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C 60068-2-65 : 2019 (IEC 60068-2-65 : 2013)
7 初期測定
製品仕様の規定に従って,供試品の目視検査,寸法検査及び機能検査を実施する。
公称試験レベルよりも低い音圧レベルの音響騒音試験を行い,公称試験前の供試品の動的応答を測定し
てもよい。この低レベル試験の厳しさは,製品仕様に規定する。
8 試験
8.1 標準試験
製品仕様の要求に合わせて変換器を付けた供試品を,4.4.2に従って取り付ける。
4.4.4.1の規定に従って配置した監視点を用いて,試験を実施する。スペクトルの整形は4.4.4.3,スペク
トルの制御は4.4.4.2による。厳しさは,箇条5に従って規定した製品仕様による。
制御用マイクロホン及び供試品の変換器からの試験中に得られた信号は,この規格及び製品仕様の要求
条件に適合していることを確認しなければならない。
8.2 加速試験
供試品の動作寿命から,標準試験が適切でないほど長い試験時間が必要な場合,加速試験を実施しても
よい。加速試験では,試験時間を短縮するために,供試品が実際にさらされるレベルより高い音圧レベル
を適用する。加速試験に関して明確に定義されたルール又は手順はない。したがって,加速試験は,使用
される製品仕様によって許可されている場合だけ実施しなければならない。
加速試験に関する一般的な推奨事項を,A.7に示す。
9 中間測定
製品仕様に規定がある場合,供試品は,試験中動作させて性能を検査しなければならない。
10 後処理
製品仕様に規定がある場合,試験後の最終測定の前に,供試品の,例えば温度を初期測定と同じ条件に
するために,一定の時間を与えることがしばしば必要になる。
11 最終測定
製品仕様の規定に従って,供試品の目視検査,寸法検査及び機能検査を実施する。
公称試験レベルよりも低い初期の低レベル試験及び同一の音圧レベルの音響騒音試験を実施し,公称試
験後の供試品の動的応答を決定するために供試品の応答を測定する。この低レベル試験の厳しさは,製品
仕様で規定する。最初及び最後の低レベル試験の動的応答は,構造変化を識別するために行う。
製品仕様に,供試品の合否判定基準を規定する。
12 製品仕様に規定する事項
この試験を製品仕様に規定している場合,適用可能な限り,次の事項を規定しなければならない,特に
アスタリスク(*)付の事項は,常に必要であるので特別の注意を払う。
a) フィルタ帯域幅* 4.3.4
b) 試験設備の種類* 4.4.1
c) 取付け* 4.4.2
d) 供試品測定用変換器 4.4.3
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C 60068-2-65 : 2019 (IEC 60068-2-65 : 2013)
e) 監視点の数及び位置* 4.4.4.1
f) 1/3オクターブ及び1オクターブ帯域の分析* 4.4.4.2
g) スペクトルの形状* 4.4.4.2及び箇条5
h) 分析積分時間* 4.4.4.2
i) 帯域レベルの最大許容変動値 4.4.4.2
j) 1/3オクターブ帯域分析のスペクトル 4.4.4.2
k) ASPL* 箇条5
l) 最小試験時間* 箇条5
m) 前処理 箇条6
n) 初期測定* 箇条7
o) 加速試験の手順,必要な場合 8.2
p) 中間測定 箇条9
q) 後処理 箇条10
r) 最終測定* 箇条11
s) 合否判定基準* 箇条11
13 試験報告書に規定する事項
JIS Q 17025:2005の5.10.2及び5.10.3に規定する情報は,試験報告書又は校正証明書に規定する。正当
な理由が存在する場合を除き,少なくとも次の情報を含まなければならない。
1) 顧客 (名称,住所)
2) 試験所 (名称,住所)
3) 試験報告書の識別 (発行日,固有番号)
4) 試験実施日
5) 試験の目的 (開発試験,認証試験など)
6) 試験規格,版 (関連する試験手順書)
7) 供試品の説明 [初期状態,固有の識別記号(又は,識別番号な
ど),数量,写真,図面など]
8) 供試品の取付け (取付具及びその図面,写真など)
9) 試験装置の性能
10) 測定システム,センサーの場所 (説明,図面,写真など)
11) 製品仕様書で要求がある場合には,測定システムの不確かさ(全体の不確かさ,校正データ,最終
校正日,次回校正期限)
12) 管理手法
13) 初期測定,中間測定,最終測定
14) 要求する厳しさ (試験仕様書に規定する)
15) 製品仕様で要求された場合には,試験の厳しさの規定文書(測定点,試験スペクトル,試験時間,
振動数分解能,DOFの値,分布など)
16) 試験結果 (供試品の最終状態)
17) 試験中の観察事項及び処置事項
18) 試験の概要
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19) 試験管理者 (氏名及び署名)
20) 配付 (報告を受けたものの一覧)
注記 試験ログ(試験記録)は,試験の記録文書として残すことが望ましい。その内容は,例えば,
試験パラメータ,試験中の観察事項,行った処置の時系列リスト,行った測定のデータシート
などである。試験ログは,試験報告書に添付することができる。
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附属書A
(参考)
試験要求事項に関する指針
A.1 残響室の試験
A.1.1 概要
理想的な残響室は,広帯域雑音で励振されたとき,音圧の2乗の時間平均値がどこでも同じになる拡散
音場となる部屋である。しかし,実際には,理想的な状態からの多少の逸脱を許容する必要がある。
室内の複数の共振モードが成長することによって,音圧レベルが高くなる性質がある。共振モードの数
が十分あり,それが振動数に関して一様に分布していて,供試品の共振が適切に励起されることが最も重
要である。
部屋の壁の音響透過率は,低いことが望ましく,部屋の容積と供試品の容積との比は,約10 : 1以上が
望ましい。ある状況下では,10 : 1よりも小さい比は,許容されることがあるが,その試験から得た結果
の評価の場合は注意を払う必要がある。部屋の壁と供試品との距離は,可能なら,最低試験振動数の1/2
波長より長いことが望ましい(図A.1参照)。
d=λ/2,又はd=D/2(いずれか小さい方)
ここに,λ : 最低試験振動数の波長
音響ホーンから
残響部屋までの
スムーズな移行
図A.1−供試品周囲のマイクロホンの標準的配置
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A.1.2 残響室の容積
1オクターブ帯域の試験最低中心振動数と残響室の必要容積との間の関係を表A.1に示す。これらの条
件を満たす場合,試験の最も低い1オクターブ帯域でも,適正な拡散音場が得られる。
表A.1−1オクターブ帯域及び残響室容積の関係
試験最低中心振動数 必要な残響室容積
(1オクターブ帯域)
Hz m3
31.5 ≧1 000
125 ≧ 200
250 ≧ 70
500 ≧ 5
A.1.3 残響室の形状
部屋の形状を変則的なものとし,床及び天井を含む壁を平行にならないようにするのが望ましい。断面
が一様でない五角形の天井が傾斜している部屋では,良好な共振モードの密度が得られる。雑音源は,音
響ホーンの口ができるだけ一つの壁を占有するように,残響室と接続することが望ましい(図A.1参照)。
残響室内の全ての表面は,室内の音響拡散を損なわないようにするために,平らで凹凸がないことが望
ましい。
振動数及び空間に関する室内の最適の分布が得られるように適正な割合を選択すると,長方形の形状を
うまく使用できる。この条件を満たすのは,任意の二つの寸法の比が,整数に等しくないか又はごく近い
値でない場合である。1 : 21/3 : 41/3の割合がよく使用される。容積が約200 m3以上の部屋の場合に良好で
あることが分かっている,長方形の部屋の寸法のその他の比を表A.2に示す(参考文献[5]及び[6]参照)。
表A.2−残響室の寸法比
例 Ly/Lx Lz/Lx
1 0.83 0.47
2 0.83 0.65
3 0.79 0.63
4 0.68 0.42
5 0.70 0.59
Lx,Ly及びLzは,X軸,Y軸及びZ軸の残響室の寸法。
小さな残響室の音場は,耐久性のある反射面を室内につるすことによって,部屋の表面積を増すと,拡
散度をより高くすることができる。この場合,部屋をより小さな容積に効果的に分割することによって,
部屋の低振動数特性を損なわないようにするために,パネルの寸法を部屋の壁の寸法より小さくするとよ
い。音場の拡散を改善する別の方法には,室内の反射経路を絶えず変えるために,変則的な形状の回転体
をつるす方法がある。これらの装置は,低振動数試験が必要な場合に特に有用である。
さらに,注意すべき点は,低振動数試験は,僅かな離散的な位置での測定から得られた試験データに基
づいている場合が多く,標準偏差が大きくなってしまう,という点である。この制約条件は,低振動数試
験を実施し,その結果を評価するときに考慮する必要がある。
――――― [JIS C 60068-2-65 pdf 20] ―――――
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JIS C 60068-2-65:2019の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 60068-2-65:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1509-1:2017
- 電気音響―サウンドレベルメータ(騒音計)―第1部:仕様