違
9.4.6 低温耐久性
9.4.6.1 手順
  この試験は,結合したコネクタで行う。
  この試験に用いる試験槽は,試料を置くいずれの領域においても±5 ℃の公差で規定する試験温度を維
持する。試料は,試験槽の加熱素子からの直接放射にさらしてはならない。
  他に規定がない場合,試料は,試験槽の温度が室温と試験温度との間の温度差の70 %である間に試験槽
に入れる。熱平衡に到達した後,試験槽の温度を規定する試験温度まで下げる。耐久性試験中,個別規格
で要求がない場合,コンタクトに電流を流してはならない。
  個別規格に規定する耐久性の厳しさは,次の推奨値から選択するのが望ましい(表6参照)。
                                 表6−推奨する低温試験の厳しさ
                                       温度         時間
                                        °C          h
                                       −20           2
                                       −40           4
                                       −60          72
  耐久性試験後,試料を標準大気後処理条件に1時間30分2時間さらす。
9.4.6.2 最終測定
  他に規定がない場合,コネクタは,後処理時間が終了後,次の特性に対して個別規格の要求事項を満足
しなければならない。
a) 接触抵抗
b) 絶縁抵抗
c) 耐電圧
d) 封止(気密性)
  結合したコネクタには,接触抵抗測定の前にストレスを加えないことが望ましい。
9.4.6.3 個別規格に規定する事項
  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 低温耐久性試験の温度及び時間
b) 最終測定の要求事項
c) この規格に規定する試験方法との相違
9.4.7 封止(気密性),非ハーメチックシールコネクタ
9.4.7.1 一般
  非ハーメチックシールコネクタは,JIS C 60068-2-17の試験Qa(軸受,回転軸及びガスケットの封止試

――――― [JIS C 5410-1 pdf 35] ―――――

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