JIS C 60068-2-58:2016 環境試験方法―電気・電子―第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法 | ページ 8

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(I) JISの規定 (II)国際 (III)国際規格の規定 (V) JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
2
規格番号 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
0068
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
-
2-5
及び題名 番号 の評価
8 : 2
10 製品規格 10.3はんだ耐熱性, 10.3 j) ソルダペーストの組追加 次回,IEC規格改正時に提案する
適用を追加(対応国際規格の記載漏
0
に規定する はんだはじき及び 成 れ) 予定。
16
事項(続き)電極の耐はんだ食
われ性 j) ソルダ
ペーストの組成(リ
フロー法。ただし,
要求する場合)
k) 試験用基板の詳 10.2 k) 試験用基板の詳細寸追加 次回,IEC規格改正時に提案する
適用を追加(対応国際規格の記載漏
細寸法(リフロー法 法 れ) 予定。
のはんだ耐熱性試
験の場合)
v) 検査する端子の 10.3 v) 検査する端子の領域 追加 次回,IEC規格改正時に提案する
適用を追加(対応国際規格の記載漏
領域(はんだはじき れ) 予定。
及び電極の耐はん
だ食われに規定す
る)
附属書A 附属書A 附属書A JISとほぼ同じ 変更 次回,IEC規格改正時に提案する
対応国際規格の箇条番号は,明らか
(規定) 箇条番号 に誤記であるため,修正した。 予定。
目視検査の A.2 A.4 JISとほぼ同じ 追加 対応国際規格の図に題名が付され 次回,IEC規格改正時に提案する
基準 はんだはじきリフ ていなかったため追加した。 予定。
ロー法
附属書B B.2.1 試験結果と作 B.2.1 JISとほぼ同じ 追加 対応国際規格の細分箇条に題名が 次回,IEC規格改正時に提案する
(参考) 業とで性能が一致 予定。
付されていなかったため追加した。
指針 しない場合
B.2.2 リフロー及び B.2.2 JISとほぼ同じ 追加 対応国際規格の細分箇条に題名が 次回,IEC規格改正時に提案する
フローの注意事項 予定。
付されていなかったため追加した。
B.3.4 浸せき姿勢 B.3.4 JISとほぼ同じ 追加 細別を引用する文を追加した。 次回,IEC規格改正時に提案する
予定。

――――― [JIS C 60068-2-58 pdf 36] ―――――

     (I)   JISの規定                  (II)国際 (III)国際規格の規定                                                 (V)   JISと国際規格との技術的差
(IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
規格番号 の評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
附属書X 附属書X JISとほぼ同じ 削除 対応国際規格だけで必要な附属書 この規格に必要でない事項を削除
(参考) であり解説に移した。 した。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : IEC 60068-2-58:2015,MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 削除 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD 国際規格を修正している。
C6 0068-
2-58 : 201
3
6
3

JIS C 60068-2-58:2016の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60068-2-58:2015(MOD)

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JIS C 60068-2-58:2016の関連規格と引用規格一覧