JIS C 6114-1:2006 光変調器モジュール通則

                                                                                  C 6114-1 : 2006

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,■財団法人光産業技術振興協会(OITDA)/財
団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工
業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 62007-1 Ed. 1.1:1999,Semiconductor
optoelectronic devices for fibre optic system applications−Part 1: Essential ratings and characteristicsを基礎とし
て用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 6114-1には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考)光変調器モジュールの個別規格の様式
    附属書B(参考)光変調器モジュール環境試験及び耐久試験個別規格の様式
    附属書C(参考)代表的特性について
    附属書D(参考)静電気破壊のおそれがあるデバイスへの表示
    附属書1(参考)JISと対応する国際規格との対比表

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 6114-1 pdf 1] ―――――

C 6114-1 : 2006

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[3]
•  4. 個別規格・・・・[4]
•  5. 単位記号・・・・[4]
•  6. 分類・・・・[4]
•  7. 最大定格・・・・[4]
•  8. 性能・・・・[6]
•  8.1 電気的特性及び光学的特性・・・・[6]
•  8.2 環境及び耐久性に対する性能・・・・[7]
•  9. 外形・・・・[8]
•  10. 測定・・・・[8]
•  11. 表示・・・・[8]
•  12. 取扱上の注意事項・・・・[8]
•  12.1 静電気による破壊に対する注意・・・・[8]
•  12.2 光出力端の汚れに対する注意・・・・[8]
•  附属書A(参考)光変調器モジュールの個別規格の様式・・・・[9]
•  附属書B(参考)光変調器モジュール環境試験及び耐久試験個別規格の様式・・・・[11]
•  附属書C(参考)代表的特性について・・・・[13]
•  附属書D(参考)静電気破壊のおそれがあるデバイスへの表示・・・・[14]
•  附属書1(参考)JISと対応する国際規格との対比表・・・・[16]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 6114-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 6114-1 : 2006

光変調器モジュール通則

General rules of optical modulator modules

序文

 この規格は,1999年に第1版として発行されたIEC 62007-1 Ed. 1.1:1999,Semiconductor optoelectronic
devices for fibre optic system applications-Part 1: Essential ratings and characteristicsの中で光変調器モジュール
通則を規定している第12章Optical modulators for digital fibre optic applicationsを翻訳し,技術的内容を変更
して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変更の一覧
表をその説明を付けて,附属書1に示す。
  2003年現在,伝送用光能動部品のIEC規格がTC47(半導体デバイス)からTC86(光ファイバシステ
ム)への体系移行の最中にある。これに伴い規格体系がTC47の部品ごとの規格体系からTC86の応用シ
ステムごとの規格体系への再編が進められている。日本工業規格(日本産業規格)(以下,JISという)では管轄がTC47
のときより部品ごとに分けて順次,審議してきた経緯によって,制定・改正済みの規格は,部品ごとの規
格としてきている。

1. 適用範囲

 この規格は光変調器モジュールの用語,記号,分類,最大定格,性能などの一般的な共通
事項について規定する。
    備考 ここでいう光変調器モジュールとは,変調素子と光ファイバとの接続部から構成されるもので
          あり,必要に応じて,温度センサ,電子冷却素子,モニタ用フォトダイオードなどを内蔵する
          ものである。
            この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide21に基づき,IDT(一致している),MOD(修
          正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 62007-1 Ed. 1.1:1999,Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system
              applications-Part 1: Essential ratings and characteristics (MOD)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 6114-2 光変調器モジュール測定方法
    JIS C 0025 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
    備考1. IEC 60068-2-14:1984, Environmental testing−Part 2: Tests, Test N: Change of temperatureからの
            引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
        2. IEC 60068-2-33:1971, Environmental testing−Part 2: Tests, Guidance on changing of temperature
            testsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

――――― [JIS C 6114-1 pdf 3] ―――――

2
C 6114-1 : 2006
    JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−低音(耐寒性)試験方法
    備考 IEC 60068-2-1:1990, Environmental testing−Part 2: Tests, Test A: Coldからの引用事項は,この規格
          の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)試験方法
    備考 IEC 60068-2-2:1974, Environmental testing−Part 2: Tests, Test B: Dry heatからの引用事項は,この
          規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-3 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
    備考 IEC 60068-2-3:1969, Environmental testing−Part 2: Tests, Test Ca: Damp heat, steady stateからの引
          用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
    備考 IEC 60068-2-6:1995, Environmental testing−Part 2: Tests, Test Fc: Vibration (sinusoidal)からの引用
          事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-7 環境試験方法−電気・電子−加速度(定常)試験方法
    備考 IEC 60068-2-7:1983, Environmental testing−Part 2: Tests, Test Ga: Acceleration, steady stateからの
          引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-11 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
    備考 IEC 60068-2-7:1981, Environmental testing−Part 2: Tests, Test Ka: Salt mistからの引用事項は,こ
          の規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-17 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
    備考 IEC 60068-2-17:1994, Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests, Test Q: Sealingからの引
          用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法
    備考 IEC 60068-2-20:1979, Environmental testing−Part 2: Tests, Test T: Solderingからの引用事項は,こ
          の規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−端子強度試験方法
    備考 IEC 60068-2-21:1999, Environmental testing−Part 2-21: Tests, Test U: Robustness of termination and
          integral mounting devicesからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
    備考 IEC 60068-2-27:1987, Environmental testing−Part 2-27: Tests, Test Ea and guidance: Shockからの引
          用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-32 環境試験方法−電気・電子−自然落下試験方法
    備考 IEC 60068-2-32:1975, Environmental testing−Part 2-32: Tests, Test Ed: Free fall (Procedure 1)からの
          引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS C 60068-2-38 環境試験方法(電気・電子)温湿度組合せ(サイクル)試験方法
    備考 IEC 60068-2-38:1974, Environmental testing−Part 2: Tests, Test Z/AD: Composite
          temperature/humidity cycle testからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS Z 8202-0 量及び単位−第0部: 一般原則
    JIS Z 8202-1 量及び単位−第1部: 空間及び時間
    JIS Z 8202-2 量及び単位−第2部: 周期現象及び関連現象
    JIS Z 8202-3 量及び単位−第3部: 力学

――――― [JIS C 6114-1 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                                  C 6114-1 : 2006
    JIS Z 8202-4 量及び単位−第4部: 熱
    JIS Z 8202-5 量及び単位−第5部: 電気及び磁気
    JIS Z 8202-6 量及び単位−第6部: 光及び関連する電磁放射
    JIS Z 8203 国際単位系(SI)及びその使い方

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,次による。
a) 絶対最大定格 (Absolute maximum rating) 瞬時でも超過してはならない限界値。いずれか一つの規格
    値も超えてはならない。
b) 保存温度 (Storage temperature, Tstg) 電圧及び入力光信号を加えないときの許容周囲温度。
c) 動作温度 (Operating temperature, Top) 規定の電圧及び入力光信号を加えたとき,動作が保証できる周
    囲温度(Ambient temperature,Top(a)),ケース温度(Case Temperature,Top(c))又はサブマウント温度
    (Submount temperature,Top(sub))。
d) 周囲温度 (Ambient temperature, Ta) 光変調器モジュールのおかれている雰囲気温度。
e) ケース温度 (Case temperature, Tc) ケース上の規定の部分での温度。
f)  サブマウント温度 (Submount temperature, Tsub) 光変調素子がおかれているサブマウント部の温度。
g) 動作電圧 (Operating voltage, VRop) 強度変調器においては,規定の消光比が得られる印加電圧。位相
    変調器においては,入力光信号に対し出力光信号の位相を180度変化させるのに必要な印加電圧。特
    に,最大消光比を得られ位相を180度変化させるときの印加電圧を,記号(Vπ)で表す。また,規定の
    動作が得られる変調時振幅電圧(VRmpp)。
h) 動作波長 (Operating wavelength, lop) 規定の電圧を加えたとき,動作が保証できる入力光の波長。
i)  挿入損失 (Insertion loss, Lin) 光入力端から光出力端までの間での光損失の増加分。通常,入力光パワ
    ーに対する出力光パワーの比をデシベル値で表した値で,次の式によって算出する。
                              Lin  10log10(Pout / Pin )
                      ここに, Lin :  挿入損失
                                Pout :  出力光パワー
                                 Pin :  入力光パワー
j)  光反射減衰量 (Optical return loss, ORL) 光入力端から光出力端までの光変調器モジュール内部及び入
    出力端面での反射による光損失増加分。通常,入力光パワーに対する光変調器モジュール内からの出
    力光パワーの比をデシベル値で表した値で,次式によって算出する。
                              PL   10log10(Pr / Pin )
                      ここに, RL :  反射減衰量 (dB)
                                 Pr :  出力光パワー (W)
                                 Pin :  入力光パワー (W)
k) 消光比 (Extinction ratio, ExR) 規定の動作条件における光信号出力の最大値と最小値の比。
l)  遮断周波数 (Cut-off frequency, fc) 規定動作点で正弦波の小信号を入力したときに得られる光信号出
    力の正弦波振幅が,低周波領域の十分に平たんな部分に対して,3 dB低下する周波数若しくは電気変
    換した振幅で6 dB低下する周波数。
m) 上昇時間 (tr),下降時間 (tf) 規定動作点でく(矩)形波の信号を入力したときに得られる光信号出力
    波形振幅の10 %から90 %まで増加するのに要する時間(上昇時間),及び90 %から10 %まで減少す
    るのに要する時間(下降時間)。

――――― [JIS C 6114-1 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6