JIS C 5877-2:2012 偏光子試験方法

                                                                                 C 5877-2 : 2012

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 試験の状態・・・・[2]
•  4.1 標準状態・・・・[2]
•  4.2 基準状態・・・・[2]
•  4.3 判定状態・・・・[2]
•  4.4 試験場所の状態・・・・[2]
•  5 外観及び構造・・・・[2]
•  6 光学的性能試験・・・・[2]
•  6.1 試験機器及び装置・・・・[2]
•  6.2 準備・・・・[3]
•  6.3 透過率・・・・[3]
•  6.4 消光比・・・・[5]
•  6.5 波面収差・・・・[6]
•  7 機械的性能試験・・・・[11]
•  7.1 試験機器及び装置・・・・[11]
•  7.2 試験方法・・・・[11]
•  7.3 個別規格に規定する事項・・・・[11]
•  8 試験報告書・・・・[11]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5877-2 pdf 1] ―――――

C 5877-2 : 2012

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があ
り,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5877の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5877-1 偏光子通則
    JIS C 5877-2 偏光子試験方法

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 5877-2 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                          JIS
                                                                           C 5877-2 : 2012

偏光子試験方法

Test methods of polarizer

1 適用範囲

  この規格は,光学部品として用いる偏光子の試験方法について規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5860 空間ビーム光用受動部品通則
    JIS C 5877-1 偏光子通則
    JIS C 5900 光伝送用受動部品通則
    JIS C 5901 光伝送用受動部品試験方法
    JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5860の3.(定義),JIS C 5877-1の箇条3(用語及び定義),
JIS C 5900の3.(定義)及びJIS C 5901の3.(定義)によるほか,次による。
3.1
標準光源(standard optical source)
  使用波長範囲において,波面収差が十分に小さく,かつ,十分な可干渉性をもち,また,出力安定度が
十分な光源。通常,気体レーザ,固体レーザ又は半導体レーザを光源として用いる。また,発光ダイオー
ドも適切な補正光学系を併用することができる。
3.2
標準レンズ(standard lens)
  使用波長及び有効径内で所定の倍率において,透過波面収差が十分に小さく,また,内部反射損失を含
む透過損失が既知のレンズ。通常,使用波長において,有効径,及び実効焦点距離又は実効NAが明示さ
れ,反射防止コートを施している。光学顕微鏡の対物レンズなどがこの例に該当する。
3.3
消光比(extinction ratio)
  伝達を意図する光パワーと阻止を意図する光パワーとの比。偏光子の消光比は,偏光子の有効径を通過
した直線偏光の偏光方向の光パワーに対する,それと直交する偏光方向の光パワーの比率で定める。
3.4
基準平面(reference plane)

――――― [JIS C 5877-2 pdf 3] ―――――

2
C 5877-2 : 2012
  入射光に対する反射率及び反射に伴う位相変化が,反射面内で一様な平面。基準平面は,入射する空間
ビーム光(平面波)の波面を変化させることなく反射させる機能をもつ。

4 試験の状態

4.1 標準状態

  試験及び測定は,特に規定がない場合,JIS C 60068-1の5.3[測定及び試験のための標準大気条件(標
準状態)]に規定する大気条件の標準範囲(温度15 ℃35 ℃,相対湿度25 %75 %,気圧86 kPa106 kPa)
で行う。ただし,この標準状態での測定値による判定に疑義を生じた場合,又は特に要求がある場合は,
4.3による。また,試験の状態(温度及び気圧)が標準状態と差がある場合の,試験結果又は測定値の換算
方法を個別に規定した場合の基準状態は,4.2による。さらに,標準状態で測定することが困難な場合は,
判定に疑義を生じない場合,標準状態以外の状態で試験及び測定を行ってもよい。
  なお,試験及び測定を行った標準状態は,試験報告書に記載する。

4.2 基準状態

  基準状態は,JIS C 60068-1の5.1[標準基準大気条件(基準状態)]とする。ただし,温度だけをもって
基準状態としてもよい。

4.3 判定状態

  判定状態は,JIS C 60068-1の5.2[判定測定,及び判定試験のための標準大気条件(判定状態)]に規定
する条件のうち,温度20 ℃±2 ℃,相対湿度60 %70 %,及び気圧86 kPa106 kPaとする。

4.4 試験場所の状態

  試験場所は,ごみ,ほこりなどがないよう,十分清潔に保つ。

5 外観及び構造

  JIS C 5901の5.(外観及び構造)の規定による。

6 光学的性能試験

6.1 試験機器及び装置

  この試験に用いる機器及び装置は,次による。
a) 光源 光源は,特に規定がない場合,標準光源を用いる。また,通常,波面収差は使用波長において
    λ/10以下,出力安定度は±0.05 dB/hより優れたものを用いる。その詳細は,個別規格に規定する。
b) レンズ レンズは,特に規定がない場合,標準レンズを用いる。また,通常,波面収差は使用波長に
    おいてλ/10以下のものを用いる。その詳細は,個別規格に規定する。
c) 開口絞り 開口絞りは,特に規定がない場合,円形の絞りを用いる。
d) ビームエクスパンダ ビームエクスパンダは,特に規定がない場合,開口絞りの最大径よりも大きい
    ビーム径をもつものを用いる。また,波面収差は,使用波長においてλ/10以下のものを用いる。その
    詳細は,個別規格に規定する。
e) 光パワーメータ 光パワーメータは,特に規定がない場合,測定範囲での偏光依存損失を含む直線性
    誤差が0.05 dB以内で,測定に必要な感度及びダイナミックレンジが十分に得られるものを用いる。
    受光素子は,感度分布が一様で,有効受光径が入射光パワー測定用光ファイバのコア径及び偏光子の
    有効径に対して十分に大きいものを用いる。受光面での光パワーは,受光素子の飽和レベルよりも
    10 dB以上低いことが望ましい。

――――― [JIS C 5877-2 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                                 C 5877-2 : 2012
f)  撮像素子 撮像素子は,測定する波長に対して感度分布が一様で,ダイナミックレンジが十分に得ら
    れるものを用いる。また,結像レンズが撮像素子に投影する像倍率を考慮し,λ/10以下の波面収差が
    検出可能な空間分解能をもつ面形のものを用いる。
g) 半透鏡 半透鏡は,特に規定がない場合,吸収率0.5 %以下とし,開口絞りの最大径よりも大きい有
    効面積をもつものを用いる。部分反射コーティングをもつ面に対向する面には,無反射コーティング
    を施したものを用いる。また,波面収差は,使用波長においてλ/10以下のものを用いる。
h) 鏡 鏡は,特に規定がない場合,反射率98 %以上(両偏光成分とも),波面収差λ/10以下とし,光束
    径よりも十分に大きい有効面積をもつものを用いる。
i)  標準偏光子 標準偏光子は,特に規定がない場合,開口絞りの最大径よりも大きい有効面積をもつも
    のを用いる。入出射面には,無反射コーティングを施したものを用いる。また,波面収差は,使用波
    長において十分に小さく,供試品の消光比に対し十分高い消光比をもつものを用いる。
j)  ビームスプリッタ ビームスプリッタは,特に規定がない場合,消光比20 dB以上,使用波長におけ
    る波面収差がλ/10以下で,挿入する光束径よりも十分に大きい有効面積をもつキューブビームスプリ
    ッタを用いる。光の入出射面には,無反射コーティングを施したものを用いる。
k) 結像レンズ 結像レンズは,干渉じま(縞)を撮像素子上に結像するのに十分な大きさのイメージサ
    ークルをもち,わい(歪)曲収差,像面湾曲などが十分に補正されたレンズを用いる。波面収差は,
    使用波長においてλ/10以下のものを用いる。
l)  参照平面 参照平面は,開口絞りの最大径よりも大きい有効面積をもつものを用いる。部分反射コー
    ティングをもつ場合は,対向する面に無反射コーティングを施したものを用いる。反射コーティング
    をもつ場合は,特に規定がない場合,反射率95 %以上(両偏光成分とも),波面収差λ/10以下のもの
    を用いる。

6.2 準備

  測定結果に疑義が生じないように,必要がある場合は,供試品を測定環境中に1時間以上放置する。ま
た,測定の前後を通じて,供試品に過度の通風,日光,その他の熱源からの直接の熱放射など,測定に影
響を及ぼすような要因が入らないようにする。
  なお,入出射部は,ごみなどがないよう,十分清潔に保つ。

6.3 透過率

6.3.1  試験機器及び装置
  この試験に用いる機器及び装置は,6.1の条件を満たす次のものを用いる。
a) 光源
b) レンズ
c) 開口絞り
d) ビームエクスパンダ
e) 光パワーメータ
f)  標準偏光子
6.3.2  試験
  透過率は,光路中に偏光子を挿入する前後の,有効径を通過した直線偏光の偏光方向の光パワーの比率
であり,次に示す方法によって測定する。

――――― [JIS C 5877-2 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6