JIS C 6188:1999 測定用光減衰器試験方法 | ページ 3

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                                                                                   C 6188 : 1999
  1) 図7a)の試験系で励振器からの出射光を光パワーメータで測定し,指示値をP0 (dBm) とする。
  2) 図7b)の試験系で被試験器からの出射光を光パワーメータで測定し,指示値をPa (dBm) とする。
        被試験器に表示されている公称減衰量をb (dB) とする。減衰量確度         次の式によって算出す
      る。
                                b−|Pa−P0|  (17)
  3) 測定を10回以上(m回)繰り返す。
  4) 固有誤差    攀          6.2のb)の4)によって算出する。

7.3 個別誤差試験

7.3.1 波長依存特性

 波長依存特性の試験系は,図6による。
    備考 図6の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試
          験ができるので,図6の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。
a) 装置 装置は,次による。
  1) 光源 6.3.1のa)の1)による。
  2) 励振器 6.2のa)の2)による。
  3) 光パワーメータ 6.3.1のa)の3)による。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
    備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
  1) 被試験器の減衰量設定値をX=a (dB) に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験
      系に挿入する。),このときの光パワーメータの指示値P0 (dBm) を測定する。
  2) 被試験器を通過する出射光の波長を可変波長光源,又は複数の光源によって可変し,出射光を光パ
      ワーメータで測定する。そのときの光パワーメータの指示値の最大値R1 (dBm) と最小値R2 (dBm)
      を記録する。試験は使用波長の上限及び下限を含めた5点以上の波長で行う。
  3) 誤差の上限及び下限は,式(18)及び式(19)によって算出する。
                             R2
                         tui=
                                 P0
                                     100  (18)
                               P0
                            R1
                         tli=
                                 P0
                                    100  (19)
                               P0
                      ここに,       攀     槿   誤差の上限 (%)
                                     攀     槿    誤差の下限 (%)
                                   R1′=   10R1 /10
                                   R2′=   10R2 / 10
                                   P0′=   10P0 /10

7.3.2 偏光依存特性

 偏光依存特性の試験系は,図8による。
    備考 図8の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試
          験ができるので,図8の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

――――― [JIS C 6188 pdf 11] ―――――

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C 6188 : 1999
                                   図8 偏光依存特性の試験系
a) 装置 装置は,次による。
  1) 光源 6.2のa)の1)による。
  2) 励振器 6.2のa)の2)による。
  3) 偏光コントローラ 6.3.2のa)の3)による。
  4) 光パワーメータ 6.3.2のa)の4)による。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
    備考1. この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
         2. 偏波消光比の大きい光源を使用する場合は,事前に偏光コントローラを光パワーメータに接
            続し,偏光コントローラからの光出力が最大になるように偏光子を調整しておくことが望ま
            しい。
  1) 試験器の減衰量設定値をX=a (dB) に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま試験系
      に挿入する。),このときの光パワーメータの指示値P0 (dBm) を測定する。
  2) 偏光コントローラの1/4波長板及び1/2波長板を調整し,被試験器を通過した出射光を光パワーメ
      ータで測定する。そのときの光パワーメータの指示値の最大値R1 (dBm) 及び最小値R2 (dBm) を記
      録する。
  3) 誤差の上限及び下限は,式(20)及び式(21)によって算出する。
                             R2
                         tui=
                                 P0
                                     100  (20)
                               P0
                            R1
                         tli=
                                 P0
                                    100  (21)
                               P0
                      ここに,       攀     槿   誤差の上限 (%)
                                     攀     槿    誤差の下限 (%)
                                   R1′=   10R1 /10
                                   R2′=   10R2 / 10
                                   P0′=   10P0 /10

7.3.3 温度依存特性

 図9に温度依存特性の試験系を示す。
    備考 図9の試験系では被試験器が可変光減衰器で表されているが,固定光減衰器もこの試験系で試
          験ができるので,図9の可変光減衰器の図記号は固定光減衰器も表す。

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                                 図9 温度依存特性試験の試験系
a) 装置 装置は,次による。
  1) 光源 6.2のa)の1)による。
  2) 励振器 6.2のa)の2)による。
  3) 恒温槽 6.3.3のa)の3)による。
  4) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
    備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
  1) 被試験器の減衰量設定値をX=a (dB) に設定し(被試験器が固定光減衰器の場合は,そのまま),試
      験系に挿入する。このときの光パワーメータの指示値P0 (dBm) を測定する。
  2) 恒温槽内の温度を被試験器に指定の使用温度範囲の下限及び上限を含めた5点以上の試験温度に変
      化させ,被試験器を通過した出射光を光パワーメータの指示値の最大値R1 (dBm) 及び最小値R2
      (dBm) を記録する。
  3) 誤差の上限及び下限は,式(22)及び式(23)によって算出する。
                             R2
                         tui=
                                 P0
                                     100  (22)
                               P0
                            R1
                         tli=
                                 P0
                                    100  (23)
                               P0
                      ここに,      攀     槿   誤差の上限 (%)
                                    攀     槿    誤差の下限 (%)
                                  R1′=   10R1 /10
                                  R2′=   10R2 / 10
                                  P0′=   10P0 /10

7.3.4 直線性

 図10に直線性の試験系を示す。
    備考 この試験項目は,固定光減衰器に対しては適用しない。
                                   図10 直線性試験の試験系
a) 装置 装置は,次による。
  1) 光源 6.2のa)の1)による。
  2) 励振器 6.2のa)の2)による。

――――― [JIS C 6188 pdf 13] ―――――

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  3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
    備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
  1) 被試験器の減衰量設定値をX=0 (dB) に設定し,そのときの光パワーメータの指示値P=P0 (dBm)
      を測定する。
  2) 被試験減衰器の減衰量Xを可変範囲の下限及び上限を含めた5点以上変化させ,被試験器を通過し
      た出射光パワーP (dBm) を光パワーメータで測定する。そのときのX+Pの値の最大値R1 (dBm) と
      最小値R2 (dBm) を記録する。
  3) 誤差の上限及び下限は,式(24)及び式(25)によって算出する。
                             R2
                         tui=
                                 P0
                                     100  (24)
                               P0
                            R1
                         tli=
                                 P0
                                    100  (25)
                               P0
                      ここに,      攀     槿   誤差の上限 (%)
                                    攀     槿    誤差の下限 (%)
                                  R1′=   10R1 /10
                                  R2′=   10R2 / 10
                                  P0′=   10P0 /10

8. その他の性能試験

8.1 残留減衰量試験

 この試験は測定用可変光減衰器に対して行う。減衰量設定を0dBとしたときの損
失試験である。
a) 装置 装置は,次による。
  1) 光源 6.2のa)の1)による。
  2) 励振器 6.2のa)の2)による。
  3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
  1) 図11のように測定系を構成し,基準光パワーP0 (dBm) を測定する。
                                  図11 基準光パワーの測定系
    備考 この測定の注意事項は,6.2の備考1.及び備考2.による。
  2) 図12に示したように,減衰量設定値を0dBとした状態の被試験器を挿入し,光パワーP1 (dBm) を
      測定する。

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                                    図12 残留減衰量の測定
  3) 残留減衰量は,次の式によって算出する。
                        IL=P0−P1 (dB)       (26)
                      ここに, IL :  残留減衰量

8.2 アイソレーション試験

 この試験は測定用可変光減衰器に対して行う。減衰量設定を最大としたと
きの損失試験である。
a) 装置 装置は,次による。
  1) 光源 6.2のa)の1)による。
  2) 励振器 6.2のa)の2)による。
  3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)によるもののほか,そのダイナミックレンジが被試験器のアイソレ
      ーションに対し,十分に余裕があるもの。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
  1) 図13のように,測定系を構成する。被試験器の減衰量設定値を0dBにしたときの光パワーメータ
      の指示値をP0 (dBm) とする。
                                 図13 アイソレーションの測定
  2) 被試験器の減衰量設定値を最大にしたときの光パワーメータの指示値P∞ (dBm) とする。
  3) アイソレーションは,次の式によって算出する。
                        I=P0−P∞ (dB)       (27)
                      ここに, I :  アイソレーション

8.3 反射減衰量試験

 この試験は,測定用可変光減衰器及び固定光減衰器に対して行う。
a) 装置 装置は,次による。
  1) 光源 6.2のa)の1)による。
  2) 励振器 6.2のa)の2)による。
  3) 光パワーメータ 6.2のa)の3)による。
  4) 光方向性結合器 入射端から共通端及び共通端から出射端へは信号を伝達し,入射端と出射端との
      間は信号を分離する機能をもち,入射端と出射端とのアイソレーションが被試験器の反射減衰量に
      対し,十分に余裕があるものとする。被試験器の反射減衰量に対して十分な余裕がない場合は,光
      方向性結合器のアイソレーションを試験成績書に明示する。
b) 試験 試験は,次の手順で行う。
  1) 図14のように測定系を構成し,全反射光パワーP0 (dBm) を測定する。

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