JIS C 6575-2:2016 ミニチュアヒューズ―第2部:管形ヒューズリンク | ページ 2

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C 6575-2 : 2016
1) 高遮断容量ヒューズリンク 必要なヒューズリンクの数は51個,そのうち18個は予備。
2) 低遮断容量ヒューズリンク 必要なヒューズリンクの数は39個,そのうち18個は予備。
3) 中遮断容量ヒューズリンク
・ 消弧剤を用いている場合 必要なヒューズリンクの数は45個,そのうち18個は予備。
・ 消弧剤を用いていない場合 必要なヒューズリンクの数は39個,そのうち18個は予備。
注記 低遮断容量ヒューズリンク及び消弧剤を用いない中遮断容量ヒューズリンクは,定格遮断容
量だけ遮断試験を行い,500 A及び定格電流の5倍での遮断試験は行わない。ヒューズリン
ク番号2839の12個のヒューズリンクは不要となる。消弧剤を用いる中遮断容量ヒューズ
リンクでは,定格遮断容量及び定格電流の5倍での試験を行い,500 Aでの遮断試験は行わ
ないので,ヒューズリンク番号2833の6個のヒューズリンクは不要となる(表3A参照)。
同形シリーズの最小定格電流を試験する場合は,ヒューズリンクは,表3Bに示す試験手順に従っ
て試験を行う。この場合に必要なヒューズリンクの数は27個で,このうち6個は予備である。

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表1−個々の定格電流に対する試験手順
項目番号 内容 ヒューズリンク番号
1 7 8 12 16 19 22 23 28 31 34 35 40 43 46
9 10 14 24 25 36 37
6 11 13 15 18 21 26 27 30 33 38 39 42 45 48
9.4 a) 耐久試験 ×
9.2.2 a) 常温より高い温度での試験b) ×
9.2.1 a) 常温における 10IN ×
時間−電流特性 4IN ×
2.75IN ×
2.0IN又は2.1IN ×
9.3 遮断容量試験 ×
定格遮断容量
定格の5倍の電流 ×
定格の10倍の電流 ×
定格の50倍の電流 ×
定格の250倍の電流 ×
8.3 端子(キャップ試験) × × × ×
8.5 a) はんだ接合部 × × × × × ×
6.2 a) 表示の読みやすさ及び消えにくさ × × × ×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) これらの事項は,JIS C 6575-1に規定されている。
b) スタンダードシートで指示がある場合だけ適用する。
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表2−同形シリーズの最大定格電流に対する試験手順
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項目番号 内容 電圧降下の大きい順に付けたヒューズリンク番号
5-
2
1 7 10 13 18 28 31 34 37 40 43 46
: 2
016
6 9 12 17 27 30 33 36 39 42 45 48
9.4 a) 耐久試験 ×
9.2.2 a) 常温より高い温度での試験b) ×
9.2.1 a) 常温における 10IN ×
時間−電流特性 4IN ×
2.75IN ×
2.0IN又は2.1IN ×
9.3 定格遮断容量 ×
8.3 端子(キャップ試験) × × × ×
8.5 a) はんだ接合部 × × × × × ×
6.2 a) 表示の読みやすさ及び消えにくさ × × × ×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) これらの事項は,JIS C 6575-1に規定されている。
b) スタンダードシートで指示がある場合だけ適用する。
表3−同形シリーズの最小定格電流に対する試験手順
項目番号 内容 電圧降下の大きい順に付けた
ヒューズリンク番号
1 7 10 13 18 28 31
6 9 12 17 27 30 33
9.4 a) 耐久試験 ×
9.2.1 a) 常温における 10IN ×
時間−電流特性 2.0IN又は2.1IN ×
9.3 定格遮断容量 ×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) これらの事項は,JIS C 6575-1に規定されている。

――――― [JIS C 6575-2 pdf 8] ―――――

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表3A−試験手順(スタンダードシートJ1のヒューズリンクに適用)
項目 内容 ヒューズリンク番号
番号 1 7 10 16 22 28 34 40 43 46 49
6 9 15 21 27 33 39 42 45 48 51
9.7 温度上昇試験 ×
9.4 a) 耐久試験 ×
9.2.1 a)溶断 A種 1.1IN ×
特性 B種 1.3IN
特殊溶断 IN
A種 1.35IN ×
B種 1.6IN
A種,B種 2IN ×
特殊溶断 最小溶断電流
9.3 遮断 定格遮断容量 ×
試験 500 A b) ×
5IN c) ×
9.3.3 絶縁抵抗 × × × × × ×
8.3 キャップ接合強度 × × ×
8.5 a) はんだ接合部 × × × ×
6.2 a) 表示の読みやすさ及び消えにくさ× × × × × × ×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) これらの事項は,JIS C 6575-1に規定されている。
b) 500 Aでの遮断試験は,高遮断容量ヒューズリンクだけ実施し,再試験は認めない。
c) 定格電流の5倍での遮断試験は,高遮断容量ヒューズリンク及び消弧剤を用いた中遮断容量ヒューズリン
クだけ実施し,再試験は認めない。
表3B−同形シリーズの最小定格電流に対する試験手順
(スタンダードシートJ1のヒューズリンクに適用)
項目 内容 ヒューズリンク番号
番号 1 7 10 19 22 25
6 9 18 21 24 27
9.4 a) 耐久試験 ×
9.2.1 a)溶断 A種 1.1IN ×
特性 B種 1.3IN
特殊溶断 IN
A種 1.35IN ×
B種 1.6IN
A種,B種 2IN ×
特殊溶断 最小溶断電流
8.3 キャップ接合強度 × × ×
8.5 a) はんだ接合部 × × × ×
6.2 a) 表示の読みやすさ及び消えにくさ × × × ×
記号“×”は,当該試験を実施することを示す。
注a) これらの事項は,JIS C 6575-1に規定されている。

――――― [JIS C 6575-2 pdf 9] ―――――

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7.2.2 追加(“ある試験を再度行う場合には,”で始まる段落の後に,次を追加する。)
スタンダードシートJ1に規定するヒューズリンクでは,電圧降下の大きいものから順次一連番号を付け
る必要はない。
7.3 試験用ヒューズベース 置換(7.3全て)
試験用ヒューズベースは,次による。
a) スタンダードシート1スタンダードシート10に規定するヒューズリンク ヒューズリンク取付けの
ためのヒューズベースを必要とする試験においては,図1図3に示すベースを適宜用いる。
それぞれの接点とゲージ(試験するヒューズリンクと同一の公称寸法及び形状であって,銀めっき
黄銅製丸棒のもの)との間の接触抵抗は,次の条件で測定し,3 m 坎 下でなければならない。
1) 接点の薄い絶縁層を破壊しないために,その回路の起電力は,20 mV(直流又は交流ピーク値)以
下とする。
2) 接点の加熱を防ぐために,通電電流は,1 A以下とする。
スプリング及び接続部を除くヒューズベースの金属部分は,黄銅製でなければならない。ヒューズ
ベースの金属部分及び接触抵抗測定用のゲージの黄銅中の銅の含有率は,5870 %とし,接点部分は,
銀めっきをしなければならない。
定格電流6.3 A以下のヒューズリンクの場合,図1に示すヒューズベースを用いる。接触圧は,4
6 Nとする。フレキシブルリード線及び端子線は断面積1 mm2の銅線であって,各端子線の長さは約
500 mmとする。
定格電流6.3 Aを超えるヒューズリンクの場合,図2に示すヒューズベースを用いる。接触圧は,8
12 Nとする。フレキシブルリード線及び端子線は断面積6 mm2の銅線であって,各端子線の長さは
約500 mmとする。
遮断容量の試験には,図3によるヒューズベースを用いる。このとき,図2に示すベースと同じ接
触圧をもち,かつ,導体は同一の断面積をもたなければならない。
b) スタンダードシートJ1に規定するヒューズリンク ヒューズリンク取付けのためのヒューズベース
を必要とする試験においては,図3A図3Cに示すヒューズベースを適宜用いる。リード線をもつヒ
ューズリンクの試験には,図3Bに示すヒューズベースを用いる。リード線をもたないヒューズリン
クでは,遮断試験に図3Cに示すヒューズベースを用い,その他の試験に図3Aに示すヒューズベース
を用いる。
スプリング及び図3Cでりん青銅と規定しているクリップを除き,ヒューズベースの金属部分は黄
銅製とする。ヒューズベースの黄銅中の銅の含有率は,5870 %とし,接点部分には銀めっきをしな
ければならない。
フレキシブルリード線は,断面積8 mm2の銅線とする。端子線は,定格電流10 A以下のヒューズリ
ンクを試験する場合には断面積2 mm2の銅線とし,定格電流10 Aを超えるヒューズリンクを試験する
場合には断面積8 mm2の銅線とする。各端子線の長さは,約1 mとする。
2個以上のヒューズリンクを直列に試験する場合には,試験するそれぞれのヒューズリンクの間が
150 mm以上離れるようにヒューズベースを配置する。

――――― [JIS C 6575-2 pdf 10] ―――――

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JIS C 6575-2:2016の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60127-2:2014(MOD)

JIS C 6575-2:2016の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 6575-2:2016の関連規格と引用規格一覧