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C 5877-2 : 2012
図7−波面収差測定のためのフィゾー干渉計
図8−フィゾー干渉計による波面収差測定光学系
c) 方法3(トワイマン・グリーン干渉計による方法)
1) 図9に示す構成によって,干渉計全体の波面収差を測定する。光源からの平行光束を,ビームエク
スパンダで供試品の有効径以上に拡大し,開口絞りによって入射光のビーム径を供試品の有効径と
一致させる。開口絞りを通過させた後,標準偏光子によって直線偏光にする。ビームスプリッタに
よって二分割された成分がほぼ等しくなるように調整する。
透過成分の光束は,参照平面で反射した後,ビームスプリッタで反射し,参照波面を形成する。
反射成分の光束は,基準平面に到達した後,基準平面によって反射し,光路を逆行し,ビームスプ
リッタを透過して参照波面と重ね合わさる。この干渉じま(縞)を結像レンズによって撮像素子上
に拡大結像し,波面収差が最小になるように調整して,系の波面収差W0を測定する。
2) 次に,図10に示す構成によって,基準平面及び参照平面を基準とした偏光子の波面収差を測定する。
図9に示す構成でビームスプリッタと基準平面との間に供試品を配置し,供試品を回転させて最大
光量になる位置に固定し,図10に示す構成とする。生じた干渉じま(縞)を結像レンズによって撮
像素子上に拡大結像し,波面収差が最小になるように調整して,供試品を挿入した場合の波面収差
W1を測定する。不要光が撮像素子に結像した場合,波面収差を正確に測定することができない。不
――――― [JIS C 5877-2 pdf 11] ―――――
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C 5877-2 : 2012
要光の出射方向は,試験に用いる偏光子によって異なる。複屈折結晶を用いた偏光子を光路中に挿
入した場合,通常,進行方向に互いに角度をもつ二つの光に分かれる。また,偏光ビームスプリッ
タを光路中に挿入した場合,進行方向とそれにほぼ垂直な方向との二つの光に分かれる。いずれの
場合も,透過を意図しない不要偏光が撮像素子に結像しないように,光学系の配置を注意する必要
がある。
3) 偏光子の波面収差Wを,式(6)によって算出する。
W=W1−W0 (6)
ここに, W : 波面収差
W1 : 供試品を挿入した場合の波面収差
W0 : 系の波面収差
図9−波面収差測定のためのトワイマン・グリーン干渉計
図10−トワイマン・グリーン干渉計による波面収差測定光学系
6.5.3 個別規格に規定する事項
――――― [JIS C 5877-2 pdf 12] ―――――
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C 5877-2 : 2012
必要がある場合,次の事項の仕様などを個別規格に規定する。
a) 試験方法(方法1方法3)
b) 光源(光源の種類,中心波長,スペクトル幅,波面収差など)
c) ビームエクスパンダ(光束径,波面収差など)
d) 開口絞り(省略の有無,挿入位置,開口絞り像の位置,開口絞りの像の縮小倍率など)
e) 標準レンズ(有効径,実効焦点距離,実効NA,波面収差など)
f) 撮像素子(光源の中心波長における感度,感度分布,直線性,空間分解能など)
g) 系の波面収差
h) 性能要求(許容波面収差)
7 機械的性能試験
7.1 試験機器及び装置
この試験に用いる機器及び装置は,6.1の条件を満たす次のものを用いる。
a) 光源
b) レンズ
c) 開口絞り
d) ビームエクスパンダ
e) 光パワーメータ
f) 撮像素子
g) 半透鏡
h) 鏡
i) 標準偏光子
j) ビームスプリッタ
k) 結像レンズ
l) 参照平面
7.2 試験方法
正弦波振動及び衝撃に対する機械的性能を試験する。
試験に先立って,6.36.5の項目について供試品の初期特性を測定する。次に,供試品を試験装置に取
り付け,個別規格の規定に従って振動及び衝撃を印加した後,再度,6.36.5の項目について特性を測定
する。
7.3 個別規格に規定する事項
必要がある場合,試験条件を個別規格に規定する。
8 試験報告書
試験報告書には,次の事項を記入しなければならない。
a) 規格番号
b) 供試品を識別する詳細
c) 試験環境条件
d) 試験に用いた光源
− 光源の種類
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C 5877-2 : 2012
− 中心波長
− スペクトル幅
e) 光学的性能試験結果
− 透過率
− 消光比
− 波面収差(試験方法とともに記載)
f) 機械的性能試験結果
− 正弦波振動及び衝撃を印加した後の次の光学的性能試験結果
− 透過率
− 消光比
− 波面収差(試験方法とともに記載)
g) 試験年月日
h) 試験を実施した組織名
JIS C 5877-2:2012の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般
JIS C 5877-2:2012の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5860:2012
- 空間ビーム光用受動部品通則
- JISC5877-1:2015
- 偏光子―第1部:通則
- JISC5900:2019
- 光伝送用受動部品通則
- JISC5901:2001
- 光伝送用受動部品試験方法
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針