JIS C 6872:2022 光ファイバ―測定方法及び試験手順―ビート長

                                                               C 6872 : 2022 (IEC 60793-1-60 : 2017)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 試験条件・・・・[2]
•  5 基準試験方法・・・・[2]
•  6 試料・・・・[2]
•  7 試験方法・・・・[2]
•  7.1 長さ方向掃引法を用いた位相ビート長の測定方法・・・・[2]
•  7.2 波長掃引法を用いた群ビート長の測定方法・・・・[7]
•  8 結果・・・・[8]
•  8.1 測定ごとの情報・・・・[8]
•  8.2 要求に応じて利用可能な情報・・・・[8]
•  附属書A(参考)試験方法によるビート長の差異(位相ビート長及び群ビート長)・・・・[9]
•  附属書B(参考)二つの試験方法で得られた結果の相関(位相ビート長及び群ビート長)・・・・[12]
•  附属書C(参考)ファラデー回転子・・・・[14]

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――――― [JIS C 6872 pdf 1] ―――――

           C 6872 : 2022 (IEC 60793-1-60 : 2017)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第16条において準用する同法第14条第1項の規定に基づき,認定産業標準
作成機関である一般財団法人日本規格協会(JSA)から,産業標準の案を添えて日本産業規格を改正すべ
きとの申出があり,経済産業大臣が改正した日本産業規格である。これによって,JIS C 6872:2008は改
正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認に
ついて,責任はもたない。

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                                      日本産業規格                            JIS
                                                                              C 6872 : 2022
                                                                      (IEC 60793-1-60 : 2017)

光ファイバ−測定方法及び試験手順−ビート長

Optical fibers-Measurement methods and test procedures- Beat length

序文

  この規格は,2017年に第1版として発行されたIEC 60793-1-60を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,偏波保持光ファイバの位相ビート長及び群ビート長の試験方法について規定する。この二
つのパラメータは定義が異なるため,偏波保持光ファイバの種類によって異なる結果が得られる。
  位相ビート長は,高い消光比を維持するファイバの能力に関連するパラメータである。これについては,
附属書A及び附属書Bで詳しく説明する。
  注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
        IEC 60793-1-60:2017,Optical fibres−Part 1-60: Measurement methods and test procedures−Beat length
            (IDT)
          なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こと
        を示す。

2 引用規格

  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,その一部又は全部がこの規定の要求事項
を構成している。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 6820 光ファイバ通則
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60793-1-1,Optical fibres−Part 1-1: Measurement methods
             and test procedures−General and guidance
    JIS C 6873 偏波保持光ファイバ素線
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60793-2-70,Optical fibres−Part 2-70: Product
             specifications−Sectional specification for polarization-maintaining fibres
    JIS C 60068-1 環境試験方法−電気·電子−第1部 : 通則及び指針
      注記 対応国際規格における引用規格 : IEC 60068-1,Environmental testing−Part 1: General and

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C 6872 : 2022 (IEC 60793-1-60 : 2017)
             guidance

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次によるほか,JIS C 6820による。
3.1
位相ビート長,LB(phase)(phase beat length)
  偏波保持光ファイバにおいて二つの直交する直線偏波モードが同時に励振された場合,両偏波モードの
位相定数の差によって,合成の偏波状態が長手方向に周期的に変化するときの1周期の長さで,直交する
二つの偏波モードが1サイクル(2π)分遅れる距離
3.2
群ビート長,LB(group)(group beat length)
  群遅延距離差が1サイクル(2π)となる距離
  注釈1 群遅延は群屈折率に基づく。

4 試験条件

  特に規定のない限り,測定はJIS C 60068-1に規定する標準大気条件で行わなければならない。しかし,
標準大気条件で測定することが困難な場合には,判断に疑義が生じなければ,標準規定条件以外の条件で
試験操作を行ってもよい。

5 基準試験方法

  JIS C 6873でパラメータとして規定されている(偏波保持光ファイバの)位相ビート長は,7.1の長さ方
向掃引法で規定する試験方法を基準試験方法(reference test method, RTM)として定義される。7.2の波長
掃引法によって測定される群ビート長は,事前に位相ビート長との相関関係を確認している場合に(附属
書Bのように),代替試験方法(ATM)として波長掃引法を用いることが可能である。

6 試料

  試料は,試験装置への取付けに必要最小限の長さであることが望ましい。余長が存在するときは,被測
定光ファイバにひずみが印加されないように注意する。

7 試験方法

7.1 長さ方向掃引法を用いた位相ビート長の測定方法

7.1.1 一般事項
  位相ビート長の測定方法は,被測定光ファイバの長手方向に沿って細かく複数点の摂動を加えることに
よって,出力されるパワーの変化を監視する方法と,一つの波長における出力偏光状態(SOP : state of
polarization)の変化を移動距離に対して監視する方法とがある。

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                                                               C 6872 : 2022 (IEC 60793-1-60 : 2017)
  摂動を加えるには,横力又はファラデー回転子によることが可能である。
  ここでは,ファラデー回転子を使用して出力されるパワーを監視する方法と横力を使用してSOPを監視
する方法との両方について説明する。
7.1.2 ファラデー回転子を用いた出力されるパワーの監視
7.1.2.1 装置
7.1.2.1.1 一般装置
  試験装置の概略図を,図1に示す。
  ファラデー回転子は,被測定光ファイバの長手方向に掃引する。
                    図1−ファラデー回転子を用いた位相ビート長計測の試験装置
7.1.2.1.2 光源
  DFBレーザなどの線幅の狭い光源を用いなければならない。
7.1.2.1.3 波長板
  偏光子を回転させても一定のパワーが光ファイバに入射するように,波長板(四分の一波長板)を用い
なければならない。波長板は,入射光の偏光を直線偏光から円偏光に変換する。
7.1.2.1.4 偏光子及び検光子
  偏光子及び検光子は,偏波化した光が入射した場合に,任意の一定方向の直線偏光の偏波光を出力でき
るものでなければならない。
7.1.2.1.5 光パワー検出器
  光パワー検出器は,被測定光ファイバの端末から出力される光パワーを全て受光できるものでなければ
ならない。
7.1.2.1.6 ファラデー回転子
  ファラデー回転子用の電磁石は,被測定光ファイバの長手方向に沿って電磁界を印加することによって,
光ファイバ中の偏波面を回転させる素子である。測定感度を向上させるため,外部信号によって偏波回転

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