JIS C 5877-1:2015 偏光子―第1部:通則

JIS C 5877-1:2015 規格概要

この規格 C5877-1は、光学部品として用いる偏光子の通則であり,用語,分類法などの一般的な共通事項について規定。

JISC5877-1 規格全文情報

規格番号
JIS C5877-1 
規格名称
偏光子―第1部 : 通則
規格名称英語訳
Polarizer -- Part 1:General rule
制定年月日
2009年3月20日
最新改正日
2019年10月21日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

国際規格分類

ICS

33.180.01
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
電子 II-1 2020, 電子 II-2 2020, 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
改訂:履歴
2009-03-20 制定日, 2013-10-21 確認日, 2015-03-20 改正日, 2019-10-21 確認
ページ
JIS C 5877-1:2015 PDF [12]
                                                                                 C 5877-1 : 2015

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[1]
  •  4 分類・・・・[4]
  •  5 外観及び構造・・・・[4]
  •  5.1 外観・・・・[4]
  •  5.2 構造・・・・[4]
  •  6 性能・・・・[4]
  •  6.1 光学的特性・・・・[4]
  •  6.2 環境及び耐久性に対する性能・・・・[4]
  •  7 試験方法・・・・[4]
  •  8 表示・・・・[4]
  •  9 包装・・・・[4]
  •  10 安全・・・・[4]
  •  附属書A(参考)複屈折偏光子の個別仕様書の様式例・・・・[5]
  •  附属書B(参考)偏光ビームスプリッタの個別仕様書の様式例・・・・[7]
  •  附属書C(参考)二色性偏光子の個別仕様書の様式例・・・・[9]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5877-1 pdf 1] ―――――

C 5877-1 : 2015

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産
業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
これによって,JIS C 5877-1:2009は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
JIS C 5877の規格群には,次に示す部編成がある。
JIS C 5877-1 偏光子−第1部 : 通則
JIS C 5877-2 偏光子試験方法

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 5877-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
C 5877-1 : 2015

偏光子−第1部 : 通則

Polarizer-Part 1: General rule

序文

  この規格は,2009年に制定され,今回の改正に至っている。この規格の関連規格には,JIS C 5877-2(偏
光子試験方法)があって,2012年に制定された。また,偏光子,マイクロレンズ,位相子などの光学素子
の用語及び分類を規定する規格には,JIS C 5860(空間ビーム光用受動部品通則)があって,2012年に改
正された。今回,これらの関連規格との整合性を図り誤記訂正及び様式の見直しを図るために改正した。
なお,対応国際規格は現時点で制定されていない。

1 適用範囲

  この規格は,光学部品として用いる偏光子の通則であり,用語,分類法などの一般的な共通事項につい
て規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 5860 空間ビーム光用受動部品通則
JIS C 5877-2 偏光子試験方法
JIS Z 8120 光学用語

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5860の箇条3(用語及び定義)及びJIS Z 8120の4.(用
語及び定義)によるほか,次による。
3.1
直線偏光子(linear polarizer)
入射光の偏光の状態又は角度に関係なく,出射光が直線偏光である光学素子。
3.2
偏光方向(direction of polarization)
光波(電界ベクトル)の振動方向。
3.3
だ(楕)円率角(ellipticity angle)
だ(楕)円偏光において,光波(電界ベクトル)の先端の軌跡が描くだ(楕)円のだ(楕)円率の正接
の角度。

――――― [JIS C 5877-1 pdf 3] ―――――

2
C 5877-1 : 2015
3.4
方位角(azimuth)
だ(楕)円偏光において,光波(電界ベクトル)の先端の軌跡が描くだ(楕)円の長軸と伝搬方向に垂
直な参照軸との間の角度。
3.5
ランダム偏光(random polarized light)
光波(電界ベクトル)の偏光状態が,時間的にランダムに変化している光。
3.6
無偏光(depolarized light)
光波(電界ベクトル)の偏光状態が異なる多くの光が混じった光。
3.7
ストークスパラメータ(stokes parameters)
単色光又は擬似単色光の偏光状態を完全に記述する四つの実数の組。
3.8
波面ひずみ(wave front distortion)
光が光学部品を透過した後の波面のひずみ。
3.9
入射許容角(angular terrace)
光学部品が所期の特性を満たすための入射角の範囲。
3.10
ビーム変位(beam deviation)
入射光の伝搬方向に対する光学部品を透過した後の伝搬方向のずれ。
3.11
複屈折結晶(birefringent crystal)
複屈折をもつ結晶。
3.12
位相差(retardation)
二つの波の位相の差。複屈折結晶においては,入射する直交する二つの偏光における位相の差。
3.13
進相軸(fast axis)
複屈折結晶内で,二つの法線速度において他方に比べ速くなる方向。
3.14
遅相軸(slow axis)
複屈折結晶内で,二つの法線速度において他方に比べ遅くなる方向。
3.15
複屈折偏光子(birefringence polarizer)
結晶の複屈折によって偏光分離を行う素子(図1及び図2参照)。紙面に垂直な振動方向と紙面に平行
な振動方向とが混ざった偏光が同時に入射する場合,垂直成分及び平行成分を常光線と異常光線との直線
偏光に分離して放射する。図1及び図2に示す結晶方位は,素子の結晶軸方向を示し,それらの軸の屈折
率をno,neで示している。noは結晶の常光線の屈折率,neは結晶の異常光線の屈折率である。プリズム形

――――― [JIS C 5877-1 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
C 5877-1 : 2015
偏光子[くさび(楔)形状](図1)及び直方体形偏光子(図2)があり,それぞれ結晶方位が異なる。
no 結晶方位
no
ne
常光線
異常光線
図1−プリズム形偏光子
ne
結晶方位
no
no
常光線
異常光線
図2−直方体形偏光子
3.16
偏光ビームスプリッタ(polarization beam splitter)
誘電体多層膜を利用し,異なる2方向に偏光分離を行う素子。紙面に垂直な振動方向と紙面に平行な振
動方向とが混ざった偏光が同時に入射する場合,平行成分の直線偏光は直進し(図3の実線),垂直成分
の偏光は側面から放射する(図3の点線)。
図3−偏光ビームスプリッタ
3.17
二色性偏光子(dichroic polarizer)
二色性を利用し,特定の偏光だけを透過する素子(図4参照)。紙面に垂直な振動方向と紙面に平行な振
動方向とが混ざった偏光が同時に入射する場合,垂直成分と平行成分とのいずれか一方の直線偏光を透過
し,他方は素子内で吸収される。
図4−二色性偏光子

――――― [JIS C 5877-1 pdf 5] ―――――

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JIS C 5877-1:2015の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5877-1:2015の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC5860:2012
空間ビーム光用受動部品通則
JISC5877-2:2012
偏光子試験方法
JISZ8120:2001
光学用語