この規格ページの目次
- JISC7031 規格全文情報
- pdf 目次
- 小信号用半導体ダイオード測定方法
- 1. 適用範囲
- 2. 使用図記号
- 3. 測定用電源及び計器
- 3.1 測定用電源
- 3.2 計器
- 4. 基準測定条件
- 4.1 温度及び湿度
- 4.2 測定周波数
- 4.3 信号振幅
- 4.4 理想電圧源及び理想電流源
- 4.5 パルス条件
- 4.6 開路及び閉路
- 5. 測定上の注意事項
- 5.1 最大定格の遵守
- 5.2 着脱時の注意
- 5.3 静電破壊に対する注意
- 5.4 温度安定(熱的平衡)条件
- 5.5 パルス測定
- 5.6 測定回路
- 6. 測定方法
- 6.1 順電流測定
- 6.2 順電圧測定
- JIS C 7031:1993の引用国際規格 ISO 一覧
- JIS C 7031:1993の国際規格 ICS 分類一覧
- JIS C 7031:1993の関連規格と引用規格一覧
JIS C 7031:1993 規格概要
この規格 C7031は、電子装置に使用する検波,スイッチング,混合などに用いられる小信号用半導体ダイオードの電気的測定方法について規定。
JISC7031 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C7031
- 規格名称
- 小信号用半導体ダイオード測定方法
- 規格名称英語訳
- Measuring methods for small signal diodes
- 制定年月日
- 1963年9月1日
- 最新改正日
- 2019年10月21日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 60747-3:1985(MOD)
- 国際規格分類
ICS
- 31.080.10
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
- 改訂:履歴
- 1963-09-01 制定日, 1966-09-01 確認日, 1969-12-01 確認日, 1972-11-01 確認日, 1976-03-01 改正日, 1979-03-01 確認日, 1984-09-01 確認日, 1989-10-01 確認日, 1993-02-01 改正日, 1999-06-20 確認日, 2004-03-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
- ページ
- JIS C 7031:1993 PDF [31]
C 7031-1993
pdf 目次
ページ
- 1. 適用範囲・・・・[1]
- 2. 使用図記号・・・・[1]
- 3. 測定用電源及び計器・・・・[1]
- 3.1 測定用電源・・・・[1]
- 3.2 計器・・・・[1]
- 4. 基準測定条件・・・・[2]
- 4.1 温度及び湿度・・・・[2]
- 4.2 測定周波数・・・・[2]
- 4.3 信号振幅・・・・[2]
- 4.4 理想電圧源及び理想電流源・・・・[2]
- 4.5 パルス条件・・・・[2]
- 4.6 開路及び閉路・・・・[2]
- 5. 測定上の注意事項・・・・[2]
- 5.1 最大定格の遵守・・・・[2]
- 5.2 着脱時の注意・・・・[2]
- 5.3 静電破壊に対する注意・・・・[2]
- 5.4 温度安定(熱的平衡)条件・・・・[3]
- 5.5 パルス測定・・・・[3]
- 5.6 測定回路・・・・[3]
- 6. 測定方法・・・・[3]
- 6.1 順電流測定・・・・[3]
- 6.2 順電圧測定・・・・[3]
- 6.3 逆電流測定・・・・[4]
- 6.4 端子間静電容量測定・・・・[5]
- 6.5 順回復時間測定・・・・[5]
- 6.6 逆回復時間測定・・・・[7]
- 6.7 蓄積電荷測定・・・・[8]
- 6.8 検波電圧能率測定・・・・[9]
- 6.9 検波電力能率測定・・・・[9]
- 6.10 整流電流測定・・・・[10]
- 6.11 雑音電流測定・・・・[11]
- 6.12 中間周波インピーダンス測定・・・・[11]
- 6.13 総合雑音指数測定・・・・[13]
- 6.14 出力雑音比測定・・・・[16]
- 6.15 変換損失測定・・・・[17]
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS C 7031 pdf 1] ―――――
C 7031-1993
pdf 目次
ページ
- 6.16 順直列抵抗測定・・・・[19]
- 6.17 逆直列抵抗測定・・・・[20]
- 6.18 Q測定・・・・[21]
- 6.19 遮断周波数測定・・・・[23]
- 6.20 直列インダクタンス測定・・・・[23]
- 6.21 熱抵抗測定・・・・[24]
- 附属書 降伏電圧測定・・・・[27]
- 参考 パルス電力試験・・・・[28]
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS C 7031 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 7031-1993
小信号用半導体ダイオード測定方法
Measuring methods for small signal diodes
1. 適用範囲
この規格は,電子装置に使用する検波,スイッチング,混合などに用いる小信号用半導体
ダイオード(以下,ダイオードという。)の電気的測定方法について規定する。
備考1. この規格の引用規格を,次に示す。
JIS C 0301 電気用図記号
JIS C 1102 指示電気計器
2. この規格の対応国際規格を,次に示す。
IEC747-3 (1985) Semiconductor devices, Discrete devices
Part 3 : Signal (including switching) nd regulator diodes
2. 使用図記号
この規格の測定回路図に用いる図記号は,JIS C 0301の規定によるほか,表1による。
表1
図記号 名称 図記号 名称
二現象オシロ 電流プローブ
スコープ
3. 測定用電源及び計器
3.1 測定用電源
直流電源はリプル含有率3%以下,交流電源は高調波含有率5%以下のものを使用する。
ただし,商用周波数の場合は10%以下のものを使用する。交流特性測定では,直流電源のリプル含有率と
交流電源の高調波含有率及び交流の流れる直流電源回路の交流インピーダンスは,測定に影響を与えない
小さいものを使用する。
また,交流電圧・交流電流の値は,規定がない限り実効値で表す。
3.2 計器
直流及び交流の電圧計,電流計などは,規定がない限りJIS C 1102に規定の0.5級とし,平
等目盛の計器では最大目盛が測定値の10倍以内のものを,ゼロ付近で目盛の縮小する計器では最大目盛が
測定値の4倍以内のものを使用する。ただし,測定値とは,規格に最大値のあるものは最大値,最小値だ
けが規定してあるものは最小値をいう。
なお,次の場合には0.5級でなくともよい。
(1) 0.5級と同等又はそれ以下の許容差をもった計器である場合。
(2) 測定結果に重大な影響を与えない場合。
また,パルスを検出する計器は,規定のパルス条件に十分追従できるものを用いることとする。計器の
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C 7031-1993
内部インピーダンス及び雑音は,測定系への影響が十分無視できるものでなければならない。
4. 基準測定条件
4.1 温度及び湿度
温度及び湿度は,次による。
(1) 基準温度 基準温度は,25℃とする。
(2) 基準湿度 基準湿度は,相対湿度45%とする。
(3) 測定温度 測定温度は,供試ダイオードへ直接送風しない状態の周囲温度とし,25±3℃とする。
(4) 測定湿度 測定湿度は,相対湿度75%以下とする。
4.2 測定周波数
低周波パラメータの測定周波数は,270±30Hz又は1 000±50Hzとする。ただし,相
関性を示すことができる場合は,他の周波数を使用してもよい。
4.3 信号振幅
交流パラメータの測定では,規定がない限り小(振幅)信号を用いることとする。
備考 小(振幅)信号とは,その信号の振幅を21に減少しても,測定値に計器の許容差以上の変動を生
じさせない信号をいう。
4.4 理想電圧源及び理想電流源
理想電圧源及び理想電流源は,次による。
(1) 理想電圧源 ここで使用する理想電圧源は,その負荷インピーダンスを21に減少しても,測定値に計
器の許容差以上の変動を生じさせないものとする。ただし,実際の測定で供試ダイオードを破壊する
おそれがある場合は,電流制限機能付電圧源を用いるか,又は電圧源と直列に保護抵抗器を入れる。
(2) 理想電流源 ここで使用する理想電流源は,その負荷インピーダンスを2倍に増加しても,測定値に
計器の許容差以上の変動を生じさせないものとする。ただし,実際の測定で供試ダイオードを破壊す
るおそれがある場合は,電圧制限機能付電流源を用いる。
4.5 パルス条件
パルス幅及びデューティファクタは,規定がない限り,それらをそれぞれ2倍しても,
測定値に計器の許容差以上の変動を生じさせないよう選定する。
4.6 開路及び閉路
開路及び閉路は,次による。
(1) 開路 開路は,その終端インピーダンスを21に減少しても,測定値に計器の許容差以上の変動を生じ
させない回路とする。
(2) 閉路 閉路は,その終端インピーダンスを2倍に増加しても,測定値に計器の許容差以上の変動を生
じさせない回路とする。
5. 測定上の注意事項
5.1 最大定格の遵守
規定がない限り,供試ダイオードは過渡状態を含めいかなるときにも,最大定格
を超えることがあってはならない。ただし,最大定格を超えた範囲の測定については附属書に示す。
5.2 着脱時の注意
供試ダイオードは,回路の動作中に着脱してはならない。
5.3 静電破壊に対する注意
静電気による破壊の危険性のあるダイオードでは,次の注意事項を守らな
ければならない。
(1) 輸送,保存及び放置の際は,静電気導電材料,帯電防止処理材料などを用い,静電気の帯電を防止す
る。
(2) 測定は,静電気の発生しない場所で行う。相対湿度は,50%程度が望ましい。
また,静電気の発生を防ぐためには,測定者,工具及び測定機器類の電位と被測定ダイオードを取
り扱う場所を同電位にすることが望ましい。
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C 7031-1993
5.4 温度安定(熱的平衡)条件
供試ダイオードの発熱によって,測定値が時間の経過とともに変化す
る場合は,温度安定に達してから測定するか,あらかじめ測定時間を決めておく。
参考 測定時間を2倍にしても,測定値が予定された誤差以上の変化を生じないならば,温度安定に
達していると考えられる。
5.5 パルス測定
供試ダイオードの発熱による測定誤差を避けるためには,パルスによる測定が望まし
い。
5.6 測定回路
この規格で図示した測定回路は,測定に用いる回路の一例を示している。したがって,
同様の結果が得られる限り代替回路が使用できる。
なお,測定回路図で示してある式は,測定回路に必要な条件である。
6. 測定方法
6.1 順電流測定
順電流測定は,次による。
(1) 目的 この測定方法は,規定条件で,供試ダイオードの順電流を測定することを目的とする。
(2) 測定回路 測定回路の一例を,図1に示す。
図1 順電流測定回路
(3) 手順 供試ダイオードの電極端子間に規定の順電圧 (VF) を印加し,そのときの順電流 (IF) を測定す
る。
この測定は,電圧計及び電流計を使用する方法又は,1kHz以下の交流電源を用いてオシロスコープ
上に電流波形・電圧波形を描かす方法によってもよい。
供試ダイオードで相当程度の電力消費があるときは,それに伴う接合温度上昇が測定値に大きな影
響を与える。その場合には,次のいずれかの方法による。
(a) 直流を用い,温度が安定した熱平衡に達した後測定する。又は規定の電圧を印加後定められた時間
後に測定を行う。
(b) パルスを用いるか又は接合温度上昇が無視できるような短い時間で測定を行う。
(4) 個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(a) 順電圧
(b) 電圧印加後の測定までの時間(必要な場合)
(c) パルス幅及びデューティサイクル(パルスを用いる場合)
(d) 周囲温度又は基準点温度
6.2 順電圧測定
順電圧測定は,次による。
(1) 目的 この測定方法は,規定条件で,供試ダイオードの順電圧を測定することを目的とする。
――――― [JIS C 7031 pdf 5] ―――――
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JIS C 7031:1993の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60747-3:1985(MOD)