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C 60068-2-65 : 2019 (IEC 60068-2-65 : 2013)
試
験
験
用
用
1全
全 上限値
上限値
音
オ音
1オ
圧
ク圧
ク レ
タレ
ベ
タ
ーベ
ー ル
ブル
ブ を 下限値
下限値
帯を
帯 基
準
域基
域
音 と
音準
圧 す
圧と
レ る
レす
ベ
ベる
ル
ル
(dB)
(dB)
1オクターブ帯域中心振動数 (Hz) (Hz)
1オクターブ帯域中心振動数
図3−高雑音産業用機械の1オクターブ帯域スペクトル(参考文献[4])
4.1.2 残響音場
残響音場は,通常,密閉した空間に配置する供試品の圧力変動が一様な場合に用いる。しかし,この残
響音場は,密閉容器自身,例えば,大型打上げロケットのノーズコーンフェアリングなどの場合のように,
より適切な他のシミュレーションが不可能な場合の試験にも使用できる。残響音場は,気体乱流又は表面
離流による境界構造物の励振,推進音の放射,及び例えばガス冷却原子炉圧力容器内で発生する励振に
よって密閉容器内で発生する(A.1参照)。
4.1.3 進行波管試験
進行波試験は,音響エネルギーが供試品の表面を通過する場合に用いる。このような環境の発生の例と
して,航空機の外部運搬品,ロケットエンジンの耐熱遮蔽,航空機パネル又は尾翼表面が挙げられる(A.2
参照)。
4.1.4 空洞共鳴試験
空洞共鳴試験は,空洞上の乱流の結果又は空洞が音響励振にさらされたときに共鳴する空洞内の高音圧
レベルの状態をシミュレートするために用いる。例として,着陸のために車輪を下げたときの航空機着陸
装置の空洞又は燃焼室が挙げられる(A.3参照)。
4.1.5 定在波
定在波試験は,純音の非常に高い音圧レベルを発生させるために使用できる(A.4参照)。
4.2 音源
試験に使用する適切な音源の選択のための指針をA.5に示す。
4.3 測定装置
4.3.1 一般事項
供試品の周囲の音場の監視,及び必要に応じて,音響によって供試品に発生する振動測定のために測定
装置が必要となる。これらの測定では,振動数成分に関する分析を行う必要がある(4.3.3参照)。
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4.3.2 音響測定
監視用測定系は,1オクターブ又は1/3オクターブ帯域のいずれかで,振動数範囲が22.4 Hz11 200 Hz
で,中心振動数が31.5 Hz/25 Hz(1オクターブ/1/3オクターブ)8 kHz/10 kHzの音圧レベルを測定でき
なければならない。
この測定系は,表1に示す許容差内の対象振動数範囲にわたって±5 %の名目上平たん(坦)な振動数
応答をもたなければならない。
表1−音響測定の許容差
振動数範囲 許容差
Hz dB
22.4 125 ±1
126 2 500 ±2
2 501 11 200 ±3
使用するマイクロホンは,残響室試験でのランダム入射測定と進行波試験での斜め入射測定ができなけ
ればならない。いずれにしても,少なくとも最大定格実効値(rms値)の3倍のピーク値の測定が可能で
なければならない。
測定系は,規定の試験レベルよりも少なくとも10 dB高い音圧レベルの測定が可能でなければならない。
この能力は全体レベル及び個別の振動数帯域に対応する。
4.3.3 振動応答測定
供試品の振動の監視応答の測定は,関連する仕様書で規定された,加速度及び/又はひずみ測定によっ
て実施する。適切な場合,界面力,変位又は速度の応答を監視測定してもよい。
監視系は,少なくとも振動数範囲16 Hz2 000 Hzで全体振動応答の測定が可能でなければならない。
この測定系は,必要とする振動数範囲で名目上,平たん(坦)な振動数応答をもち,測定の方法及び種類
に適していなければならない。
4.3.4 結果の分析
4.3.2及び必要に応じて4.3.3から得られた測定データは,振動数成分に関する分析を行わなければなら
ない。
a) 音響測定の分析は,少なくとも1オクターブ帯域又はなるべく1/3オクターブ帯域の分解能で行う。
b) 振動応答測定は,通常,より高い分解能での分析を必要とする。
振動数分解能帯域幅は,特定の応用分野に関連する仕様で規定しなければならない。
4.4 試験要求事項
4.4.1 設備の種類
シミュレートすべき音場の実際の環境の空間及び時間のふるまいは,試験方法の選択に影響を与える。
この手順に含まれる設備は,残響室,残響部屋及び進行波管である。その他の種類の専門設備は,附属書
Aに記載しているが,この規格の考え方は,これらの代替施設の試験手順の基礎として使用することがで
きる。
設備の種類に関する要求事項は,製品仕様に規定しなければならない。
供試品が高密度音響環境と他の環境パラメータとに同時にさらされるような複合試験が必要な場合,試
験の音響部分は,この規格に従って実施しなければならない。複合試験には,低振動数での音響励振を増
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大するために,機械振動に加えて,音響及び極端な温度又は変動する温度を含んでもよい。
4.4.2 取付け
4.4.2.1 残響室
供試品は,壁(床及び天井を含む。)と供試品の主要な表面との間に,平行な関係が作られないように残
響室の中央に配置する。供試品(及び,必要な場合は機械的に拘束する。)は,残響室内部に弾性的に支持
するか,又はつるす。製品仕様では,必要に応じて,推奨する取付点を規定する。
つるしている供試品の共振振動数は,25 Hz未満又は最低試験振動数の1/4の振動数の低い方の振動数と
する。
監視点と供試品の表面との間の距離は,最低試験振動数の波長の半分又は壁から供試品の距離の半分の
短い方よりも長い距離とする。この距離が得られず,波長の半分よりも近い箇所にマイクロホンを置かな
ければならない場合は,雑音レベルの測定値は,供試品からの反射のために,大きな影響を受けることが
あるので,このことを試験の結果を評価するときに考慮する必要がある。
供試品と弾性支持具との間に,又は弾性支持具自体を取り付けるために,構造部材が必要な場合は,雑
音場のひずみ又は外来振動の侵入を避けるための注意が必要である。
供試品に接続するもの,例えば,ケーブル,パイプなどは,供試品が実際の環境に置かれたときに受け
るのと同様の拘束力及び質量がかかるように配置する。この状態を実現するためには,ケーブル,パイプ
などを取付具に固定する必要がある場合がある。
4.4.2.2 進行波管
供試品は,励振力が外表面全体に加わるようにソフト支持具,又は専用の取付具によって取り付けなけ
ればならない。ただ一方だけを励振しなければならない場合は,進行波管の壁に取り付けてもよい。供試
品の取付けを特定の据付取付方法で行う場合,支持具はこれらの点に取り付けなければならない。特定の
取付方法がない場合,支持具は,独立した部分の自由な動きを妨げないパネル又は他の構造部品に拘束若
しくは減衰を付加しないような方法で供試品に接続しなければならない。剛構造モデルでは,25 Hz,又は
最低試験振動数の1/4の振動数の低い方より低くしなければならない。
試験補助系又は補助的な構造によって派生する,音響又は振動が生じないように注意しなければならな
い。ケーブル又はパイプのような供試品のどんな接続も稼動状態と同じ動的拘束と荷重を受けるように配
置しなければならない。
パネルのような供試品は,必要な試験面が音響励振にさらされるようにダクト壁に取り付けなければな
らない。空洞共鳴又は局所乱流効果の影響を防ぐため,供試品表面はダクトの内面と同一平面でなければ
ならない。
監視点間の距離は,壁面から供試品の距離の半分か,最低試験振動数の波長の半分より長い距離にする。
この距離が得られず,波長の半分よりも近い箇所にマイクロホンを置かなければならない場合は,雑音レ
ベルの測定値は,供試品からの反射のために,大きな影響を受けることがあるので,このことを試験の結
果を評価するときに考慮する必要がある。
パネルアセンブリを試験する場合,制御用マイクロホンは供試品の反対側のダクト壁面に取り付けた方
がよい。制御用マイクロホンが単に斜入射波に応答し,必要な修正が測定レベルに適用されるなら,作動
部の他の位置を選択してもよい。
4.4.3 供試品の測定
必要に応じて製品仕様に,供試品に適用する変換器(加速度ピックアップ,マイクロホン,ひずみゲー
ジなど)の数,種類及び位置を規定する。
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各変換器の校正記録を入手しなければならない。
残響室で使用するためのマイクロホンは,進行波管内で使用するとき,ランダム入射ノイズ及び斜入射
ノイズのための校正を行わなければならない。
4.4.4 残響室の準備
4.4.4.1 監視点の数及び位置
残響室又は進行波管にある供試品について,供試品周囲の音圧のレベルを測定するための制御用マイク
ロホンを少なくとも3本用意する。監視点数を決定するために,供試品のサイズは,同一性を確認してい
る音場の大きさを考慮しなければならない。供試品の主要直交軸と仮想面との交点に置くマイクロホンの
数及び位置を,製品仕様に規定しなければならない(図4参照)。
進行波管の壁面に位置する供試品の場合,1本のマイクロホンで制御してもよいし,大きな供試品では
表面に設置した複数のマイクロホンで制御してもよい。
供試品
供試品
仮想面
仮想面
M;マイクロホン
M : マイクロホン
図4−供試品周囲の仮想面上の監視点マイクロホン(16)の標準的位置
4.4.4.2 スペクトルの制御
各制御用マイクロホンの応答は,製品仕様に規定されたオクターブ又は1/3オクターブによる分析を行
う。各帯域の平均レベルは,3.1.13に従って得なければならない。次に,全体平均値を帯域レベルから算
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出する。平均スペクトルの各帯域レベル及び全体レベルは,図1,図2又は図3に規定する限界内の値又
は製品仕様に規定されたスペクトル値でなければならない。平均値は,試験時間の間,規定限界内の値で
なければならない。
製品仕様に規定する分析積分時間は,確実な統計的信頼性が得られるように,十分に長くなければなら
ない(A.8参照)。
試験時間が十分に長い場合,音圧レベルが規定限界値内のレベルであることを確実にするために,試験
中,間隔をおいて制御用マイクロホンの応答の実時間分析を実施しなければならない。
注記1 各マイクロホンで測定する帯域レベル及び全音圧レベルの最大許容変動値は,製品仕様に規
定してもよい。
注記2 製品仕様に1/3オクターブ分析を規定している場合,1/3オクターブスペクトルも準備する必
要がある。
4.4.4.3 スペクトルの整形
音場に供試品を過剰にさらすことを避けなければならない場合は,供試品に代わるダミーモデルで音場
を確立する。さらに,残響室の容積に比べて供試品の容積が小さいときには,空の残響室を用いてもよい。
スペクトルの整形に空の残響室を適用する場合,実試験でもマイクロホンの位置を同じにしなければなら
ない。
この試験で,増加,減少及びフラット部分のOASPLスペクトルを規定する(図1参照)。標準的な試験
で,試験項目の動的環境に応じてスペクトルの一つを選択しなければならない。特別な場合,個々に加速
度スペクトル密度曲線を指定することが適切であり,この場合,関連する仕様は振動数の関数として形状
を定めるべきである。異なるレベルとそれに対応する振動数範囲(ブレイクポイント)は,可能な限り,
表2及び図1図3に示す値から選ばなければならない。
表2−全音圧レベル及び試験時間
全音圧レベル 試験時間
dB 分
120±1 60
130±1 60
140±1 30
150±1 30
160±1 30
170±1 2
5 厳しさ
音響の厳しさは,全音圧レベル(OASPL),スペクトルの形状及び試験時間で規定する。製品仕様では,
表2からOASPL及び最小試験時間,並びに図1図3からスペクトルの形状を選択する。これらの適用の
ための指針をA.6に示す。
6 前処理
供試品を安定(熱的,機械的など)させるために,室内の大気状態での前処理を,製品仕様で要求して
もよい。
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JIS C 60068-2-65:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60068-2-65:2013(IDT)
JIS C 60068-2-65:2019の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 60068-2-65:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1509-1:2017
- 電気音響―サウンドレベルメータ(騒音計)―第1部:仕様