JIS C 60695-11-4:2014 耐火性試験―電気・電子―第11-4部:試験炎―公称50W炎―試験装置及び炎確認試験方法 | ページ 3

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C 60695-11-4 : 2014 (IEC 60695-11-4 : 2011)
バーナへのガス供給配置例を,図A.3に示す。
質量流量計を用いる場合であっても,規定する背圧を維持するために,マノメータを用いる。
流量計と接続するチューブの内径は,背圧降下の可能性を最小化するために適切な寸法のものを用いる。
図A.3−バーナへのガス供給配置例

――――― [JIS C 60695-11-4 pdf 11] ―――――

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C 60695-11-4 : 2014 (IEC 60695-11-4 : 2011)
炎確認試験の配置を,図A.4に示す。
このときの試験炎使用の推奨配置は,附属書Bに記載している。
単位 mm
熱電対を銅ブロックの穴に十分挿入したことを確認後,
熱電対を損傷しないように,熱電対の周りの銅をかしめ
て,固定することが望ましい。
銅ブロックは,試験中に本来の位置から動かないようにつり下げる。
図A.4−炎確認試験の配置

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C 60695-11-4 : 2014 (IEC 60695-11-4 : 2011)
附属書B
(参考)
試験炎使用の推奨配置
この附属書は,試験炎使用の推奨配置について記載する。
試験配置の推奨配置は,附属書D及び附属書Eに示す。
機器を試験する場合で,製品規格に規定がないとき,バーナチューブの先端から試験片の表面の接炎点
までの推奨距離は20 mmである。また,試験中にバーナを45°以下に傾けてその位置で固定してもよい。
材料の短冊試験片を試験する場合で,関連する規定に記載のないとき,試験者は,試験片の変形又は燃
焼のため,その試験片に適切に炎を当てるため,試験中に試験炎を動かしてもよい。また,バーナチュー
ブの先端から試験片の表面の接炎点までの推奨距離は,10 mmである。
注記 10 mmという距離を選定した背景は,試験炎の先端が短冊試験片と接触するような位置での試
験よりもよい再現性が得られるためである。
必要がある場合,試験中に試験片から落ちる溶融物がバーナ内に入らないよう,バーナを傾けてもよい。
試験者がバーナチューブと試験片との間の規定する間隔を維持するための補助として,附属書Cに示す
接炎ゲージをバーナチューブの先端に付けてもよい。

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C 60695-11-4 : 2014 (IEC 60695-11-4 : 2011)
附属書C
(参考)
接炎ゲージ
この附属書は,接炎ゲージについて記載する。
接炎ゲージを図C.1及び図C.2に示す。
注記 図C.2は,JIS C 60695-11-10と同じである。
単位 mm
許容差 : 別途規定していない場合,±0.1 mm,±0.5°
図C.1−接炎ゲージ(両翼ゲージ)

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C 60695-11-4 : 2014 (IEC 60695-11-4 : 2011)
単位 mm
図C.2−接炎ゲージ(片翼ゲージ)

――――― [JIS C 60695-11-4 pdf 15] ―――――

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JIS C 60695-11-4:2014の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60695-11-4:2011(IDT)

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