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3) 光パワーメータ 測定時間内で安定度が保証された光パワーメータ。
b) 可変光減衰器の試験 試験は,次の手順で行う。
1) 図1の試験系で基準光減衰器の減衰量設定値をY=Y0 (dB) とする。また,被試験器の減衰量設定値
をX=0 (dB) に設定したときの光パワーメータの指示値をP0 (dBm) とする。
2) 被試験器の減衰量設定値をX=a (dB) に設定する。このときの光パワーメータの指示値がP0 (dBm)
になるように基準光減衰器の減衰量設定値をY=Ya (dB) に調整する。減衰量確度 次の式によ
って算出する。
a−|Ya−Y0| (4)
3) 測定を10回以上(m回)繰り返す。
4) 減衰量について被試験器の固有誤差 攀 %) は,次の式によって算出する。
2 2
cx= sx ct (5)
攀 基準光減衰器の固有誤差 (%)
攀 固有誤差試験時の測定値のばらつきの標準偏差 (%)
ただし,
m
2
xi x
1
ct= i 1
100 (6)
x m 1
ここに, m : 測定回数
槿 測定値
ix
10 10
x : m回の繰り返し測定によって得られる 獗
m
1 ix
x=
m i 1
ここで,基準光減衰器は標準試験状態において十分に校正され,部分誤差は無視できるとした。
c) 固定減衰器の試験 試験は,次の手順で行う。
1) 図2a)の試験系で基準光減衰器の減衰量設定値をY=Yo (dB) に設定する。このときの光パワーメー
タの指示値をP0 (dBm) とする。
2) 図2b)の試験系で被試験器を接続し,光パワーメータの指示値がP0 (dBm) になるように基準光減衰
器の減衰量設定値をY=Ya (dB) に調整する。被試験器に表示されている公称減衰量をb (dB) とす
る。減衰量確度 次の式によって算出する。
b−|Ya−Yo| (7)
3) 測定を10回以上(m回)繰り返す。
4) 固有誤差 攀 6.2のb)の4)によって算出する。
6.3 個別誤差試験
6.3.1 波長依存特性
波長依存特性の試験系は,図1による。
備考 図1の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試
験ができるので,図1の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。
a) 装置 装置は,次による。
1) 光源 スペクトル半値幅が被試験器に定められている値よりも十分に狭く,波長安定度が十分高く,
――――― [JIS C 6188 pdf 6] ―――――
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かつ,被試験器の減衰量範囲内で必要なパワーが安定して得られる可変波長光源(複数台になって
もよい)。
2) 励振器 6.2のa)の2)による。
3) 光パワーメータ 試験波長範囲で波長依存特性がない,又は波長依存特性が既知の光パワーメータ。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
備考 この測定の注意事項は6.2の備考1.及び備考2.による。
1) 被試験器の減衰量設定値をX=a (dB) に設定し,(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験
系に挿入する。)基準光減衰器の減衰量設定値をY=Y0 (dB) に設定したときの光パワーメータの指
示値をP0 (dBm) とする。
2) 被試験器を通過する出射光の波長を可変波長光源,又は複数の光源によって可変し,そのときの光
パワーメータの指示値がP0 (dBm) になるように基準光減衰器で調整する。そのときの基準光減衰
器の減衰量設定値の最大値R1 (dB) と最小値R2 (dB) を記録する。試験は使用波長の上限及び下限
を含めた5点以上の波長で行う。
3) 誤差の上限及び下限は,式(8)及び式(9)によって算出する。
R2
tui=
Y0
100 (8)
Y0
R1
tli=
Y0
100 (9)
Y0
ここに, 攀 槿 誤差の上限 (%)
攀 槿 誤差の下限 (%)
R1′= 10R1 / 10
R2′= 10R2 / 10
Y0′= 10Y0 /10
6.3.2 偏光依存特性
偏光依存特性の試験系は,図3による。
備考 図3の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試
験ができるので,図3の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。
図3 偏光依存特性の試験系
a) 装置 装置は,次による。
1) 光源 6.2のa)の1)による。
2) 励振器 6.2のa)の2)による。
3) 偏光コントローラ 偏光子及び波長板を備えていて,被試験器への入力光の偏波面を全偏光状態に
制御できるファイバ出力をもつもの。
4) 光パワーメータ 偏光依存特性のない光検出器をもつもの。
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b) 試験 試験は,次の手順で行う。
備考1. この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
2. 偏波消光比の大きい光源を使用する場合は,事前に偏光コントローラを光パワーメータに接
続し,偏光コントローラからの光出力が最大になるように偏光子を調整しておくことが望ま
しい。
1) 試験器の減衰量設定値をX=a (dB) に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験系
に挿入する。),基準光減衰器の減衰量設定値をY=Y0 (dB) に設定したときの光パワーメータの指示
値をP0 (dBm) とする。
2) 偏光コントローラの1/4波長板及び1/2波長板を調整し,被試験器を通過した出射光の光パワーメ
ータ指示値をP0 (dBm) になるように基準光減衰器で調整する。そのときの基準光減衰器の減衰量
設定値の最大値R1 (dB) と最小値R2 (dB) を記録する。
3) 誤差の上限及び下限は,式(10)及び式(11)によって算出する。
R2
tui=
Y0
100 (10)
Y0
R1
tli=
Y0
100 (11)
Y0
ここに, 攀 槿 誤差の上限 (%)
攀 槿 誤差の下限 (%)
R1′= 10R1 /10
R2′= 10R2 / 10
Y0′= 10Y0 /10
6.3.3 温度依存特性
図4に温度依存特性の試験系を示す。
備考 図4の試験系では被試験器が可変減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試験
ができるので,図4の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。
図4 温度依存特性試験の試験系
a) 装置 装置は,次による。
1) 光源 6.2のa)の1)による。
2) 励振器 6.2のa)の2)による。
3) 恒温槽 被試験器に影響を与えない温度分布の小さいもの。
4) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
備考 この測定の注意事項は6.2の備考1.及び備考2.による。
1) 被試験器の減衰量設定値をX=a (dB) に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験
――――― [JIS C 6188 pdf 8] ―――――
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系に挿入する。),基準光減衰器の減衰量設定値をY=Y0 (dB) に設定したときの光パワーメータの指
示値をP0 (dBm) とする。
2) 恒温槽内の温度を被試験器に指定の使用温度範囲に下限及び上限を含めた5点以上の試験温度Ta
に変化させ,光パワーメータの指示値がP0 (dBm) になるように基準光減衰器で調整する。そのと
きの基準光減衰器の減衰量設定値の最大値R1 (dB) と最小値R2 (dB) を記録する。
3) 誤差の上限及び下限は,式(12)及び式(13)によって算出する。
R2
tui=
Y0
100 (12)
Y0
R1
tli=
Y0
100 (13)
Y0
ここに, 攀 槿 誤差の上限 (%)
攀 槿 誤差の下限 (%)
R1′= 10R1 /10
R2′= 10R2 / 10
Y0′= 10Y0 /10
6.3.4 直線性
図5に直線性の試験系を示す。
備考 固定光減衰器についてはこの試験項目は適用しない。
図5 直線性試験の試験系
a) 装置 装置は,次による。
1) 光源 6.2のa)の1)による。
2) 励振器 6.2のa)の2)による。
3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
1) 被試験器の減衰量設定をX=0 (dB) に設定する。基準光減衰器の減衰量設定値をY=Y0 (dB) に設定
したときの光パワーメータの指示値をP0 (dBm) とする。
2) 被試験器の減衰量Xを可変範囲の下限及び上限を含めた5点以上変化させ,光パワーメータの指示
値がP0 (dBm) になるように基準光減衰器の減衰量Yを調整する。そのとき,X+Yの値の最大値R1
(dB) と最小値R2 (dB) を記録する。
3) 誤差の上限及び下限は,式(14)及び式(15)によって算出する。
R2
tui=
Y0
100 (14)
Y0
R1
tli=
Y0
100 (15)
Y0
ここに, 攀 槿 誤差の上限 (%)
攀 槿 誤差の下限 (%)
R1′= 10R1 /10
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R2′= 10R2 / 10
Y0′= 10Y0 /10
7. 光パワーメータを用いる減衰量確度試験
7.1 減衰量確度試験の概要
光パワーメータを用いる試験方法での,減衰量確度を決める誤差要因は被
試験器の固有誤差並びに個別誤差試験での波長依存特性,偏光依存特性,温度依存特性及び直線性による
部分誤差からなり,確度の算出方法は5.2による。
7.2 固有誤差試験
図6に可変光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は,標準試
験条件で行う。
備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
図6 可変光減衰器の固有誤差試験の試験系
図7a),b)に固定光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は,標準試験条件で行う。
図7a) 固定光減衰器の固有誤差試験の試験系
図7b) 固定光減衰器の固有誤差試験の試験系
a) 装置 装置は,次による。
1) 光源 6.2のa)の1)による。
2) 励振器 6.2のa)の2)による。
3) 光パワーメータ 国の標準器によって校正されたもの,又は校正業務を行う公的機関で校正された
もの。
b) 可変光減衰器の試験 試験は,次の手順で行う。
1) 図6の試験系で被試験器の減衰量設定値をX=0 (dB) とする。そのときの光パワーメータの指示値
をP0 (dBm) とする。
2) 被試験器の減衰量設定値をX=a (dB) にしたときの光パワーメータの指示値をPa (dBm) とする。減
衰量確度 次の式によって算出する。
a−|P0−Pa| (16)
3) 測定を10回以上(m回)繰り返す。
4) 減衰量について被試験器の固有誤差 攀 6.2のb)の4)によって算出する。
c) 固定光減衰器の試験 試験は,次の手順で行う。
――――― [JIS C 6188 pdf 10] ―――――
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JIS C 6188:1999の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.99 : その他の光ファイバ設備
JIS C 6188:1999の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1002:1975
- 電子測定器用語
- JISC6182:1991
- レーザビーム用光パワーメータ試験方法
- JISC6183:1992
- 光スペクトラムアナライザ試験方法
- JISC6832:2019
- 石英系マルチモード光ファイバ素線
- JISC6835:2017
- 石英系シングルモード光ファイバ素線
- JISZ8103:2019
- 計測用語
- JISZ8120:2001
- 光学用語