JIS C 8110:2008 放電灯安定器（蛍光灯を除く） | ページ 5

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D.6.2 不動作特性試験
  不動作特性試験は,次のとおり行う。
a) 適合ランプを負荷とし,安定器の入力端子間に定格周波数の定格入力電圧の106 %(定電力形安定器
    の場合は,110 %)電圧を加えてランプを点灯し,各部の温度が一定になるまで,この状態を継続す
    る。
b) 安定器を,次の1)及び2)の異常状態で最も温度が高くなるような状態とし,安定器の入力端子間に定
    格周波数で指定された電圧を加え,各部の温度が一定になるまで,この状態を継続する。
  1) 安定器の入力端子間に定格入力電圧の106 %(定電力形安定器の場合は,110 %)電圧を加え,ラ
      ンプ(複数の場合は,いずれか1個)を回路に接続しない。
  2) 高圧ナトリウムランプのように,ランプ寿命末期にランプ電圧が低下する確率の高いランプを点灯
      可能な安定器は,二次短絡電流を,ランプ電圧が定格値の70 %に相当するランプ電流の値になる
      ように入力電圧を調整する。
D.6.3 動作特性試験
  動作特性試験は,次のとおり行う。
a) 適合ランプを負荷とし,安定器の入力端子間に定格周波数の定格入力電圧を加えて,正常状態で4時
    間点灯する。その後,特別に設けたタップによって,最も厳しい故障状態を作り,この状態を各部の
    温度が一定になる,又は保護装置若しくは保護機構が動作し温度が下降し始めるまで継続し,安定器
    の最高表面温度又は安定器最高表面温度と時間との関係を測定する。
      なお,自動復帰形保護装置が動作した場合は,3サイクル繰り返し動作させ,自動復帰形保護装置
    の動作時及び再閉時における入力電流,及び安定器の表面温度が安定若しくは下降するまで,又は非
    復帰形保護機構が動作するまで継続する。
b) 高圧ナトリウムランプのように,ランプ寿命末期にランプ電圧が低下する確率の高いランプを点灯可
    能な安定器は,ランプ(複数の場合はいずれか1個)を短絡し,安定器の入力端子間に定格周波数の
    定格入力電圧を加え,保護機能が動作し,温度が降下し始めるまで,又は各部の温度が一定になるま
    で継続する。
      なお,自動復帰形保護装置が動作した場合は,3サイクル繰り返し動作させ,自動復帰形保護装置
    の動作時及び再閉時における入力電流,及び安定器の表面温度が安定若しくは下降するまで,又は非
    復帰形保護機構が動作するまで継続する。
c)   .6.3 a)の試験で保護機能が動作しない場合,次の1),2)のいずれかの方法で保護装置又は保護機構が
    動作するまで継続する。ただし,試験途中でコンデンサの保安装置又は保安機構が動作した場合は,
    電源に並列に接続されたコンデンサはそのままとし,ランプと直列に接続されたコンデンサは,短絡
    し継続する。
  1) 安定器の入力電圧を定格入力電圧の10 %分ずつ増加させ,温度が安定するまで放置し,動作する
      まで繰り返し継続する。
  2) 安定器の表面温度が135 ℃となるように恒温槽内の温度を調整し,十分安定するまで放置した後,
      槽内の温度を10 ℃ずつ上昇させ,安定器の表面を温度が十分安定するまで放置し,保護機能が動
      作するまで繰り返し継続する。
        なお,温度を表示した安定器は,最初に設定する恒温槽の温度を,表示した温度より30 ℃低い
      温度(135 ℃以下にはしない。)とする。

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C 8110 : 2008
  D.6.3の試験において,試験中にランプが切れた場合は,直ちに新しいランプに取り替えて試験する。た
だし,2回以上切れたときは,ランプ回路を短絡し試験を続行する。