JIS C 61280-2-3:2013 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第２－３部：ジッタ及びワンダ測定 | ページ 7

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C 61280-2-3 : 2013 (IEC 61280-2-3 : 2009)
                                                                            基準
                                                                          クロック2
                                                                      基準
                                                                      タイミング
                       基準                テスト               テスト
                                                       被試験
               基準    タイミング デジタル シーケンス           シーケンス  ワンダ
                                                     ネットワーク
             クロック1           信号発生器             又は                受信器
                                                      被試験機器
                               図20−非同期信号のワンダ測定構成
12.2.2 機器設定
  箇条3で定義した様々なワンダパラメータを計算して推定する場合,TIEの連続情報は実際には得られ
ないため,TIEはサンプルパラメータとして扱う。
  TIEの最大のサンプリング時間τ0は,1/30秒とする。
  ワンダは,等価的に10 Hzの低域通過フィルタを通して測定し,次の特性をもつものとする。低域通過
フィルタは一次特性で,−20 dB/10倍の遮断特性をもつ。フィルタの−3 dB周波数は,10 Hzとする。
12.2.3 測定手順
  測定サンプルは,正常の動作条件で使用され,システムの利用者から観測できる入力及び出力を標準的
にもつ光ファイバ伝送システムの一構成要素でなければならない。被試験ネットワーク又は被試験機器と
しての測定機器のサンプルを,図19及び図20に示す。

13 ワンダTDEV耐力の測定

13.1 目的

  この試験の目的は,機器に入力されたときにエラー性能の低下を引き起こすワンダTDEV振幅の耐力を
測定することである。ワンダTDEV耐力は,振幅と適用されたワンダTDEVマスクの積分時間との関数で
ある。

13.2 使用する機器

  測定に必要な機器を,次に示す。
− 外部基準クロック源
− ワンダ発生器(TDEV)
− クロック発生器
− デジタル信号発生器
− デジタル信号受信器
  ワンダ受信器(TDEV)は,オプション機器とする。

13.3 基礎技術

  ワンダTDEV耐力測定のためのエラー発生の評価基準は,2エラー秒を超える累積総計を引き起こすワ
ンダTDEVマスクの最大振幅として定義する。ここでのエラー秒は,ワンダTDEV積分時間測定間隔の
12倍までの期間の合計とする。

13.4 機器の接続

――――― [JIS C 61280-2-3 pdf 31] ―――――

                                                                                             29
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13.4.0A 一般事項
  13.4.1及び13.4.2は,ITU-T Recommendation G.813に準拠したワンダTDEV耐力測定のための試験構成
を示す。
13.4.1 被試験機器の試験信号に対するワンダTDEV耐力測定
  被試験機器の試験信号に対するワンダTDEV耐力測定の測定構成を,図21に示す。発生したワンダTDEV
の振幅を確かめるために,オプションのワンダ受信器(TDEV)を使用する。
           外部基準
          クロック源
                                       基準タイミング
                                                      試験
                                                    シーケンス
           ワンダ
                          クロック        デジタル             被試験          デジタル
           発生器
          (TDEV)         発生器        信号発生器             機器          信号受信器
           雑音源
                                                   ワンダ受信器
                                                    (TDEV)
                                                  (オプション)
               図21−被試験機器の試験信号に対するワンダTDEV耐力測定の測定構成
13.4.2 被試験機器の基準タイミング信号に対するワンダTDEV耐力測定
  被試験機器の基準タイミング信号に対するワンダTDEV耐力測定の測定構成を,図22に示す。発生し
たワンダTDEVの振幅を確かめるためには,オプションのワンダ受信器(TDEV)を使用する。
                              ワンダ
                              発生器
                             (TDEV)
                             ノイズ源     ワンダ受信器
                                           (TDEV)
                                                                       基準タイミング
                                         (オプション)
                                                        試験
                                                      シーケンス
        外部基準             クロック        デジタル              被試験        デジタル
       クロック源             発生器        信号発生器              機器        信号受信器
                    基準
                  タイミング
          図22−被試験機器の基準タイミング信号に対するワンダTDEV耐力測定の測定構成

――――― [JIS C 61280-2-3 pdf 32] ―――――

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C 61280-2-3 : 2013 (IEC 61280-2-3 : 2009)

13.5 機器設定

  この手法は,測定間隔に対するTDEVの積分時間を設定し,満足できるエラー発生の評価基準となる試
験信号のワンダTDEV振幅を決定する。この手法に必要な条件を,次に示す。
a) ワンダTDEV振幅を変化させているときは,エラーのない動作が途絶えるため,測定しない。
b) ワンダTDEV振幅を少しずつ増加させながら,TDEV積分時間の12倍継続して,エラー秒を測定す
    る。
c) 累積で2エラー秒以下となる最大のワンダTDEVマスクを,決定する。

13.6 測定手順

  測定手順は,次による。
a) 機器を,図21又は図22に示すように接続する。適度に連続して,エラーのない動作をすることを確
    かめる。
b) ワンダTDEVの振幅を,0 nsに初期化設定する。
c) ワンダTDEV振幅を,個別規格に規定するTDEVマスクに設定する。
d)   DEV測定間隔の積分時間の12倍の間に起こるエラー秒数を記録する。測定前に,エラーのない状態
    であることを確認する。
e) エラー発生基準を超えるまで,ワンダTDEV振幅を細かく増加させ,d) を繰り返す。
f)  表示されたワンダTDEVを記録し,ワンダTDEV耐力曲線を描く。

14 ワンダTDEV伝達の測定

14.1 使用する機器

  測定に必要な機器を,次に示す。
− 外部基準クロック源
− ワンダ発生器(TDEV)
− クロック発生器
− デジタル信号発生器
− ワンダ受信器(TDEV)

14.2 機器の接続

14.2.0A 一般事項
  14.2.1及び14.2.2は,ITU-T Recommendation G.813に準拠したワンダTDEV伝達測定のための測定構成
を示す。
14.2.1 被試験機器の試験信号に対するワンダTDEV伝達測定
  被試験機器の試験信号に対するワンダTDEV伝達測定の測定構成を,図23に示す。

――――― [JIS C 61280-2-3 pdf 33] ―――――

                                                                                             31
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       外部基準
      クロック源
                                    基準タイミング
                                                  試験
                                                シーケンス
       ワンダ                                                                      ワンダ
                       クロック        デジタル             被試験
       発生器                                                                      受信器
      (TDEV)          発生器        信号発生器             機器
                                                                                  (TDEV)
        雑音源                                               校正用
                                                           う(迂)回
               図23−被試験機器の試験信号に対するワンダTDEV伝達測定の測定構成
14.2.2 被試験機器の基準タイミング信号に対するワンダTDEV伝達測定
  被試験機器の基準タイミング信号に対するワンダTDEV伝達測定の構成を,図24に示す。
                              ワンダ
                              発生器                                      校正用
                             (TDEV)                                   う(迂)回
                             ノイズ源
                                                                       タイミング
                                                                       リファレンス
                                                      試験
                                                      シーケンス
        外部基準             クロック        デジタル              被試験      ワンダ受信器
       クロック源             発生器        信号発生器              機器        (TDEV)
                    基準
                  タイミング
            図24−被試験機器の基準タイミング信号に対するワンダTDEV伝達測定の構成

14.3 機器設定

  規定の積分時間範囲にわたって,適度なワンダ振幅を設定する。ワンダ振幅は,十分な測定精度を保証
するために十分大きくし,かつ,線形動作を保つように設定するのがよい。

14.4 測定手順

  測定手順は,次による。
a) 被試験機器のワンダTDEV耐力測定は,TDEV測定間隔の積分時間の12倍よりも長く行う。
b) 機器を,図23又は図24に示すように,被試験機器をう(迂)回して接続する。適度に連続して,線
    形動作及びエラーのない動作をすることを確かめる。
c) 特定の積分時間範囲よりも長く,特定のワンダTDEVマスクを設定する。

――――― [JIS C 61280-2-3 pdf 34] ―――――

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C 61280-2-3 : 2013 (IEC 61280-2-3 : 2009)
d) 必要とするTDEVマスクを加えた状態でワンダTDEVを測定し,測定したTDEVの結果と,試験に用
    いる機器の基準トレースとして理想的な加算TDEVマスクであるリファレンスTDEVマスクとの間の
    差分を記録する。
e) 被試験機器を,図23又は図24に示すように再接続する。適度に連続して,エラーのない動作をする
    ことを確認する。
f)  d) と同じように,必要とするTDEVマスクを加算した状態で,ワンダTDEVを測定する。ワンダTDEV
    の結果を,被試験機器のワンダTDEV伝達関数として記録する。
g) 被試験機器のワンダTDEV伝達関数の振幅を得るために,全体のワンダTDEV測定結果からリファレ
    ンストレース[d)]を差し引く。

15 試験結果

15.1 必須情報

  各試験に対して,次の情報を,報告書に記載する。
− 被試験機器の識別情報
− 実施した全試験名称
− 使用した試験方法の識別情報
− 使用した試験手順の識別情報
− 動作条件の記載
− 環境条件の記載
− 試験結果
− 試験日時

15.2 有益な情報

  次の情報も,有益な情報であり,報告書に記載することが望ましい。
− 試験に用いた機器の識別情報
− 電気パッチコードの識別情報
− 光パッチコードの識別情報及び特性の詳細
− 測定の不確かさの記載
− 試験に用いた機器の校正の詳細
− 試験者の名前
参考文献
[1] P. Bylinski and D. G. W. Ingram: Digital transmission Systems 2nd Edition
[2] W. R. Bennet: Bell System Technical Journal 1958, 37
[3] C. J. Byrne, B. J. Karafin and D. B. Robinson Jr.: Systematic jitter in a chain of digital regenerators, Bell
    System Technical Journal 1963, 42
[4] IEC/TR 61931,Fibre optic−Terminology