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C 6114-1 : 2006
n) 周波数応答平たん(坦)度 (Frequency response flatness, ΔRD/RD) 規定の周波数範囲における周波数応
答特性の規定の値に対する相対変動幅。
o) 波長チャープ (Wavelength chirp, Δf) レーザから放射される光パルスがONからOFF又は,OFFから
ONへ変化する時間領域での光スペクトル線の変化量。通常Hzの単位で表す。
備考 必要に応じ,変化量をnmの単位で併記してもよい。
p) 偏波クロストーク (Polarization crosstalk, PCT) 直交する二つの偏波モードのパワー比。入射端で一方
の偏波モードの光を励振したとき,出射端での入力偏波モードのパワーをP1,これと直交するもう一
つの偏波モードのパワーをP2とすると,偏波クロストークは10 log(P2/P1)で表される。
q) 偏波依存性損失 (Polarization dependent loss, PDL) 入力光の偏波状態の変化に伴う損失の変動量。入
力光の偏波状態を変化させたとき,挿入損失の最も小さい値をLin1,最も大きい値をLin2とすると,偏
波依存性損失はLin2−Lin1で表される。
4. 個別規格
個々の光変調器モジュールの絶対最大定格,性能,外形などはこの規格の規定に従って個
別規格に規定するものとする。個別規格の様式は附属書1を推奨する。
5. 単位記号
この規格で用いる単位記号は,JIS Z 8202-0,JIS Z 8202-1,JIS Z 8202-2,JIS Z 8202-3,
JIS Z 8202-4,JIS Z 8202-5,JIS Z 8202-6,及び JIS Z 8203 による。
6. 分類
光変調器モジュールの分類は,表1による。
表 1 光変調器モジュールの分類
分類項目 種類
大項目 小項目
光変調器 種類 強度変調器,位相変調器など
結晶材料 インジウムりん,ガリウムひ素,インジウムアルミ
ニウムひ素,インジウムガリウムひ素りん,ニオブ
酸リチウムなど
構造 マッハツエンダ形,電界吸収形など
パッケージ構造 光ファイバピグテイル形など
適用光ファイバ 石英系シングルモード光ファイバ,石英系マルチモード
光ファイバ,偏波面保存光ファイバ
プラスチック光ファイバ(POF)など
7. 最大定格
光変調器モジュールの最大定格は,絶対最大定格とする。最大定格の規定項目は,表2に
よる。保存温度及び動作温度の規定値は,表3及び表4の値とする。個別規格における最大定格の規定は
表A.1を推奨する。
――――― [JIS C 6114-1 pdf 6] ―――――
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C 6114-1 : 2006
表 2 絶対最大定格
項目 記号 条件 絶対最大定格 単位
保存温度 Tstg ℃
動作温度 Top ℃
入力 Vinmax V
電気信号振幅
印加電圧 VRop V
(逆方向)(1)
印加電圧 VFop V
(順方向)(2)
入力光パワー(2) Pin 波長 dBm
はんだ付け温度 Tsld 時間 ℃
注(1) 周囲温度は,規定のない限り25 ℃とする。
(2) 必要があれば規定する。
備考 絶対最大定格の欄で,通常,保存及び動作温度の部分を記入する。
表 3 保存温度(Tstg)
単位 ℃
下限値 -10 -20 -30 -40 -50 -55 -60 -65
上限値 50 60 70 80 85 90 100 125
表 4 動作温度(Top)
単位 ℃
下限値 0 -10 -20 -25 -40
上限値 40 50 60 65 70 80 85 90 100
――――― [JIS C 6114-1 pdf 7] ―――――
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C 6114-1 : 2006
8. 性能
8.1 電気的特性及び光学的特性
光変調器モジュールの電気的及び光学的特性の規定項目は,表5によ
る。特性を測定する条件として与える入力光パワーは,表6の値を推奨する。個別規格の様式は附属書A
を推奨する。
表 5 電気的光学的特性
項目 記号 測定条件 最小値 標準値 最大値 単位
動作電圧 VRop V
動作波長 nm
挿入損失 Lin dB
消光比 ExR dB
偏波クロストーク(3) PCT dB
偏波依存性損失 PDL dB
遮断周波数 fc Hz
周波数応答平たん度 刀 一刀 dB
変調速度(4) fD bit/s
光反射減衰量 ORL dB
波長チャープ Hz
サーミスタ抵抗(5) R 圀
サーミスタB定数(5) B −
電子冷却素子電流(5) Ipe A
電子冷却素子電圧(6) Vpe V
冷却温度差(6) 攀 ℃
モニタ用フォトダイオー
Id nA
ド暗電流(7)
モニタ出力電流(7) Im
注(3) 出力ファイバが,偏波面保存光ファイバの場合に適用する。
(4) 強度変調器モジュールの場合に適用してもよい。
(5) 温度センサ内蔵形に適用する。
(6) 電子冷却素子内蔵形に適用する。
(7) モニタ用フォトダイオード内蔵形に適用する。
備考1. 周囲温度又はケース温度は,規定のない限り,25 ℃とする。
2. 最大値,標準値及び最小値の欄で下線の部分は通常記入する。
3. 各項目の測定方法は,別途規定しない限りJIS C 6114-2 による。
表 6 特性を規定する測定条件として与える入力光パワー
単位 ×10n W
入力光パワー 1 1.25 1.5 2 2.5 3 4 5 6 7 8 9
備考 nは,整数とする。
――――― [JIS C 6114-1 pdf 8] ―――――
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8.2 環境及び耐久性に対する性能
光変調器モジュールの環境条件に対する性能の規定項目は,表7に
よる。個別規格の様式及び合否判定基準については附属書Bを推奨する。
表 7 環境試験及び耐久性試験
項目 試験条件 適用(8) 抜取方式 引用規格
検査水準 AQL
はんだ耐熱性 温度 _ ℃± _ ℃ JIS C 60068-2-20
温度サイクル 低温 _ ℃ 高温 _ ℃ JIS C 0025
保持時間 _ min
移動時間 _ min 回数 _ 回
熱衝撃 高温 _ ℃ 保持時間 _ min JIS C 0025
低温 _ ℃ 保持時間 _ min
移動時間 _ s 回数 _ 回
温湿度サイクル 高温 _ ℃ 高温側相対湿度 _ % JIS C 60068-2-38
保持時間 _ min
低温 _ ℃ 低温側相対湿度 _ %
保持時間 _ min
移動時間 _ min 回数 _ 回
気密性(9) 加圧圧力 _ Pa JIS C 60068-2-17
加圧時間 _ h(必要がある場合)
自然落下(10) 高さ _ cm 回数 _ 回 JIS C 60068-2-32
衝撃(10) 方向 _最高加速度 _ m/s2 JIS C 60068-2-27
パルス幅 _ ms 回数 _ 回
定加速度 方向 _加速度 _ m/s2 JIS C 60068-2-7
パルス幅 _ ms 回数 _ 回
周波数 _Hz _ Hz
振動 全振幅 又は 加速度 _ JIS C 60068-2-6
方向 _ 時間 _ h
端子強度 荷重 _ N 回数 _ 回 JIS C 60068-2-21
塩水噴霧 時間 _ h JIS C 60068-2-11
高温保存 温度 _ ℃ 時間 _ h JIS C 60068-2-2
低温保存 温度 _ ℃ 時間 _ h JIS C 60068-2-1
動作寿命 ケース温度(又は周囲温度)_ ℃
定光出力動作 光出力 _ mW
時間 _ h
ピグテイル強度 引張力_ N
(11) 曲げ半径_ cm
耐湿性 温度 _ ℃ 相対湿度 _ % JIS C 60068-2-3
時間 _ h
注(8) 合否判定基準を適用する項目に○印を記入する。
(9) 気密構造形に適用する。
(10) 自然落下又は衝撃のいずれかを規定する。
(11) 光ファイバピグテイル形に適用する。
備考 試験条件の欄で下線の部分は,通常記入する。
――――― [JIS C 6114-1 pdf 9] ―――――
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C 6114-1 : 2006
9. 外形
外形は,個別規格の規定による。
10. 測定
光変調器モジュールの測定は,個別規格に規定がない限り,JIS C 6114-2による。
11. 表示
光変調器モジュールには,次の項目を表示しなければならない。ただし,個々の光変調器モジ
ュールに表示することが困難な場合は,包装に表示してもよい。
a) 形名(製造業者の指定による。)
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号又はそれらの略号
d) 静電気によって破壊するおそれがあり,取扱い上注意を必要とするデバイスであることを表示する記
号
e) その他必要な事項
12. 取扱上の注意事項
12.1 静電気による破壊に対する注意
静電気破壊のおそれのある光変調器モジュールに対しては,次の
事項に注意する。
a) 移送,保管及び放置の場合は,静電気導電材料,帯電防止処理材料などを用い,静電気の帯電を防止
する。
b) 測定は,静電気の発生しない場所で行う。相対湿度は50 %程度が望ましい。また,静電気の発生を防
ぐために,測定者,工具及び測定機器類の電位と被測定光変調器モジュールとを取り扱う場所を同電
位にすることが望ましい。
12.2 光出力端の汚れに対する注意
光変調器モジュールの入出力端は,汚れのないように注意する。汚
れた場合は, アルコールなどで汚れを取り除く。
――――― [JIS C 6114-1 pdf 10] ―――――
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JIS C 6114-1:2006の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62007-1:1999(MOD)
JIS C 6114-1:2006の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 6114-1:2006の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-11:1989
- 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC60068-2-32:1995
- 環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
- JISC60068-2-38:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-7:1993
- 環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
- JISC6114-2:2006
- 光変調器モジュール測定方法
- JISZ8202-0:2000
- 量及び単位―第0部:一般原則
- JISZ8202-1:2000
- 量及び単位―第1部:空間及び時間
- JISZ8202-2:2000
- 量及び単位―第2部:周期現象及び関連現象
- JISZ8202-3:2000
- 量及び単位―第3部:力学
- JISZ8202-4:2000
- 量及び単位―第4部:熱
- JISZ8202-5:2000
- 量及び単位―第5部:電気及び磁気
- JISZ8202-6:2000
- 量及び単位―第6部:光及び関連する電磁放射
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方