JIS C 6114-1:2006 光変調器モジュール通則 | ページ 5

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C 6114-1 : 2006 解説
(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格との技術的差異の理由
(IV) ISと国際規格との技術的差異
規格番号 の項目ごとの評価及びその内容 及び今後の対策
表示箇所 : 本体
表示方法 : 側線又は点線の下線
項目 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 番号 の評価
8.性能 IEC MOD/削 削除項目 : 一般的には使用されていない。IECへ
8.1電気 62007-1 除 サーミスタスロープ 提案を図る。
的特性及 係数及びケース−サ
び光学的 ブマウント間温度差。
特性
8.2環境
及び耐久
性に対す
る性能
9.外形 外形は個別規格で規定。 12.4 外形は個別規格で規 IDT − −
定。
10.測定 個別規格に規定がない場 Annex A 測定方法は記載した MOD/追 測定方法JISを規定。 測定方法として使用する規格を規定し
合の測定方法JISを規定。 IEC規格を参照するよ 加 たもの。追加した性能に関しては,必
うに規定しているが, 要であれば,測定方法に関するIEC規
光変調器モジュール 格への提案を図る。
についての測定法の
規定はない。
11.表示 表示する項目を規定。 − − MOD/追 − JISとして必要な規定項目を追加。IEC
加 規格への提案を図る。
12.取扱 取り扱いに関する注意事 − − MOD/追 − JISとして必要な規定項目を追加。IEC
上の注意 項を記述。 加 規格への提案を図る。
事項
解 12

――――― [JIS C 6114-1 pdf 21] ―――――

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C 6114-1 : 2006 解説
(I) ISの規定 (II) 国際 (III) 国際規格の規定 (V) ISと国際規格との技術的差異の理由
(IV) ISと国際規格との技術的差異
規格番号 の項目ごとの評価及びその内容 及び今後の対策
表示箇所 : 本体
表示方法 : 側線又は点線の下線
項目 内容 項目 内容 項目ごと 技術的差異の内容
番号 番号 の評価
− − IEC 4 発光ダイオード゛の規MOD/削 IEC規格では各章がそ 削除した部分は別のJISとして制定済
62007-1 定。 除 れぞれ別々の部品 み又は制定予定である。
に対応しており,全体
5 レーザモジュールの MOD/削 として複数の光能動 制定済み :
規定。 除 部品に対する規定と JIS C 5940(光伝送用半導体レーザ通
なっている光変調器 則),JIS C 5945 (光伝送用半導体レー
6 MOD/削
pin型受光素子の規定。 モジュール以外の規 ザモジュール測定方法),JIS C 5950(光
除 定内容を削除した。 伝送用発光ダイオード通則),JIS C
7 APDの規定。 MOD/削 5990(光伝送用フォトダイオード通則)

8 Pin-FETモジュールの MOD/削 制定予定 :
規定。 除 光ファイバ増幅器用半導体レーザモジ
ュール・pin-FETモジュール・デュプレ
10 アナログ光伝送用レ MOD/削 クサモジュール・LEDアレイ
ーザモジュールの規 除
定。
11 LEDアレイの規定。 MOD/削

12 ディジタル光伝送用 MOD/削
光変調器の規定。 除
13 TOパッケージ入りの MOD/削
レーザダイオードの 除
規定。
14 デュプレクサモジュ MOD/削
ールの規定。 除
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : MOD
解 13

――――― [JIS C 6114-1 pdf 22] ―――――

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C 6114-1 : 2006 解説
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
― IDT·················· 技術的差異がない。
― MOD/削除········· 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
― MOD/追加········· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次のとおりである。
― MOD··············· 国際規格を修正している。
解 14

JIS C 6114-1:2006の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 62007-1:1999(MOD)

JIS C 6114-1:2006の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 6114-1:2006の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC0025:1988
環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
JISC60068-2-1:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JISC60068-2-11:1989
環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
JISC60068-2-17:2001
環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
JISC60068-2-2:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JISC60068-2-20:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JISC60068-2-21:2009
環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
JISC60068-2-27:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JISC60068-2-3:1987
環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
JISC60068-2-32:1995
環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
JISC60068-2-38:2013
環境試験方法―電気・電子―第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
JISC60068-2-6:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JISC60068-2-7:1993
環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
JISC6114-2:2006
光変調器モジュール測定方法
JISZ8202-0:2000
量及び単位―第0部:一般原則
JISZ8202-1:2000
量及び単位―第1部:空間及び時間
JISZ8202-2:2000
量及び単位―第2部:周期現象及び関連現象
JISZ8202-3:2000
量及び単位―第3部:力学
JISZ8202-4:2000
量及び単位―第4部:熱
JISZ8202-5:2000
量及び単位―第5部:電気及び磁気
JISZ8202-6:2000
量及び単位―第6部:光及び関連する電磁放射
JISZ8203:1964
単位記号
JISZ8203:2000
国際単位系(SI)及びその使い方