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C 6825 : 2020
(I) JISの規定 (II)国際 (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条 (V) JISと国際規格との技術的差
規格番号 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
8 モードフ モードフィールド IEC 1,311 JISとほぼ同じ 一致 − −
ィールド径 径(MFD)の試験方 60793-1-45
(MFD)の 法
試験方法
附属書A 開口数試験装置に IEC 5 JISにほぼ同じ 変更 反射法での開口数試験装置に JISでは日本において従来から採
(規定) ついて規定 60793-1-43 ついて内容を追加 用されている試験方法を考慮して
いる。
附属書B 開口数のマッピン IEC Annex A JISとほぼ同じ 一致 − −
(参考) グについて記載 60793-1-43
附属書C 開口数の既定値を IEC Annex B JISとほぼ同じ 一致 − −
(規定) 規定 60793-1-43
附属書D カットオフ波長測 IEC Annex AC, JISとほぼ同じ 一致 − −
I(規定) 定方法及び要求事 60793-1-44 9,10
項
附属書J モードフィールド IEC Annex AD JISとほぼ同じ 一致 − −
M(規定) 径試験方法及び要 60793-1-45
求事項
附属書N サンプルデータセ IEC Annex E JISとほぼ同じ 一致 − −
(参考) ット及び計算値 60793-1-45
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : (IEC 60793-1-1:2017,IEC 60793-1-43:2015,IEC 60793-1-44:2011,IEC 60793-1-45:2017,MOD)
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 一致 技術的差異がない。
− 追加 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
C6
− MOD 国際規格を修正している。
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