JIS C 6822:2009 光ファイバ構造パラメータ試験方法―寸法特性 | ページ 7

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C 6822 : 2009
附属書F
(規定)
測定方法2-B 機械的外径測定法

序文

  この測定方法は,一次被覆及び二次被覆の外径並びに被覆非円率を決定する機械的外径測定法である。
試料の両端を平たんで平行な面に接触させ,その面の間隔を測定する。
F.1 装置
装置は,測定方法1-D(機械的外径測定法)と同じものを使用する(D.1参照)。
F.2 試料
試料は,D.2による。
F.3 手順
手順は,D.3による。
F.4 計算
被覆外径として,一次被覆又は二次被覆のそれぞれの測定値の平均外径を記録する。被覆非円率 (%) は,
それぞれの外径の最大値と最小値との差を平均外径で徐し,100を乗じることで算出する。
F.5 結果
7.7に示すほか,要求があれば次の事項を記録する。
− 補正係数(補正した場合)

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附属書G
(規定)
測定方法3-A 遅延時間測定法
G.1 概要
この測定方法は,光ファイバ単体又はケーブル化した光ファイバの長さを測定するために使用する。試
料がケーブル内の光ファイバの場合には,被測定試料に適用可能な条件(例えば,張力,温度)の下で群
屈折率Nの値を定める。これは式 (G.1) を反転させ,既知の長さの試料を測定することで求めることがで
きる。
G.2 原理
長さがLで平均群屈折率がNの光ファイバの中を伝搬する光パルスの伝搬/遅延時間 式 (G.1) に
よって求める。
NL
Δt (G.1)
c
ここに, 遅延時間 (s)
N : 平均群屈折率
L : 長さ (m)
c : 真空中での光速 (m/s)
Nが既知であれば, 定することで,Lが求められる。逆に,Lが既知であれば, 定するこ
とでNが求められる。
G.3 装置
G.3.1 二つの測定手法
光パルスの伝搬時間の測定には,次の二つの測定手法がある。
− 伝送パルスの時間測定( 定)
− 反射パルスの時間測定(2 定)
二つの測定手法に対応して,オシロスコープの配置方法も異なる(図G.1及び図G.2参照)。オシロスコ
ープの代わりに,後方散乱装置又は開始及び終了を独立で制御でき,平均化処理能力(例えば,少なくと
も104回以上)をもつカウンタを用いてもよい。

――――― [JIS C 6822 pdf 32] ―――――

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C 6822 : 2009
図G.1−伝送パルスの時間測定
図G.2−反射パルスの時間測定
G.3.2 光パルス発生器
G.3.2.1 オシロスコープを用いた測定
光パルス発生器は,電気パルス列発生器で励起した,周波数及び振幅が可変な高出力レーザダイオード
が望ましい。そのとき,レーザダイオードの波長及びスペクトル幅を記録する。
G.3.2.2 カウンタ又は後方散乱装置を用いた測定
光パルス発生器は,電気パルス列発生器で励起した,周波数及び振幅が可変な高出力レーザダイオード
が望ましい。パルスの間隔は,伝送パルスの伝搬時間(カウンタの場合は 又は反射パルスの伝搬時間
(後方散乱装置の場合は2 よりも長くなければならない。そのとき,レーザダイオードの波長及びス
ペクトル幅を記録する。
G.3.3 光受信器
光受信器は,高速のアバランシェフォトダイオードが望ましい。光受信器の感度は,測定波長において
十分,かつ,その帯域がパルスの形状に影響を及ぼさないほど高くなければならない。

――――― [JIS C 6822 pdf 33] ―――――

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C 6822 : 2009
G.4 手順
G.4.1 校正
光パルス発生器から励振点までの遅延時間を測定する(これは,測定装置自体の遅延時間である。)。
G.4.2 平均群屈折率の値
機械的に測定された長さが既知の光ファイバで, 定すれば,光ファイバの平均群屈折率Nを求め
ることができる。
G.4.3 長さ測定
長さ測定は,オシロスコープのスクリーンで,時間領域で読み取る(又は,校正値で補正された電子カ
ウンタのディスプレイ上で平均伝搬時間を読み取る。)。
試料の実際の長さによらず,測定精度を確保するための重要な実効的改良の実例を,図G.3に示す。

――――― [JIS C 6822 pdf 34] ―――――

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a) チャネル1 : 出射パルス
b) チャネル2 : 伝送パルス
c) チャネル1の第2パルスがチャネル2の伝送パルスと一致
するように繰返し周波数を調整した後の出射パルス
図G.3−光ファイバ長測定の原理
G.5 計算
光ファイバ長は,式 (G.2) 又は式 (G.3) によって算出する。
G.5.1 伝送パルス法
t c
L (G.2)
N

――――― [JIS C 6822 pdf 35] ―――――

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JIS C 6822:2009の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60793-1-20:2001(MOD)
  • IEC 60793-1-21:2001(MOD)
  • IEC 60793-1-22:2001(MOD)

JIS C 6822:2009の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 6822:2009の関連規格と引用規格一覧