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C 60068-2-27 : 2011 (IEC 60068-2-27 : 2008)
表1−パルスの加速度及び作用時間(続き)
ピーク加速度 公称パルス 速度変化(ΔV) 注
(A) の作用時間 正弦半波 のこぎり波 台形波
(D) ΔV=2/πAD×10−3 ΔV=0.5AD×10−3 ΔV=0.9AD×10−3
m/s2 gn ms m/s m/s m/s
30 000 3 000 0.3 5.7 4.5 8.1
d)
50 000 5 000 0.3 9.5 7.5 13.5
d)
100 000 10 000 0.2 12.7 10 18
注a) 推奨するパルス波形と厳しさとの組合せ。
b) IS W 0811及びJIS W 0812の推奨値,加速度60 m/s2(運用衝撃)では1方向当たり3回,加速度200 m/s2
(破壊衝撃)では1方向当たり1回。
c) 繰返しの多い衝撃試験の推奨値。
d) これらの厳しさは,試験の実施が困難なため一般的には用いることができない場合がある。
6 前処理
製品規格に前処理条件を規定してもよい。
7 初期測定
製品規格の規定に従って,供試品の目視検査,寸法検査,機能検査及びその他の検査を実施する。
8 試験条件
製品規格に規定された回数の衝撃を,供試品の互いに直交する3軸のそれぞれ両方向に連続して加える。
同一部品が多数ある場合は,供試品を上記の軸及び方向に同時に衝撃が加わるように配置してもよい(A.7
参照)。
供試品の取付け又は輸送時の姿勢が分かっている場合は,一般に1軸の1方向の衝撃が重要であるため,
その重要な方向とその姿勢にだけ加える衝撃回数を,製品規格に規定する。供試品の取付け又は輸送時の
姿勢が分かっていない場合は,3軸のそれぞれ両方向に衝撃を加える。例えば,一般的に垂直方向の衝撃
レベルが大きく,輸送中の姿勢が分かっている場合は,垂直方向の上向きに衝撃を加える。姿勢が不明な
場合は,規定回数の衝撃を規定の軸方向に加える(A.7参照)。
供試品の機能監視が要求される場合は,供試品を試験中に機能させることを,製品規格に規定する。
9 後処理
供試品の条件(例えば,温度のような条件)を初期測定の場合と同じにするために,試験終了後と最終
測定との間に一定の時間が必要な場合がある。製品規格に,後処理の条件を規定する。
10 最終測定
製品規格の規定に従って,供試品の目視検査,寸法検査,機能検査及びその他の検査を実施する。
製品規格に,供試品の合否判定基準を規定する。
11 製品規格に規定する事項
この試験を製品規格に規定する場合は,できるだけ次の事項を規定する。
なお,特にアスタリスク(*)付きの事項は,必須である。
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C 60068-2-27 : 2011 (IEC 60068-2-27 : 2008)
a) パルス波形* 4.1.1,A.3
b) 許容差 4.1.1,A.5
c) 速度変化 4.1.3,A.6
d) 横運動 4.1.4
e) 衝撃印加軸(試験姿勢,試験軸)* 箇条8
f) 取付方法* 4.3
g) 厳しさ* 箇条5,A.4
h) 衝撃方向及び回数* 箇条5,箇条8
i) 前処理 箇条6
j) 初期測定 箇条7
k) 供試品の機能検査 箇条7
l) 試験中の動作及び機能の監視 箇条8
m) 後処理 箇条9
n) 合否判定基準* 箇条10
o) 最終測定 箇条10
12 試験報告書に記載する情報
試験報告書には,少なくとも,次の事項を記載する。
a) 顧客 (名称及び所在地)
b) 試験所 (名称及び所在地)
c) 試験報告書の識別 (発行日及び識別番号)
d) 試験日
e) 試験の目的 (開発試験,認証試験)
f) 試験規格,発行年(又は版) (関連試験手順)
g) 供試品の詳細 (識別番号,図面,写真,数量,最初の状態など)
h) 供試品の取付け (取付具の識別,図面,衝撃印加軸の写真など)
i) 衝撃印加軸 (試験の姿勢及び試験軸)
j) 試験装置の性能 (横運動など)
k) 測定系及びセンサの位置 (概要,図面,写真など)
l) 測定系の不確かさ (校正データ並びに前回及び次回の校正日)
m) 初期,中間又は最終測定
n) 要求する厳しさ (試験仕様から)
o) 実施した試験の厳しさ (測定点)
p) 試験中の観察事項及び行った処置
q) 試験結果 (供試品の状態に関する説明)
r) 試験の要約
s) 試験管理者 (氏名及び署名)
t) 配付先 (報告書の受領者リスト)
注記 試験を文書に記録する場合(例えば,試験パラメータを併記した時系列の試験実施リスト,試
験中の観察事項及び実施処置並びに測定のデータシート)は,試験について試験実施記録を作
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成するのがよい。この試験実施記録を,試験報告書に添付してもよい。
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附属書A
(規定)
衝撃試験の実施上の指針
A.1
序文
この規格は,輸送環境又は動作環境の下で受ける供試品の影響を,再現する試験方法を規定する。必ず
しも実環境そのものの再現を意図したものではない。
異なる場所で,異なった人によって試験が行われても同じ結果が得られるように規定のパラメータを標
準化し,適切な許容差を規定している。パラメータの値を標準化することによって,この規格で規定する
厳しさに耐える能力に応じて,部品を分類することもできる。
A.2 試験の適用
多くの供試品は,使用中,保管中,取扱い中及び輸送中に衝撃を受けることが多い。これらの衝撃は,
そのレベルが幅広く変化し,また,複雑な性質のものである。
この規格では,繰返しのない衝撃及び繰返しの多い衝撃に供試品が耐える能力を確認するために有効な
方法を規定している。この試験は,衝撃試験機の衝撃台又は固定具に固定された供試品に衝撃を加えるこ
とによって行う。供試品が,固定されない装置又は拘束されない貨物で繰返しの多い衝撃を受ける場合,
IEC 60068-2-55の試験方法を適用する(附属書C参照)。
衝撃試験は,供試品(部品)の認証試験及び/又は品質管理の目的で行う構造の完全性の確認にも適し
ている。このような場合,特に空洞のある供試品の内部構造に既知の力を加えることを主目的として,高
加速度衝撃を用いることが一般的である(箇条1参照)。
必要な全ての情報を漏れなく記載するために,箇条11を参照する。
A.3 パルス波形
この規格には,一般に用いられている3種類の衝撃パルス波形が規定されているが,試験目的に応じて,
いずれの波形を用いてもよい(4.1.1及び表1参照)。
正弦半波パルスは,例えば,弾性構造物との衝突のような線形変化系での衝突又は減速の結果生じる衝
撃の影響を再現する場合に適用する。
のこぎり波パルスは,正弦半波パルス及び台形波パルスよりも均一な応答スペクトルをもっている。
台形波パルスは,正弦半波パルスよりも広い周波数スペクトルにわたって高い応答となる。これは,試
験の目的が,宇宙探査機又は人工衛星の打上時の“爆発ボルト”で発生するような衝撃の影響を再現させ
る場合に適用する。
注記1 正弦半波パルスは最も一般的に用いられる。台形波パルスは,本来部品タイプの供試品を対
象としていない。
注記2 爆発ボルトとは,ロケットの段間接続ボルトで,切離しのとき,爆発力によって切断するボ
ルト。
これらのパルス波形の衝撃応答スペクトルについては,附属書Bに記載されている。
動作中又は輸送中の衝撃応答スペクトルが明らかな場合は,図A.1図A.3を参考として実環境に最も
近似なパルス波形を選択する。一方,実環境の衝撃応答スペクトルが不明な場合は,表A.1及び表A.2を
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C 60068-2-27 : 2011 (IEC 60068-2-27 : 2008)
参考にするのがよい。これらの表には,多様な輸送及び動作条件で用いられる供試品に適用できる試験の
厳しさ及びパルス波形を示している。
包装品については,取扱中及び輸送中の衝撃は,単純なので実測した速度変化から求めた正弦半波パル
スが利用できる。
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JIS C 60068-2-27:2011の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60068-2-27:2008(IDT)
JIS C 60068-2-27:2011の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 60068-2-27:2011の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0153:2001
- 機械振動・衝撃用語
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-47:2008
- 環境試験方法―電気・電子―第2-47部:動的試験での供試品の取付方法